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现代材料研究分析方法 精华复习 总结 纲要热分析：热分析：热分析：热分析：热分析是在程序控制温度下，测量物质热分析是在程序控制温度下，测量物质热分析是在程序控制温度下，测量物质热分析是在程序控制温度下，测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。的物理性质与温度关系的一类技术。的物理性质与温度关系的一类技术。的物理性质与温度关系的一类技术。一、一、热重法（热重法（TG TG）热重法是在程序控制温度下，测量物质重量与温度关系的一种热重法是在程序控制温度下，测量物质重量与温度关系的一种技术。技术。二、二、差热分析法（差热分析法（DTA DTA）差热分析法是在程序控制温度下，测量待测物质和参比物之差热分析法是在程序控制温度下，测量待测物质和参比物之间的温度差与温度间的温度差与温度 (或时间或时间 )关系的一种技术。关系的一种技术。三、三、差示扫描量热法（差示扫描量热法（DSC DSC）差示扫描量热法是在程序控制温度下，测量输给待测物质和参差示扫描量热法是在程序控制温度下，测量输给待测物质和参比物的能量差与温度比物的能量差与温度 (或时间或时间 )关系的一种技术。关系的一种技术。ABAB段：热重基线段：热重基线段：热重基线段：热重基线B B点：点：点：点：T Ti i 起始温度起始温度起始温度起始温度C C点：点：点：点：T Tf f 终止温度终止温度终止温度终止温度D D点点点点：TeTe外外外外推推推推起起起起始始始始温温温温度度度度，外外外外推推推推基基基基线线线线与与与与TGTG线线线线最最最最大大大大斜斜斜斜率率率率切切切切线线线线交点。交点。交点。交点。Tm Tm 最大失重温度最大失重温度最大失重温度最大失重温度 DTG曲线上出现的各种峰对应着曲线上出现的各种峰对应着TG线的各个线的各个重量变化阶段。重量变化阶段。热重法：热重法：热重法：热重法：热天平测量原理；热重与微商热重曲线；热天平测量原理；热重与微商热重曲线；热天平测量原理；热重与微商热重曲线；热天平测量原理；热重与微商热重曲线；TG/DTGTG/DTG曲线曲线曲线曲线热天平测量原理热天平测量原理 ABAB段：热重基线段：热重基线段：热重基线段：热重基线B B点：点：点：点：T Ti i 起始温度起始温度起始温度起始温度C C点：点：点：点：T Tf f 终止温度终止温度终止温度终止温度D D点点点点：TeTe外外外外推推推推起起起起始始始始温温温温度度度度，外外外外推推推推基基基基线线线线与与与与TGTG线线线线最最最最大大大大斜斜斜斜率率率率切切切切线线线线交点。交点。交点。交点。Tm Tm 最大失重温度最大失重温度最大失重温度最大失重温度 DTG曲线上出现的各种峰对应着曲线上出现的各种峰对应着TG线的各个线的各个重量变化阶段。重量变化阶段。升温速率对升温速率对TG-DTG曲线的影响曲线的影响升升温温速速率率越越大大，所所产产生生的的热热滞滞后后现现象象越越严严重重，往往往往导导致致热热重重曲曲线线上上的的起起始始温温度度Ti和和终终止止温温度度Tf偏偏高高。虽虽然然分分解解温温度度随随升升温温速速率率变变化化而而变变化化，但失重量保持恒定。但失重量保持恒定。中中间间产产物物的的检检测测与与升升温温速速率率密密切切相相关关，升升温温速速率率快快不不利利于于中中间间产产物物的的检检出出，因因为为TG曲曲线线上上拐拐点点变变得得不不明明显显，而而慢慢的的升升温温速速率率可可得得到到明明确的实验结果。确的实验结果。应用：应用：CuSO45H2O脱水历程差热分析法差热分析法差热分析是差热分析是在程序控制温度下，测量物质在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差随温度变化的一种与参比物之间的温度差随温度变化的一种技术。技术。差热分析基本原理差热分析基本原理DTA仪的基本结构差热分析基本原理 差热分析的基本原理，是把被测试样和一种中性物差热分析的基本原理，是把被测试样和一种中性物差热分析的基本原理，是把被测试样和一种中性物差热分析的基本原理，是把被测试样和一种中性物（参比物）置放在同样的热条件下，进行加热或冷却，在（参比物）置放在同样的热条件下，进行加热或冷却，在（参比物）置放在同样的热条件下，进行加热或冷却，在（参比物）置放在同样的热条件下，进行加热或冷却，在这个过程中，试样在某一特定温度下会发生物理化学反应这个过程中，试样在某一特定温度下会发生物理化学反应这个过程中，试样在某一特定温度下会发生物理化学反应这个过程中，试样在某一特定温度下会发生物理化学反应引起热效应变化引起热效应变化引起热效应变化引起热效应变化 ，即试样侧的温度在某一区间会变化，即试样侧的温度在某一区间会变化，即试样侧的温度在某一区间会变化，即试样侧的温度在某一区间会变化，不跟随程序温度升高，而是有时高于或低于程序温度，而不跟随程序温度升高，而是有时高于或低于程序温度，而不跟随程序温度升高，而是有时高于或低于程序温度，而不跟随程序温度升高，而是有时高于或低于程序温度，而参比物一侧在整个加热过程中始终不发生热效应，它的温参比物一侧在整个加热过程中始终不发生热效应，它的温参比物一侧在整个加热过程中始终不发生热效应，它的温参比物一侧在整个加热过程中始终不发生热效应，它的温度一直跟随程序温度升高，这样，两侧就有一个温度差，度一直跟随程序温度升高，这样，两侧就有一个温度差，度一直跟随程序温度升高，这样，两侧就有一个温度差，度一直跟随程序温度升高，这样，两侧就有一个温度差，然后利用某种方法把这温差记录下来，就得到了差热曲线，然后利用某种方法把这温差记录下来，就得到了差热曲线，然后利用某种方法把这温差记录下来，就得到了差热曲线，然后利用某种方法把这温差记录下来，就得到了差热曲线，再针对这曲线进行分析研究。再针对这曲线进行分析研究。再针对这曲线进行分析研究。再针对这曲线进行分析研究。DTA仪的基本结构仪的基本结构差热分析仪通差热分析仪通常由加热炉、温度常由加热炉、温度控制系统、信号放控制系统、信号放大系统、差热系统大系统、差热系统及记录系统组成。及记录系统组成。影响曲线形状的因素影响差热分析的主要因素有三个方面：仪影响差热分析的主要因素有三个方面：仪器因素，器因素，实验条件和试样实验条件和试样。实验条件实验条件升温速率；稀释剂的影响；差热曲线分析 差热曲线分析就是解释曲线上每个峰谷产生的原因，从差热曲线分析就是解释曲线上每个峰谷产生的原因，从而分析被测物质是有那些物相组成的。峰谷产生的原因而分析被测物质是有那些物相组成的。峰谷产生的原因有：有：矿物质脱水矿物质脱水相变相变物质的化合或分解物质的化合或分解氧化还原氧化还原 差热分析的峰只表示试样的热效应，本身不反应更多差热分析的峰只表示试样的热效应，本身不反应更多的物理化学本质。为此，单靠差热曲线很难做正确的解的物理化学本质。为此，单靠差热曲线很难做正确的解释。现在普遍采用的联用技术。释。现在普遍采用的联用技术。差示扫描量热分析法 差示扫描量热分析原理（1）功率补偿型差示扫描量热法；（2）热流式差示扫描量热仪；DTA和DSC的区别X射线检测射线检测X射线在分析方面的应用射线在分析方面的应用一x射线照射后在晶体中产生衍射和散射现象研究物相结构的x射线分析以被照元素产生特征x射线来研究物相化学成分的x射线荧光分析以被照元素对x射线吸收来探测物相的x射线透射分析X射线管射线管X射线管示意图射线管示意图X射线的产生射线的产生X射线的物理基础射线的物理基础X射线管的工作原理射线管的工作原理 整个整个X射线光管处于真空状态。当阴射线光管处于真空状态。当阴极和阳极之间加以数十千伏的高电压时，极和阳极之间加以数十千伏的高电压时，阴极灯丝产生的电子在电场的作用下被加阴极灯丝产生的电子在电场的作用下被加速并以高速射向阳极靶，经高速电子与阳速并以高速射向阳极靶，经高速电子与阳极靶的碰撞，从阳极靶产生极靶的碰撞，从阳极靶产生X射线，这些射线，这些X射线通过用金属铍（厚度约为射线通过用金属铍（厚度约为0.2mm）做成的做成的x射线管窗口射出，即可提供给实射线管窗口射出，即可提供给实验所用。验所用。X射线谱射线谱连续谱：连续谱：强度随波长连续变化的连续谱。强度随波长连续变化的连续谱。特征谱：高速电子将原子的内层电特征谱：高速电子将原子的内层电子驱逐，原子内部电子产生下低能子驱逐，原子内部电子产生下低能量为跃千，多余的能量辐射。量为跃千，多余的能量辐射。特征谱线又称为标识谱，即可以来标识物特征谱线又称为标识谱，即可以来标识物质元素。质元素。X射射线线谱谱我们学过的x射线分析各自利用的是什么线谱？散射现象 相干散射；不相干散射X射线的性质射线的性质X射线衍射产生的条件：Bragg衍射方程及其作用BraggBragg衍射方程重要作用：衍射方程重要作用：(1)已知，测角，计算d；x衍射分析；(2)已知d 的晶体，测角，得到特征辐射波长，确定元素，X射线荧光分析X X荧光光谱法荧光光谱法(XRF)(XRF)X X X X射线荧光分析原理射线荧光分析原理射线荧光分析原理射线荧光分析原理 当样品中元素的原子受到高能当样品中元素的原子受到高能X X射线照射时射线照射时,即即发射出具有一定特征的发射出具有一定特征的X X射线谱射线谱,特征谱线的波长只特征谱线的波长只与元素的原子序数与元素的原子序数(Z)(Z)有关有关,而与激发而与激发X X射线的能量射线的能量无关无关.谱线的强度和元素含量的多少有关谱线的强度和元素含量的多少有关,所以测定所以测定谱线的波长谱线的波长,就可知道试样中包含什么元素就可知道试样中包含什么元素,测定谱测定谱线的强度线的强度,就可知道该元素的含量就可知道该元素的含量.Moseley 定律定律 元元素素的的荧荧光光X X射射线线的的波波长长()随随元元素素的的原原子子序序数数(Z Z)增加，有规律地向短波方向移动。增加，有规律地向短波方向移动。K，S常数，随谱系(L，K，M，N)而定。定性分析的数学基础；定性分析的数学基础；测定试样的测定试样的X X射线荧光光谱，确定各峰代表的元素射线荧光光谱，确定各峰代表的元素。二、二、X X射线荧光光谱仪射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometerX-ray fluorescence spectrometer波长色散型：晶体分光能量色散型：高分辨半导体探测器分光波长色散型波长色散型X射线荧光光谱仪射线荧光光谱仪四部分：X光源；分光晶体；检测器；记录显示；按Bragg方程进行色散；测量第一级光谱n=1；检测器角度 2；分光晶体与检测器同步转动分光晶体与检测器同步转动进行扫描。进行扫描。（3 3）检测器检测器检测器检测器正比计数器正比计数器(充气型充气型)：工作气 Ar；抑制气 甲烷 利用X射线使气体电离的作用，辐射能转化电能；闪烁计数器：闪烁计数器：瞬间发光光电倍增管；半导体计数器：下图半导体计数器：下图定性分析定性分析基本原理基本原理:试样发出的试样发出的X X荧光射线波长荧光射线波长与元素的原子序数存在一定关系与元素的原子序数存在一定关系,即即元素的原子序数增加元素的原子序数增加,X,X射线荧光的波射线荧光的波长变短长变短,关系式为关系式为式中式中K,S:K,S:随不同谱线系列而定的常数随不同谱线系列而定的常数;Z:;Z:原子序数原子序数.基体效应基体效应 试样内部产生的试样内部产生的X X荧光射线荧光射线,在到达试在到达试样表面前样表面前,周围的共存元素会产生吸收周围的共存元素会产生吸收(吸吸收效应收效应).).同时还会产生同时还会产生X X荧光射线并对共存荧光射线并对共存元素二次激发元素二次激发(二次激发效应二次激发效应).).因此即使含因此即使含量一样量一样,由于共存元素的不同由于共存元素的不同,X,X荧光射线强荧光射线强度也会有所差别度也会有所差别,这就是基体效应这就是基体效应.在定量在定量分析时分析时,尤其要注意基体效应的影响尤其要注意基体效应的影响.吸收吸收-增强效应增强效应 物理物理-化学效应化学效应定量分析的方法定量分析的方法外标法外标法内标法内标法 在入射在入射X光的作用下，原子中的电子构成多个光的作用下，原子中的电子构成多个X辐射源，辐射源，以球面波向空间发射形成干涉光；以球面波向空间发射形成干涉光；衍射图：晶体化合物的衍射图：晶体化合物的“指纹指纹”；多晶粉末衍射法：测定立方晶系的晶体结构；多晶粉末衍射法：测定立方晶系的晶体结构；单色单色X射线源射线源样品台样品台检测器检测器X衍射仪工作原理X射线衍射仪射线衍射仪特点 X射线衍射仪与射线衍射仪与X射线荧光仪相似；主要区别：射线荧光仪相似；主要区别：(1)单色X射线源;(2)不需要分光晶体;试样本身为衍射晶体，试样平面旋转；光源以不同 角对试样进行扫描；试样与检测器的转动速度之比为试样与检测器的转动速度之比为2 2：1 1；物相定性分析定性物相分析原理定性物相分析原理 A A、X X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，也即射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，也即决定于各晶面的面间距，而衍射线的相对强度则决定于决定于各晶面的面间距，而衍射线的相对强度则决定于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。每种晶态物质都晶胞内原子的种类、数目及排列方式。每种晶态物质都有其特定的结构，不是前者有异，就是后者有别，因而有其特定的结构，不是前者有异，就是后者有别，因而就有其独特的衍射花样。就有其独特的衍射花样。B B、当试样中包含两种或两种以上的结晶物质时，它们、当试样中包含两种或两种以上的结晶物质时，它们的衍射花样同时出现，而不会相互干涉。的衍射花样同时出现，而不会相互干涉。C C、混合物中某相的衍射线强度取决于它在试样中的相、混合物中某相的衍射线强度取决于它在试样中的相对含量，因此根据各相衍射线的强度比，可以推算出它对含量，因此根据各相衍射线的强度比，可以推算出它们的相对含量。们的相对含量。定性相分析的理论基础定性相分析的理论基础 D.事先对每种单相物质都测定一组面间距d值和相应的衍射（相对）强度，制成卡片；当测定混合物的物相时，只需要被测样品的一组d值和相对强度（I/I0)和卡片相比较，如果其衍射花样中的部分d值和相对强度和卡片中记载的数据完全吻合，则多相混合物中就含有卡片记载的相。粉末衍射文件粉末衍射文件粉末衍射文件粉末衍射文件PDF(Powder Diffraction File)PDF(Powder Diffraction File)卡片卡片卡片卡片 定性相分析的一般步骤定性相分析的一般步骤 制样制样 测量测量d 和和I值值 手工检索未知相的手工检索未知相的PDF卡片卡片 定性相分析的计算机自动检索定性相分析的计算机自动检索电子显微分析第一节 电子光学基础三、静电透镜 电场对电子作用力的方向总是沿着电子所处点的等电位面的法线，从低电位指向高电位，所以沿电子所处点的等电位面切线方向电场力的分量为零，电子沿该方向运动速度分量保持不变。与一定形状的光学介质界面（如玻璃，凸透镜的旋转对称弯曲折射界面）可以使光线聚焦成像相似，一定形状的等电位曲面簇也可使电子束聚焦成像。产生这种旋转对称等电位曲面簇的电极装置。当有一点发散的带电粒子通过对称的电场或磁场时，有汇集到当有一点发散的带电粒子通过对称的电场或磁场时，有汇集到一点，表明对称的电场或磁场对带电粒子有透镜的作用，对电一点，表明对称的电场或磁场对带电粒子有透镜的作用，对电子来说，具有玻璃透镜对可见光的聚焦成像作用子来说，具有玻璃透镜对可见光的聚焦成像作用。四、磁透镜 旋转对称的磁场对电子束有聚焦作用，在电子光学系统中用于使电子聚焦成像的磁场是非匀强磁场，其等磁位面形状与静电透镜的等电位面或光学玻璃透镜的界面相似，产生这种旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。五、入射电子轰击样品产生的物理信号 电子显微分析第二节扫描电子显微镜1.扫描电子显微镜的构造电子光学系统电子光学系统扫描系统扫描系统信号收集及显示系统信号收集及显示系统真空系统和电源系统真空系统和电源系统5.1 二次电子像二次电子产额与二次电子束与试样表面法向夹角有关，1/cos。因为随着角增大，入射电子束作用体积更靠近表面层，作用体积内产生的大量自由电子离开表层的机会增多；其次随角的增加，总轨迹增长，引起价电子电离的机会增多。二次电子像根据二次电子的特点，二次电子像主要反映试样根据二次电子的特点，二次电子像主要反映试样表面的形貌特征，向的衬度是形貌衬度，衬度形成主表面的形貌特征，向的衬度是形貌衬度，衬度形成主要决定于试样表面相对入射电子束的倾角。要决定于试样表面相对入射电子束的倾角。试样表面可以看成由许多不同行倾斜角度的面构试样表面可以看成由许多不同行倾斜角度的面构成的凸尖、台阶、凹坑和颗粒等细节组成，这些细节成的凸尖、台阶、凹坑和颗粒等细节组成，这些细节的不同部位发射的二次电子数也不同，从而形成衬度。的不同部位发射的二次电子数也不同，从而形成衬度。二次电子像衬度的特点、分辨率高、场深大，立体感强、主要反应形貌衬度。背散射电子的特点1.背散射电子能量很高，其中相当部分接近入射电子能量，在试样中产生的范围大，像的分辨率低；2.背散射电子发射系数随试样原子序数增加而增大；3.虽然作用体积虽入射束能量增加而增大，但背散射电子的发射系数受入射束能量影响不大；4.当试样表面倾角增加时，作用体积改变，将显著增加被散射电子的发射系数；5.背散射电子在试样上方有一点光的角分布。当垂直入射时，为预选分布，如下式所示，当试样倾角增加时，分布为非对称分布。第三节第三节 透射电子显微镜透射电子显微镜透射电镜主要结构透射电镜主要结构透射电镜电子图象形成原理透射电镜电子图象形成原理透射电镜样品制备透射电镜样品制备电子衍射及结构分析电子衍射及结构分析透透射射电电镜镜主主要要结结构构 透射电镜电子图象形成原理透射电镜电子图象形成原理1 1散射衬度象散射衬度象散射衬度象散射衬度象 单个原子对入射电子的散射：单个原子对入射电子的散射：单个原子对入射电子的散射：单个原子对入射电子的散射：散散散散射射射射衬衬衬衬度度度度象象象象：样样样样品品品品特特特特征征征征通通通通过过过过对对对对电电电电子子子子散散散散射射射射能能能能力力力力的的的的不不不不同同同同形形形形成的明暗差别象。成的明暗差别象。成的明暗差别象。成的明暗差别象。2 2衍射衬度象衍射衬度象衍射衬度象衍射衬度象 3 3相位衬度象相位衬度象相位衬度象相位衬度象原子对电子的散射原子对电子的散射+Rn-Re(a)(b)带负电荷的电子进入带负电荷的电子进入物质时受到带正电荷物质时受到带正电荷的原子核吸引而发生的原子核吸引而发生向内偏转，受核外电向内偏转，受核外电子的库伦排斥力作用子的库伦排斥力作用发生向外偏转，称为发生向外偏转，称为卢瑟福散射。卢瑟福散射。非晶体的质厚衬度非晶体的质厚衬度散射衬度象散射衬度象散射衬度象散射衬度象成原理成原理成原理成原理 晶体的衍射衬度晶体的衍射衬度电子探针仪（EPMA）是一种微区成分分析仪器。采用被聚焦成小于1um的高速电子束轰击样品表面，利用电子束与样品相互作用激发出的特征x射线，测量其和，确定微区的定性、定量的化学成分。SEM-EPMA组合型仪器，具有扫描放大成像和微区成分分析两方面功能。3.1 工作原理工作原理具有足够能量的细电子束轰击试样表面，激发特征x射线，其波长为：与样品材料的Z有关，测出，即可确定相应元素的Z。某种元素的特征x射线强度与该元素在样品中的浓度成比例，测出x射线I，就可计算出该元素的相对含量。扫描式电子探针构造构造构造构造（1）波长分散谱仪）波长分散谱仪 WDS Wavelength Dispersive Spectrometer通过衍射分光原理，测量x射线的分布。已知d的晶体（分光晶体），反射不同的x射线，在特定位置检测。（2）能量色散谱仪）能量色散谱仪 EDS Energy Dispersive Spectrometer利用固态检测器（锂漂移硅）测量每个x射线光子的能量，并按E大小展谱。得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的x射线能量色散谱，显示于荧光屏上。工作原理工作原理锂漂移硅半导体探测器，习惯记锂漂移硅半导体探测器，习惯记Si(LiSi(Li)探测器。探测器。X X射线光子进入射线光子进入SiSi晶体内，产生电子晶体内，产生电子 空穴对，空穴对，在在100K100K左右温度时，每产生一个电子左右温度时，每产生一个电子 空穴对空穴对消耗的平均能量为消耗的平均能量为3.8eV3.8eV。能量为。能量为E E的的X X射线光射线光子所激发的电子子所激发的电子 空穴对数空穴对数N N为为 N NE E3.83.8 入射入射X X射线光子射线光子E E不同，激发的不同，激发的N N不同，探测器不同，探测器输出电压脉冲高度由输出电压脉冲高度由N N决定。决定。探测系统放大系统分析展谱系统计算机输出 气相色谱分析气相色谱分析1 气相色谱法概述气相色谱法概述 色谱法色谱法(chromatography)：以试样组分在固定以试样组分在固定相和流动相间的相和流动相间的溶解、吸附、分配其他亲和作用溶解、吸附、分配其他亲和作用的差异为依据的差异为依据而建立起来的各种分离分析方法分离分析方法称色谱法。色谱柱：进行色谱分离用的细长管。固定相：（stationary phase）管内保持固 定、起分离作用定、起分离作用的填充物。流动相：（mobile phase）流经固定相的空隙 或表面的冲洗剂冲洗剂。简单的色谱分离过程简单的色谱分离过程 色谱图（chromatogram）：试样中各组分经色谱柱分离后，按先后次序经过检测试样中各组分经色谱柱分离后，按先后次序经过检测器时，检测器就将流动相中器时，检测器就将流动相中各组分浓度变化转变为相各组分浓度变化转变为相各组分浓度变化转变为相各组分浓度变化转变为相应的电信号应的电信号应的电信号应的电信号，由记录仪所记录下的由记录仪所记录下的信号信号信号信号时间曲线时间曲线时间曲线时间曲线或或信号信号信号信号流动相体积曲线流动相体积曲线流动相体积曲线流动相体积曲线，称为，称为色谱流出曲线色谱流出曲线色谱流出曲线色谱流出曲线，2 气相色谱分析理论基础气相色谱分析理论基础一、分配平衡的几个参数：一、分配平衡的几个参数：一、分配平衡的几个参数：一、分配平衡的几个参数：1 1 1 1、分配系数、分配系数、分配系数、分配系数（distribution coefficientdistribution coefficient）在一定温度和压力下，组分在固定相和流动相间在一定温度和压力下，组分在固定相和流动相间达到分配平衡时的浓度比值，达到分配平衡时的浓度比值，用用K K表示。表示。2 2、容量因子容量因子容量因子容量因子（capacity factorcapacity factor）在一定温度和压力下，组分在固定相和流动相之在一定温度和压力下，组分在固定相和流动相之间分配达到平衡时的质量比，称为容量因子，也称分配间分配达到平衡时的质量比，称为容量因子，也称分配比，用比，用k k表示。表示。二、色谱分离的基本理论二、色谱分离的基本理论 1 1 1 1、塔板理论（、塔板理论（、塔板理论（、塔板理论（Martin and Martin and SyngeSynge 1941 1941）塔板理论认为，一根柱子可以分为塔板理论认为，一根柱子可以分为n n段，在每段段，在每段内组分在两相间很快达到平衡，把每一段称为一块理内组分在两相间很快达到平衡，把每一段称为一块理论塔板。设柱长为论塔板。设柱长为L L，理论塔板高度为理论塔板高度为H H，则则 H=L/n 式中式中n n为理论塔板数。为理论塔板数。理论塔板数（理论塔板数（n n）可根据色谱图上所测得的保留）可根据色谱图上所测得的保留时间（时间（t tR R）和峰底宽（和峰底宽（w w）或半峰宽（或半峰宽（w wh/2h/2 ）按下式按下式推算推算：或 速率理论速率理论速率理论速率理论 2-3 2-3 色谱分离条件的选择色谱分离条件的选择一、分离度（一、分离度（resolutionresolutionresolutionresolution）相邻两色谱峰保留值之差与两组分色谱峰底宽度平相邻两色谱峰保留值之差与两组分色谱峰底宽度平均值之比，用均值之比，用R R表示。表示。分离度可以用来作为衡量色谱峰分离度可以用来作为衡量色谱峰分离效能的指标。分离效能的指标。R 越大，表明两组分分离效果越好 保留值之差取决于固定液的热力学性质 色谱峰宽窄反映色谱过程动力学因素 及柱效能高低 对于峰形对称且满足正态分布的色谱峰：R=1,分离程度为98%；R=1.5，分离程度可达99.7%。所以所以R=1.5时可认为色谱峰已完全时可认为色谱峰已完全分开。分开。二、气相色谱检测器的工作原理二、气相色谱检测器的工作原理1 1 1 1、热导检测器、热导检测器、热导检测器、热导检测器原理；就是利用不同的物质具有不同的导热系数。原理；就是利用不同的物质具有不同的导热系数。Self-study&Exam:热导池的构造，工作原理及影响检测灵敏度的因素。2 2 2 2、氢火焰离子化检测器、氢火焰离子化检测器、氢火焰离子化检测器、氢火焰离子化检测器原理：利用有机化合物在氢火焰中燃烧时能产生带原理：利用有机化合物在氢火焰中燃烧时能产生带电离子碎片，收集其荷电量进行测定。电离子碎片，收集其荷电量进行测定。Self-study&Exam:氢火焰检测器的构造，工作原理及影响检测灵敏度的因素。一、一、HPLCHPLC与与GCGC差别差别GCGC：适于能气化、热稳定性好、且沸点较适于能气化、热稳定性好、且沸点较 低的样品；但对高沸点、挥发性差、低的样品；但对高沸点、挥发性差、热稳定性差、离子型及高聚物的样热稳定性差、离子型及高聚物的样 品，尤其对大多数品，尤其对大多数生化样品生化样品不可检测不可检测 占有机物的占有机物的20%20%HPLCHPLC：适于溶解后能制成溶液的样品（包括：适于溶解后能制成溶液的样品（包括 有机介质溶液），不受样品挥发性和有机介质溶液），不受样品挥发性和 热稳定性的限制，对分子量大、难热稳定性的限制，对分子量大、难 气化、热稳定性差的生化样品及高分气化、热稳定性差的生化样品及高分 子和离子型样品均可检测子和离子型样品均可检测.用途广泛，占用途广泛，占 有机物的有机物的80%;80%;2 2 2 2流动相差别的区别流动相差别的区别流动相差别的区别流动相差别的区别GCGC：流动相为惰性，气体组分与流动相无亲合作用流动相为惰性，气体组分与流动相无亲合作用 力，只与固定相有相互作用。力，只与固定相有相互作用。HPLCHPLC：流动相为液体，流动相与组分间有亲合作用流动相为液体，流动相与组分间有亲合作用 力，能提高柱的选择性、改善分离度，对分离起力，能提高柱的选择性、改善分离度，对分离起 正向作用。且流动相种类较多，选择余地广，改正向作用。且流动相种类较多，选择余地广，改 变流动相极性和变流动相极性和pHpH值也对分离起到调控作用，当值也对分离起到调控作用，当 选用不同比例的两种或两种以上液体作为流动相选用不同比例的两种或两种以上液体作为流动相 也可以增大分离选择性。也可以增大分离选择性。3 3 3 3操作条件差别操作条件差别操作条件差别操作条件差别GCGC：加温操作加温操作HPLCHPLC：室温；高压（液体粘度大，峰展宽小）：室温；高压（液体粘度大，峰展宽小）第一节第一节 质谱分析原理及质谱仪质谱分析原理及质谱仪 一、基本原理一、基本原理 质质谱谱分分析析是是将将样样品品转转化化为为运运动动的的带带电电气气态态离离子子碎碎片片，于于磁磁场场中中按按质质荷荷比比(m/z)大小分离并记录的分析方法。大小分离并记录的分析方法。其过程为可简单描述为：其过程为可简单描述为：离子源离子源 轰击样品轰击样品带电荷的带电荷的 碎片离子碎片离子电场加速电场加速(zeU)获得动能得动能(1/2mV2)磁场分离磁场分离(m/z)检测器记录检测器记录 其中，其中，z为电荷数，为电荷数，e为电子电荷，为电子电荷，U为加速电压，为加速电压，m为碎片质量，为碎片质量，V为电子运动速度。为电子运动速度。三、仪器组成三、仪器组成 MS仪仪器器一一般般由由进进样样系系统统、电电离离源源、质质量量分分析析器器和和检检测测记记录录系统构成。系统构成。质量分析器是质谱计的核心不同类型的质量分析器构成不同类型的质谱计 不同类型的质谱计其功能，应用范围，原理，实验方法均有所不同。3、质量分析器质量分析器 作用是将不同碎片按质荷比作用是将不同碎片按质荷比m/z分开分开。质量分析器类型：质量分析器类型：磁分析器磁分析器、飞行时间飞行时间、四极杆四极杆、离子捕获、离子回旋等。、离子捕获、离子回旋等。1）磁分析器）磁分析器 单单聚聚焦焦型型(Magnetic sector spectrometer)：用用一一个个扇扇形形磁磁场进行质量分析的质谱仪。场进行质量分析的质谱仪。2）飞行时间分析器）飞行时间分析器(Time of flight,TOF)过过 程：不同荷电碎片在飞出离子源的速度（动能）基本一致。某离子在到达无场漂移程：不同荷电碎片在飞出离子源的速度（动能）基本一致。某离子在到达无场漂移 管前端时，其速度大小为：管前端时，其速度大小为：到达无场漂移管末端的时间为：到达无场漂移管末端的时间为：不同离子通过同一长度为不同离子通过同一长度为L的无场漂移管，所需时间相差：的无场漂移管，所需时间相差：由于不同由于不同m/z的离子，其飞出漂移管的时间不同，因而实现了离子的分离。的离子，其飞出漂移管的时间不同，因而实现了离子的分离。U2)z/m()z/m(Lt21-=D D 过过程程：在在两两个个相相对对的的极极杆杆之之间间加加电电压压(U+Vcos t)，在在另另两两个个相相对对的的极极杆杆上上加加-(U+Vcos t)。与与前前述述双双聚聚焦焦仪仪的的静静电电分分析析器器类类似似，离离子子进进入入可可变变电电场场后后，只只有有具具合合适适的的曲曲率率半半径径的的离离子可以通过中心小孔到达检测器。子可以通过中心小孔到达检测器。改改变变U和和V并并保保持持U/V比比值值一一定定，可实现不同可实现不同m/z离子的检测。离子的检测。特特点点：分分辨辨率率比比磁磁分分析析器器略略低低(max.2000);m/z范范围围与与磁磁分分析析器器相相当当；传传输输效效率率较较高高；扫扫描描速速度度快快，可可用于用于GC-MS 联用仪。联用仪。3）四极滤质器）四极滤质器(Quadrupole mass filter)第一节第一节 红外吸收光谱分析红外吸收光谱分析概述概述红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频率连续变化的红外光照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，分率连续变化的红外光照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，分率连续变化的红外光照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，分率连续变化的红外光照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，分子振动或转动引起偶极矩的净变化，使振子振动或转动引起偶极矩的净变化，使振子振动或转动引起偶极矩的净变化，使振子振动或转动引起偶极矩的净变化，使振-转能级从基态跃迁到转能级从基态跃迁到转能级从基态跃迁到转能级从基态跃迁到激发态，相应于这些区域的透射光强减弱，记录百分透过率激发态，相应于这些区域的透射光强减弱，记录百分透过率激发态，相应于这些区域的透射光强减弱，记录百分透过率激发态，相应于这些区域的透射光强减弱，记录百分透过率T%T%对波数或波长的曲线，即红外光谱。对波数或波长的曲线，即红外光谱。对波数或波长的曲线，即红外光谱。对波数或波长的曲线，即红外光谱。通常红外光谱中习惯使用波数来表示波带的位置，代表每厘米的包含的电磁波波数。二、红外光谱的作用二、红外光谱的作用1 1可以确定化合物的类别（芳香类）可以确定化合物的类别（芳香类）2 2确定官能团：确定官能团：例：例：COCO，CCCC，CCCC3 3推测分子结构（简单化合物）推测分子结构（简单化合物）4 4定量分析定量分析三、红外光谱图表示形式的意义三、红外光谱图表示形式的意义C=O-CH -CH3ArAr-H-HC=C-CH3CH苯4 4红外光谱产生条件：红外光谱产生条件：v红外活性振动：红外活性振动：红外活性振动：红外活性振动：分子振动产生偶极矩的变化，分子振动产生偶极矩的变化，从而产生红外吸收的性质从而产生红外吸收的性质v红外非活性振动：红外非活性振动：红外非活性振动：红外非活性振动：分子振动不产生偶极矩的变化，分子振动不产生偶极矩的变化，不产生红外吸收的性质不产生红外吸收的性质分子吸收红外辐射的频率恰等于分子振动频率整数倍分子吸收红外辐射的频率恰等于分子振动频率整数倍分子在振、转过程中的净偶极矩的变化不为分子在振、转过程中的净偶极矩的变化不为0 0，即分子产生红外活性振动，且辐射与分子振动发生即分子产生红外活性振动，且辐射与分子振动发生 能量耦合。能量耦合。第二节 红外光谱的应用 红外光谱的最大特点是具有特征性，谱图上的每红外光谱的最大特点是具有特征性，谱图上的每红外光谱的最大特点是具有特征性，谱图上的每红外光谱的最大特点是具有特征性，谱图上的每个吸收峰代表了分子中某个基团的特定振动形式。个吸收峰代表了分子中某个基团的特定振动形式。个吸收峰代表了分子中某个基团的特定振动形式。个吸收峰代表了分子中某个基团的特定振动形式。据此进行化合物的定性分析和定量分析。广泛应据此进行化合物的定性分析和定量分析。广泛应据此进行化合物的定性分析和定量分析。广泛应据此进行化合物的定性分析和定量分析。广泛应用于石油化工、生物医药、环境监测等方面。用于石油化工、生物医药、环境监测等方面。用于石油化工、生物医药、环境监测等方面。用于石油化工、生物医药、环境监测等方面。1.1.定性分析定性分析定性分析定性分析（1 1）已知物的鉴定已知物的鉴定 在得到试样的红外谱图后，在得到试样的红外谱图后，与纯物质的谱图进行比较，如果谱图中峰位、峰与纯物质的谱图进行比较，如果谱图中峰位、峰形和峰的相对强度都一致，即可认为是同一物质。形和峰的相对强度都一致，即可认为是同一物质。（2 2）未知物的鉴定）未知物的鉴定 是红外光谱法定性分析的一是红外光谱法定性分析的一个重要用途，涉及到图谱的解析。个重要用途，涉及到图谱的解析。