材料现代分析方法(复习题及答案).docx

材料现代分析方法(复习题及答案) 1、埃利斑由于光的波动性，光通过小孔发生衍射，明暗相间的条纹衍射的图样，条纹间距随小孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有最大的亮斑，称为埃利斑。 2、差热分析是在程序的限制条件下，测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。 3、差示扫描量热法（DSC）是在程序限制条件下，干脆测量样品在升温、降温或恒温过程中所汲取的或放出的热量。 4、倒易点阵是由晶体点阵根据肯定的对应关系建立的空间点阵，此对应关系可称为倒易变换。 5、干涉指数在（hkl）晶面组（其晶面间距记为dhkl）同一空间方位，设若有晶面间距为dhkl/n （n为随意整数）的晶面组（nh，nk，nl）即（H,K,L）记为干涉指数。 6、干涉面简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参加计算的面）。 7、景深当像平面固定时（像距不变）能在像清楚地范围内，允许物体平面沿透镜轴移动的最大距离。 8、焦长固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清楚的距离范围。 9、晶带晶体中，与某一晶向平行的全部（HKL）晶面属于同一晶带，称为晶带 10、 射线若K层产生空位，其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射，其中有L层电子跃迁产生的K系特征辐射称为Ka. 11、数值孔径子午光线能进入或离开纤芯（光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。 12、透镜辨别率用物理学方法(如光学仪器)能分清两个亲密相邻物体的程度 13 衍射衬度由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。 14 射线若K层产生空位，其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射，其中有L 层电子跃迁产生的K系特征辐射称为Ka. 15质厚衬度由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。 16 质谱是离子数量（强度）对质荷比的分布，以质谱图或质谱表的形式的表达。 一、推断题 1）、埃利斑半径与照明光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比。（×） 14）、产生特征x射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发态。（） 5）、倒易点阵中的一个点代表的是正点阵中的组晶面。（） 11）、电子衍射只适于材料表层或或薄膜样品的结构分析。（） 17）、电子衍射和x射线衍射一样必需严格符合布拉格方程。（×） 12）、凡物质受热时发生质量改变的物理或化学改变过程，均可用热重法分析、探讨。（） 13）、激发电位较低的谱线都比较强，激发电位高的谱线都比较弱。（） 2）孔径角与物镜的有效直径成正比，与焦点的距离成反比。（） 3）、NA值越大，照明光线波长越长辨别率就越高。（×） 9）、能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是其次聚光镜光阑。（） 6）、透射电子显微镜的辨别率主要受衍射效应和像差两因素影响。（） 10）、透射电子显微镜中可以消退的像差是球差。（×） 8）、已知x光管是铜靶,应选择的滤波片材料是钴。（×） 15）、x射线物相定性分析可知被测材料中有哪些物相，而定量分析可知这些物相的含量有什么成分。（×） 4）、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器辨别率和人眼辨别率，而后者仅仅是仪器的制造水平。（） 7）、影响点阵常数精度的关键因素是sin，当角位于低角度时，若存在一的测量误差，对应的sin的误差范围很小。（×） 16）、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器辨别率和人眼辨别率，而后者仅仅是仪器的