无损检测最终.优秀PPT.ppt

无损检测试验无损检测试验超声波探伤试验超声波探伤试验 超声波探伤是产品质量检验的一项重要超声波探伤是产品质量检验的一项重要技术。它具有如下优点：灵敏度高，设备技术。它具有如下优点：灵敏度高，设备灵活、操作便利、探测速度快、成本低、灵活、操作便利、探测速度快、成本低、对人体无害等。故被广泛应用。对人体无害等。故被广泛应用。本次探伤试验中接受压电法来产生超本次探伤试验中接受压电法来产生超声波，压电法是利用压电晶体来产生超声声波，压电法是利用压电晶体来产生超声波的。波的。另外本次试验接受另外本次试验接受“单收发单收发”模式，即模式，即探伤时是运用一个探头，这个探头同时起探伤时是运用一个探头，这个探头同时起接收和放射超声波作用。接收和放射超声波作用。仪器简介仪器简介试验仪试验仪器及用具器及用具 CTS22A型超深波探型超深波探伤仪伤仪；CSKIA、CSKIIA型型标标准准试块试块；直探直探头头2.5Z20N、斜探、斜探头头2.5Z1010 A60标标准回波探准回波探头头BH50；耦合耦合剂剂；游游标标卡尺。卡尺。仪器的调整与运用仪器的调整与运用 CTS22A型超声探型超声探伤仪伤仪系携系携带带式式A型脉冲反射式超声型脉冲反射式超声探探伤仪伤仪器，可用沟通或器，可用沟通或电电池供池供电电工作。工作。本本仪仪器接受高性能器件和高亮度内刻度示波管，具有器接受高性能器件和高亮度内刻度示波管，具有工作工作频频率范率范围宽围宽，探，探伤伤灵敏度高，灵敏度高，稳稳定性好，定性好，显显示波形清示波形清晰和小型、省晰和小型、省电电、便利等特点。、便利等特点。仪仪器可用于金属和部分非金属材料的超声无器可用于金属和部分非金属材料的超声无损检测损检测，尤其适用于流淌性大的野外或高架空探尤其适用于流淌性大的野外或高架空探伤伤作作业业。仪仪器面板器面板图图及旋及旋钮说钮说明如明如图图3-1 CTS22A 面板面板图图影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的推断影响探伤波形的因素及缺陷大小、位置、性质的推断一、耦合剂的影响一、耦合剂的影响 耦合剂的作用是将超声波导入工件，一般接受液体。它的声阻耦合剂的作用是将超声波导入工件，一般接受液体。它的声阻应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。应与工件的声阻相同或接近，以获得最大的入射能量。二、工件的影响二、工件的影响 工件表面光滑度的影响工件表面光滑度的影响 工件表面光滑度愈高，探头与工件接工件表面光滑度愈高，探头与工件接触愈好，声波导入工件的能量多。因此高的表面光滑度对声波耦触愈好，声波导入工件的能量多。因此高的表面光滑度对声波耦合有利。合有利。工件内部组织及化学成分的影响，不同工件组织对超声的能量工件内部组织及化学成分的影响，不同工件组织对超声的能量衰减是不同的。（在钢中与铸铁中的区分）衰减是不同的。（在钢中与铸铁中的区分）工件形态的影响，图工件形态的影响，图2-18与与2-19。缺陷存在状况的影响缺陷存在状况的影响 缺陷的位置，同一缺陷，由于离探测面的距离不同，缺陷的位置，同一缺陷，由于离探测面的距离不同，缺陷波高度与缺陷大小的关系变更如图缺陷波高度与缺陷大小的关系变更如图2-22 缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时缺陷大小，在相同的埋藏深度，不同的缺陷大小时,缺陷波的高度变更也有所差异。缺陷波的高度变更也有所差异。缺陷形态的影响缺陷形态的影响 缺陷性质的影响缺陷性质的影响 缺陷与声束的相对方向缺陷与声束的相对方向 缺陷表面的粗糙程度缺陷表面的粗糙程度 缺陷的指向性缺陷的指向性 试验内容试验内容一、一、试试件尺寸件尺寸测测量量试试件件1(CSK-A)宽宽与高的与高的测测量量 对对比于游比于游标标卡尺的卡尺的测测量量结结果，果，进进行行误误差分析差分析二、二、测测量量试试件件1上缺陷的位置上缺陷的位置三、三、试试件件2(CSK-A)上两个上两个圆圆弧半径的弧半径的测测量量 在在试试件件2上，利用斜探上，利用斜探头头，通，通过仪过仪表上波表上波 程程结结果的果的记记录录，干脆，干脆读读出半径大小。出半径大小。四、薄件衰减系数的四、薄件衰减系数的测测定（定（试试件件2）了解）了解试件宽高的测量试件宽高的测量 利用直探头利用直探头 耦合剂耦合剂 始波始波 底波底波 距离距离a（宽、高）（宽、高）厚度测量波程图厚度测量波程图试件试件缺陷的位置的确定缺陷的位置的确定 确定缺陷位置必需解决缺陷在探测面上的投影位置(即X、Y方向的数值)以及缺陷存在的深度(即Z方向上的数值)，如图所示。探测表面 Y X 缺陷 Z缺陷的位置，大小和性质的确定缺陷的位置，大小和性质的确定 直探头直探头 斜探头斜探头 h=s L h=S*cosr 入射角r SSS缺陷位置测量波程图（直探头）缺陷位置测量波程图（直探头）试件试件2上半径的确定上半径的确定确定参数确定参数r与与R,利用斜探利用斜探头头试件试件2上半径波程上半径波程图图薄件衰减系数的薄件衰减系数的测测定定 薄工件衰减系数只存在介薄工件衰减系数只存在介质质衰减，因此通常接受比衰减，因此通常接受比较较多次反射多次反射回波高度的方法，回波高度的方法，测测定衰减。其衰减系数：定衰减。其衰减系数：式中，式中，m、n超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；Hm、Hnm和和n此底面反射波高度；此底面反射波高度；d试块试块的厚度。的厚度。参数确定参数确定m、n超声波的底面反射次数；超声波的底面反射次数；Hm、Hnm和和n此底面反射波高度；此底面反射波高度；人有了学问，就会具备各种分析实力，明辨是非的实力。所以我们要勤恳读书，广泛阅读，古人说“书中自有黄金屋。”通过阅读科技书籍，我们能丰富学问，培育逻辑思维实力；通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平，培育文学情趣；通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的学问面。有很多书籍还能培育我们的道德情操，给我们巨大的精神力气，鼓舞我们前进。