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    《多晶体分析方法》PPT课件.ppt

    • 资源ID:53443445       资源大小:1.03MB        全文页数:132页
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    《多晶体分析方法》PPT课件.ppt

    4.2 4.2 转晶法转晶法(Rotation(Rotation Method)Method)底片底片入射入射X射线射线CO:入射方向。实际晶体旋转,即倒易点阵绕C*旋转,所有hkl晶面的倒易点都分布在与C*垂直的同一平面(l=1的层面)。转晶法原理倒易点阵倒易点阵转晶法的转晶法的Ewald作图作图S0/001Ob1b2b3C011021101111121010020100110120101111121100110120S/Ewald sphere当倒易点阵绕轴转动时,该平面将反射球截成一个小圆。hkl的倒易点在此圆上与反射球接触,衍射矢量 S/终止于此圆上,即hkl衍射光束的方向。同理,kh0衍射和hk-1衍射也如此。Reciprocal lattice rotates herecO*Sphere of reflectionlth levelZeroth levelX-ray beamlth level0th levelDirect beamSphere of reflectionc*(00l)OC1/1/hklOscillation diagram of apatite(sample K7,Cu/Ni,40kV,20mA,exposed 3h.,Oscillation axis=c axis。Weissenberg diagram of apatite sample K7 Cu/Ni,40kV,20mA,exposed 60h.,D=57.3mm,r=24mm。Rotation axis=b axis4.3 粉晶法粉晶法2 可调节可调节样品样品暗盒、胶片暗盒、胶片 X 射线射线通常微晶尺寸在10-210-2mm,设X射线照射体积为1mm3,被照射微晶数约为109个微晶无数,且无规则取向。波长不变,必然有某晶面(h1k1l1)的间距dhkl满足Bragg方程,,在2方向发生衍射,形成以4为顶角的圆锥面。不同的晶面匹配不同的2角,形成同心圆。入射入射X射线射线样品样品VIVIIIIII2 12 2r2dsin=同心圆称为同心圆称为Debye环,环直径为环,环直径为2X,样品至底片距离,样品至底片距离2D若若X光波长已知,可计算晶面间距光波长已知,可计算晶面间距dhkl,进而求晶胞参数,进而求晶胞参数若晶面间距若晶面间距dhkl 已知,可计算已知,可计算X光波长。光波长。2 样品样品 X 射线射线2x2D最小的最小的2(最内层最内层)对应最大的对应最大的d最大最大的的2 (最外层最外层)对应最小的对应最小的d2 2x以简单立方为例:最大的以简单立方为例:最大的d意味着(意味着(h2+k2+l2)最小)最小(100)211111110312最大最大d100:(h2+k2+l2)=1d100其次其次d110:(h2+k2+l2)=2d110例例:POM属属六六方方晶晶系系,求求得得d 后后,代代入入相相应应晶晶系系的的面面间间距距计算公式中,得到晶胞参数。计算公式中,得到晶胞参数。hkl 2x(mm)d()a()c()100 34 3.86 4.46 110 68 2.23 4.46 第四章 多晶体分析方法前几章我们讨论了x射线的产生及其在晶体中衍射的基本原理,这一章将介绍x射线衍射的最基本的实验方法和装置。粉末法是由德国的Debye和Scherrerr于1916年提出的。如利用得当,粉未法是所有衍射法中最为方便的方法,它可以提供晶体结构的大多数信息。粉末法是以单色X射线照射粉末试样为基础的,所谓“单色”是指x射线中强度最高的K系X射线,“粉末”可以为真正的粉末(通常用粘结剂粘结)或多晶体试样。粉末法可以分为照相法和衍射仪法,照相法中根据试样和底片的相对位置不同可以分为三种:(1)德拜谢乐法(Debye-Scherrer method),底片位于相机圆筒内表面,试样位于中心轴上;(2)聚焦照相法(focusing Method),底片、试样、X射线源均位于圆周上;(3)针扎法(Pinhole method),底片为平板形与X射线束垂直放置,试样放在二者之间适当位置。所有的衍射法其衍射束均在反射圆锥面上,圆锥的轴为入射束。各个圆锥均由特定的晶面反射引起的。第二章已经述及,在粉末试样中有相当多个粉末颗粒,含有相当多的我们感兴趣的(hkl)晶面,而且是随颗粒一起在空间随机分布的。当一束X射线从任意方向照射到粉末样品上时,总会有足够多的(hkl)晶面满足布拉格方程,在与入射线呈2角的方向上产生衍射,衍射线形成一个相应的4顶角的圆锥。图4-10绘出了x射线在粉末样品上发生衍射时的衍射线的空间分布(图中只绘出了四个衍射圆锥)。工程上及一般的科学试验中常见的是多晶体的块状试样,如果晶粒足够细(例如在30um以下)将得到与粉末试样相似的结果,但晶粒粗大时参与反射的晶面数量有限,所以发生反射的概率变小,这样会使得衍射圆锥不连续,形成断续的衍射花样。(a)铜铜(b)钨钨(c)锌锌入射入射X射线射线样品样品VIVIIIIII2 12 2r4 RSOS1S20 2 45h;手工化手工化;2灵敏,弱线可分辨灵敏,弱线可分辨;用肉眼用肉眼;3可重复,数据可自动处理,可重复,数据可自动处理,结果可自动检索结果可自动检索;无法重复,人工处无法重复,人工处理结果理结果;4盲区小,约为盲区小,约为3;盲区大,盲区大,10;5贵,使用条件要求高贵,使用条件要求高;便宜且简便便宜且简便;6样品量太大样品量太大;样品极其微量样品极其微量;7常用用于定量相结构分析常用用于定量相结构分析;定性,晶体颗粒大小。定性,晶体颗粒大小。3 衍射仪法与衍射仪法与Debey法的特点对比法的特点对比1 用用CuK 射射线线以以粉粉晶晶法法测测定定下下列列物物质质,求求最最内内层层的的三三个个德拜环的德拜环的2 角及所代表晶面的角及所代表晶面的hkl值值:(1)简单立方晶体简单立方晶体)(2)简单四方晶体简单四方晶体,)2:用用MoK 照照射射一一简简单单立立方方粉粉末末样样品品),用用Ewald作作图表示所发生的图表示所发生的200衍射衍射.MoK =0.7107 练习练习3 影响衍射强度的因素有哪些?影响衍射强度的因素有哪些?4 Debye图中在高、低角区出现双线的原图中在高、低角区出现双线的原因分别是什么?因分别是什么?Whatmaycausethedoublelinesinlow-angleregion?AndWhatmaycausethedoublelinesinhigh-angleregion?5试求直径为试求直径为57.3mm Debye相机在相机在=80o与与20o时由时由K1、K2 所引起的双线间距是多少。所所引起的双线间距是多少。所用光源为用光源为Cu靶(靶(1=0.154050nm;2=0.154434nm;=0.154178nm;)。如所用光源如所用光源为为Cr靶靶,结果将如何?结果将如何?Calculatethedistance(inmm)betweenthedoublelinesat=20and=80forDebyediagram(=57.3mm),CuK(=0.154178nm;1=0.154050nm;2=0.154434nm).IfCrwereused,whatdifferencesoccur?6试求直径为试求直径为57.3mm Debye相机在相机在=60o时由时由K1、K2 所引起的双线间距是多少。所用光源所引起的双线间距是多少。所用光源为为Fe靶(靶(1=0.193593nm;2=0.193991nm)Calculatethedistance(inmm)betweenthedoublelinesat=60forDebyediagram(=57.3mm),FeK.(=0.193728nm;1=0.193593nm;2=0.193991nm).7简单叙述简单叙述Debye法的原理与实验方法。法的原理与实验方法。8作图表示衍射仪的结构与衍射几何(包括样作图表示衍射仪的结构与衍射几何(包括样品、反射晶面、聚焦圆、衍射仪圆)品、反射晶面、聚焦圆、衍射仪圆)

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