实验六触发器实验.docx
实验序号实验题目触发器实验实验时间实验室1 .实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称）1、SAC-DS4数字逻辑电路实验箱1个2、万用表1块3、74LS74双I）触发器1片4、74LS112双J-K触发器1片74LS74引脚结构及逻辑功能VccRD2D2CP2SD2Q2IIIIIII141312111098)74LS741234567norRm Di CPi SdI Qi Qi 地双D触发器输入输出瓯而CPDQQ01XX1010XX0100XX1111个11011001110X保持74LS74功能表74LS112双J-K触发器引脚结构及逻辑功能VccIRd2Rd 2CP2K2J 2Sd2QIIIIIIII161514131211109)74LS11212345678riTirIIi1CPIK1JISdIQIQ2Q也双JK触发器谿 入输出SdRdCPJKQQ01XXX1010XXX0100XXX1111i00保持111010114,01011111计数111XX保持74LS112功能表2 .实验目的1、掌握D触发器和J-K触发器的逻辑功能及触发方式。2、熟悉现态和次态的概念及两种触发器的次态方程。3 . 实验电路原理图及接线方法描述:未进行软件仿真4 .实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置;输出信号的指示类型；总结完成实验条件）1、74LS74D触发器逻辑功能测试1）按图10T接线。14楼电平箱出74LS74格电平显示Q -Q 0 041接单眯冲CPO-图 10-12、74LS112 JK触发器逻辑功能测试。1） 按图10-2接线。+5?楼电平开关接单昧冲CPo-1632515 74LS1124618核电平显示 Q -Q 0 0-2 11O- 图5 .逻辑验证与真值表填写1、74LS74D触发器逻辑功能测试1）直接置位（SD）端复位（肛端功能测试。利用开关按表吧-1改变就、要的逻辑状态（D,CP状态随意），借助指示灯或万 用表观测相应的0、Q状态，结果记入表10T中。表 10-1输入输出CPDSdRdQQ11 f 00110 一 1011 f 01100 - 11100011一任意状态2） D与CP端功能测试从C P端输入单个脉冲,按表10-2改变开关状态。将测试结果记入表10-2中。表 10-2输入输出Qn+lDRdSdCP原状态Q0原状态Q10110f 100111f 0001110f 111111 f 0112、74LS112 JK触发器逻辑功能测试。1）直接置位（霓）复位（质）功能测试利用开关按表10-3改变Sd和的Rd状态，J、K、CP可以为任意状态，借用指示 灯和万用表观察输出状态并将结果记入表10-3中。表 10-3输入输 出CPJKRdSdQQ001-0101（D0-> 1101011->01010->1100000011中一任意状态2）翻转功能测试。图10-2中CP端加单脉冲，按表10-4利用开关改变各端状态，借助指示灯或万 用表观测输出端，状态记入表10-4。表 10-4输入输出Qt1+lJKRdSdCP原状态Q =0原状态Q =100110-1011-00101110-1011-00010110一1011 一01111110一1011 -0106 .实验总结（安全事注意项，操作要点，实验结果分析）注意事项：1、连接线路时要关闭电源，检查电路连接无误后方可打开电源。2、使用电压表或电流表时，应参考测试参数的规范值及测试电 路，正确选择量程3、在安装各种芯片是应注意选择正确的插孔，同时注意芯片的 左右不能接反，否则将导致芯片烧毁。4、在使用是严格参照相关芯片的参数图，明确各引脚的作用及 接线方式，防止因接错引脚而无法得出真确的运算结果或烧 坏芯片。操作要点：1、在接线前应对将使用到的导线进行检查，防止有开路的导 线混在其中，接好线后检查很麻烦，影响实验的效率和质 量。2、在连接芯片时有半圆缺口的一段朝向左边安装。3、接线时同种类型的接线端使用相同颜色的线连接以便进行 线路的检查。3、实验过程中每次操作前要使触发器回到实验规定的状态， 否则无法判断其当前状态，在实验过程中会产生错误。教师评语及评分：签名：年 月 日
