部分电子元器件检验规范标准书.doc

三极管检验规范三极管检验规范1.1. 目的目的作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。2.2. 适用范围适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3.3. 抽样计划抽样计划依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划 。4.4. 允收水准允收水准（AQLAQL）严重缺点(CR): 0;主要缺点(MA): 0.4;次要缺点(MI): 1.5.5.5. 参考文件参考文件无检验项目检验项目缺陷属性缺陷属性缺陷描述缺陷描述检验方式检验方式备注备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10 倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验无