「射线检测I级习题集新」.pdf
射线检测 I 级习题集 一、是非题：1、可见光和 X 射线都是电磁波。（）2、X 射线和射线都带电（X)3、X 射线和射线在真空中以每秒 30 万公里速度直线前进。（）、射线的传播速度比可见光大（)5、射线的能量与它的频率成正比。(O)6、光子具有波动性和粒子性。(O)7、原子核带正电荷(O)8、原子核由质子和中子组成（)9、原子是由一个原子核和若干个核外电子组成(O )10、原子核是由中子、质子和电子组成(X)11、中子不带电(O)12、质子带正电荷(O )13、整个原子呈电中性（O)14、原子量相同和中子数不同的原子互称同位素(X）15、X 射线和射线是电磁波、可见光不是电磁波(X )16、X 射线的波长比紫外线的波长短(O ）、射线是不可见的（O ）18、射线能杀伤生物细胞(O）、射线本身带电,可以产生干涉和衍射现象。（X ）20、阴极电子以很高的动能飞向阳极，绝大部分能量转换为射线（X)21、光电效应产生光电子（O)22、光电效应时,光子把全部能量转移给电子(）2、在电子对效应中，入射光子消失()2、在康普顿效应中，光子的部分能量转移给电子（）25、在康普顿效应中,光子的能量和运动方向发生变化()2、在电子对效应中,光子转化为 1 个正电子和个负电子 O 27、能量和方向都发生了改变的射线叫做散射线（）8、射线的波长越小，衰减越大（X ）2、物质的原子序数大，射线衰减也大(O）30、同一种物质，射线能量不同时衰减系数不同（O）、对于同一能量的射线,通过不同物质时，其衰减系数是相同的（X)32、半价层是指使入射射线强度减少一半时的吸收物质厚度(O ）33、“居里”是放射性同位素活度的单位（）4、底片上相邻区域的高度差定义为“对比度”()5、透射射线强度差异与底片对比度无关系（）36、射线照相法可以获得缺陷的直观图像,定性准确（O）3、射线检测结果可直接记录,可以长期保存（O）38、射线检测对体积型缺陷(气孔、夹渣等）检出率较高（O)39、射线对人体有伤害（O)40、影响颗粒度的因素是透照厚度、线衰减系数和散射比(X）41、射线强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度（O）、缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同（O)3、对比度是底片上相邻区域的透射射线强度差（X)44、X 射线管是产生射线机的部件（O）4、灯丝变压器是一个升压变压器（)、气体绝缘 X 射线机用六氟化硫(6）气体作绝缘介质（)47、X 射线管管电流调节是通过调节灯丝加热电流来实现的（)8、X 射线管必须具有足够的真空度、足够的绝缘强度和足够的散热能力（O）49、金属陶瓷管用金属陶瓷替代玻璃作外壳,具有良好的抗震性和耐高温性（O)0、管电压愈高,发射的 X 射线的波长愈大,穿透能力就愈强(X)51、实际焦点垂直于管轴上的正投影叫做有效焦点(O）52、训机的目的是吸收 X 射线管内的气体,提高 X 射线管的真空度（O）、训机就是按照一定的程序，从低电压逐步升压(X)4、在升高压过程中如“mA”不稳定,则应降低管电压重新训练（O）55、在使用 X 射线机时还必须注意充分冷却,保证冷却系统正常工作（O)56、屏蔽容器是 射线源的储存装置(O)57、源组件由源容器、放射源、包壳、源辫子构成（X)8、目前在工业射线探伤中使用的 射线源主要是天然放射性同位素(X）59、射线源的能量影响到检验的灵敏度(O)60、应按照被检工件的材料和厚度选择适当的 射线源()6、在 射线探伤中应选取放射性比活度较小的源(X）、射线探伤设备特别适用于野外作业(O）3、射线能量可根据试件厚度进行调节（)6、射线探伤设备固有不清晰度一般说来比射线机小(X)65、射线探伤对安全防护要求高,管理严格（O）、射线胶片片基为半透明塑料,它是感光乳剂层的支持体（X)67、感光乳剂的主要成分是卤化银(O）68、胶片特性曲线是表示相对曝光量与底片黑度之间关系的曲线（O)9、射线穿透被检工件后照射在胶片上，使胶片产生潜影(O）0、感光度定义为底片获得一定黑度所需曝光量的倒数(O）1、不同胶片得到同样的黑度所需的曝光量相同()、特性曲线上不同点的梯度是不同的(O)7、本底灰雾度(D）表示胶片即使不经曝光在显影后也能得到的黑度(O）74、不同胶片要达到同一黑度,采用不同波长的射线曝光将需要不同的曝光量（O）76、随着颗粒度增大，胶片的感光度增高,梯度降低(O)77、胶片的感光特性与暗室处理无关(X)、目前在射线照相中一般不使用增感型胶片(O)79、如需要较高的射线照相质量,则需使用号数较大的胶片()80、不要多层胶片同时裁切，防止轧刀,擦伤胶片（)81、裁片时不可把胶片上的衬纸取掉裁切()82、胶片宜保存在低温低湿环境中(O)83、空气过于干燥，容易使胶片产生静电感光（O)8、胶片应竖放,避免受压(O)85、使用标准黑度片校验黑度计(O)、金属增感屏除具有增感作用外,对波长较短的散射线有吸收作用（X)87、像质计只能用与被检工件材质相同的材料制作(X）88、我国采用的是金属丝型像质计和孔板型像质计(）89、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位(O)90、像质计上直径小的金属丝应放在被检区内侧（X)9、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验()92、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记(O）93、为屏蔽工件中的散射线需制作一些与胶片暗袋尺寸相仿的屏蔽铅板(）4、影像的重叠使得物体中不同位置的缺陷,在射线检测的影像上可能表现为一个缺陷(O)9、当从同一方向进行射线检测时,对同一物体得到的影像可以不同(X)96、影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸(O）97、在一般情况下,影像都存在一定程度的放大()9、如果得到的影像的形状与物体在投影方向截面的形状不相似，则称影像发生了位移(X)99、只要物体的投影截面与记录影像的截面不平行，就将发生影像畸变（O)100、像质计灵敏度等于工件中所能发现的最小缺陷尺寸(X)101、底片上某一小区域和相邻区域的黑度差称为底片对比度(O)2、底片对比度越大,影像就越容易被观察和识别(O)103、选用可能的较低能量的射线进行透照从而减小线衰减系数(X）04、射线照相清晰度常用不清晰度来表述()105、射线照相法中照相焦距（F）是指射线源焦点至工件表面的距离(）06、照相焦距大几何不清晰度值小（O)17、射线源焦点尺寸大则固有不清晰度值也大，反之则小（)08、缺陷的至胶片的距离大，几何不清晰度就大（）10、射线愈硬,固有不清晰度愈大(O）10、颗粒度限制了影像能够记录的细节的最小尺寸(）11、对 X 射线,射线的能量用管电压表示（O)112、焦距是射线源与胶片之间的距离(O）1、曝光量是透照时间与管电压的乘积(X）14、对射线来说，穿透力取决于管电压（O)11、对 射线来说,穿透力取决于放射源种类(O)11、为保证射线具有一定穿透能力，选用较高的能量（）117、选取的焦距必须满足射线照相对几何不清晰度的要求(O）18、在实际的射线照相检验中,确定焦距最小值常采用诺模图(O)1、焦距增大后,匀强透照场范围增大,这样可以得到较大的有效透照长度（）120、当采用中心内照法时,焦距就是筒体的内半径（X)
