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一种基于环形振荡器的老化效应监测与分离电路 随着利用半导体结构制造器件的迅速发展，对元件可靠性的要求越来越高，尤其是处于恶劣环境下静压、温度、电压和频率变化等元件老化机理的建立，是提高元件可靠性方面的一项重要研究。在电子系统中，用于监测和分离元件老化的电路称为老化监测与分离电路（AMC）。一种基于环形振荡器的老化效应监测与分离电路，可以利用环形振荡器来检测元件老化效应，因而有效地减轻两个或多个环形级联振荡器之间的干扰影响。此外，环形振荡器可以实现高可靠性。它具有快速响应、高可靠的特点，这是一种有效的保护元件老化的方法。环形振荡器可以将振荡信号分割成多个调制信号，从而减少了振荡信号之间的影响。此外，具有环形振荡器的老化监测与分离电路可以更小的传输和控制损耗，更小的静态和动态电荷泄漏，更小的热负荷，以及更短的建库时间和报警延迟。在这种老化监测技术中，用户可以分析不同电路的状态，以便了解元件老化的速度，进而可以针对存在的老化效应进行及时的调整。通过使用环形振荡器的老化监测与分离电路，用户可以在无需增加负担的情况下更好地分析元件老化效应，可以更好地提高电子系统的可靠性。