[精选]承压设备无损检测-射线检测5686.pptx

承压设备无损检测承压设备无损检测射线检测射线检测1 1 范围范围范围范围JB/T4730JB/T4730的本部分规定了承压设备金属材料板和的本部分规定了承压设备金属材料板和的本部分规定了承压设备金属材料板和的本部分规定了承压设备金属材料板和管的熔化焊对接接头的管的熔化焊对接接头的管的熔化焊对接接头的管的熔化焊对接接头的X X射线和射线和射线和射线和 射线检测技术和射线检测技术和射线检测技术和射线检测技术和质量分级要求。质量分级要求。质量分级要求。质量分级要求。本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。本部分规定的射线检测技术分为三级：本部分规定的射线检测技术分为三级：本部分规定的射线检测技术分为三级：本部分规定的射线检测技术分为三级：A A级级级级低低低低灵敏度技术；灵敏度技术；灵敏度技术；灵敏度技术；ABAB级级级级中灵敏度技术；中灵敏度技术；中灵敏度技术；中灵敏度技术；B B级级级级高灵敏度技术。高灵敏度技术。高灵敏度技术。高灵敏度技术。承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。射线检测，也可参照使用。射线检测，也可参照使用。射线检测，也可参照使用。1、理解：（理解：（1）适用对象包括承压设备的制造、安装、）适用对象包括承压设备的制造、安装、在用（在用（2）检测的金属材料包括；）检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金镍合金（3）A级级AB级级B级系指检测技术分级，不是底级系指检测技术分级，不是底片质量分级。片质量分级。2、应用：（、应用：（1）对不同的金属材料透照的厚度不同例如）对不同的金属材料透照的厚度不同例如碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金透照厚度透照厚度2400mm（5.1.1）铝及铝合金透照厚度）铝及铝合金透照厚度280mm（5.2.1）钛合金）钛合金250mm（5.3.1）（）（2）不适）不适用范围；锻件、管材、棒材。用范围；锻件、管材、棒材。T型焊缝、角焊缝、堆焊型焊缝、角焊缝、堆焊层一般也不宜采用。（使用原则层一般也不宜采用。（使用原则4.2.2）3、注意：如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时、注意：如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时应在检测报告中注明应在检测报告中注明参照参照同时应有委托方的确认。同时应有委托方的确认。2 规范性引用文件规范性引用文件下列文件中的条款，通过下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB 115331989 标准对数视力表标准对数视力表 GB 163571996 工业射线探伤放射卫生防护标工业射线探伤放射卫生防护标准准GB 184652001 工业工业射线探伤放射卫生防护要射线探伤放射卫生防护要求求GB 188712002 电离辐射防护及辐射源安全基本电离辐射防护及辐射源安全基本标准标准GB/T 19348.12003 无损检测无损检测 工业射线照相胶片工业射线照相胶片 第第1部分：部分：工业射线胶片系统的分类工业射线胶片系统的分类GB/T 19348.22003 无损检测无损检测 工业射线照相胶片工业射线照相胶片 第第2部分：部分：用参考值方法控制胶片处理用参考值方法控制胶片处理HB 76842000 射线照相用线型像质计射线照相用线型像质计JB 4730.12005 承压设备无损检测承压设备无损检测 第第1部部分：通用要求分：通用要求JB/T 79021999 线型像质计线型像质计 JB/T 79031999 工业射线照相底片观片灯工业射线照相底片观片灯（共计（共计10个个)1、理解：（、理解：（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些条款直接引用了文件中的某些条款（2）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如）在工作中要执行这些标准中的有关规定。例如3.3.1观片灯的主要性能应符合观片灯的主要性能应符合JB/T 79031999的有关的有关规定。规定。2、应用：（、应用：（1）除）除JB/T4730外，以上外，以上10个标准也是我们个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。（编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。（2）如果）如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。3、注意：（、注意：（1）凡从事射线检测的单位或部门应有这）凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件（个标准的原件（2）当某些条款与）当某些条款与JB/T4730不相符时，不相符时，以以JB/T4730规定的内容为准。（规定的内容为准。（GB标准除外）例如附标准除外）例如附录录F专用像质计的标识。专用像质计的标识。4、中国工业标准汇编（第二版）金属无损检测与探伤卷、中国工业标准汇编（第二版）金属无损检测与探伤卷3一般要求一般要求 射线检测的一般要求除应符合射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，的有关规定外，还应符合下列规定。还应符合下列规定。3.1 射线检测人员射线检测人员3.1.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。全知识的培训，并取得放射工作人员证。3.1.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为（小数记录值为1.0）,测试方法应符合测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。一次视力。1、理解：取、理解：取放射工作人员证放射工作人员证的对象的对象2、应用：（、应用：（1）对已取得国家质检总局或要取得国）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有测人员均应有放射工作人员证放射工作人员证（2）对其他单）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有位（制造、安装和检验）现场操作人员应有放放射工作人员证射工作人员证3、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。、注意：从事评片人员每年的视力检查情况应存档。3.2 射线胶片射线胶片3.2.1 3.2.1 胶片系统按照胶片系统按照胶片系统按照胶片系统按照GB/T 19384.1GB/T 19384.1分为四类，即分为四类，即分为四类，即分为四类，即T1T1、T2T2、T3T3和和和和T4T4类。类。类。类。T1T1为最高类别，为最高类别，为最高类别，为最高类别，T4T4为最低类别。胶片系统为最低类别。胶片系统为最低类别。胶片系统为最低类别。胶片系统的特性指标见附录的特性指标见附录的特性指标见附录的特性指标见附录A A（资料性附录）。胶片制造商应对（资料性附录）。胶片制造商应对（资料性附录）。胶片制造商应对（资料性附录）。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按照片处理方法、设备和化学药剂可按照片处理方法、设备和化学药剂可按照片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T 19384.2GB/T 19384.2的的的的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。试和控制。试和控制。试和控制。3.2.2 A3.2.2 A级和级和级和级和ABAB级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用T3T3类或更高类别的类或更高类别的类或更高类别的类或更高类别的胶片，胶片，胶片，胶片，B B级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用级射线检测技术应采用T2T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度应不大于胶片的本底灰雾度应不大于胶片的本底灰雾度应不大于胶片的本底灰雾度应不大于0.30.3。3.2.3 3.2.3 采用采用采用采用 射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用应采用应采用应采用T2T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。1、理解：（、理解：（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。速度分类。胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。（2）检测的技术级别与胶片的类别有关。）检测的技术级别与胶片的类别有关。2、应用：选择的原则（、应用：选择的原则（1）A级和级和AB级检测技术不得低级检测技术不得低于于T3类、类、B级检测技术不得低于级检测技术不得低于T2类（类（2）采用）采用射线允射线允许采用许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。类胶片，但灵敏度应满足要求。3、注意：（、注意：（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行射线照相时应采用高类别的胶片。射线照相时应采用高类别的胶片。（2 2）对可焊性差的材料或）对可焊性差的材料或R Rmm540MPa高强钢，高强钢，射线照射线照相时应选择相时应选择T2T2类或更高类别的胶片。类或更高类别的胶片。3.3 观片灯观片灯 3.3.1 观片灯的主要性能应符合观片灯的主要性能应符合JB/T 7903的的 有关规定。有关规定。3.3.2 观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。1、理解：（、理解：（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括外还包括:亮度的均匀性、外壳温度、亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘噪声、绝缘程度等（程度等（2 2）观片灯亮度和照度的关系，即）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx140000lx45000cd/m45000cd/m2 22、应用：当底片评定范围内的黑度、应用：当底片评定范围内的黑度2.5时，观片灯时，观片灯的亮度不应低于的亮度不应低于9400 cd/mcd/m2 2、当底片评定范围内当底片评定范围内的黑度的黑度2.5D4时观片灯的亮度不应低于时观片灯的亮度不应低于100000 cd/mcd/m2 2 (已知底片的黑度，应会计算观片灯的亮已知底片的黑度，应会计算观片灯的亮度）度）3、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用、注意：生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/mcd/m2 2表示。表示。3.4 黑度计（光学密度计）黑度计（光学密度计）3.4.1 黑度计可测的最大黑度应不小于黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过测量值的误差应不超过0.05。3.4.2 黑度计至少每黑度计至少每6个月校验一次。校验方个月校验一次。校验方法可参照附录法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。（资料性附录）的规定进行。1、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于、理解：在一定情况下底片的黑度允许大于4 （4.11.2）2、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，、应用：黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录而标准黑度片是要强制检验的。黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。3、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，、注意：校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定并通过计量部门的鉴定(2年）新购置的标准黑度片只要年）新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。在有效期内也允许。3.5 增感屏增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表屏。增感屏的选用应符合表1的规定的规定 1、理解：（、理解：（1）X射线照相，能量在射线照相，能量在500KV以下增感屏以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关（能量有关（2）如采用）如采用Se-75或或Ir-192，增感屏的厚度，增感屏的厚度与技术级别有关。（与技术级别有关。（3）如采用）如采用Co60或高能或高能X射线射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。术级别有关。2、应用：（、应用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）如采用）如采用Se-75和和Ir-192射线照相，射线照相，AB级或级或B级检级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。3、注意：、注意：AB级或级或B级检测技术使用前屏级检测技术使用前屏0.03mm真空真空包装胶片时，另有规定。（仅限于包装胶片时，另有规定。（仅限于射线射线）3.6 像质计像质计3.6.1 底片影像质量采用线型像质计测定。线底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的的规定，规定，JB/T 7902中未包含的丝径、线号等中未包含的丝径、线号等内容，应符合内容，应符合HB 7684的有关规定。的有关规定。3.6.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表像质计适用的工件材料范围应符合表2的规的规定。定。编制（资格）：XXX（）年 月 日 审核（资1 1、理解：、理解：、理解：、理解：（1 1）取消了象质指数）取消了象质指数）取消了象质指数）取消了象质指数“Z”Z”的概念，用线径或的概念，用线径或的概念，用线径或的概念，用线径或线号表示底片的灵敏度。线号表示底片的灵敏度。线号表示底片的灵敏度。线号表示底片的灵敏度。（2 2）原）原）原）原JB4730JB4730标准选用的标准选用的标准选用的标准选用的是是是是R10R10等比系列像质計最细线的编后为等比系列像质計最细线的编后为等比系列像质計最细线的编后为等比系列像质計最细线的编后为1616号，线径为号，线径为号，线径为号，线径为0.100mm,0.100mm,这一线径已不能满足这一线径已不能满足这一线径已不能满足这一线径已不能满足JB/T4730JB/T4730厚度的下线厚度的下线厚度的下线厚度的下线（2mm2mm）ABAB级和级和级和级和B B级的要求，因此级的要求，因此级的要求，因此级的要求，因此JB/T4730JB/T4730标准引标准引标准引标准引出出出出HB 7684HB 768420002000增加了小于增加了小于增加了小于增加了小于0.100mm0.100mm的线，即的线，即的线，即的线，即1717号，号，号，号，0.080mm0.080mm、1818号，号，号，号，0.063mm,190.063mm,19号，号，号，号，0.050mm.0.050mm.组成了组成了组成了组成了4 4组像质计：组像质计：组像质计：组像质计：1 17 7、6 61212、10101616、13131919。2 2、应用：、应用：、应用：、应用：（1 1）应根据检测技术级别、透照方式和像质）应根据检测技术级别、透照方式和像质）应根据检测技术级别、透照方式和像质）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（计摆放的位置及公称厚度（计摆放的位置及公称厚度（计摆放的位置及公称厚度（T T）透照厚度（）透照厚度（）透照厚度（）透照厚度（WW）确定像）确定像）确定像）确定像质计灵敏度质计灵敏度质计灵敏度质计灵敏度（2 2）以低原子序数材料制作的像质计可以）以低原子序数材料制作的像质计可以）以低原子序数材料制作的像质计可以）以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（用于高原子序数材料制成的工件照相。即铁（FeFe）像）像）像）像质计可以用于镍（质计可以用于镍（质计可以用于镍（质计可以用于镍（NiNi）、铜（）、铜（）、铜（）、铜（CuCu）材料的照相，但不）材料的照相，但不）材料的照相，但不）材料的照相，但不能用于钛（能用于钛（能用于钛（能用于钛（TiTi）、铝（）、铝（）、铝（）、铝（AIAI）材料的照相。）材料的照相。）材料的照相。）材料的照相。3.7 表面要求和射线检测时机表面要求和射线检测时机3.7.1 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。表面作适当修整。3.7.2 除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有除非另有规定，射线检测应在焊后进行。有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后后进行射线检测。进行射线检测。1、理解：（、理解：（1）焊缝的外观检查一般由焊工检查员）焊缝的外观检查一般由焊工检查员进行。（进行。（2）除非另有规定系指设计图纸的规定、）除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。（3）有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。）有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。2、应用：（、应用：（1）射线检测工艺卡中应明确检测时机）射线检测工艺卡中应明确检测时机（2）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。片评定原始记录中注明。3、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。、注意：所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。3.8 射线检测技术等级选择射线检测技术等级选择3.8.1 3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用的射线检测，一般应采用的射线检测，一般应采用的射线检测，一般应采用ABAB级射线检测技术进行检测。对重要级射线检测技术进行检测。对重要级射线检测技术进行检测。对重要级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用采用采用采用B B级技术进行检测。级技术进行检测。级技术进行检测。级技术进行检测。3.8.2 3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足件不能满足件不能满足件不能满足ABAB级（或级（或级（或级（或B B级）射线检测技术的要求时级）射线检测技术的要求时级）射线检测技术的要求时级）射线检测技术的要求时,经检测方技经检测方技经检测方技经检测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了ABAB级（或级（或级（或级（或B B级）射线检级）射线检级）射线检级）射线检测技术的规定测技术的规定测技术的规定测技术的规定,则可认为按则可认为按则可认为按则可认为按ABAB级（或级（或级（或级（或B B级）射线检测技术进行了级）射线检测技术进行了级）射线检测技术进行了级）射线检测技术进行了检测。检测。检测。检测。3.8.3 3.8.3 承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制制制制,检测的某些条件不能满足检测的某些条件不能满足检测的某些条件不能满足检测的某些条件不能满足ABAB级射线检测技术的要求时级射线检测技术的要求时级射线检测技术的要求时级射线检测技术的要求时,经检测经检测经检测经检测方技术负责人批准方技术负责人批准方技术负责人批准方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用片）后可采用片）后可采用片）后可采用A A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。测方法进行补充检测。测方法进行补充检测。测方法进行补充检测。1、理解：（、理解：（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于术级别一般不应低于AB级级（2）承压设备在用检测特殊）承压设备在用检测特殊情况下可以采用情况下可以采用A级检测技术级检测技术（3）检测方技术负责人）检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导或分管技术的领导（4）有效措施一般包括：高类别胶）有效措施一般包括：高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。制散乱射线等措施。2、应用：（、应用：（1）技术负责人要确认是否确实存在）技术负责人要确认是否确实存在“结构、结构、环境、射线设备等方面的限制环境、射线设备等方面的限制”（2）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。字。3、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对、注意：底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。对在用设备如采用在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进行级检测技术应补充其他检测方法进行检测。返修焊缝应采用检测。返修焊缝应采用AB级或达到级或达到AB级灵敏度级灵敏度3.9 辐射防护辐射防护3.9.1 放射卫生防护应符合放射卫生防护应符合GB 18871、GB 16357和和GB 18465的有关规定。的有关规定。3.9.2 现场进行射线检测时，应按现场进行射线检测时，应按GB16357的规的规定划定定划定控制区和管理区控制区和管理区、设置警告标志。检测工、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。3.9.3 现场进行现场进行射线检测时，应按射线检测时，应按GB18465的规定的规定划定划定控制区和监督区控制区和监督区、设置警告标志，检测作业、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。1、理解：（、理解：（1）现场进行射线检测或进行）现场进行射线检测或进行射线检测射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。（时对辐射防护提出了不同的要求。（2）在两个标准）在两个标准都提出了辐射照射量的新名词都提出了辐射照射量的新名词比释动能比释动能和和空空气比释动能率气比释动能率，比释动能是指不带电粒子与物质，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。电粒子的初始动能的总和。2、应用：（、应用：（1）空气比释动能率用仪器可以测出（）空气比释动能率用仪器可以测出（2）控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比释动能率量值进行划分的。释动能率量值进行划分的。3、注意：尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，、注意：尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。但在使用中不能相互代替。4 具体要求具体要求4.1 透照布置透照布置4.1.1 透照方式透照方式 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式典型的透照方式参见附录参见附录C（资料性附录）。（资料性附录）。4.1.2 透照方向透照方向 透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。也可选用有利于发现缺陷的方向透照。4.1.3 一次透照长度一次透照长度 一次透照长度应以透照厚度比一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。进行控制。不同级别射不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录可参照附录D（资料性附录）的曲线图确定。（资料性附录）的曲线图确定。1、理解：（、理解：（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（最便捷的透照方法。（2）对对在单壁透照不能实施时在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式才允许采用双壁透照方式要有正确的理解，不能实要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照长度与检）一次透照长度与检测技术级别有关。测技术级别有关。2、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下、应用：透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。应选用单壁透照方式。（在用设备）（在用设备）3、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的、注意：其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。部位即阴影区。4.1.4 小径管环向对接焊接接头的透小径管环向对接焊接接头的透照布置照布置小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：像：T（壁厚）（壁厚）8mm；g（焊缝宽度）（焊缝宽度）Do/4椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。倍焊缝宽度左右。不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。垂直透照方式重叠成像。4.1.5 小径管环向对接接头的透照次数小径管环向对接接头的透照次数 小径管环向对接焊接接头小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当采用倾斜透照椭圆成像时，当T/Do0.12时时,相相隔隔90透照透照2次。当次。当T/Do0.12时时,相隔相隔120或或60透照透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120或或60透照透照3次。次。由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效检测，此时应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定措施尽量扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。范围内黑度和灵敏度满足要求。1、理解：（、理解：（1）双壁双影椭圆成像的实施原则，即）双壁双影椭圆成像的实施原则，即T（壁（壁厚）厚）8mm、g（焊缝宽度）（焊缝宽度）Do/4（605mm）（）（2）椭圆成像有困难一般是指焦距不）椭圆成像有困难一般是指焦距不满足要求。（满足要求。（3）小径管的透照次数与管外径和壁厚有）小径管的透照次数与管外径和壁厚有关，与检测技术级别无关（关，与检测技术级别无关（4）规定小径管的透照次数）规定小径管的透照次数的主要目的是控制透照厚度比（的主要目的是控制透照厚度比（5）结构：一般系指排）结构：一般系指排管或盘管管或盘管2、应用：（、应用：（1）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法）为控制影像的开口宽度应采用偏心距法（2）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶）扩大缺陷可检出范围的有效措施一般包括：双胶片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板片技术、适当提高管电压、窗口加滤波板3、注意：当、注意：当Do 20mm、T 8mm、g Do/4重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照重点检查根部裂纹或未焊透时应采用垂直透照4.2 射线能量射线能量4.2.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。图用较高管电压时，应保证适当的曝光量。图1规规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高射线管电压。射线管电压。对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图要求的前提下，允许采用超过图1规定的射线规定的射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过压增量不应超过30kV。1、理解：（、理解：（1）不同材料、不同透照厚度允许采用）不同材料、不同透照厚度允许采用的最高射线管电压与检测技术级别无关（的最高射线管电压与检测技术级别无关（2）控）控制射线管电压的目的是保证底片的对比度，避制射线管电压的目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检出率。（免影响小缺陷的检出率。（3）截面厚度变化大）截面厚度变化大（以（以AB级级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较薄部位的黑度大于，而较薄部位的黑度大于4.0）2、应用：（、应用：（1）在能穿透工件的前提下，应尽量选）在能穿透工件的前提下，应尽量选择较低的择较低的KV值（值（2）对截面厚度变化大的承压设）对截面厚度变化大的承压设备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束备，适当提高管电压、利用中心指示器使射线束中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术中心对准较厚部位、采用双胶片技术、补偿技术3、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。、注意：选择能量时必须考虑穿透厚度。4.2.2射线源和高能射线源和高能射线适用的透射线适用的透照厚度范围应符合表照厚度范围应符合表4的规定。的规定。采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到敏度达到4.11.3要求的前提下，允许要求的前提下，允许射线最射线最小透照厚度取表小透照厚度取表4下限值的二分之一。下限值的二分之一。采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，要求的前提下，经合同各方同意，经合同各方同意，A 级级,AB级技术的级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源源的最小透照厚度可降至的最小透照厚度可降至5mm。1、理解：（、理解：（1）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可）鼓励和提倡采用源在内中心透照方式尽可能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出（能实现单壁透照，同时也有利于横向裂纹的检出（2）其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法其他透照方式包括：双壁双影、双壁单影、内透法FR、FR（3）经合同各方同意的主要目的是）经合同各方同意的主要目的是 对对放宽放宽最小透照厚度最小透照厚度要慎重要慎重（4）射线源和高能射线适用的透照厚度范围与检测射线源和高能射线适用的透照厚度范围与检测的技术级别有关，其他透照方式的技术级别有关，其他透照方式放宽最小透照厚度放宽最小透照厚度与技术级别有关（仅限于与技术级别有关（仅限于A级级AB级）级）2、应用：（、应用：（1）采用）采用Ir-192源中心透照时最小透照厚度可源中心透照时最小透照厚度可为为10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透时，即使合同各方同意也不能实施。采用其他透照方式当透照厚度小照方式当透照厚度小20mm时，应经合同各方同意。如时，应经合同各方同意。如最小透照厚度小于最小透照厚度小于10mm时，即使合同各方同意也不能时，即使合同各方同意也不能实施。实施。（2）采用）采用Se-75源中心透照时最小透照厚度可为源中心透照时最小透照厚度可为5mm，且不用合同各方同意。如