太阳能电池测试设备.ppt
专业太阳能电池测试设备*太阳能电池QE量子效率测量系统/IPCE测量系统/SR光谱响应测试系统*太阳能电池综合测量系统（QE/IPCE/SR/IV曲线测量系统）*太阳能电池I-V测量系统*AAA级太阳光模拟器（150W1600W）*AAA级大面积连续光源太阳能模拟器*霍尔效应测量系统*深能级瞬态谱仪*ELMappingSystem(缺陷测试仪)*Inline/offline少子寿命测试仪*Inline/offline薄膜应力测量系统*激光椭偏仪（薄膜太阳能电池测试）/光谱椭偏仪（紫外、可见光、近红外）*高精度台阶仪巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，太阳能电池QE量子效率测量系统/IPCE测量系统/SR光谱响应测试系统主要应用：测试各种太阳能电池，如C-Si,CdTe,CiGs,III-V,multi-junction,TandemJunction,DSSC和Organic等太阳能电池）绝对光谱响应、外量子效率、IPCE测量，适合各种太阳能电池性能研究及测试，并符合IEC60904-8,&ASTME1021-(2001)测试标准；支持扩展：光谱范围1100nm1800nm；偏置光源+滤波片+偏压源对双结、多结太阳能电池各个结独立测量；内量子效率、反射率、透射率测量；量子效率Mapping功能；测量模式：交流或者直流模式可选；测试功能：绝对光谱响应，IPCE，外量子效率，内量子效率，绝对反射率，相对反射率，绝对透射率，相对透射率等；基本参数：光谱范围300nm1100nm（1100nm1800nm可选）；光谱重复精度0.05nm;巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，直流QE量子效率测量系统/IPCE测量系统/SR光谱响应测试系统主要应用：测试各种太阳能电池，如Si基,DSSC燃料敏化电池、Organic有机太阳能电池等）绝对光谱响应、外量子效率、IPCE测量，适合各种太阳能电池性能研究及测试，并符合IEC60904-8,&ASTME1021-(2001)测试标准；支持扩展IV测量功能：完整I-V曲线测量、完整P-V曲线测量、短路电流Isc测量、开路电压Voc测量、短路电流密度Jsc测量、峰值功率Pmax测量、峰值功率电流Imp测量、峰值功率电压Vmp测量、效率测量、填充因子FF测量、串联电阻Rs测量、并联电阻Rsh测量、光强mW/cm2测量Cell温度测量；测量模式：直流DC测量功能：绝对光谱响应，IPCE，外量子效率；基本参数：光谱范围300nm1100nm；光谱重复精度0.05nm;电流测量精度：fA;巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，太阳能电池综合测量系统主要特点：绝对光谱响应，IPCE，外量子效率，内量子效率，绝对反射率，相对反射率，绝对透射率，相对透射率等；联合AAA级太阳能模拟器；整合高性能测量源表；全面IV特性测量；显微可视系统；节省空间；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，太阳能电池I-V测量系统主要特点：配合AAA级太阳能模拟器标准化测量全面测试真空吸附夹具（变温可选）基本测试：完整I-V曲线测量、完整P-V曲线测量、短路电流Isc测量、开路电压Voc测量、短路电流密度Jsc测量、峰值功率Pmax测量、峰值功率电流Imp测量、峰值电压Vmp测量、Cell效率测量、并联电阻Rs测量、串联电阻Rsh测量、光照强度mW/cm2测量、Cell温度测量、填充因子FF测量等；黑暗条件下IV测量功能：弱光或者黑暗条件下并联电阻测量、反向电流-反向电压测量；温度系数测量功能：完整的I-V和P-V曲线测量在15、25、35、45、55温度下，短路电流温度系数测量、开路*电压温度系数测量、峰值功率温度系数测量；Cell稳定性和寿命分析：I-V曲线随时间变化特性分析；Isc、Voc、Pm、Vm、Im、FF、和Jsc分析；IV标准化测试功能：测试结果可追溯到IEC60891&ASTME1036-96标准；并且包括参考电池与测试电池之间，和标准太阳光谱AM1.5G与太阳能模拟器之间；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，AAA太阳能模拟器（SolarSimulator）全世界唯一AAA太阳能模拟器！同时符合三个国际标准ASTM3A级标准、IEC3A级标准、JIS3A级标准；主要技术特点：1，采用专业氙灯150W6000W氙灯；2，照光面积直径：70mm*70mm;100mm*100mm;156mm*156mm;180mm*180mm;203mm*203mm；3，光谱匹配度：25%,A级；4，辐射空间均匀性：2%，A级；5，时间不稳定性：1%，A级；6，辐射强度：优于1.5太阳光（原始值，其他更高辐射强度模拟器可根据客户要求定制），辐射强度任意可调；7，连续照射模式；8，可以任意调节照射方向以及灯的位置；9，用户可自己设定任意光照强度；10，灯使用寿命计时；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，AAA太阳能模拟器（SolarSimulator）XES-4001S4,000Wxenonlamp,for300mmXES-6001S6,000Wxenonlamp,for500mm1，光谱匹配度：A级(或B级)；2，辐射空间均匀性：A级(或B级)；3，时间不稳定性：A级(或B级)；4，辐射强度：优于1.5太阳光（原始值，其他更高辐射强度模拟器可根据客户要求定制），辐射强度任意可调；5，连续照射模式；辐射强度反馈控制器（Option）便携式AAA级太阳能模拟器技术指标：氙灯功率：300W；光谱范围：350nm750nmor350nm1100nm(可扩展);光谱匹配性：25%（ClassA）；辐射均匀性：2%（ClassA）；时间不稳性：1%（ClassA）；辐射面积：24mm*24mm（40mm*40mm）or36mm*36mm（60mm*60mm）；辐射强度：1sun(70%原始强度)；辐射强度连续可调：5%100%or30%100%；控制模式：内置控制器Or计算机控制RS232C；氙灯使用寿命：平均500小时；曝光时间：0.5s99999.9s;携式太阳能电池I-V测量系统价格优惠！主要技术特点：采用高性能150W氙灯；照射面积：40mm40mm；光谱匹配：25%,A级；光照均匀性：2%,A级；时间稳定性：1%,A级；辐射强度：输出功率30%可调；连续照射模式；可以任意调节照射方向以及灯的位置；基本IV特性测量：Isc,Jsc，Voc,Pmax,Vmp，Imp，CellEfficiency(),FillFactor(FF)，Rs，Rth；温度系数测量可选：(mA/C)，(mV/C)，(mw/C)巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，AAA级大面积太阳能模拟器主要特点：匹配国际标准：ASTM3A级标准、IEC3A级标准、JIS3A级标准；连续照射光源；照射时间仸意可调；全光谱照射光源；有效照射面积：1400mm*1100mm，1800mm*1500mm，2000mm*1200mm，3000mm*3000mm;（其他面积可根据客户的要求定制）全面积范围内自动光强校准功能；完善的IV测量功能及小效率测试附件；辐射强度：1000W/m2；空气冷却或者水冷两种方式可选；巨力科技 电话：+86-10-59073097，13911120013 CIS少子寿命测试仪（online/offline）欧洲太阳能电池CIS少子寿命测试仪/CIS载流子测试系统是一个自动化的少数载流子寿命的测试系统；这个测试系统既可以被安装在生产线上进行在线测试，也可以作为独立系统进行离线测试；激光光源：组成：具有温度稳定性的激光二极管半导体和脉冲控制器脉冲持续时间500ps；重复率高达80Mhz;激光的光强：0-2AM0；时间与幅度转换系统：时间分辨率：30ps；包括触发线路系统；巨力科技 电话：+86-10-59073097，13911120013 霍尔效应测量系统（HallEffectMeasurementSystem）主要技术指标：电阻率测量范围:1x10-5Ohm*cm-1x107Ohm*cm载流子浓度范围:107cm-3-1021cm-3测量范围:1nA-10mA电流分辨率:25pA测量范围:10mV-10V（自动量程选择）分辨率:500nV测量功能：测量功能：电阻率Rho测量；霍尔系数RH测量；V-I曲线测量；VH电压测量；载流子浓度测量；迁移率测量；载流子形式测量（norp）;磁电阻等；主要特点：独有的非线性电压补偿功能；磁场：永磁体0.45T;电磁铁：02T，磁场大小软件可控；自动磁场归零；低温选件：77K；VanderPauw和桥式barshape测量；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，深能级瞬态谱仪（DLTS）应用：半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！在光伏太阳能电池领域中，用于分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。测量模式：C-DLTS（电容模式）CC-DLTS（定电容模式）I-DLTS（电流模式）DD-DLTS（双关联模式）Zerbst-DLTS（Zerbst模式）O-DLTS（光激发模式）FET-Analysis（FET分析）MOS-Analysis（MOS分析）ITS(等温瞬态谱)TrapprofilingCCSM（俘获截面测量）I/V,I/V(T)（查理森Plot分析）C/V,C/V(T)TSC/TSCAPPITS(光子诱导瞬态谱)DLOS(特殊系统）技术指标：温度范围：77K450K电压灵敏度：1V电容灵敏度0.01fF巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，快速电致发光ELMapper系统-缺陷测试仪InlineSystem:可整合到产线上，进行实时单片或组件缺陷测试；OfflineSystem:离线对单片或者组件进行缺陷测试分析；1.组件测试系统：最大测试尺寸2200mmx1200mm，适合薄膜、单晶和多晶Module缺陷测试，分辨率1280 x1024，图像采集时长100ms15s2.单片测量系统：最大测量尺寸160mmx160mm，适合单晶、多晶测试，分辨率1280 x1024，图像采集时长500ms5s，最大可调电流10A；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，薄膜应力测量系统（FilmStressMeasurementSystem）世界顶级薄膜应力测量系统，MOS技术荣获美国专利！曾荣获2008InnovationoftheYearAwardee！技术指标：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：200mm；300mm(XY)（可选）；2.XY双向扫描速度：最大20mm/s；3.XY双向扫描平台扫描最小步进/分辨率：2m；4.薄膜应力测量范围：5104Pato4109Pa）；5.薄膜应力测量分辨率：优于0.1MPa;6.测量精度：优于0.1%；7.测量重复性：优于0.1%；8.平均曲率分辨率：2e-5(1/m)1-sigma(100kmradius)；9.平均曲率重复性：210e-51/m；主要特点：1.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描；2.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力2D成像分析；3.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；4.支持变温热应力测量功能，温度范围-65Cto1000C；5.薄膜残余应力测量；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，椭偏仪（激光/全光谱）激光椭偏仪激光波长：632.8laser膜厚测量精度：0.001nm折射系数精度：0.0001应用：太阳能薄膜电池光学性能及膜厚测量；光谱椭偏仪膜厚范围：0-30000nm折射系数精度：0.0001厚度准确度：0.01nm入射角度：20-90波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）Psi=0.01，Delta=0.02相关设备：变角度单波长椭偏仪（632.8nm）；变角度多波长椭偏仪（532,632.8,1064nm,）；变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；全自动光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；红外光谱椭偏仪等；巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，探针台阶仪探针台阶仪KLATencor是世界上最著名的微电子和半导体领域设备供应商。型号：Alpha-StepIQ，P16技术指标：台阶重复性：7.5或0.1%(1）分辨率：亚埃20m/0.012扫描长度：10mm扫描速度：2m/sec到200m/sec扫描方式：样品台固定，stylus双向移动实时图像可以通过菜单输出为和/或保存接触力：1100mg；技术特点：世界范围内的多语言支持先进并定制的二维分析能力薄台阶高度、表面粗糙度、微观形貌、薄膜包覆层表面实效的精确测定与分析多达48个表面分析参巨力科技巨力科技电话：+86-10-59073097，巨力科技 电话：+86-10-59073097，13911120013 中国独家代理商：GiantForceTechnologyCo.,Ltd.巨力科技有限公司地址：北京市朝阳区朝外大街万通中心B座4ATel:010-59073097/18601200848Email:
