压力容器中的薄膜应力弯曲应力和二次应力.pptx
1 一一 回转壳体的薄膜应力回转壳体的薄膜应力 二二 圆形平板的弯曲应力圆形平板的弯曲应力 三三 边界区内的二次应力边界区内的二次应力 四四 强度条件强度条件第1页/共71页2第一节第一节 回转壳体中的薄膜应力回转壳体中的薄膜应力薄膜理论简介薄膜理论简介一一 基本概念与基本假设基本概念与基本假设 1 1 基本概念基本概念(1)(1)容器:化工生产所用各种设备外壳的总称。(贮容器:化工生产所用各种设备外壳的总称。(贮罐、换热器、蒸馏塔、反应器、合成炉)罐、换热器、蒸馏塔、反应器、合成炉)第2页/共71页3 回转曲面:回转曲面:由由任何直线任何直线或或平面曲线平面曲线为母线,绕其同为母线,绕其同平平面内的固定轴旋转面内的固定轴旋转3603600 0而成的曲面。而成的曲面。(2)容器的几何特点第3页/共71页4回转壳体:回转壳体:据内外表面之间,且与内外表据内外表面之间,且与内外表面等距离的面为中间面,以回转曲面为中面等距离的面为中间面,以回转曲面为中间面的壳体。间面的壳体。第4页/共71页5回转壳体的纵截面与锥截面回转壳体的纵截面与锥截面纵截面锥截面横截面第5页/共71页6横截面第6页/共71页72.2.基本假设:基本假设:(1 1)小位移假设小位移假设。壳体受压变形,各点位移都小于壁厚。简化计算。壳体受压变形,各点位移都小于壁厚。简化计算。(2 2)直法线假设直法线假设。沿厚度各点法向位移均相同,即厚度不变。沿厚度各点法向位移均相同,即厚度不变。(3 3)不挤压假设不挤压假设。沿壁厚各层纤维互不挤压。沿壁厚各层纤维互不挤压。第7页/共71页8二二 回转壳体中的拉伸应力及其应力特点回转壳体中的拉伸应力及其应力特点 化工容器和化工设备的外壳,化工容器和化工设备的外壳,一般都属于薄壁回转壳体:一般都属于薄壁回转壳体:S/Di 0.1 或 D0/Di 1.2 在介质压力作用下壳体壁内在介质压力作用下壳体壁内存在存在环向应力环向应力和和经(轴)向应力。经(轴)向应力。第8页/共71页9环向薄膜应力环向薄膜应力:在介质均匀的内压作用在介质均匀的内压作用下,壳壁的环向下,壳壁的环向“纤维纤维”受到拉伸,在壳壁的受到拉伸,在壳壁的纵纵截面截面上产生的环向拉伸应力。上产生的环向拉伸应力。经向薄膜应力经向薄膜应力m m:在介质均匀的内压作用在介质均匀的内压作用下,壳壁的经向下,壳壁的经向“纤维纤维”受到拉伸,在壳壁的受到拉伸,在壳壁的锥锥截面截面上产生的经向拉伸应力。上产生的经向拉伸应力。第9页/共71页10薄膜理论与有矩理论概念:薄膜理论与有矩理论概念:计算壳壁应力有如下理论:计算壳壁应力有如下理论:(1 1)无矩理论,即)无矩理论,即薄膜理论薄膜理论。假定壳壁如同假定壳壁如同薄膜薄膜一样,只承受拉应力和压应力,完全不能一样,只承受拉应力和压应力,完全不能承受弯矩和弯曲应力。壳壁内的应力即为承受弯矩和弯曲应力。壳壁内的应力即为薄膜应力薄膜应力。第10页/共71页11(2 2)有矩理论有矩理论。壳壁内存在除拉应力或压应。壳壁内存在除拉应力或压应力外,力外,还存在弯曲应力还存在弯曲应力。在工程实际中,理想的薄壁壳体是不存在工程实际中,理想的薄壁壳体是不存在的,因为即使壳壁很薄,壳体中还会或多在的,因为即使壳壁很薄,壳体中还会或多或少地存在一些弯曲应力,所以或少地存在一些弯曲应力,所以无矩理论有无矩理论有其近似性和局限性其近似性和局限性。由于弯曲应力一般很小,。由于弯曲应力一般很小,如略去不计,其误差仍在工程计算的允许范如略去不计,其误差仍在工程计算的允许范围内,而计算方法大大简化,所以围内,而计算方法大大简化,所以工程计算工程计算中常采用无矩理论中常采用无矩理论。第11页/共71页12三三 几种常见回转壳体上的薄膜应力几种常见回转壳体上的薄膜应力(一)圆筒形壳体上的薄膜应力(一)圆筒形壳体上的薄膜应力1 环向薄膜应力环向薄膜应力作用在筒体纵截面上的 的合力T:第12页/共71页13介质内压力介质内压力p p作用于作用于半个筒体所产生的半个筒体所产生的合力合力N N为为:结论:由作用于任一曲面上介质压力产生的合力等于介质压力与该曲面沿合力方向所得投影面积的乘积,而与曲面形状无关。第13页/共71页14 由力的平衡条件可得:由力的平衡条件可得:环向薄膜应力:第14页/共71页152 2 经向薄膜应力经向薄膜应力介质内压力p作用于封头内表面所产生的轴向合力 为:第15页/共71页16作用在筒壁环形横截面上的内力作用在筒壁环形横截面上的内力 为:为:其中:中径根据力的平衡条件 可得:经向薄膜应力:第16页/共71页17环向薄膜应力环向薄膜应力:经向薄膜应力:中径公式第17页/共71页18结论:结论:(1 1)内压圆筒筒壁上各点的薄膜应力相同,就某一点,该点环向薄膜应力是径)内压圆筒筒壁上各点的薄膜应力相同,就某一点,该点环向薄膜应力是径向薄膜应力的二倍。向薄膜应力的二倍。(2 2)决定应力水平高低的截面几何量是圆筒壁厚与直径的比值,而不是壁厚的绝对值。第18页/共71页19(二)圆球形壳体上的薄膜应力 结论:内压圆球形壳体上各点的薄膜应力相同,就某一点,该点环向薄膜应力等于径向薄膜应力。第19页/共71页20横截面知识回顾:第20页/共71页21环向薄膜应力:在介质均匀的内压作用在介质均匀的内压作用下,壳壁的环向下,壳壁的环向“纤维纤维”受到拉伸,在壳壁受到拉伸,在壳壁的的纵纵截面截面上产生的环向拉伸应力。上产生的环向拉伸应力。经向薄膜应力m:在介质均匀的内压作用在介质均匀的内压作用下,壳壁的经向下,壳壁的经向“纤维纤维”受到拉伸,在壳壁受到拉伸,在壳壁的的锥锥截面截面上产生的经向拉伸应力。上产生的经向拉伸应力。第21页/共71页22环向薄膜应力环向薄膜应力:经向薄膜应力:中径公式1、圆筒形壳体上的薄膜应力 2、圆球形壳体上的薄膜应力第22页/共71页231 1 球形壳体和椭球形壳体的区别球形壳体和椭球形壳体的区别(三)椭球形壳体上的薄膜应力球形壳体椭球形壳体第23页/共71页24(1 1)球形壳体上各点处薄膜应力相同。)球形壳体上各点处薄膜应力相同。(2 2)椭球形各点处薄膜应力不同,与椭)椭球形各点处薄膜应力不同,与椭球形壳体长短轴半径球形壳体长短轴半径a,ba,b有关。有关。区别:第24页/共71页25(1)a/b2(1)a/b2,顶点处应力最大,顶点处应力最大(2)(2)2 椭球形壳体顶点B处的薄膜应力的特点第25页/共71页26(1)(1)直径不变:直径不变:(2)(2)直径不变:直径不变:3 椭球形壳体赤道C处的薄膜应力的特点第26页/共71页27(1)a/b=2(2)4 标准半椭球形封头特点结论:标准半椭球内的最大薄膜应力值与同直径、同厚度的圆筒形壳体内的最大薄膜应力值相等。第27页/共71页28(四)圆锥形壳体中的薄膜应力1.圆锥形壳体的锥截面与横截面不是同一截面,经向薄膜应力与回转轴相交成角。半锥角横截面2.圆锥形壳体上的薄膜应力大端小端不同。第28页/共71页29圆锥薄膜应力:圆锥薄膜应力:第29页/共71页30圆筒形壳体圆筒形壳体薄膜应力:薄膜应力:球形壳体球形壳体薄膜应力:薄膜应力:标准椭球形壳体标准椭球形壳体薄膜应力:薄膜应力:圆锥形壳体圆锥形壳体薄膜应力:薄膜应力:本节小结:第30页/共71页31薄膜应力通式:第31页/共71页32第二节圆形平板承受均布载荷时的弯曲应力第二节圆形平板承受均布载荷时的弯曲应力一一 平板的变形与内力分析平板的变形与内力分析图a图b第32页/共71页331 环形截面的变形及由此而产生的环向弯曲应力,M第33页/共71页34环向弯曲应力环向弯曲应力,M:伴随平板弯曲变形产生的环向伴随平板弯曲变形产生的环向“纤维纤维”的每的每个点沿该点切线方向的拉伸应力或压缩应个点沿该点切线方向的拉伸应力或压缩应力。(力。(径向截面内径向截面内)承受载荷中性圆第34页/共71页35,Mr,M第35页/共71页36径向弯曲应力径向弯曲应力r,M:圆平板弯曲时,平板的径向纤维发生了程度不等的圆平板弯曲时,平板的径向纤维发生了程度不等的伸伸长或缩短,这样平板内的每一个点在其径向产生沿长或缩短,这样平板内的每一个点在其径向产生沿板板厚呈线性分布的拉伸和压缩应力。(厚呈线性分布的拉伸和压缩应力。(环截面内环截面内)2 相邻环形截面的相对转动及产生的径向弯曲应力r,M第36页/共71页37 3 ,M与r,M的分布规律及它们的最大值最大弯曲应力出现在板的中心处:“”:圆板上表面的应力“”:圆板下表面的应力第37页/共71页38最大弯曲应力出现在板的四周:“”:圆板上表面的应力“”:圆板下表面的应力第38页/共71页39结论:直径较小的容器结论:直径较小的容器 平板平板 压力容器压力容器 回转壳体回转壳体 二 弯曲应力与薄膜应力的比较和结论第39页/共71页40薄膜应力通式:弯曲应力:第40页/共71页41一 边界应力产生的原因第三节 边界区内的二次应力边界应力:筒体与封头在连接处所出现的自由变形不一致,导致在这个局部的边界地区产生相互约束的附加内力。第41页/共71页42结论:结论:(1 1)封头限制了筒体端部直径的增大)封头限制了筒体端部直径的增大 环向压缩(薄膜)环向压缩(薄膜)应力应力 (2 2)封头限制了筒体端部横截面的转动)封头限制了筒体端部横截面的转动 轴向弯曲应力轴向弯曲应力第42页/共71页43薄壁圆筒和厚平板形封头在封头不变形的薄壁圆筒和厚平板形封头在封头不变形的情况下,横截面的最大弯曲应力:情况下,横截面的最大弯曲应力:二 影响边界应力大小的因素 结论:边界效用引起的附加弯曲应力比内压引起的环向薄膜应力大54%。第43页/共71页44筒体和半球形封头连接:结论:半球形封头与筒体的二次薄膜应力对整体强度影响很小。第44页/共71页45结论:当半球形封头与筒体厚度相同时,封头和筒体连接的横截面内没有弯曲应力。第45页/共71页46结论:1 不同形状的封头与筒体连接,由于二者间的相互限制不同,产生的边界应力大小也不同。2 一般封头采用半球形封头,而不用圆形平板。第46页/共71页471 1 两个概念两个概念一次应力:一次应力:载荷直接引起的应力。载荷直接引起的应力。二次应力:二次应力:由于变形受到限制引起的应力。由于变形受到限制引起的应力。三 边界应力的性质第47页/共71页482 边界应力的特点(1)局部性:边界应力的最大值出现在两种形状壳体的连接处,离开连接处,边界应力会迅速衰减。(2)自限性:施加的限制增大到使应力达到材料的屈服限,相互限制的器壁金属发生局部的塑性变形,限制就会缓解,相互限制所引起的应力自动地停止增长。第48页/共71页49四 对边界应力的处理1.利用局部性特点局部处理如:改变边缘结构,边缘局部加强,焊缝与边缘离开,焊后热处理等。2.利用自限性保证材料塑性可以使边界应力不会过大,避免产生裂纹。第49页/共71页50低温容器,以及承受疲劳载荷的压力容器,更要注意边缘的处理。对大多数塑性较好的材料,如低碳钢、奥氏体不锈钢、铜、铝等制作的压力容器,一般不对边缘作特殊考虑。第50页/共71页513.3.边界应力的危害性边界应力的危害性 边界应力的危害性低于薄膜应力边界应力的危害性低于薄膜应力。(1 1)薄膜应力无自限性,正比于介质压力。)薄膜应力无自限性,正比于介质压力。(2 2)边界应力具有局部性和自限性。)边界应力具有局部性和自限性。第51页/共71页52五 回转壳体内部的边界应力 第52页/共71页53薄膜应力通式:知识回顾:圆筒形和标准椭圆形壳体:K=1球壳:K=0.5圆锥形壳体:K=1/cos弯曲应力:第53页/共71页54 二次应力产生的原因,二次应力和一次二次应力产生的原因,二次应力和一次应力的区别,二次应力的两个特性。应力的区别,二次应力的两个特性。第54页/共71页55一一 对薄膜应力的限制对薄膜应力的限制1 1 薄膜应力的薄膜应力的相当应力相当应力第四节 强度条件强度条件:第55页/共71页56双向薄膜应力的相当应力双向薄膜应力的相当应力 :根据强度根据强度理论对双向薄膜应力进行某种组合后得到。理论对双向薄膜应力进行某种组合后得到。第56页/共71页57回转壳体强度条件:回转壳体强度条件:相当应力制造容器的钢板在设计温度下的许用应力焊逢系数第57页/共71页58(1 1)一点处应力状态:构件某点的各截面上)一点处应力状态:构件某点的各截面上的应力的应力 2 强度理论简介表示方法:单元立方体上六个平面内的三对应力第58页/共71页59单向应力状态:第59页/共71页60二向应力状态:第60页/共71页61三向应力状态:第61页/共71页62主平面:只作用正应力,没有剪应力。主应力:主平面上的正应力。第62页/共71页63最大拉应力理论(第一强度理论)最大拉应力理论(第一强度理论)前提:前提:最大拉应力最大拉应力 是引起材料脆断破坏是引起材料脆断破坏的因素的因素最大拉应力理论:最大拉应力理论:当作用在构件上的外力过当作用在构件上的外力过大时,其危险点处的材料就会沿最大拉应力大时,其危险点处的材料就会沿最大拉应力所在截面发生所在截面发生脆性断裂脆性断裂。(2)强度理论 第63页/共71页64前提:前提:最大剪应力是引起材料屈服破坏的因最大剪应力是引起材料屈服破坏的因素。素。最大剪应力理论:最大剪应力理论:当作用在构件上的外力过大当作用在构件上的外力过大时,其危险点处的材料就会沿最大剪应力所时,其危险点处的材料就会沿最大剪应力所在在截面滑移截面滑移而发生屈服破坏。而发生屈服破坏。最大剪应力理论(第三强度理论)第64页/共71页65回转壳体:回转壳体:据第三强度理论:据第三强度理论:按第三强度理论剪力的薄膜应力条件:按第三强度理论剪力的薄膜应力条件:3.按第三强度理论建立的薄膜应力强度条件第65页/共71页66一次弯曲应力强度条件:一次弯曲应力强度条件:二 对一次弯曲应力的限制许应弯曲应力值第66页/共71页67二次应力强度条件:二次应力强度条件:三 对二次应力的限制材料屈服限的两倍第67页/共71页681.1.三种性质不同的应力,三种性质不同的应力,一次薄膜应力一次薄膜应力,一次弯曲应力,边界应力。,一次弯曲应力,边界应力。2.2.薄膜应力:薄膜应力:(1 1)和和 (2 2)圆筒形壳体和圆球形壳体上各点薄膜应力相同,锥形壳体和椭球形壳体)圆筒形壳体和圆球形壳体上各点薄膜应力相同,锥形壳体和椭球形壳体各点处的薄膜应力不相同。各点处的薄膜应力不相同。本章小结:第68页/共71页69(3 3)四种壳体(筒、球、锥、椭)的最大薄膜力:)四种壳体(筒、球、锥、椭)的最大薄膜力:圆筒形和标准椭圆形壳体:圆筒形和标准椭圆形壳体:K=1K=1球壳球壳:K=0.5:K=0.5圆锥形壳体:圆锥形壳体:K=1/cosK=1/cos(4 4)决定薄膜应力大小的因素:压强和截面几何)决定薄膜应力大小的因素:压强和截面几何量量/D(/D(/D0.2/D0.2)第69页/共71页703.3.一次弯曲应力影响因素是一次弯曲应力影响因素是(/D/D)2 24.4.二次应力产生的原因,二次应力和一次应二次应力产生的原因,二次应力和一次应力力的区别,二次应力的两个特性。的区别,二次应力的两个特性。第70页/共71页71谢谢您的观看!第71页/共71页