绝缘子一般性试验.docx

绝缘子一般性试验1 .外观与尺寸检查外观检查以目测观察的方法进行，必要时使用量具，如绝缘件表面有细小的气泡或者颜色 不均而不能判断绝缘体是否良好时，应选出具有上述缺陷的代表性产品进行剖面检查或作空隙 性试验，如刨面检查发现瓷质不致密（有大量气孔）或有渗透现象时，则认为具有这种缺陷的 产品为不符合标准。尺寸检查时应采用游标卡尺、直尺等标准量具或特制量具进行测量。量具的精确度一般应 不低于0.5mm。对于尺寸偏差要求比较精确的产品，应采用精度相适应的量具。检查爬电距 离时，应采用不会伸长的胶布带（或金属丝），取在试品两电极间沿绝缘件表面（包括瓷件表面 的半导体釉层部分，但不包括导电性胶合剂，如水泥胶合剂）量得的最短距离。由多个绝缘件 组成的产品。则为其各个绝缘件最短距离的总和。2 .形状和位置偏差检查形状和位置偏差的检查，包括端部平行度检查、平面度检查、孔中心圆轴线间最大偏移检 查、轴直线度检查、伞缘变形度检查、圆度检查、位置度（安装孔中心位移）检查等。3 .孔隙性试验加入1g品红配制而成），施将试块置于盛有试验溶液的容器中（每100g工业用乙醇中， 加压力不低于20*106Pa，持续时间与压力的乘积不小于180*106h.Pa。然后观察其新断面有 无渗透现象。