SDH电接口参数测试.pdf
-SDH 电接口参数测试1 1、比特率及容差、接口码型、比特率及容差、接口码型A A、指标要求：、指标要求：比特率即二进制信号速率，定义为每单位时间内传送的比特数。实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差异，ITU-T 规定了这种差异允许的范围，即容差。见下表 1。输入口、输出口都应满足表 1 要求，输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率，其它参数仍应满足指标；输出口满足指无论上游是何设备，数字信号从输出口送出，其实际比特率应在表 1 给出的容差之内。容差或频率容差 Hzppm5030201520(bits/s)102.4253.4687.420893110.4CMI/HDB3接口码型标称比特率或时钟接口名称频率 KHz)(Kbits/s)1 次群PDH2 次群3 次群4 次群SDHSTM-1e2048844834368139264155520表 1：比特率及容差、接口码型指标要求B B、测试根本框图：、测试根本框图：图 1：比特率及容差测试框图C C、测试步骤：、测试步骤：1、输入口比特率及容差：-按图 1 接好电路，配置 SDH 测试设备使之产生相应表 1 的比特率及码型，使系统正常运行，确认 SDH 测试设备检测不到任何误码；-减少 SDH 测试设备的输出信号比特率，直到 SDH 测试设备刚好检测到任何误码的临界点，记下此时的频偏值如到测.z.-试设备频偏设置的极限仍无误码，则记下此极限值；-增加 SDH 测试设备的输出信号比特率，重复上一步骤；-记录下的频偏值必须超过表 1 中的容差限值；-更换其它输入口重复以上测试步骤。2、输出口数字信号比特率：-按图 1 接好电路，配置 SDH 测试设备使之产生相应表 1的比特率及码型，使系统正常运行；-确认 SDH 测试设备的输出信号比特率无频偏，测试此时接收到的信号比特率频偏，其值应在表 1 所示容差限之内；-更换其它输入口重复以上测试步骤。2 2、出口信号波形、出口信号波形A A、指标要求：、指标要求：实际工作条件下，输出口通过电缆连接在数字配线架DDF上，由于电缆长度和阻抗等不确定因素，无法标准实际工作的输出口信号波形参数指标。现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标，各级数字接口的输出口指标应符合表 2 的要求。比特率Kbit/s脉冲形状负载阻抗2048844834368139264155520矩形，应满足相应的脉冲模板75W75W75W75W峰-峰电75W传号脉冲峰值电压2.37V2.37V1.0V峰-峰电压压10.1V10.1V空号无脉冲 峰值电压标称脉冲宽度00.237V00.237V00.1V/244ns59ns14.55ns升时间2ns上升时间2nsB B、试用滤波器和探头要求：、试用滤波器和探头要求：测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号，探头阻抗要高，电容要小，具体要求见表 3。接口标称Y 轴下降固定阻抗低电容高阻抗探头耦合方式.z.-比特率Kbit/s3dB 上限频率(MHz)低阻输入(W)工作频段(MHz)输入阻抗 输入电阻及并联电容 10MW,20pf 5kW,20pf 5kW,20pf直流(DC)直流(DC)直流(DC)交流(AC)2048844834368 60 150 350/50500 600 1500 350139264 500500 500 5kW,1.0pf耦合电容 0.01uf交流(AC)155520 500500 500 5kW,1.0pf耦合电容 0.01uf2048kHz 同步信号接口 60/0 60 10MW,20pf直流(DC)表 3：接口测试用滤波器和探头要求C C、测试根本框图：、测试根本框图：D D、测试步骤：、测试步骤：-按表 3 选择示波器和探头，按测试框图接好电路；-将测试负载阻抗75W 电阻，误差小于0.5%或75W/50W 阻抗变换器假设不用低电容高阻抗探头时的75W 侧接到待测的输出口上；-先校准零基线，方法是不给示波器送信号输入端短路，将水平扫描线调到屏幕适当的位置模板的标称 0 伏线处；-将被测信号送入示波器，读出表 2 中各参数，应满足相应的指标；-对于 139264 和 155520Kbit/s 输出口，注意示波器用交流耦合AC方式。CMI 码的幅度中线和示波器的零基线之差应不超过0.05V。3 3、阻抗和反射衰减、阻抗和反射衰减 A A、指标要求：、指标要求：输入口或输出口的实际阻抗与标称阻抗的差异用反射衰减规定，它表示接口失配时反射造成的能量损失，又称回波损耗。相应各数字接口的反射衰减指标见下表 4：接口比特率(Kbit/s)测试频率范围(KHz)标称阻抗反射衰减.z.-51.2 102.42048 输入口102.4 20482048 30722048KHz 同步信号输入口2048211.2 422.48448 输入口422.4 84488448 12672859.2 1718.434368 输入口1718.4 3436834368 51552139264 输入口和输出口155520 输入口和输出口7000 21000075W 或 120W75W 或 120W75W 或 120W75W 或 120W75W75W75W75W75W75W75W 12dB 18dB14dB 15dB 12dB 18dB 14dB 12dB 18dB 14dB 15dB8000 24000075W 15dB表 4：接口阻抗特性指标B B、根本测试框图：、根本测试框图：图 3：阻抗和反射衰减测试配置C C、测试步骤：、测试步骤：-按图 3 接好电路，振荡器的阻抗按反射桥的要求设置，输出电平 0dB，频率在表 4 相应的范围内。电平表阻抗按反射桥的要求设置；-先将待测接口与反射桥完全断开，此时电平表指示电平为 P1dB；-将待测接口接在反射桥上，此时电平表指示电平为 P2dB；-反射衰减 br=P1-P2，其值应满足表 4 的要求；-改变频率，重复以上步骤，可得到整个频率范围内的 br。注意：连接被测接口和反射桥的电缆要尽量短。YB536-92 规定，2048Kbit/s 及更低速率接口测试所用电缆在 10MHz 的衰减不得超过 0.5dB，8448Kbit/s 及更高速率接口测试所用电缆在 200MHz的衰减不得超过 0.2dB，这样才能使测得的结果准确。.z.-4 4、输入口允许衰减和抗干扰能力、输入口允许衰减和抗干扰能力A、指标要求：连接输出口和输入口的电缆和数字配线架会引入衰减，对于减弱的信号，输入口应能正确接收，输入口的这种特性用允许的衰减范围表示。另外，由于数字配线架和输出口阻抗不均匀性，在接口上可能呈现信号反射，反射信号对有用信号形成干扰，因此必须保证输入口有足够的抗干扰能力。其指标要求见下表 5：比特率标称值(Kbit/s)20488448343681392641555202048kHz 同步信号接口容差(bit/s)102.4253.4687.420893110.4/允许衰减测试频率(kHz)102442241714870000780002048衰减范围(dB)0 60 60 120 120 12.70 6/抗干扰能力信号/干扰(dB)182020干扰源(PRBS)215-1215-1223-1B B、测试根本框图：见下列图、测试根本框图：见下列图 4 4。C C、测试步骤：、测试步骤：-按图 4 接好电路，仪表参数按表5 设置；-调整干扰支路衰减器，使信号/干扰比等于表 5 所要求的数值；-SDH 测试设备设置相应的速率、码型，连接电缆衰减接近 0dB 时，SDH 测试设备应检测不到误码；-在 SDH 测试设备速率有偏差范围不超过表 5 所给容差，连接电缆衰减增大范围不超过表 5 所给衰减范围的不利条件下，SDH 测试设备仍应检测不到误码。图 4：输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置5 5、过压保护要求、过压保护要求.z.-通过比拟输入口经标准闪电脉冲冲击前后各项指标的测试结果，检验闪电脉冲冲击后输入口是否损坏。由于该项试验带有一定的破坏性，一般作为抽测工程，维护测试中一般不作要求，此出不再繁述。6 6、输入口容许抖动容限、输入口容许抖动容限输入口抖动容限指标及测试方法详见第五局部传输性能测试-抖动测试。7 7、输出口输出信号最大峰峰抖动、输出口输出信号最大峰峰抖动输出口输出信号最大峰峰抖动指标及测试方法详见第五局部传输性能测试-抖动测试。.z.
