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分化名词解释如有侵权请联系网站删除,仅供学习交流第四章第四章 原子吸收光谱法名词解释原子吸收光谱法名词解释1、原子吸收光谱法原子吸收光谱法是基于气态和基态原子核外层电子对共振发射线的吸收进行元素定量的分析方法。2、原子吸收光谱的产生处于基态原子核外层电子,如果外界所提供特定能量的光辐射恰好等于核外层电子基态与某一激发态之间的能量差时,核外层电子将吸收特征能量的光辐射由基态跃迁到相应激发态,从而产生原子吸收光谱。3、谱线轮廓请见 P964、自然宽度自然宽度与原子核外层电子激发态的评论寿命有关,平均寿命越长,吸收谱线的自然宽度越窄。5、多普勒变宽多普勒变宽也叫热变宽,主要是自由原子无规则热运动引起的。6、碰撞变宽碰撞变宽也叫压力变宽,包括洛伦兹变宽和霍尔兹马克变宽。洛伦兹变宽:来源于待测元素的原子与其他共存元素原子相互碰撞,洛伦兹变宽随原子化器中原子蒸汽压力和温度增大而增大。7、场致变宽在外界电场或磁场的作用下,引起原子核外层电子能级分裂而使谱线变宽称为场致变宽。其中由于磁场作用引起谱线变宽,称为 zeeman 变宽。8、自吸变宽光源发射共振谱线,被周围同种原子冷蒸汽吸收,使共振谱线在 v0 处发射强度减弱,这种现象称为谱线的自吸收,所产生的谱线变宽称为自吸变宽。9、锐线光源所发射谱线与原子化器中待测元素所吸收谱线中心频率一致,而发射谱线半宽度远小于吸收谱线的半宽度。10、原子吸收光谱法的特点选择性好;灵敏度高;精密度(RSD)高;操作方便和快速;应用范围广;局限性:原子吸收光谱法通常采用单元素空心阴极灯作为锐线光源,分析一种元素就必须选用该元素的空心阴极灯,因此不适用于多元素混合物的定性分析;对于高熔点、形成氧化物、形成复合物或形成碳化物后难以原子化元素的分析灵敏度低。11、中性火焰燃气与助燃气的比例等于化学计量比。火焰燃烧充分、温度高、干扰小和背景低,适用于大多数元素分析。12、贫燃火焰燃气与助燃气的比例小于化学计量比,也就是助燃气过量。火焰燃烧充分,温度比中性火焰低,氧化性较强,适用于易电离的碱金属和碱土金属分析,分析的重现性较差。13、富燃火焰仅供学习交流如有侵权请联系网站删除,仅供学习交流燃气与助燃气的比例高于化学计量比,也就是燃气过量。火焰燃烧不完全,具有强还原性,即火焰中含有大量的 CH,C,CO,CN,NH 等组分,干扰较大,背景吸收高,适用于形成氧化物后难以原子化的元素分析。14、火焰原子化的特点和局限性适用范围广,分析操作简单、分析速度快和分析成本低。然而,同轴气动雾化器的雾化效率低、所需试样溶液体积较大、火焰原子化效率低并伴随着复杂的火焰反应、原子蒸汽在光程中滞留时间短和燃气与助燃气稀释作用,限制了方法检出限的降低,而且只能分析液体试样。15、物理干扰及其消除方法物理干扰是指试样溶液物理性质变化而引起信号强度变化,物理干扰属非选择性干扰。物理干扰一般都是负干扰。减少或消除的方法:配制与待测试样溶液基体相一致的标准溶液;当上述方法有困难时,采用标准加入法;被测试样溶液中元素的浓度较高时,采用稀释方法来减少或消除物理干扰。16、化学干扰及其消除方法待测元素在原子化过程中,与基体组分原子或分子之间产生化学作用而引起的干扰,主要影响待测元素或化合物的熔融、蒸发、解离和原子化等过程。化学干扰是一种选择性干扰,它不仅取决于待测元素与共存元素的性质,还涉及不同的原子化方法与条件。减少或消除方法(火焰原子化法):改变火焰类型;改变火焰特性;加入释放剂;加入保护剂;加入缓冲剂;采用标准加入法。17、电离干扰及其消除方法电离干扰是由于电离能较低的碱金属和碱土金属元素在原子化过程中产生电离而使基态原子数减少,导致吸光度下降。减少或消除方法:加入电离能较低的消电离剂;利用强还原性富燃火焰可抑制电离干扰;标准加入法也可在某种程度上减少或消除电离干扰;提高金属元素总浓度也是减少或消除电离干扰的基本方法。18、光谱干扰及其消除方法原子吸收光谱法分析应该是在选用的光谱通带内,仅有一条锐线光源所发射的谱线和原子化器中基态原子与之相对应的一条谱线。当光谱通带内存在其他谱线时,都产生光谱干扰;还有分子吸收和光散射也属于光谱干扰。(1)吸收线重叠干扰 :当光谱通带内存在两种以上元素的吸收线相重叠,同时或部分吸收锐线光源所发射特征谱线时,产生吸收线重叠干扰,这种干扰使分析结果偏高。减小方法:选用较小的光谱通带;选用被测元素的其他分析线;预先分离干扰元素。(2)直流发射干扰:原子化器在高温原子化过程中也是光辐射源,其中包括了待测元素的共振线,这种干扰使结果偏低。减小方法:采用锐线光源的电源调制技术。(3)非吸收线干扰:干扰谱线可能是待测元素的其他共振线或非共振线,也可能是锐线光源中电极材料或杂质的发射谱线。减小方法:选用较小的光谱通带;选用较小 HCL 灯电流。19、zeeman 效应背景校正技术仅供学习交流如有侵权请联系网站删除,仅供学习交流利用原子化器中原子核外层电子能量简并能级在强磁场中产生 zeeman 分裂来进行背景校正称为反向 zeeman 效应背景校正技术,而对锐线光源进行同样调制的背景校正称为正向zeeman 效应背景校正技术。详情见 P113-114.仅供学习交流