EN60352997无焊连接第1部分缠绕连接基本要求、试验方法与实用指南中文版.docx

第3版1997-08版权©IEC版权全部,无焊连接一一第1局部：绕接连接一一样要求，测试方法和有用指南AG,CT SR,D-81恭尼黑EN 6035211997无焊连接 第1局部缠绕连接根本要求、试验方法与有用指南中文版国际标准IEC60352-1IEC 60512-8： 1993,用于电子设备的机电组件一一差不多测试过程和测量方法一一第8局部：连接器测试（机械）以及接触、终端的机械试验IEC 60979： 1989,用于导线绕接的导线IEC468： 1982,外表粗糙度指定要求的参数及其数值和一样规章IEC 1337： 1980,精炼铜（至少含99,85%的铜）化学成分和精炼产 品的形式IEC 6507-1:1982,金属材料硬度试验维氏试验第1局部：HV 5 至 HV 100定义关于IEC 60352的本局部,包括在IEC 60050（581）和IEC 60512-1中 的术语和定义以及以下附加的术语和定义适用。3.1 绕接柱：通常是带尖角的矩形端子，用于担当绕接连接。IEV 58 1-03-34,已修正3.2 绕接连接：通过将一个固体导体围绕在一个绕接柱上形成的无焊连接（见图 l）o IEV 581-03-10,已修正'L气密区IEC 1 019/97接（见图 l）o IEV 581-03-10,已修正'L气密区IEC 1 019/97图1一绕接连接带绝缘层的导线参考角训第3.6节）3.3 传统的绕接连接：通过将一个固体导体围绕在一个绕接柱上形成的 无焊连接，没有任何的导线绝缘层与绕接柱接触（见图2a）o IEV 581-03-4 53.4 改进的绕接连接：通过将一个固体导体围绕在一个绕接柱上形成的 无焊连接，导线绝缘层至少在三个角上包裹在绕接柱上（见图2b）o IEV 58 1- 03-443.5 导线的一圈：导线围绕绕接柱360。形成的单个螺旋环。IEV 581 -03-653.6 参考角：绕接柱上的一个角，在该角上已剥去绝缘层的导线在绕接 柱上形成第一个压痕，并开头运算绕接圈数（见图2）。IEV 581-03-38导线绝缘层在四 个角与绕接柱接导线绝缘层在三 个角与绕接柱接诧端臣目邨该局部延长超出与毙 才绕接连接中导线最终一圈的结3.7 尾麻：统技匚依581-03-54）图3图3尾端接柱接触的最终一个角（见图3）03.8 气密区：在给定条件下不受气体阻碍的接触区（见图1）。IEV581- 03-643.9 剥去力：沿绕接柱的长轴线施加于绕接连接打破气密区的力。IE V 581-03-55注一一连接沿绕接柱产生的最初位移打破气密区。3.10 有效绕接长度：绕接柱中适合于并能用于全部要求都已明确的绕 接连接的局部。IEV 581-03-603.11 绕接柱总长度：绕接柱从安装面到顶部的长度。IEV 581-03-613.12 箍应力：由围绕操作引起、由导线连接在绕接柱的角上而坚持的导线中的张力。IEV 581-03-50要求4.1 工艺连接应以细致、精巧的方式依据较好的现行实践进展制作。4.2 工具工具应依据制造厂给出的讲明进展使用和检查。4.2.1 绕接工具绕接工具应能在其使用寿命期限内制作全都牢靠的连接。在最终一圈 应能制作出干净的闭合，可不能引起绕接线或绕接柱的不适宜的毁损。工 具中孔的深度应足以容纳绕接柱的总长度（见第621节和第6,353节）。工具的评定通过测试用该工具制作的用于评定的绕接连接完成。4.2.2 解开工具解开工具应不损坏绕接柱并应从绕接柱上完全移除解开的导线（见第6.2.2 节）。4.3绕接柱材料应承受依据ISO 6507-1进展测试，维氏硬度为95 HV 5至220 HV 5的铜合金。适宜的合金为黄铜、磷青铜、银银合金。当需要测量绕接柱的 硬度，而由于凹痕的尺寸要求导致不能承受维氏硬度时，可承受其它适宜 的方法，例如金刚石锥硬度或努氏硬度。注在包括绕接柱的母线中要紧使用硬度范畴95 HV 5至120 HV 5o横截面表1列出了 11组绕接柱规格以及与每组绕接柱有关的导线规格。表1绕接柱和导线规格注一一改进型表示改进的绕接连接。绕接柱规格导线规格对角线组2)mm优先选用 规格 (公称)mm公称导体直径，mm0, 16 |0,26 0,320,40,50, 650,81,0最大绝缘层直径1), mm0, 270,70,<)1,17 1,271,321,51,780,41-0,4310,3X0,3改进型/3)0. 46-0. 510.4X0, 4改进型改进型/1/0, 5-0, 5650,4X0, 4改进型改进型/ /0, 69-0, 770,5X0,5/改进型/0, 76-0, 860,6X0, 6/改进型改进型改进型 或传统 型/3)0, 77-0, 8250, 635X0, 635/改进型改进型改进型 或传统 刑/ t0, 84-0,910, 635X0, 635/改进型改进型改进型 或传统 型/0, 95-1,200,8X0,8/改进型改进型改进型 或传统 刑/1,35-1,781,0X1,00,8X1,40,8X1,6/改进型或传统型改进型或传统 型改进型或传统型改进型或传统 型/1,6-1,861,2X1,21,2X1,4/改进型 或传统 型改进型 或传统 型改进型 或传统 型改进型 或传统 型改进型 或传统 型2, 3-2, 90,8X2, 4/改施型 或传统 型改进型 或传统 型/传统型表示传统的绕接连接。/表示不行能或不承诺的绕接连接空白表示该绕接连接能够承受但有关的尺寸组合不举荐也不广泛承受。1）关于承诺的最大绝缘层直径，见第节。2）有关的工具应由用户选择。3）对角线组指经倒角的绕接柱，即：绕接柱的两个角被倒角，另两个角符合第 节的要求。4.3.3 绕接柱的公差绕接柱的尺寸应保证满足表1给出的对角线极限要求。对角线包括角 半径和毛刺的阻碍。绕接柱的公差应符合该组件的有关具体技术讲明。注一一由于绕接柱将装入绕接工具的圆孔中，因此有必要保证其对角 线在可同意的极限范畴内。几种横截面可能落入一个对角线范畴内，但对 角线的公差比宽度和厚度或其公差更为重要。4.3.4 长度绕接柱的长度应依据有关具体技术讲明的指定。注一一大伙儿认为有必要使绕接柱的有效绕接长度能容纳最多三个绕 接连接（见第节）。4.3.5 平行度全部的绕接柱应保证其棱角的平行度在整个有效绕接长度范畴内在0, 05mm每10mm之内。4.3.6 直线度全部的绕接柱应没有会阻碍绕接柱自由进入绕接工具孔内的弯曲。4.3.7 角半径在进展了外表光饰之后，绕接柱的任何局部应至少有两个角满足表2 的要求。4.3.8 半径对角线（mm）角半径（最大）（mm）<0,60, 0250, 6-1,30, 05>1,30, 084.3.8.1 角半径确实认角半径确实认应承受图4定义的光学测量规进展测试，通过比拟放大 的影象进展确认。测试的绕接柱，其横截面影象应承受至少50倍的放大倍数进展预备。应 预备一个图4所定义玻璃主盘作为光学测量规。半径值r应依据表2 的尺寸进展选择。注一一关于玻璃主盘，表2的半径r应乘以影象的放大系数。测试的绕接柱影象放在光学测量规上时，应使影象最平的一边位于基 准线上，而待测角的另一边通过基准点。要求：通过基准点的一边应在角度极限范畴(2)内；棱角应在光学测量规定义的区域(1)范畴内。假设棱角位于区域(3)内，那么另外还应满足第节的条件。注图5给出了一个合格的半径例如。线准基(2)472/83图4玻璃主盘图5合格半径例如棱角毛刺在完成了外表光整之后，毛刺应不超过以下值（表3）。 表3棱角毛刺对角线（mm）棱角毛刺（最大）（mm）<0,60, 020, 6-1,30, 02>1,30, 054.3.9 尖端的外形绕接柱的尖端应为锥形或斜角形（见图6）,以便利插入绕接工具中。当绕接柱预备与使用固定式工具的自动或半自动接线机一起使用时, 以下的尺寸（表4）应适用于两个轴（图6）o表4尖端的外形± 0.04 mm± 0.04 mm轴柱接绕一轴端尖一注一一关于尖端的长度，见表13。对角线（mm）C最大（mm）最小（mm）<0,6圆角或尖角0, 6-1,30, 250, 05>1,30,40, 05IEC 1 023/97图6尖端的外形4.3.10 安装绕接轴应牢靠地安装，使其能担当在绕接过程中可能遇到的力和扭矩。 绕接轴的安装在力施加于工具的方向应能担当表5所述的轴向力。绕接轴 的安装应能担当表5所述的扭矩。表5安装强度对角线(mm)轴向力(N)扭矩(Nm)<0, 44250, 020, 44-1,3300, 02>1,3400, 06当绕接柱预备与使用固定式工具的自动或半自动接线机一起使用时， 以下的条件应适用：一在同一面板内组装的全部绕接柱的根底应平、直，允差在0,3mm之内;一应承受表6所述的安装尺寸。表6安装公差对角线(mm)实际位置 z (mm).公差带yl) (mm)<0,6W0, 5y 二z0, 6-1,3WO, 5>1,3<0,81)位置公差可能在具体技术讲明中给出限定，或者在其它应用，例 如压入端子(见TEC 60352-5)中给出限定。4.4绕接线应只承受符合IEC 60979的单根固体圆导线作为绕接线；不承诺承受 绞合导体。承受某一系列的导线材料和直径并使用适宜的工具可制作稳固 的连接。4.4.1 导体材料导体应如表7所述。表7导体材料公称导体直径 (mm)材料断裂时的延长率 (%)WO, 4铜合金27WO, 5符合ISO 1337的无氧 铜(Cu-OF)215>0,5铜220参考号CEI/IEC 60352-1： 1997编号从1997年元月1日起，全部的IEC出版物出版时在6000()系列中指定 一个编号。整理过的出版物可得到一些包括修订的IEC出版物整理过的版本。例如，版本号1.0,1.2分不指差不多出版物，包括修订1的差不多出版物和包括修订1厂4版权和修订2的差不多出版物。©IEC本出版物的有效性版权全部，该IEC出版物的技术内容始终保持在IEC的审查之下，如此可保证内容 反映现行的技术。可从IEC名目中得到有关出版物再确认的日期信息。有关修订工作、的发行和修改等的信息可从IEC国家委员会和以下IEC资料源得到： IEC公告 IEC年鉴可在网上访询问* IEC出版物的名目每年出版，定期更(可在网上访询问*)AG,CTSR,D-8173术语，图形和字母符号关于一样的术语，请读者参考IEC 60050：国际电工技术词汇(IEV)。慕尼黑假设打算使连接长期在超过9（rc的温度下运行，那么绕接线应承受一种 适当的材料，使其没有铜那样易于受高温的阻碍而产生应力放松。这种导 线的延展性可能与经完全退火的铜导线不同。4.4.2 导体光饰导体光饰层应为银、锡、锡合金或无镀层。其外表应没有污染物和腐 蚀。4.4.3 直径导体的直径应为公称直径在0,16mm至1,0mm的范畴内。关于导体直 径和绕接柱尺寸之间的关系，见表lo4.4.4 绝缘绝缘层应能简洁地从导体上剥离，而不转变导线的物理特性。关于改 进型绕接连接，绝缘层应足够的壁厚（一样应超过导体直径的40%）o绕接连接的制作者应保证导线外径与设计用于制作改进型绕接连接的 绕接工具之间的配套性。4.5绕接连接4.5.1 总那么工具、绕接柱和导线的组合应配套。导线各圈应靠紧绕接，且不要相互重叠。相邻圈之间可能显现的间隙 应不大于导体公称直径的一半。（见图15、图16和表13）。已做完的连接应不能再扰乱，不应试图用钳子等工具整理末端或“拉 紧”连接。假设有必要，尾端能够包入，但只能用绕接工具。绕接连接应完全处于有效绕接长度范畴内。同一绕接柱上按一样方向绕接所做的相邻连接，能够相互接触但相邻 连接之间不能有重叠（见图15、图16和表13）注一一大伙儿认为有必要使绕接柱的有效绕接长度能容纳最多三个绕 接连接。4.5.2 传统的绕接连接关于传统的绕接连接，最小圈数应如表8所述。绝缘层应尽可能紧靠 绕接柱开头，以幸免与接近的绕接连接或导体发生短路。4.5.3 改进的绕接连接改进的绕接连接应常用于公称直径小于或等于0,32的导体（见表1）。已剥去绝缘层的导线最小圈数应如表8所述。带绝缘层的绕接导线局部应至少包裹绕接柱的三个角。表8已剥去绝缘层的导线最小圈数公称导体直径 （见表1）mm己剥去绝缘层的导线最小圈数退火铜铜合金 或其等效物0, 16880, 26750, 32750,4650,5540, 65440,8441,0434.5.4 连接的重绕拆开一个已绕接的连接时，绕接导线应承受适宜的工具认真地解开， 且不能剥落，以保持绕接柱的角完好，用于的绕接连接。注表14给出了一个适宜的工具例如。不承诺对从前绕接在绕接柱上，然后又解开的一局部导体进展重绕， 但承诺在从前已绕接过一个连接的绕接柱上绕接一个的连接，只要该绕接 柱和连接能满足那个地点指定的要求。注一一对角线小于或等于1,3mm的绕接柱可重绕至少5次，对角线大 于1,3mm的绕接柱可重绕至少10次。4.5.5 焊接连接和绕接连接的结合应幸免在同一个连接柱上同时使用焊接连接和无焊连接，但当不行幸 免时，它们彼此之间应尽可能地离得远，而且焊料应不能散落到绕接连接 上。在焊接过程中应实行防范措施幸免对接近的绕接连接造成损坏。注一一建议当在一个连接柱上做了一个焊接连接时，同一个连接柱上 的全部接近连接都承受焊接。5.测试5.1 试验5.1.1 总那么如引言中所讲，有两个试验打算，依据以下的条件进展应用：一满足第4节全部要求的绕接连接应依据差不多试验打算的要求进展 试验并满足差不多试验打算的要求，见第532节；一除绕接线或绕接柱的尺寸或材料之外，其它条件满足第4节全部要 求的绕接连接应依据完全试验打算的要求进展试验并满足完全试验打算的 要求，见第节。5.1.2 试验的标准条件除非另有指定，全部的试验应在IEC 60512-1所指定的标准条件下进 展。进展测量时所在的环境温度和相对湿度应在试验报告中加以表述。当对试验结果有争议时，试验应在IEC 60068-1的仲裁条件之一下重 做。5.1.3 预处理当有指定时，连接应依据IEC 60512-1在试验的标准条件下进展预处 理24小时。5.1.4 复原假设有指定，应承诺试样在处理后，在试验的标准条件下复原1小时 至2小时。5.1.5 试样的安装当试样在试验中需要安装时，应承受常规的安装方法进展安装，除非 另有指定。5.2 型式试验5.2.1 一样检查应依据IEC 60512-2的“测试la：目视检查”和“测试1b：尺寸和质量 检查”进展测试检查。目视检查试验可承受约5倍的放大倍数进展。全部的绕接连接都应检查，以确保满足第4.3节至第4,5节的适用要求。5.2.2 机械试验5.2.2.1 剥离力注一一本试验是破坏性试验，在从组件上切下的已绕接的绕接柱上进 展。剥离力试验应依据IEC 605128的“试验16k：剥离力”进展。绕接连 接的圈数应为表8中“最小圈数”指定的数量。移除连接所需的最大载荷 应不小于表9所述的值。表9剥离力公称导体直径（见咨L）mm最小剥离力 N0, 1670, 26130, 32170,4220,5280, 65350,8451,0535.2.2.2 解开解开试验应依据IEC 60512-8的“试验16m：解开”进展。在从组件上 切下的已绕接的绕接柱上进展。连接应能解开，导线调直后不能断裂。注一一可承受其它可选的解开方法。当关于试验结果有争议时，应承受“试验16m”所详述试验方法作为仲裁方法。5.2.2.3 绕接柱的自激振动绕接连接应位于已进展刚性安装的绕接柱的根底上。使绕接柱垂直于最宽的面，每10mm的长度产生0,3mm的位移，并快 速开释，由此产生振动。接触电阻的变化应依据IEC 60512-2的“试验2c：接触电阻变化”进展 测量。在绕接柱的自激振动过程中，应对接触电阻进展监控。应确定电阻的 最大变化，而且电阻的最大变化应不超过0,5m。5.2.3 电气试验5.2.3.1 接触电阻接触电阻试验应依据有关的技术讲明书，依据IEC 60512-2的“试验2 a： 接触电阻，毫伏级方法”或者“试验2b：接触电阻，指定测试电流方法”进展。应依据适用的原那么，承受图8所示的试验布置图之一。图8a一传统的绕接连接图8b一改进的绕接连接图8一接触电阻表10给出了测量条件和要求。表10接触电阻注一一本表给出的接触电阻包括两个绕接连接的电阻和带绝缘层的导线长度L的 电阻。假设由于接线的需要，必需增加L的长度，那么应适当考虑相应的电阻增加。公称导体直径 (见表1)mmL±1mm对试验2b对试验2a和2b指定的测试 电流A最大初始接 触电阻 m。两个串联的绕接连接在进 行气候、动力学或电气调 剂后，电阻的最大变化mQ0, 16300,55050, 26301,0181,60, 32301,5101,20,4302,271,20,5503,371,00, 65505,061,00,8506,531,01,0507,531,05.2.3.2 电的过载对绕接连接应加载有关导体直径指定测试电流的1,5倍电流达1小时, 然后加载表10指定的测试电流的4倍电流达1分钟。5.2.4 耐候试验524.1 温度的快速转变试验应依据IEC 60512-6的“试验lid：温度的快速转变”进展。除非另有指定，以下的细节讲明应适用：低温：TA - 55(LCT)高温：TB +125(UCT)暴露的连续时刻：tl 15分钟循环周期数：5524.2 气密性绕接连接应担当IEC 60512-6的“试验lln：气密性”。524.3 箍应力放松绕接连接应担当可导致50%箍应力放松的温度/时刻组合。应承受图1 8确定一个适宜的组合。关于承受镀锡的完全退火的铜导线制作的传统绕接连接，优先选用+1 25的温度。关于改进型绕接连接，适宜的温度取决于所使用的绝缘层的类型。应 在有关的技术讲明书中加以指定。524.4 打算524.4.1在试验之前，应预备好第节和第节所述的样本。样本为：双型样本，由两个连接绕接在两个绕接柱上组成，并按图8的具体讲 明互连。依据第523.1节测量接触电阻时，有必要使用双型样本；单型样本，由一个连接绕接在一个绕接柱上组成，单型样本用于剥离 力试验和解开试验。在进展样本预备之前，应确认：使用了正确的绕接柱和导线；一使用了正确的工具和绕接器；一工具能正确地工作；一操作者有力量制作符合第4,5节要求的连接。表11需要的样本的数量试验打算子条款测试绕接连接时，全部情形下需要的数量单型样本双型样本差不多试验打算5. 3. 2. 15. 3. 2. 250完全试验打算5. 3.35. 3. 3. 15. 3. 3. 25. 3. 3. 350125524.4.2 多试验打算当差不多试验打算适用时（见第节）应预备好表11指定的样本数 量，并依据第5.3,2.1节进展初始检查。524.4.2.1 检查在预备好绕接连接之后，全部的样本应担当IEC 60512-2的“试验la：目 视检查”，以确保满足第4.5节的适用要求。5.322单型样本的测试在完成初始检查之后，25个单型样本应担当测试时期P1,而其它25个单型样本应担当测试时期P2。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款P1剥离力5. 2. 2. 116k5. 2. 2. 1P2解开5. 2. 2. 216m5. 2. 2. 2完全试验打算当有必要执行完全试验打算时（见第节）应预备好表11指定的样 本数量，并依据第5.3,3.1节进展初始检查。5.3.3.1 初始检查在预备好绕接连接之后，全部的样本应担当IEC 60512-2的“试验la：目 视检查”，以确保满足第4.5节的适用要求。5.3.3.2 单型样本的测试在完成初始检查之后，30个单型样本应担当测试时期SP1,而其它20 个单型样本应担当测试时期SP2。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款SP1剥离力5. 2. 2. 116k5. 2. 2. 1SP2解开5. 2. 2. 216m5. 2. 2. 2双型样本的测试在完成初始检查之后，125个双型样本应担当以下的测试。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款DPI接触电阻2a 或 2b5. 2. 3. 1DP2箍应力放松5. 2.4. 3DP3接触电阻2a 或 2b5. 2. 3. 1然后应将样本分为三组，A至C。每一组的全部样本都应经受对该组指定的全部测试。5.3.3.3.1 测试组 A应对25个双型样本进展测试。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款API气密性5. 2. 4. 2目视检查la5. 2. 1测试组B应对5()个双型样本进展测试。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款BP1绕接柱的自 激振动5. 2. 2. 3接触电阻的 变化2cBP2接触电阻2a 或 2b5. 2. 3. 1BP3电的过载5. 2. 3. 2BP4接触电阻2a 或 2b5. 2. 3. 1测试组C应对50个双型样本进展测试。测试时期测试应进展的测量要求名称子条款名称IEC 60512 的试验蝙号子条款CP1温度的快速 转变5. 2. 4. 1CP2接触电阻2a 或 2b5. 2. 3. 1流程图为了快捷起见，将第节和第节中已祥述的试验打算在图9和图10所示的流程图中进展重述。1EC 1 027/97图9差不多试验打算（见第5. 3.2 节）现行出版物所包含的术语和定义，要么是从IEV得到的，要么是为了 该出版物而逐一特地批准的。关于经IEC批准的一样用途的图形符号、字母符号和记号，请读者参 考IEC 60027：在电气工艺学中使用的字母符号，IEC 60417：在设备上使 用的图形符号。单页的索引、概述和编辑和IEC 60617：图解用图形符号。由同一技术委员会预备的IEC出版物请读者留意本出版物的后面几页，列出了由预备本现行出版物的技术 委员会出版的IEC出版物。*见扉页上给出的网址。CEIIECIEC版权©IEC版权全部,国际标准 60352-1第3版1997-08无焊连接一一第1局部：绕接连接一一样要求，测试方法和有用指南AG,CT SR,零部件的检查绕接柱和绕接线的一样检杳：5.2.1 175套零部件-目视检查一尺寸和质量检查测试la测试1b样本的预备绕接连接的初始检查： 5.3.3.1 50个单型样本，125个双型样本目视检查测试la测试50个单型样本125个双型样本一接触电阻：试验2a/2b一箍应力放松：一接触电阻：试验2a/2b30个单型样本一剥离力：试验16k20个单型样本一解开：试验16m25个双型样本50个双型样本50个双型样本组C温度的快速转变5. 2. 4. 1一接触电阻：试验2a/2bIEC 1 028/97图10完全试验打算（见第5. 3. 3节）6.有用指南6.1 电流承载力量一样地，依据本标准制作的绕接连接的气密区横截面面积的和应比所 使用导线的横截面面积大。因此，导线的电流承载力量将通常成为制约因 素，而绕接连接的电流承载力量将至少等于所使用的导线的电流承载力量。6.2 工具信息6.2.1 绕接工具有特地多种类的绕接工具，从手工驱动的到动力驱动的（气动或电动）, 工具的位置由手工操纵或由完全自动化的机器操纵。但，工具的作用局部的差不多原理如下：一个旋转器在一个套筒内旋 转，将导线绕到绕接柱上。旋转器带有一个孔用于装入绕接柱。该孔应与 绕接柱的实际对角线相匹配。工具制造厂供给有关适合绕接柱和导线尺寸 的旋转器和套筒的广泛选择。旋转器承受两种不同的设计。6.2.1.1 带常规旋转器的工具在旋转器上有一个槽，在该槽内插入要绕到绕接柱上的导线局部，导 线应剥去绝缘层至相应的长度。剥去绝缘层的长度取决于导线尺寸和绕接柱尺寸。导线的其它局部保 持不动，例如通过套筒上的一个凹槽使其保持不动。剥去绝缘层的导线将 以指定的拉紧力绕到绕接柱上。6.2.1.2 带切剥线旋转器的工具为了省去预先剥去绝缘层的工序，可使用切剥线工具（切剥线旋转器）。在旋转器上槽的开头位置装有一个剥线刀片。旋转器的槽在套筒的切 断窗口位置终止。剥线刀片适合于导体的直径和绝缘层的外径。插入的带 绝缘层的导线将在切断窗口位置被切断，绝缘层在剥线刀片处被剥离。绝 缘层将停留在旋转器的槽内，在下一个导线插入时从套筒的窗口处被推出。 剥线刀片与切断窗口之间的距离取决于对导线指定的剥去绝缘层的长度。图11一一切剥线工具lEC'f十"超用于切剥线工具的导线规格应如下：一导体铜线，断裂点的最小延长率为20%；一导线镀层镀锡或镀银导体。导线的镀层外表应光滑；一绝缘层的同心度：最小80%（最薄壁厚与最厚壁厚的比值）；一绝缘材料：固体热塑性材料；一剥去力：给定长度的绝缘层剥去力应不超过工具制造厂给出的值。假设导体和绝缘层之间的粘着力太大，那么导体会被切剥线旋转器拉得 过长，这将形成脆弱的连接。旋转器接纳导线的槽套筒旋转器中孔的深度应足以容纳绕接柱的总长度（见图13）o表12给出了 常用的孔深。f(/ / /7771 Y孔深477/83图13一一旋转器孔的深度表12孔深对角线 mm孔深mm（。苫10n a-1 aIQ>1 R256.2.2 解开工具当有必要分别一个已绕接的连接时，绕接导线应认真地解开，且不能 从绕接柱产生剥落。为此目的，可承受适宜的解开工具。图14表示了一个 典型的工具。解开工具应能使导线从绕接柱上完全移除而不损坏绕接柱。图14解开工具*浦836.3 绕接柱信息以下的信息基于行业体会。6.3.1 材料绕接柱通常具有维氏硬度120 HV 5至220 HV 5,但硬度低至95 H V5的材料用于特地用途，例如包括绕接柱的母线。假设连接将担当可能导致明显的箍应力放松的高温，应留意确保用作 绕接柱的材料硬度比用作导线的材料硬度高。在选择材料时，还应留意，选择用作导体和用作绕接柱的材料在金属 的电镀性系列中尽可能地靠近。6.3.2 外表光饰可承受没有附加外表光饰或电镀的绕接柱，但必要时可增加外表光饰 以疼惜绕接柱。适宜的外表光饰包括锡、锡铅或金。当承受镀锡时，应考 虑外表光饰层与绕接柱材料的兼容性。太厚的镀层厚度可能会削减剥离力， 这是应幸免的。6.3.3 外表粗糙度增加绕接柱的外表粗糙度通常会增加剥离力，因此可能会减弱甚至丧 失对连接质量的操纵。建议依据ISO 468,外表粗糙度（包括外表光饰）最大 不超过Ra=2 u m。6.3.4 横截面绕接柱的横截面面积应至少比导线的横截面面积大50%,且绕接柱的 横截面的短边应不小于导线的直径。关于具有矩形截面的绕接柱，建议其 宽度与厚度的比不超过：2:1,对导线直径不大于（）,4mm的情形；3:1,对导线直径等于或大于0,4mm的情形。当材料厚度缺乏以形成绕接柱必需的刚度时，可承受压花的横截面。6.3.5 长度6.3.5.1 有效绕接长度，传统的绕接连接一个预备用作传统型绕接连接的绕接柱应具有如下的有效绕接长度：La = M(3 + 1) 5 + s 司 + (N- 1)S其中U表示所需数量连接的绕接长度，不包括尖端和底部的构造或端子长度的公差;N表示需要在端子上做出的连接的数量；n表示每个连接中剥去绝缘层的导线的最大圈数；心 表示剥去绝缘层的导线的公称直径；S表示一个连接中相邻圈之间的间隔容许量；:S表示两个相邻连接之间的间隔容许量。.图15有效绕接长度.6.3.5.2 有效绕接长度，改进的绕接连接一个预备用作改进型绕接连接的绕接柱应具有如下的有效绕接长度：L = d +( +l)d +s( +n )+(N -1)S B1 12212其中LB表示所需数量连接的绕接长度，不包括尖端和底部的构造或端子 长度的公差；N表示需要在端子上做出的连接的数量；m 表示每个连接中剥去绝缘层的导线的最大圈数；n2表示每个连接中带绝缘层的导线的最大圈数；dl表示剥去绝缘层的导线的公称直径；d2表示带绝缘层的导线的公称直径；s表示一个连接中相邻圈之间的间隔容许量；S表示两个相邻连接之间的间隔容许量。6.3.5.3 绕接柱总长度用于所需数量连接的绕接柱的总长度，包括尖端和底部的构造以及绕 接柱长度的公差，可按以下的公式进展运算：其中)+ a + b + f480/83fT = VLb片表示绕接柱总长度；表示传统型绕接连接的有效绕接长度;。表示改进型绕接连接的有效绕接长度; 8表示底部长度二运算的长度考虑到了所包含的变量的最大不利组合。在实际中，举荐承受表13的限定。表13有关图15和图16的取值最大最小S1, Onun0SS1,0mm0S剥去绝缘层的导线的第一圈和 最终一圈=00在中间圈之间=0,5义也0可0a3Xdo0b一对角线 W1, 3mm=0, 5mm对角线 > 1, 3mm=l, 0mmt对角线Wl, 3mm=0, 7mm0, 2mm对角线>1, 3mm=1, 1mm0, 3mm注一一对角线与表1相对应。间距绕接柱之间的最小间距由特地多因素打算，如图17所示。间距R表示端子中心四周最小区域的半径，该区域应为空白区，以容纳绕 接旋转器和套筒。R等于套筒（不带入线孔局部）外径的一半加上绕接器端子 孔的偏心值。间距2R+导线直径+g2其中R表示套筒外径的一半加上偏心值e；i表示绕接柱宽度的一半。2注一一有关所考虑的工具的R信息应由工具制造厂供给。6.4导线信息6.4.1 直径只要有适宜的工具和绕接柱，就能够承受第节给出的规格范畴之 外的导体。在这种情形下，应承受第节的完全试验打算（见第节）。6.4.2 外表光饰通常承受裸导体或承受锡、锡铅或银进展光饰的导体。能够承受其它 的光饰层，只要其适宜性得到了证明。外表光饰层应光滑、平均。其厚度应足以疼惜基体材料但又不能太厚 以至阻碍正确的绕接。6.4.3 箍应力放松图18的图表适用于经完全退火的铜导线。表示了会导致50%箍应力放 松的时刻及对应温度条件。50%的箍应力放松还可看作能供给一个好的绕接连接。例如：假设一个绕接连接置于68T的温度中，箍应力将在40年后将至50%, 现在还可看作能供给一个好的绕接连接。在较高的温度下，会在比拟短的时刻内产生一样比例的放松。例如， 在125C的温度中，只要13天。注一一假设连接被间歇性地置于高温中，也将发生类似的箍应力放松。%一数倒的度温0.00210.00220.002?0.00240.00253.00260.0027)00280.0029200176150?。度温dEDl 5 C 20( 1 17568CEI 1997版权一版权全部没有出版者的书面许可，不能实行任何手段或以任何形式（电子或机械的，包括影印和缩微拍照）复制或利用本出版物的任何局部.国际电工技术委员会 瑞士，日内瓦rue