《测试技术与信号处理》实验指导书.pdf

实验指导书实验项目名称：测试装置动态特性的测量实验项目性质：综合性所属课程名称：测试技术实验实验计划学时：2 一实验目的1了解差动变压器式位移传感器的工作原理2掌握测试装置动态特性的测试3掌握 m-k-c二阶系统动态特性参数的影响因素二实验容和要求1.差动变压器式位移传感器的标定2弹簧振子二阶系统的阻尼比和固有频率的测量三实验主要的仪器设备和材料该实验需要的主要仪器设备有：弹簧振子实验台、计算机、采集卡、电源。1弹簧振子实验台弹簧振子实验台的原理如图1 所示，主要由弹簧k、质量振子m、阻尼器 c、传感器、台架、振子位置调节器等组成。阻尼器由阻尼薄片和介质阻尼及传感器铁心运动副组成，更换不同面积的阻尼薄片和介质，可获得不同的阻尼系数。实验台为一典型的m-k-c 二阶系统，系统的传递函数为21()G smscsk(1)系统的无阻尼固有频率为nkm(2)系统的无因次阻尼比为2cmk(3)系统的有阻尼固有频率21dn(4)2测量原理1)原理根据测量出的弹簧振子欠阻尼二阶系统的阶跃响应曲线来求系统图 1 弹簧振子实验台弹簧 k 振子 m 传感器台架阻尼 c USB 数据采集仪计算机调节器的动态特性：固有频率n和阻尼比。关于该方法的详细说明可参见教材。2)实验步骤先将质量振子偏离平衡，具有一定的初始位移，然后松开。该二阶系统在初始位移的作用下，产生一定的输出，位移传感器采集到系统的输出并传输给计算机，该输出曲线如图2 所示。该输出是由初始状态引起的，可称之为零输入响应，也可看作是由初始位置到零的阶跃响应。(1)求有阻尼固有频率d阶跃响应的振荡频率为系统的有阻尼固有频率d。根据图 2 中的曲线的振荡周期，可测得2ddT(5)(2)求阻尼比利用任意两个超调量iM和i nM可求出其阻尼比，n 是该两个峰值相隔的某一整周期数。计算公式为图 2 欠阻尼二阶系统的阶跃响应Td Td M1 M2 M3 22224nnn(6)其中lnini nMM(7)当0.3时，可采用下面的简化公式ln2iinMMn(8)(3)求无阻尼固有频率n计算出有阻尼固有频率d、阻尼比之后，根据公式(4)可求出系统的固有频率n21dn(9)(4)求弹簧的刚度和振子组件的质量振子组件主要由振子、滑杆、振子位置调节器、阻尼片、传感器连接杆等组成。利用已知质量的U 型质量块，求出弹簧的刚度K。mgKx(10)式中，m 为 U 型质量块的质量，x为将 U 型质量块叠放在振子上之后弹簧长度的变化量。求出系统的无阻尼固有频率n和弹簧刚度K 之后，就可以根据公式得出振子组件的质量mz，2znKm(11)3系统的组成质量振子在平衡位置的振动位移由计算机实现自动采集。计算机采集系统的原理框图如图3 所示。(1)差动变压器该系统利用差动变压器位移传感器来检测质量振子的位移。差动变压器的工作原理参见教材及传感器的说明书。该位移传感器的测量围为 60mm，满量程输出为 10V 直流电压信号。其工作电源为 12V 直流电源。该位移传感器的电缆线由4 根线组成，红色的接+12V 电源，绿色线接-12V 电源，白色线为地线，兰色线为信号线。(2)USB7325A 数据采集仪USB7325A 数据采集仪可同时采集16 路信号，但面板上只接出了其中 10个通道。可选用其中任何一个通道来采集位移传感器的输出。USB7325A 数据采集仪接受差动变压器输出的 10V 围的模拟直流电压信号，在采集仪的部进行A/D 转换之后，将得到的数字量电压信号通过 USB 接口发送给计算机。(3)计算机及实验软件差动变压器质量振子台架+12V(红)-12V（绿）地线(白）信号线(兰)USB 数据采集仪(A/D)12V 直流电源计算机图 3 计算机数据采集系统框图USB 运行于计算机的实验软件可实现实验数据的自动采集、保存、显示和处理等。实验软件可实现采集通道的选择和采集速度等设置。计算机采集得到的是差动变压器输出的电压信号，而我们需要的是位移信号。因此，在实验软件里，将采集得到的电压信号除以传感器的灵敏度 S 后，即可得到质量振子的位移信号。4系统参数的说明zm:质量振子组件(包括振子、水平滑杆、阻尼器)的质量,具体数值未知。1um:1 号 U 型质量块（长度约为40mm），其质量约为 mu1=130 克（无标注）或 mu1=115克(有标注)2um:2 号 U 型质量块（长度约为60mm），其质量约为 mu2=210 克。1K：1 号弹簧（刚度小、直径约为12mm）的刚度，具体数值未知。2K：2 号弹簧（刚度大、直径约为10mm）的刚度，具体数值未知。1c:阻尼器放在空气中时系统的阻尼，具体数值未知。2c:阻尼器放在水中时系统的阻尼，具体数值未知。四、实验程序的操作(1)启动实验软件“测试装置动态特性测试.exe”。(2)用鼠标单击屏幕上“采集”框“采样设置”按钮，进行实验软件的参数设置，如采样频率和所选用的数据采集仪的采用通道、传感器的灵敏度等。(3)单击“采集”框的“开始采样”按钮，启动数据采集，传感器输出的电压信号被实时采集到计算机里并以数字和曲线的形式显示在屏幕上。(4)利用振子位置调节器，调整振子的平衡位置，使传感器的输出接近为零。(5)用手将振子往下拉，使其偏离平衡位置一定距离后松手，振子将会振动起来。实验指导书实验项目名称：虚拟仪器（Labview）上机实验实验项目性质：综合性所属课程名称：测试技术实验实验计划学时：2 一、实验目的1掌握 LabView 的编程和上机调试；2了解热电偶温度传感器和应变片式力传感器的工作原理、特点和应用；3掌握温度和压力的测量。二、实验容和要求1LabView 的编程和调试、运行；2利用 LabView 实现温度和压力的测量。三、实验主要仪器设备和材料本实验的主要仪器设备有：虚拟仪器开发平台LabView8.2，机械转子系统，USB 数据采集卡，热电偶温度传感器，应变片式力传感器，计算机。四实验方法和步骤(7325A 采集卡)（一）温度测量编程与调试。说明：一个完整的VI 程序包括程序前面板和程序框图两大部分。简单的采集过程为：打开采集卡初始化读取采集结果。1、启动LabView8.2 编程环境。从开始程序National Instruments LabVIEW 8.2或者双击桌面快捷图标。2、新建温度测试VI。在 LabView8.2 开始界面左上角文件新建栏，单击 VI。则生一对空白的前面板和框图窗口。如图示：3、在框图面板中放置顺序结构。方法：在框图面板任意空白位置单击右键，弹出函数选择框，单击选中编程结构层叠式顺序结构，在框图中空白处单击以确定顺序结构放置的坐上角点，向右下拖动鼠标，再次单击以确定顺序结构放置的右下角点，可以通过拖动边框来改变结构位置和大小（类似结构放置方法一样）。在边框上单击右键，选中弹出菜单中的“在后面添加帧”项。这样操作两次后，就生成了具有三帧的层叠式顺序结构，编号依次为0、1、2。如图示：4、创建参数传递簇。在前面板空白处单击右键，在控件选择菜中单击选中新式数组、矩阵簇，放置于前面板，双击标签“簇”，修改为 BS。选中新式数值数值输入控件，放置于刚才创建的簇中，并更改数值控件标签为lIndex。右键单击数值控件，在弹出的菜单中，选中表示法I32（长整型）。按照同样的方法在簇BS 中创建其余五个数值控件，数据类型均为 I32（长整型），标签分别为：lIndex、hHandle、nCh、lData、plData、lCode，输入初值分别为：0、0、6、512、0、1536。在前面板创建打开结果的数值显示控件，标签设置为“打开”，数据类型为I32（长整型）。建好后的 BS 簇如图示：建好簇 BS 后，在程序框图中将簇BS 图标拖到顺序结构外面，“打开”显示控件放在顺序结构里。5、打开采集设备程序。选择顺序结构的第0 帧为当前工作帧（可参照第3 步的图示，前面打钩的为当前工作帧）。在空白处单击右键，在弹出的程序选中菜单中选中选择，通过弹出的选种对话框选择D:/labview上机实验/Open7325A.VI，置于顺序结构的第0 帧。用鼠标单击，连接簇 BS 端子和 Open7325A 子 VI 的输入端子，Open7325A子 VI 的输出端子和“打开”显示控件。如图示：6、初始化采集设备程序。切换到顺序结构的第1 帧。在前面板创建“初始化”显示控件，数据类型为I32（长整型）。用与上述类似的方法加载Init7325A.VI，其路径为：D:/labview上机实验/Init7325A.VI，并连线至如图所示：7、读数、处理程序。要连续地从采集卡中读取数据就必须将整个读数和数据转换程序放置在循环结构中。切换至顺序帧的第2 帧，并创建“读数”显示控件，数据类型为I32（长整型）。在程序菜单中选中编程结构While循环，置于第二帧中（中间留出较大空间）。在 While 循环，调用 Read7325A.VI。连接簇 BS 和子 VI。在程序选择菜单中选择编程簇与变体按名称解除捆绑，与簇 BS 连接，单击该解绑函数，选择所要的元素lData。选择编程数组初始化数组，在编程数值数值常数，改常数值为2048。连线至图示。选择编程数值商与余数、除、乘、减函数和常数，并按图示连接。选择编程数组抽取一维数组，放置好后，拖动其下边框使得其有十个输出端子，输出数据从第六路引出（温度采集为第六通道）。选取编程数组索引数组函数、数值常数，按图示连接。8、在前面板创建新式图形波形图表，改其标签为“电压（V）”。同样，创建标签为“温度()”的波形图表。创建“电压（V）”和“温度()”数值显示控件，用来实时显示电压和温度值。创建启停按钮，新式布尔开关按钮。9、数据保存程序。选择编程数组创建数组，拖动其下边框使其具有两个输入端子。分别连接电压和温度值。选择编程文件/写入电子表格文件。在前面板创建路径输入控件，选择新式字符串与路径文件路径输入控件，并将其值写为：D:labview上机实验温度测量数据.txt。连接至写入电子表格文件函数的“文件路径”端子。在程序选择菜单选择编程布尔真常量，连接至写入电子表格文件函数的“添加至文件？”端子。10、程序调试运行。编好程序后，前面板和程序框图的菜单栏中“运行”图标由变成状，表示程序编写正确。打开数据采集设备电源。启动直流电机，调速至一个稳定的转速。单击前面板的“起停”按钮使之呈高亮态，再单击工具栏上“运行”按钮开始采集。正常情况下前面板波形图表显示为：从图上可以看出，电压和温度变化幅值波动较大，其实不然（从右边的数值显示控件可以看出）。原因是两个波形图表的纵坐标（Y 轴）设置了较高的分辨率。可通过修改属性的方法来调整。在“电压（V）”波形图表中单击右键，在弹出的菜单中选择属性，选择“标尺”页，设置如图所示。同理设置“温度”波形图表，如图示。运行结果如下：（二）压力测量程序编写与调试。16、与温度测量实验一样。7、While 循环的建立、各数值常数和运算符的创建等方法都和前面一样。在对采集的信号进行后续的处理中，筛选正压力值的功能是靠一个条件结构来实现的。其位置在编程结构条件结构，创建方法与顺序结构一样。条件结构有两帧（真和假），当外面的条件表达式为真时，执行“真”帧中的程序，反之执行“假”帧中的程序。这里的条件表达式中包含了一个比较函数，其位置为编程比较大于，将其输出结果连接至条件结构的条件端子。第 2 帧的连接图如下所示：8、程序编写无误后。检查簇BS 的参数设置，各元素值可参照图示。打开采集设备，点击“起停”按钮至高亮态，再点击工具栏上“运行”按钮开始运行。试验台静止时测试结果如下图所示：启动试验台在某一稳定转速运转时，测试结果如下：五实验方法和步骤(MP421 采集卡)（一）温度测量编程与调试。说明：一个完整的VI 程序包括程序前面板和程序框图两大部分。简单的采集过程为：打开采集卡初始化读取采集结果。1启动 LabView 编程环境从开始程序National Instruments LabVIEW或者双击桌面快捷图标。2新建温度测试VI。在 LabView 开始界面左上角文件新建栏，单击 VI。则生一对空白的前面板和程序框图窗口。如图 8.1 所示。3在程序框图窗口中放置顺序结构。在程序框图窗口的任意空白位置单击右键，弹出函数选择框，单击选中“编程结构层叠式顺序结构”（图 8.2），在框图中空白处单击以确定顺序结构放置的坐上角点，向右下拖动鼠标，再次单击以确定顺序结构放置的右下角点，可以通过拖动边框来改变结构位置和大小（类似结构放置方法一样）。在边框上单击右键，选中弹出菜单中的“在后面添加帧”项，如图8.3 所示。这样操作两次后，就生成了具有三帧的层叠式顺序结构，编号依次为0、1、2。如图 8.4 所示。4调用“打开采集设备”子程序，完成采集卡的打开。选择顺序结构的第0 帧为当前工作帧（可参照图8.4 所示，前面打钩的为当前工作帧）。在当前工作帧的空白处单击右键，在弹出的程序选中菜单中选中“选择VI”，通过弹出对话框选择F：/labview 上机图 8.2 图 8.3 图 8.4 图 8.1 实验/MP421 MP421_OpenDevice.vi。将 MP421_OpenDevice 子程序的图标放在当前工作帧的空白处，见图8.5。右键点击子程序图标，在弹出的右键菜单中取消“显示为图标”，见图 8.6。用鼠标拉长之后，则子程序标记由图标变成了如图8.7 所示的程序方框；该子程序显示出了其需要的输入端口为dev_num（设备号），输出端口为hDevice(open)（设备句柄），见图 8.7。右键单击程序方框中的dev_num 格，在弹出菜单中点击“创建/输入控件”，为打开设备子程序新建一个输入控件dev_num(设备号)。如只有一块 MP421 采集卡，则该输入控件的值取0。在空白处单击右键，在弹出菜单中选中“选择VI”，通过弹出的对话框选择全局变量子程序F：/labview 上机实验/hDvice.vi，该子程序中定义了全局变量hDevice。将全部变量hDevice 子程序与打开采集设备子程序的输出端口hDevice(open)相连。该全部变量用于保存“打开采集卡”子程序返回的采集卡句柄，在顺序结构的其它帧需要调用。最后得到的顺序结构第0 帧的程序框图如图8.8 所示。图 8.5 图 8.6 图 8.7 5.调用“数据采集”子程序选择顺序结构的第1 帧为当前工作帧（可参照图8.4 所示，前面打钩的为当前工作帧）。在当前工作帧的空白处单击右键，在弹出菜单中选“选择VI”，通过弹出对话框选择F：/labview 上机实验/MP421_ADS.vi。取消“显示为图标”和拉长之后，得到如图 8.9 所示的程序框图。该子程序有 chan(采样通道)、hDevice(句柄)、tdata(采样速度控制字)等 3 个输入端口。采集卡的采样频率=10000/tdata(KHz)。分别为 MP421_ADS 子程序的 chan、tdata这 2 个输入端口新建两个输入控件。hDevice(句柄)输入端口应该与全局变量hDevice 相连。因此，先插入全局变量子程序hDevice.vi。右击 hDevice 图标，在弹出菜单中选择“转换为读取”之后，hDvice 图标的连接端口由输入变成输出。于是就可以将 hDevice 全局变量与 MP421_ADS 子程序的 hDevice(in)输入端口相连。再 MP421_ADS 子程序的“元素”输出端口创建输出显示控件。“元素”端口输出的就是采集得到电压数据,将“元素”显示控件的标签名改为“电压(V)”。最终得到如图8.11所示的程序框图。图 8.8 图 8.9 6数据的处理在前面板创建“新式图形波形图表”，改其标签为“电压（V）”。同样，创建标签为“温度()”的波形图表。创建标签为“灵敏度（/V）”的数值输入控件，用于实现电压与温度间的转换。创建标签为“温度()”的数值显示控件，用来实时显示温度值。进入程序框图窗口，选择顺序结构的第1 帧为当前工作帧。选择“编程数值乘”，按图 8.12 所示连接。这样，“乘”程序图标输出的就是转换之后为温度值。7.数据的保存在前面板，选择“新式布尔开关按钮”,创建数据保存的开关按钮。将开关的标签由“布尔”改为“保存”。进入程序框图窗口，选择顺序结构的第1 帧为当前工作帧。在程序框图窗口右边的空白位置处单击右键，弹出函数选择框，单击选中“编程结构条件结构”，在框图中右边空白处单击以确定条件结构放置的坐上角点，向右下拖动鼠标，再次单击以确定条件结构放置的右下角点，可以通过拖动边框来改变结构位置和大小。将“保存”开关按钮与条件结构的左边框的“分支选择器”相连。图 8.10 图 8.11 单击条件结构的上边框中间的“选择器标签”，将其值改为“真”。在条件结构框，选择“编程数组创建数组”，拖动其下边框使其具有两个输入端子，分别连接电压和温度值。选择“编程文件/写入电子表格文件”。在前面板创建路径输入控件，选择“新式字符串与路径文件路径输入控件”，并将其值写为：温度测量数据.txt。转换到程序框图窗口，将“路径”图标放入“条件结构”方框，连接“路径”图标输出端口至写入电子表格文件函数的“文件路径”端子。选择“编程布尔真常量”，连接至写入电子表格文件函数的“添加至文件？”端子。至此，顺序结构的第1 帧的编程已经完成，如图8.14 所示。在此帧程序中，主要完成了数据的采集、处理和保存。8.采集卡的关闭选择顺序结构的第2 帧为当前工作帧（可参照图8.4 所示，前面打钩的为当前工作帧）。在当前工作帧的空白处单击右键，在弹出菜单中选“选择VI”，通过弹出对话框选择F：/labview 上机实验/MP421_CloseDevice.vi。同样，图 8.12 图 8.13 调用全局变量子程序hDevice.vi。右击 hDevice 图标，在弹出菜单中选择“转换为读取”之后，hDvice 图标的连接端口由输入变成输出。将hDevice 全局变量与MP421_CloseDevice 子程序的输入端口相连。MP421_CloseDevice 子程序的输出端口可以不接显示控件。顺序结构第3 帧的程序框图如图8.15 所示。整理好前面板。如图8.16 所示。10、程序调试运行。编好后，前面板和程序框图的菜单栏中“运行”图标由变成状，表示图 8.15 图 8.16 图 8.14 程序编写正确。打开数据采集卡的电源。启动直流电机，调速至一个稳定的转速。从图上可以看出，电压和温度变化幅值波动较大，其实不然（从右边的数值显示控件可以看出）。原因是两个波形图表的纵坐标（Y 轴）设置了较高的分辨率。可通过修改属性的方法来调整。在“电压（V）”波形图表中单击右键，在弹出的菜单中选择属性，选择“标尺”页，设置如图所示。同理设置“温度”波形图表，如图 8.17 和 8.18 所示。（二）压力测量程序编写与调试。(1)编程过程与温度测量一样。(2)改变一下数据采集的采样通道、传感器的灵敏度(4.5)和数据保存的文件名,以及相应控件和图表的标签名。六.实验报告要求1.实验报告写作大纲(1)实验的目的和要求(2)实验的容和结果图 8.17 图 8.18 实验程序界面和框图（抓屏程序的前面板和程序框图）。整理实验得到的图形（压力和温度波形图）根据保存的数据文档，用Matlab 做出温度和压力波形图。(3)结论(4)问题和讨论对思考题的回答。(5)对本试验的体会和建议2.图形要求打印，纸大小需剪裁到与实验报告纸尺寸一致。六思考题1简述利用 LabView 虚拟仪器平台进行程序开发的优缺点。2简述利用采集卡进行数据采集的程序流程。