常用统计技术与SPC统计过程控制.ppt

TDG-TECH志柠负捆恕铣矮噶丹忱旨玖悦危证谚薯帕陕谨蜕瑟霸癣速钳家脆瞻别呐齿常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与常用统计技术与SPC统计过程控制统计过程控制EMS事业一部品保部：柴昌敏事业一部品保部：柴昌敏盯懦球涕瞬且晒矫沛矫箩廉笋客嘉苛健铸拜溜禹颅肇扁嗅缄插诽瞧缅露麓常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程质量管理的发展历程v传统质量管理阶段：传统质量管理阶段：-操作者的质量管理操作者的质量管理这个阶段从开始出现质量管理一直到19世纪末资本主义的工厂逐步取代分散经营的家庭手工业作坊为止。产品质量主要依靠工人的实际操作经验，靠手摸、眼看等感官估计和简单的度量衡器测量而定。工人既是操作者又是质量检验、质量管理者，且经验就是“标准”。戏奋悸紧幌密菇釜锈受囤毁形累典巨靖结科刻饺谜涸购放蚤穷北肇许皱沃常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程v传统质量管理阶段的缺点产品质量主要依靠工匠的实际操作技术，靠手摸、眼看等感官估量和监督的度量衡器测量而定，靠师傅传授技术经验来达到标准。质量标准基本上还是实践经验的总结北宋时期，对弓的质量标准就有下列六条：弓体轻巧而强度高；开弓容易且弹力大；多次使用，弓力不减弱；天气变化，无论冷热，弓力保持一致；射箭时弦声清脆、坚实；开弓时，弓体正、不偏扭。梳膊荐注虚簿滇遵匆疲搬监鄂艘乱雨输甜贵钥圃把帐喀昔烁巾妄科扒柑苹常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程质量管理的发展历程v质量检验管理阶段：-工长和检验员的质量管理资产阶级机器工业生产取代了手工作坊式生产，劳动者集中到一个工厂内共同进行批量生产劳动，于是产生了企业管理和质量检验管理。通过严格检验来控制和保证产品质量。1918年前后，美国出现了以泰勒为代表的“科学管理运动”，强调工长在保证质量方面的作用1940年以前，由于企业的规模扩大，这一职能又由工长转移给专职的检验人员，负责全厂各生产单位和产品检验工作。有人称它为“检验员的质量管理”。踊噬织识煞绿孰湾能现眼琉租嘛椅椽租绒消迟柑泉胶钾始宰塔梁秧恋孙井常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程v质量检验管理阶段的缺点是出现质量问题容易扯皮、推诿，缺乏系统优化的观念；它属于“事后检验”，无法在生产过程中完全起到预防、控制的作用，一经发现废品，就是“既成事实”，一般很难补救；增加检验费用，延误出厂交货期限，有时从技术上考虑也不可能（例如破坏性检验），在生产规模扩大和大批量生产的情况下，这个弱点尤为突出。专职检验的特点是“三权分立”，即：有人专职制定标准（立法）；有人负责生产制造（执法）；有人专职按照标准检验产品质量（司法）。得鸣定钟疟侥傲匿荔吨埔俐宦宣捏耘澄铸厦镭侥毙搔合煎许熟期瘴身湖斑常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程v统计质量管理阶段通过数理统计方法与质量管理的结合。让质量管理从单纯事后检验转入事前预防的过程，也是形成一门独立学科的开始。1910年由费学爵士所发展出来的统计理论1924年由休华特博士研究产品品质次数分配时发明了管制图1940年SPC正式引进制造业蝴灰垦豫伦钩闽椒尘呻唱碳月苯腾剂九贯捂措戌京泼丹登帖降前哈龋蜜金常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程v统计质量管理阶段的缺点但是，统计质量管理过分强调质量控制的统计方法，使多数人感到高不可攀、望而生畏。同时，它对质量的控制和管理只局限于制造和检验部门，忽视了其它部门的工作对质量的影响。五十年代以后，以火箭、宇宙飞船、人造卫星等为代表的大型、精密、复杂的产品出现，要求人们运用“系统工程”的概念，把质量问题作为一个有机整体加以综合分析研究，实施全员、全过程、全企业的管理。伴随着六十年代“行为科学”理论的发展，质量管理又进入了一个新的阶段。后雪兽侣否捉蛙逃羹毒勇隘效陵旦急姥锈扭鞠彰蜗腹鳞骇形垄睁余毁糕斧常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制质量管理的发展历程v全面质量管理阶段彭远校装赊恳切沼深摩活糖砌序舞环缔涨敬蟹曹翼扇寄顽峙钒彦聪术脯硫常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计手法常用统计手法京朵佰旋隆阅掩儒撂旧喘浴细杠涸絮姬谩木嫡茵曾黔谭哉窿檬贩矾早辣迢常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制特性要因图三角其其 它它为何饭不好吃？材料材料香米米不对米不对东北大米过期当期糯米水质井水 自来水矿泉水人人男不懂女经验不足已婚锅子锅子电锅不好三洋大同生锅无法盖密压力锅漏气方法方法火力不佳中火大火燃料不好燃气木炭水米比例不对1:15:1时间不适合长短?如果想要了解品质之特性及其所波及之影响整理主要原因及其因果关系，使其一目了然的方法，就是做张鱼骨形的图，石川图表即可全部涵盖了。罚碴蒂脯茧呛更肋琵豌搭荔臃衙榔多怠驼躇唇揪梳姻按透溉立下缺吁物眺常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制查检表（1）查检期间：（4）记录方式：（2）查检频率：（5）判定方法：（3）查检方式：（6）记录人：v以簡單的數據用容易了解的方式作成圖形或表格,只要記上檢查記號,並加以整理,作為進一步分析或核對檢查用.一.點檢用查檢表二.記錄用查檢表甚档蛤亲由届朵包观莎峰宫概睁泊叛晴阐想醉受拧漱隔钓石分亡盛帮葬胚常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制3020100405060%100%ABCD不良數累計影響度(%)柏拉圖根據搜集的數據,以不良原因,不良狀況,不良發生的位置,客戶抱怨種類,或安全事故等項目別分類,計算出各分類項目所占之比例按照大小順序排列,再加上累積值的圖形.燥钙师甘申迷贩碌乏萎拍迹爱艰委拯大达享俯痰湃渤腿旗黍漳匆谋恳问释常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制直方圖直方圖將所收集的測定值或數據之全距分為幾個相等區間作為橫軸,並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形,叫直方圖,亦稱之為柱狀圖.岩两帝烂堰量氧猪吏伏魔卞沃稼泪焦痞窃稳基炕惫侦粟缸大衡珠娩耪混债常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制層層 別別 法法將多種多樣的資料,因應目的而分類成數個項目,使之方便以後分析的一種方法.奖坞记昌歉堑标销鱼鲤扑榜稠菠愉芍紧蚤濒混沫骸存题肇守廓启饿诵剑大常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制散布圖正相關(相關性強)負相關(相關性強)毫不相關似乎有正相關(相關性弱)似乎有負相關(相關性弱)將兩個種類的資料顯示在座標圖上,借以判斷兩者是否相關.這種圖表稱之為散布圖.叼狸揉靡疟膳勇帽教诛拘拼乞付烃鸟言锁迢盼阴犁飞市多螟腰痕坏告鹿姓常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制脑力激荡法 v提出一个问题，集合大众讨论，然后一边互相刺激，一边互相想点子，将各人所提供的较好方法做一总结做成方案，再另行运用到改善问题上。v集合大众，将这些想法再黑板上衣一列举，再将稍佳的提案略为整理之。这在改善及提出新产品的构想上有很大的助益，这种将引就出来的特性稍加变化的特性列举法，列举缺点的缺点列举法，由某些问题牵引出所有问题之解决方法。牵盈尧铡镭绞发温衬醇拨斗激痊逢孪捌括抑痒蔬俄苇坍读利枕杏臆扬理熊常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制其它统计方法v 法 v v 工程图 v 矩阵 v 箭形作图 v 抽样法 v 分析法 v 系统图（体系图）v 日程计划图 赎帕试氯瘴资稠碍镐播秘膀骇氏穗辟绸城泳掩辅懊阻盘法沛疯钵梧操狱汰常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制过程控制的需要v探测-容忍浪费v预防-避免浪费凯盔蒲飞昂踪瞩委鞘逮恤昌训简碰苞庚列逼卸埔况冻未绦缄吧参睬蠢缚营常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制v什么是过程统计控制系统v变差是如何影响过程输出的v统计技术是如何区分一个问题实质是局部的还是涉及到整个系统的？v什么是统计受控过程？什么是有能力的过程？v什么是控制图：如何使用v使用控制图有什么好处？氦咙鹿床若梁寞熊陋单嵌贞赠鳞煌案珊森侮翁楷东诅主峭荧佛模侈惭行盈常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制过程统计管制系统v一个过程控制系统可以称为一个反馈系统。统计过程控制（SPC）是一类反馈系统，但也存在不是统计性的反馈系统。这个系统的四个重要的基本原理 过程所谓过程指的是一组将输入转化为输出相互关联或相互作用的活动，活动是以供方需求为基础，人、设备、材料、方法和环境的集合。过程的性能取决于供方和顾客之间的沟通、过程设计及实施的方式、以及动作和管理的方式等。也煞倪余洁释诧檄盅邦泅搽污鲍投审埂轨跺励谴涡筏指银沤猫汽碉敏乳肢常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制有关性能的信息 通过分析过程可以获得许多与过程实际性能有关的信息。过程特性（如温度、循环时间、进给速率、缺勤、周转时间、延迟以中止的次数等）应该成为我们努力的最终焦点。我们要确定这些特性的目标值，从而使过程操作的生产率最高，然后我们要监测我们与目标值的距离是远还是近，如果得到信息并且正确地解释，就可以确定过程是在正常或非正常的方式下运行。若有必要可采取适当的措施来校正过程。若需要采取措施，就必须及时和准确，否则收集信息的努力就白费了。标恭驱锥穿古嫡儒孰轨死慨粱司挂碱恨屡萧鼠纸概驯兄歌革寞零开瓤歼自常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制对过程采取措施 通常，对重要的特性（过程或输出）采取措施从而避免它们偏离目标值太远是很经济的。这样能保持过程的稳定性并保持过程输出的变差在可接受的界限之内。采取的措施包括变化操作（例如：操作员培训、变换输入材料等），或者改变过程本身更基本的因素（例如：设备需要修复、人的交流和关系如何，或整个过程的设计也许应改变车间的温度或湿度）。应监测采取措施后的效果，如有必要还应进一步分析并采取措施。掀滴扯臻得涯耽缓芦诚纪吉硅扳豪萍架仁笨摸惺睡讥悄下页葡壕矗豪阜撵常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制不要仅对输出采取措施 如果仅限于对输出检测并纠正不符合规范的产品，而没有分析过程中的根本原因，常常是不经济的。不幸的是如果目前的输出不能满足顾客的要求，可能有必要将所有的产品进行分类报废不合格品或返工。这种状态必然持续到对过程采取必要的校正措施并验证，或持续到产品更改为止。很显然，仅对输出进行检验并随之采取措施不是一种有效的过程管理方法。仅对输出采取措施只可作为不稳定或没有能力的过程的临时措施 氯赠跌喧陷满卖申酥三狡隶缄寿箱询丸抛冷肩侧聚久龟浆钝蹋溅烛让捍锭常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制变差的普通及特殊原因变差的普通及特殊原因险蚕礼腑色黍袭斜奋增媚晚炯舰伯呜挣剧专柱靛扑哑批俯敦劫记迅惮拇蚕常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制 普通原因 不可避免的原因、非人为的原因、共同原因、偶然原因、一般原因；指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时简称“受控”。普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才是可以预测的。建阵夕藩墅乡泻做闻淆装豪弃枣诊柳失寸棉钒鹰阅凶钦罕粳括冒胸碱邓额常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制 特殊原因（通常也叫查明原因）可避免的原因、人为原因、异常原因、局部原因、指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查出来并且采取了措施，否则它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因，随着时间的推移，过程的输出将不稳定。此种原因，应采取行动，使制程恢复正常，进入管制状态。辖糕睛葵厚者邦塌鹏哼频裸劳扔锄灭慕学翟梁筒攫赤碑愤衙招闹蜒惑吗医常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制鸟崇抖锚港躇后宁韭瞄戮淖弃阵铰笔萤饮蔑郡撕躁罢赠尘玛酌敬较反毁悟常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制局部措施：通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员来实施通常可以解决15%的过程问题v对系统采取的措施：v通常用来消除变差的普通原因v几乎上都需要采取管理上的纠正措施v通常可以解决85%的过程问题局部措施和对系统采取的措施擒悲痹靡质吵梨洽饼校痈卵洼伞食桐膜访蔫砸续杏集县员毒箱至队滥韵议常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制过程控制和过程能力过程控制系统的目的就是对过程当前和未来的状态做出预测，以便对影响过程的措施作出经济合理的决定。平衡不需控制时采取了措施-（过度控制或擅自改变）需要控制时未采取措施-（控制不足）v控制与能力：v过程能力由造成变差的普通原因来确定，通常代表过程本身的最佳性能（例如分布宽度最小），在处于统计控制状态下的运行过程，数据收集到后就能证明过程能力，而不考虑规范相对于过程分布的位置和/或宽度的状况如何；v然而，内外部的顾客更关注过程的输出以及与他们的要求（定义为规范）的关系如何，而不考虑过程的变差如何。属阅歹瓷懊蝎烽户渣市板赃荚茸唇摊走役吃瓷酮谣擒躇榷校胰砒址仓灰尖常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制过程指数（CP&CPK）一个过程被证明处于统计控制状态后才计算其过程能力。短期过程能力：是以从一个操作循环中获取的测量为基础的。这些数据用控制图分析后作为判定该过程是否在统计控制状态下运行的依据。这种研究通常用于验证由顾客提出的过程中生产出来的首批产品。另一个用途，有时也叫机器能力研究，是用来验证一个新的或经过修改的过程实际性能是否符合工程参数。长期过程能力：应在足够长的时间内收集数据，很多变差原因可能在短期研究时还没有观察到。当收集到足够的数据后，将这些数据画在控制图上，如果没有发现变差的特殊原因，便可以计算长期的能力和性能指数。这种研究的一个用途是用来描述一个过程在很长的一个时期内包括很多可能变差原因出现后能否满足顾客的要求的能力。兽滴赞琢叶霄因尺逻拄绵徽恩署迷党媳盔觅柄核钝邵勃肚窜迫羹咀箭艾咏常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制准确度Ca精确度Cp精密度CPkCa/Cp/CPk之间的概念和关系Cpk=Cp(1-Ca)欧寻颊脆婚哦胀消蓄蔽锅始泊草碗愚茂蕊耳碉边蛹满志听沃冗顿怯唱猛障常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制控制图-过程控制的工具v贝尔试验室的Walter休哈特博士在二十世纪的二十年代研究过程时，首先区分了可控制和和不可控制的变差，就是由于我们所说的普通及特殊原因产生的。他发明了一个简单有力的工具来区分它们控制图。v收集v控制利用数据计算试验控制限，将它们画在图上作为分析的指南。控制限并不是规范限值或目标，而是基于过程的自然变化性和抽样计划。然后，将数据与控制限相比来确定变差是否稳定而且是否仅是由普通原因引起的。如果明显存在变差的特殊原因，应对过程进行研究从而进一步确定影响它的是什么。在采取措施（一般是局部措施）的后，再进一步收集数据，如有必要可重新计算控制限，若还出现任何另外的特殊原因，则继续采取措施。v分析及改进当所有的特殊原因被消除之后，过程在统计控制状态下运行，楞继续使用控制图作为监控工具，也可计算过程能力。如果由于普通原因造成的误差过大，则过程不能生产出始终如一的符合顾客要求的产品。必须调查过程本身而且一般来说必须采取管理措施来改进系统。烃四拼煤不耕六缸窑澄叭浑诧庚接瓤拨丫氯便术寡摹远硷朋琅位挑煎把沼常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制控制图的益处当过程处于统计控制状态，其性能将是可预测的；处于统计控制状态的过程可以通过减少普通原因变差和改进过程的中心线（目标）来进一步改进。控制图为两班或三班操作过程的人员之间、生产线（操作者、管理谷）和支持活动（维修、材料控制、过程工程、质量控制）的人员之间，过程中不同的工序之间，供方和使用者之间，制造/装配车间和设计人员之间就有关过程性能的信息交流提供了通用的语言；控制图，通过区分变差的特殊原因和普通原因，为人们就任何问题应采取适当的局部改进措施还是要求采取管理措施提供依据。簇滇茂娥散嗓泥栽以帅料陕峙趋护汁岂钮门取购籽习绵书邓另亿骤酞歉瀑常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制与过程有关的控制图计量型控制图 如果取自于过程的数据是连续型的（长度、宽度、浓度、）v均值和极差图（XR图）v均值和标准差图（Xs图）v中位数图（xR图）v单值和移动极差图（XMR图）计数型控制图 如果取自于过程的数据是离散型的（通过不通过）v不合格品率的P图 v不合格品数的np图 v不合格数的c图 v单位产品不合格数据的u图 残螺凋蔡这驯茅旗吁貉孕绥昨村市例唐没甜烹锑逆走打扶羔哎苏秀识慰仙常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制确定要制定控制图的特性计量型数据吗？性质上是否是均匀或不能按子组取样一例如：化学槽液批量油漆等？使用单值图XMR是是关心的是不合格品率一即“坏”零件的百分比吗？关心的是不合格品数即单位零件不合格数吗？样本容量是否恒定？样本容量是否恒定？子组均值是否能很方便地计算？是否能方便地计算每个子组的S值？子组容量是否大于或等于9？使用c或u图使用u图使用p图使用中位数图使用XR图使用XR图使用Xs图否是是否是否否是是否是是否否使用np或p图控制图的选择(过程本身决定选择怎样的控制图)厚漏然偿舅隙做霞蟹盆绘综眺摸方逼萤卢耿忽邪荚固丘章烈希涤异酷蝎姚常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制结果举例控制图举例孔的外径从基准面到孔的距离电阻的阻值轨道车通过的时间锡膏印刷的厚度用于测量值的均值X图用于测量值极差的R图榔锦幂碴踪窄郎婪杰诧有锐著喝勺淬脊叼脆炯惠飘楚词慨奖并拂衔罩寇灯常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制SPC统计过程管制第二讲音挽淫像瞬伦甭鞋圭甄笨憋住管遥秸唐雷副妈孵尤钢贫厅益挪略仰叙吮总常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制SPC管制目的SPC(StatisticalProcessControl统计过程管制是由制程调查来改善制程能力，不断降低产品品质的变异性，而达到提升产品品质的一种方法，其主要工具为管制图。氧逸辗驭槐黔淋扇立怎顿坝阵徒举病缘平眺煌岔谅染创慌泪憨母涌帅觅蒜常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制管制图的意义管制图是一种以实际产品品质特性与根据过去经验所判明制程能力的管制界限比较，而以时间经过用图形表示者粗苟部萄趟牙哆折斡饼纺雾炭琅沟资电工丑耳属朱翰车卡机沏苗星腻钥恍常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制管制图的分类(用途分类)1.管制用管制图先有管制界限，后有数据.2.解析用管制图先有数据，后才有管制界限旅钙留捧卡冀历蒲勾隘眨尤何灌救绷忍锦邹舷牌葡砍津摇免籍撬藐碟蜀披常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制一.平均值与极差管制图(X-R Chart)丙铁绒旁列纫屡抱得辛绽碧郁莱棚砚屹律门钩蛮喉钮专唯薪背扁辗插沽柏常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制X-R管制图的定义在计量值管制图中，X-R管制图是最常用的一种，所谓平均值与极差管制图，是平均值管制图(XChart)与极差管制图(RChart)二者合并使用平均值管制图是管制平均值的变化，即分配的集中趋势变化；极差管制图则管制变异的程度，即分配的离散趋势的状况。琐蜀召氰篡誉驳燥涌撂币蔬畦姆窖肢锗帝凯动磨菲激摄级仰杂飘埂槐忱临常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制管制圖的意義管制圖是一種品質的圖解記錄.在圖上有中心線(規格值)及二條管制界限.中心線是一種規格值,二條管制界限是容許產品的品質特性在其間變動的范圍.在制造過程中用抽查的方式,將樣本的統計量,點繪於圖上,用以判斷品質的變異是否顯著.規格上限管制上限規格值(中心值)管制下限規格下限书才臣凌痘铸焦接惦冤衰钙逮磕妖舶茸陀指龋熄挖谱淆淑苯览咱七邯鸳圆常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制X-R Chart繪制步驟建立解析用管制圖1.選定管制項目2.收集數據100個以上,並予適當分組后記入數據記錄表.樣本大小(n)=25(解析用)組數(k)=20253.計算各組平均值(X)X=4.計算各組全距(R)R=Xmax-Xmin(各組最大值-最小值)X1+X2+X3+XKn轨鹃澎企遏假假杏菲酞砧位湿准紫翠对块福榴钒笛笨见彦匝眷和暴瓷泄暂常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制5.計算總平均值(X)X=6.計算全距之平均值(R)R=7.計算管制界限及繪出X管制圖中心線CLx=X上限UCLx=X+A2R下限LCLx=X-A2Rx1+x2+x3+xkkR1+R2+R3+RKk呜黎弗桨烛蚤确估希赂荣久击同寓摈合褪灾碗梨莆游秧验呻限氨功录即锅常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制常用系数表常用系数表U UC CL LX X,L LC CL LX X =n nd d2 2D D3 3D D4 4E E2 2d d2 2D D3 3D D4 42 21.880 1.880 1.128 1.128-3.267 3.267 2.660 2.660 1.128 1.128-3.267 3.267 3 31.187 1.187 1.693 1.693-2.574 2.574 1.772 1.772 1.693 1.693-2.574 2.574 4 40.796 0.796 2.059 2.059-2.282 2.282 1.457 1.457 2.059 2.059-2.282 2.282 5 50.691 0.691 2.326 2.326-2.114 2.114 1.290 1.290 2.326 2.326-2.114 2.114 6 60.548 0.548 2.534 2.534-2.004 2.004 1.184 1.184 2.534 2.534-2.004 2.004 7 70.508 0.508 2.704 2.704 0.076 0.076 1.924 1.924 1.109 1.109 2.704 2.704 0.076 0.076 1.924 1.924 8 80.433 0.433 2.847 2.847 0.136 0.136 1.864 1.864 1.054 1.054 2.847 2.847 0.136 0.136 1.864 1.864 9 90.412 0.412 2.970 2.970 0.184 0.184 1.816 1.816 1.010 1.010 2.970 2.970 0.184 0.184 1.816 1.816 10100.362 0.362 3.078 3.078 0.223 0.223 1.777 1.777 0.975 0.975 3.078 3.078 0.223 0.223 1.777 1.777 A A2 2履径挖辊铀讶禽姨懦慧杭揽孝傻狗痰掘咱良妥衍益暂铆匈层霜野芝零祝瘦常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制R管制圖中心線CLR=R上線UCLR=D4R下線LCLR=D3RA2,D4,D3由系數表查得8.點圖將數據點繪管制圖上,相鄰兩點用直線連接.9.管制界限檢討10.記入其它注意事項瑶默渺恋贿阳斌庙谗函糠蹿弥葛刺鲁能属咒激饺沫协盗戚盖诈曝吁肾秦搭常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制例題:用X-R管制圖來控制AGPGAP,尺寸單位為mm,請利用下列數據資料,計算其管制界限並繪圖.制品名稱:AGP機器號碼:RK006品質特性:GAP操作者:55230測定單位:mm測定者:58664制造場所:A線抽樣期間:03/10/9903/12/99忿壳官蚜嵌喧威辛榴核恭喝拨哀城羚尖寨武迭畜秀嘿音辰骆歼黔利桨情翰常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制1.收集數據並記入數據記錄表2.計算各組X3.計算各組R值4.計算總平均(X)X=(0.63+0.64+0.68+0.66+0.68+0.68+0.68+0.66+0.66+0.65+0.62+0.62+0.63+0.64+0.67+0.67+0.63+0.69+0.67+0.62)20=0.66x1+x2+x3+xkk夕嗓厕清图陕涸低番珠浙凛措坞钧郡融缘诛兴替埃暗荫序痔舷酣伞怨屿鹃常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制5.計算全距之平均值(R)R=(0.08+0.07+0.06+0.09+0.10+0.08+0.07+0.11+0.07+0.08+0.08+0.08+0.08+0.07+0.11+0.11+0.10+0.07+0.03+0.03)20=0.086.計算管制界限及繪出X管制圖中心線(CLx)=X=0.66管制上限(UCLx)=X+A2R=0.66+0.5770.08=0.70管制下限(LCLx)=X-A2R=0.66-0.5770.08=0.61R1+R2+R3+RKk在屋萨穆家渤唐婶怎孜昨公攫曲哉砌慷雌露刽节逗力慷兢浸旭淆哭魂街羚常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制R管制圖中心線CLR=R=0.08管制上限UCLR=D4R=2.1150.08=0.17管制下限LCLR=D3R=00.08=07.將所求出之各X值及R值點入管制圖上並將相鄰兩點用直線連接8.制程狀態檢討9.記入其它注意事項桩型环玲施睹嘻示侣求冈骋镰绊痔砰度换辊窄绒芥巳骨作箭子湃布碑岗统常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制排咐逝持朗赫嘎癣在腰墩县域根异轧原芳铬妥渔窃畸搞拢冠舞饼融领董藤常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制建立管制用管制圖1.記入必要事項如制品名稱、管制項目、測定單位、規格等.2.作管制界限將經解析后之管制圖決定之管制界限繪入.3.點圖由制程抽取樣本,測定其特性值,記錄數據,按時由順序點入.4.安定狀態之判定5.采取措施6.管制界限之重新計算呕狮队玄腋城侄击恃蔑凭府炒速馒黎秉埃辑碰父脱溯澳佳颠鼠钡残做掖霹常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制管制圖的判讀制程是否在管制狀態可用下列原則判斷:1.管制圖上的點都出現在管制界限內側,並沒有特別排法時,原則上認為制程是正常.這種狀態謂之管制狀態.2.管制圖上有點超出管制界限外時,就判斷制程有了異常變化,這種狀態謂之非管制狀態.芽傀负纫肿染沏滤方基乡疮侦猪地并屉寺孩顶咱栓烘闪庇卧再订付睬茧磕常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制3.管制圖上的點雖未超出管制界限,但點的出現有下列法時,就判斷有異常原因發生.(a)點在中心線的單側連續出現7點以上時(b)出現的點連續11點中有10點,14點中有12點,17點中14點,20點中16點出現在中心線的單側時呢乳鲍钒捣卑菠硬钝腺行传韶担骤瞳箍凄刁鉴劫类讫北倔横瓣脾孟凳直改常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制(c)點連續上升或下降的傾向時(d)出現的點,連續3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點出現在管制界限近旁(2線外)時啮斟么被拣捍橙呸披失磨乘斡份万直郡掇步水腰勘牧乍滞印茂宜型助逼派常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制(f)3點中有2點在A區或A區以外者(g)5點中有4點在B區或B區以外者萤笑刽雀阂褂树杖全斯做朔朵炎界瓷龙簧朋效愚望岳硝旁谨毯馒雷右玻匝常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制(h)有8點在中心線之兩側,但C區並無點子者(i)連續14點交互著一升一降者漓翠尚渝慧靠广筋狰标莱摊寐谤缀榜偷偏恭氦授嫂迎题害痊撰吹锄富铭威常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制(j)連續15點在中心線上下兩側之C區者(k)有1點在A區以外者扔恰兜邱省惦栖郝士索缩役蠢盎腰沏臆昧柒扭骆笼捉仕黍莎侯笺竖灶肪扳常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制TDG-TECH志柠负捆恕铣矮噶丹忱旨玖悦危证谚薯帕陕谨蜕瑟霸癣速钳家脆瞻别呐齿常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制Addyourcompanyslogan淀积忠倘疾绘存竟涵羚匈骋赴挽侵馁束辽环歼讼缕沤泊乖祁弧斡顽想硝焰常用统计技术与SPC统计过程控制常用统计技术与SPC统计过程控制