光产品检测一览表汇编.docx

光产品检测一览表序号检测产品名称产品检测依据1单模光纤GB/T 9771-2000通信用单模光纤系列2多模光纤GB/T 12357-2004通信用多模光纤系列3有线电视用光缆GY/T 130-1998有线电视用光缆入网技术条件4中心管束式全填充型通用室外单模光缆YD/T 769-2003中心管束式全填充型通用室外单模光缆5层绞式通信用室外光缆YD/T 901-2001核心网用光缆层绞式通信用室外光缆6全介质自承式光缆YD/T 980-2002全介质自承式光缆7FC型单模光纤光缆活动连接器YD/T 717-1994 FC型单模光纤光缆活动连接器8FC-PC型单模光纤活动连接器YD/T 826-1996 FC-PC型单模光纤活动连接器技术条件9SC/PC型单模光纤活动连接器YD/T 895-1997 SC/PC型单模光纤活动连接器技术条件10FC/APC型光纤活动连接器YD/T 896-1997 FC/APC型光纤活动连接器技术条件11ST/PC型光纤活动连接器YD/T 987-1998 ST/PC型光纤活动连接器12MU型单模光纤活动连接器YD/T 1200-2002 MU型单模光纤活动连接器技术条件13光纤耦合器YD/T 893-1997光纤耦合器技术条件14光纤固定衰减器YD/T 894-1997光纤固定衰减器技术条件15光纤配线架YD/T 778-1999光纤配线架技术要求及试验方法16光缆终端盒YD/T 925-1997光缆终端盒17光缆接头盒YD/T 814-2004光缆接头盒18波分复用器YD/T 964-19981310nm/1550nm波分复用器技术要求和测试方法电产品检测一览表序号检测产品名称产品检测依据1射频电缆GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范2漏泄同轴电缆GB/T 15285-1994漏泄同轴电缆分规范3物理发泡聚乙烯绝缘漏泄同轴电缆YD/T 1120-2001通信电缆物理发泡聚乙烯绝缘漏泄同轴电缆450泡沫聚乙烯绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆YD/T 1092-2004无线通信用50泡沫聚乙烯绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆5电缆分配系统用单同轴电缆GB 11323-1989电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验6纵孔聚乙烯绝缘同轴电缆7物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆SJ/T 11138-1997电缆分配系统用物理发泡聚乙烯绝缘同轴电缆8有线电视用物理发泡同轴电缆GY/T 135-1998有线电视用物理发泡同轴电缆入网技术条件9接入网用同轴电缆D/T 897.1-1997Y接入网用同轴电缆第1部分：同轴用户电缆一般要求10接入网用配线同轴电缆YD/T 897.2-1998接入网用同轴电缆第2部分：同轴配线电缆一般要求11实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆YD/T 1019-2001数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆12数字局用对称电缆YD/T 818-1996聚氯乙烯绝缘聚氯乙烯护套数字局用对称电缆13数字通信用对称电缆YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范14精密硬同轴线连接器GB/T 14313-9315通讯设备用射频连接器GB/T 11313-1996射频连接器 第1部分：总规范一般要求和试验方法YD/T 640-1993通信设备用射频连接器技术要求及检测方法16实芯聚乙烯绝缘射频电缆GB/T 14864-1993实芯聚乙烯绝缘射频电缆17半柔软同轴电缆组件GB/T 16531-1996射频同轴电缆组件 第3部分半柔软同轴电缆组件分规范18聚烯烃绝缘聚烯烃护套市内通信电缆GB/T 13849-1993聚烯烃绝缘聚烯烃护套市内通信电缆19聚氯乙烯绝缘电缆GB 5023.1.7-1997额定电压450/750V及以下聚氯乙烯绝缘电缆电产品检测一览表（续）序号检测产品名称产品检测依据20塑料绝缘控制电缆GB 9330.2-1988塑料绝缘控制电缆 第2部分聚氯乙烯绝缘和护套控制电缆21聚氯乙烯绝缘安装软线SJ 2085-1985聚氯乙烯绝缘安装软线22聚氯乙烯绝缘安装线SJ 2086-1982聚氯乙烯绝缘安装线23阻燃聚氯乙烯安装线SJ 2932-1988阻燃聚氯乙烯安装线24阻燃电视高压线SJ 2933-1988阻燃电视高压线25铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护层市内通信电缆YD/T 322-1996铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护层市内通信电缆26数字配线架YD/T 779-1999数字配线架技术要求及试验方法27程控交换局用电缆YD/T 817-1996聚氯乙烯绝缘聚氯乙烯护套程控交换局用电缆28电话网用户铜芯室内线YD/T 840-1996电话网用户铜芯室内线29铜包铝线SJ/T 11223-2000铜包铝线30铜包钢导体ASTM B869-2004 CATV引入线用铜包钢导体31铜包钢线ASTM B452-2002电气用铜包钢线光产品测试项目一览表序号检测项目检测依据1截止波长GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列2模场直径GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列3包层直径GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第2部分：尺寸参数试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列4包层不圆度GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第2部分：尺寸参数试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列5光纤折射率分布GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列6衰减GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列7衰减不均匀性GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列8插入损耗YD/T 826-1996 FC-PC型单模光纤活动连接器技术条件YD/T 895-1997 SC/PC型单模光纤活动连接器技术条件YD/T 896-1997 FC/APC型光纤活动连接器技术条件YD/T 987-1998 ST/PC型光纤活动连接器技术条件YD/T 779-1999 数字配线架技术要求及试验方法YD/T 893-1997 光纤耦合器技术条件YD/T 1117-2001 全光纤型分支器件技术条件9回波损耗YD/T 826-1996 FC-PC型单模光纤活动连接器技术条件YD/T 895-1997 SC/PC型单模光纤活动连接器技术条件YD/T 896-1997 FC/APC型光纤活动连接器技术条件YD/T 987-1998 ST/PC型光纤活动连接器技术条件YD/T 779-1999 数字配线架技术要求及试验方法YD/T 893-1997 光纤耦合器技术条件YD/T 1117-2001 全光纤型分支器件技术条件光产品测试项目一览表（续）序号检测项目检测依据10色散GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 9771-2000 通信用单模光纤系列GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列11纤芯直径GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第2部分：尺寸参数试验方法GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列12数值孔径GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列13带宽GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列14谱损耗GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第4部分：传输特性和光学特性试验方法GB/T 12357-2004 通信用多模光纤系列15消光比希望可以查到保偏光纤的标准16分光比YD/T 1117-2001 全光纤型分支器件技术条件17偏振模色散GB/T 18900-2002 单模光纤偏振模色散的试验方法18光纤预制棒折射率分布希望可以查到光纤预制棒的标准19拉伸GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法20压扁GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法21冲击GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法22反复弯曲GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法23扭转GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法24曲绕GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法光产品测试项目一览表（续）序号检测项目检测依据25卷绕GB/T 7424.2-2004 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法26标志耐磨GJB 1428A-1999 光缆总规范27护套耐磨GJB 1428A-1999 光缆总规范28光纤筛选GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第3部分：机械性能试验方法YD/T 716-1994 光纤强度筛选（验证）试验方法29光纤抗拉试验GB/T 15972.3-1998 光纤总规范 第3部分：机械性能试验方法电产品检测项目一览表序号检测项目检测依据1导体连续性GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范2直流电阻GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范3绝缘电阻GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范4接触电阻GB/T5095-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法5电压降GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范6高压切通GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范7灭晕电压GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范8平均特性阻抗GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范9衰减GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范10回波损耗GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范11屏蔽衰减GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范12耦合损耗（对称电缆）YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范13特性阻抗GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范14转移阻抗GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范15三阶互调GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范16耦合损耗（泄漏电缆）GB/T 15285-1994漏泄同轴电缆分规范17耐射频高电位电压GJB681A -2002射频同轴连接器总规范18串音YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范电产品检测项目一览表（续）序号检测项目检测依据19延迟GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范YD/T 838.1-2003数字通信用对绞/星绞对称电缆 第1部分：总规范20速比GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范21介电强度GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范22误码率GB11820-89市内光缆通信系统进网要求23信噪比GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范可靠性试验项目一览表序号检测项目检测依据1外观和标志GB6695.1-.5-1986电线电缆识别标志2重量GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法3编织密度GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范4弹性模量GB/T228-2002金属拉伸试验方法5断裂伸长率GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法6抗拉强度GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法7护套冷弯曲GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法8护套抗开裂GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法9高温压力GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法10失重GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法11热收缩GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法12流动性试验GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范13尺寸稳定性GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范14滴流YD/T837-1996铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套室内通信电缆试验方法15剥离强度YD/T837-1996铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套室内通信电缆试验方法16低温冲击脆化温度GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法17渗水试验YD/T980-2002全介质自承式光缆18单根电缆燃烧试验GB18380.1-2001电缆在火焰条件下的燃烧试验19熔融指数GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法可靠性试验项目一览表（续）序号检测项目检测依据20密度GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法21碳黑分散性GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法22镀层厚度JB/T3135-1999镀银软圆铜线23镀层连续性GB/T4909-1985裸电线试验方法24镀层结合力GB/T4909-1985裸电线试验方法25可焊性GB/T2423-2001电工电子产品环境试验26电子拉压力GB/T 17737.1-2000射频电缆第一部分：总规范27环境应力开裂GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法28高温试验（低于+300°C）GB/T2423-2001电工电子产品环境试验29低温试验（高于-65°C）GB/T2423-2001电工电子产品环境试验30老化试验（低于+300°C）GB/T2951-1997电缆绝缘和护套材料通用试验方法31耐湿试验GB/T2423-2001电工电子产品环境试验32振动、冲击试验（量级：100G，振动频率范围：5-2000Hz）GB/T2423-2001电工电子产品环境试验33盐雾试验GB/T2423-2001电工电子产品环境试验34高、低温循环试验（温度范围：-60。C-180°C）GB/T2423-2001电工电子产品环境试验35温度冲击试验GB/T2423-2001电工电子产品环境试验