欢迎来到淘文阁 - 分享文档赚钱的网站! | 帮助中心 好文档才是您的得力助手!
淘文阁 - 分享文档赚钱的网站
全部分类
  • 研究报告>
  • 管理文献>
  • 标准材料>
  • 技术资料>
  • 教育专区>
  • 应用文书>
  • 生活休闲>
  • 考试试题>
  • pptx模板>
  • 工商注册>
  • 期刊短文>
  • 图片设计>
  • ImageVerifierCode 换一换

    椭偏仪操作规程.pdf

    • 资源ID:73853282       资源大小:367.21KB        全文页数:8页
    • 资源格式: PDF        下载积分:11.9金币
    快捷下载 游客一键下载
    会员登录下载
    微信登录下载
    三方登录下载: 微信开放平台登录   QQ登录  
    二维码
    微信扫一扫登录
    下载资源需要11.9金币
    邮箱/手机:
    温馨提示:
    快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。
    如填写123,账号就是123,密码也是123。
    支付方式: 支付宝    微信支付   
    验证码:   换一换

     
    账号:
    密码:
    验证码:   换一换
      忘记密码?
        
    友情提示
    2、PDF文件下载后,可能会被浏览器默认打开,此种情况可以点击浏览器菜单,保存网页到桌面,就可以正常下载了。
    3、本站不支持迅雷下载,请使用电脑自带的IE浏览器,或者360浏览器、谷歌浏览器下载即可。
    4、本站资源下载后的文档和图纸-无水印,预览文档经过压缩,下载后原文更清晰。
    5、试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。

    椭偏仪操作规程.pdf

    椭偏仪操作规程 一.目的 使用椭偏仪测量经 PECVD 镀膜后的 SiN 膜的厚度(d)和折射率(n).二.适用范围 适用于 CENTECH 公司的 SE 400advanced 型号的椭偏仪 三.设备主要性能及相关参数 设备型号:SE 400advanced 设备构成:A 光学系统部分:由支架、定位显微镜、线偏振光发射器(包括激光源)、椭圆偏振光接受和分析器组成。此部分完成整个光学部分的测试。B PC 机部分。此部分完成数据的分析和输出。四.运行前的检查 主要检查设备光学仪器部分是否损坏和电脑是否可正常使用。五.设备操作 1.启动软件 将椭偏仪控制器和 PC 的电源打开,为了仪器快速可用和延长激光器寿命,推荐将椭偏仪控制器连续运转。SE 400advanced 程序通常被安装在文件夹:C:program filesSE 400AdvApplicationFrame.使用资源管理器或者直接双击桌面的 SE 400advanced 图标,启动软件。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-1:SE 400advanced图标 软件打开时会自动进入上次退出时的登陆用户界面。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-2:SE 400advanced 用户认证 通过菜单Logon,能够添加、更改或删除用户和用户权限。2.用户主窗口 3241 Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-3:SE 400advanced主窗口 最后一次使用的模式会被自动加载。通过菜单,工具栏或模式列表,能够选择另外的模式。在软件界面的右下角,一个图标(2)用来显示椭偏仪控制器的连接状态,它通常显示为绿色。如果显示不为绿色,请检查椭偏仪和控制器之间的网络连接是否正常,并检查屏幕右下角的任务栏的网络状态。3.样品测试 1)在 recipe 下拉菜单中选择 08 Si3N4 on silicon 100 nm.2)将样品平放于测试台,并定位 3)通过按来开始测量,测量完成后,结果被显示在主结果区(3)和 protocol 区(4)。4.测量选项 在Measurement options页面中,能够按照测量的数值计算方法、数值极限和结果报告,对一些设定进行更改。此外,设定入射角度和对多角度测量所使用角度的选择,也能够在这里进行。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-4:模式选项(测量)测量任务 Psi,Delta 椭偏角度的测量。Substrate ns,ks 使用 free surface.模型时,基底的复折射率。Thickness 使用单层透明膜模型,并指定指定膜层折射率和基底折射率时,膜层的厚度;开始膜厚由用户给出或由 CER 测量给出。Thickness+n 使用单层膜模型时,膜层的厚度和折射率。(基底的复折射率作为固定值);开始膜厚由用户给出或由 CER 测量给出 Thickness+n+absorption 多角度测量情况下,膜层的厚度、折射率和吸收系数,使用“Thickness+n”模型,椭偏仪需要用多角度测量。Two layers 多角度测量情况下,双层膜的厚度。5.模型选项 页面Model包含了所有对测量进行分析的参数。软件所使用的默认模型为在吸收基底上的三层吸收膜。模型的参数能够被直接输入在相应的区域,另一种方法是使用 SENTECH 材料库,可通过膜层名字右边的按钮使用材料库。Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-5:模式选项(模型)Fig.错误!文档中没有指定样式的文字。-6:SE 400advanced 材料库 模型参数的描述在下表给出:Ns 基底折射率 Ks 基底吸收系数 Na 周围环境的折射率(空气:n=1)Ka 周围环境的吸收系数(空气:k=0)Phi 入射角(垂直时入射角=0)La 激光波长(nm)Nu 上层膜的折射率 Ku 上层膜的吸收系数(通常为负)Du 上层膜的厚度 Nm 中间层膜的折射率 Km 中间层膜的吸收系数 Dm 中间层膜的厚度 Nl 底层膜的折射率 Kl 底层膜的吸收系数 Dl 底层膜的厚度 Tab.错误!文档中没有指定样式的文字。-1:三层膜模型的参数总结 6.退出软件 点击右上角的按钮,关闭 SENTECH 软件界面,就可以退出 SE 400advanced程序。六.注意事项 1.被测片放于测试台,测试时注意片子不要移动,以使测试准确。2.测试时若参数有较大偏差(n 约为,d 约为 84-92nm),应先考虑 PECVD工艺问题,再考虑椭偏仪本身是否测试准确。测试频次 3.测试时其 Degree of polarization(偏振度)应大于。4.定期检查光路准确情况:1)首先在 70 度位置测量 SiO2 标准片,看是否在误差范围内。2)70 度时在 Service and configaration 窗口内看其图形是否对准情况,黄、红两图形应重合,其 Symmetry 应大于。5.氦氖激光器电源不能频繁的关闭和打开。开机时应先确认氦氖激光器电源关闭时再接通电源,然后才能打开激光器电源(断电时应注意关闭激光器电源)。6.平时应保持设备的整洁

    注意事项

    本文(椭偏仪操作规程.pdf)为本站会员(wj151****6093)主动上传,淘文阁 - 分享文档赚钱的网站仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知淘文阁 - 分享文档赚钱的网站(点击联系客服),我们立即给予删除!

    温馨提示:如果因为网速或其他原因下载失败请重新下载,重复下载不扣分。




    关于淘文阁 - 版权申诉 - 用户使用规则 - 积分规则 - 联系我们

    本站为文档C TO C交易模式,本站只提供存储空间、用户上传的文档直接被用户下载,本站只是中间服务平台,本站所有文档下载所得的收益归上传人(含作者)所有。本站仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。若文档所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知淘文阁网,我们立即给予删除!客服QQ:136780468 微信:18945177775 电话:18904686070

    工信部备案号:黑ICP备15003705号 © 2020-2023 www.taowenge.com 淘文阁 

    收起
    展开