霍尔传感器(精)课件.ppt
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1、霍尔传感器霍尔传感器 霍尔传感器是利用半导体材料的霍尔效应进行测量的一种传感器。它可以直接测量磁场及微位移量,也可以间接测量液位、压力等工业生产过程参数。目前霍尔传感器已从分立元件发展到了集成电路的阶段,正越来越受到人们的重视,应用日益广泛。 一、霍尔效应 在置于磁场的导体或半导体时通入电流,若电流与磁场垂直,则在与磁场和电流都垂直的方向上会出现一个电热差,这种现象为霍尔效应。利用霍尔效应制成的元件称为霍尔传感器。见图6-2-1,半导体材料的长、宽、厚分别为、和。在与轴相垂直的两个端面和上做两个金属电极,称为控制电极。在控制电极上外加一电压,材料中便形成一个沿方向流动的电流,称为控制电流。 设
2、图中的材料是型半导体,导电的载流子是电子。在轴方向的磁场作用下,电子将受到一个沿轴负方向力的作用,这个力就是洛仑兹力。洛仑兹力用F表示,大小为: FL=qvB (6-2-1)式中,q为载流子电荷;为载流子的运动速度;为磁感应强度。 上一节下一节 在洛仑兹力的作用下,电子向一侧偏转,使该侧形成负电荷的积累,另一侧则形成正电荷的积累。这样,A、B两端面因电荷积累而建立了一个电场,称为霍尔电场。该电场对电子的作用力与洛仑兹力的方向相反,即阻止电荷的继续积累。当电场力与洛仑兹力相等时,达到动态平衡,这时有 qEH=qvB霍尔电场的强度为 EH=vB (6-2-2)在A与B两点间建立的电势差称为霍尔电压
3、,用UH表示 UH= EHb= vBb (6-2-3) 由式(6-2-3)可见,霍尔电压的大小决定于载流体中电子的运动速度,它随载流体材料的不同而不同。材料中电子在电场作用下运动速度的大小常用载流子迁移率来表征所谓载流子迁移率,是指在单位电场强度作用下,载流子的平均速度值。载流子迁移率用符号表示,=v/EI。其中EI是C、D两端面之间的电场强度。它是由外加电压U产生的,即EIU/L。因此我们可以把电子运动速度表示为v=U/l。这时式(6-2-3)可改写为: (6-2-4)当材料中的电子浓度为n时,有如下关系式: I=nqbdv 即bBlUUHnqbdIv (6-2-5) 将式(6-2-5)代入
4、式(6-2-3),得到 (6-2-6)式中RH为霍尔系数,它反映材料霍尔效应的强弱, ;KH为霍尔灵敏度,它表示一个霍尔元件在单位控制电流和单位磁感应强度时产生的霍尔电压的大小,KH=RH/d,它的单位是mV/(mAT)由式(6-2-6)可见,霍尔元件灵敏度KH是在单位磁感应强度和单位激励电流作用下,霍尔元件输出的霍尔电压值,它不仅决定于载流体材料,而且取决于它的几何尺寸 (6-2-7)由式(6-2-4)、(6-2-6)还可以得到载流体的电阻率与霍尔系数RH和载流子迁移率之间的关系: (6-2-8)IBKdIBRIBnqdUHHH1nqRH1nqdKH1HR通过以上分析,可以看出: 1) 霍尔
5、电压UH与材料的性质有关。根据式(6-2-8),材料的、大,RH就大。金属的虽然很大,但很小,故不宜做成元件。在半导体材料中,由于电子的迁移率比空穴的大,且np,所以霍尔元件一般采用N型半导体材料。 2) 霍尔电压UH与元件的尺寸有关。 根据式(6-2-7),d 愈小,KH 愈大,霍尔灵敏度愈高,所以霍尔元件的厚度都比较薄,但d太小,会使元件的输入、输出电阻增加。 从式(6-2-4)中可见,元件的长度比l/b对UH也有影响。前面的公式推导,都是以半导体内各处载流子作平行直线运动为前提的。这种情况只有在l/b很大时,即控制电极对霍尔电极无影响时才成立,但实际上这是做不到的。由于控制电极对内部产生
6、的霍尔电压有局部短路作用在两控制电极的中间处测得的霍尔电压最大,离控制电极很近的地方,霍尔电压下降到接近于零。为了减少短路影响l/b要大一些,一般l/b=2。但如果l/b过大,反而使输入功耗增加降低元件的输出。 霍尔电压UH与控制电流及磁场强度有关。根据式正比于及。当控制电流恒定时愈大愈大。当磁场改变方向时,也改变方向。同样,当霍尔灵敏度及磁感应强度恒定时,增加控制电流,也可以提高霍尔电压的输出。 二、霍尔元件二、霍尔元件 如前所述,霍尔电压UH正比于控制电流和磁感应强度。在实际应用中,总是希望获得较大的霍尔电压。增加控制电流虽然能提高霍尔电压输出,但控制电流太大,元件的功耗也增加,从而导致元
7、件的温度升高,甚至可能烧毁元件。 设霍尔元件的输入电阻为Ri,当输入控制电流I时,元件的功耗Pi为 (6-2-9) 式中,为霍尔元件的电阻率。 设霍尔元件允许的最大温升为T,相应的最大允许控制电流为Icm时,在单位时间内通过霍尔元件表面逸散的热量应等于霍尔元件的最大功耗,即 (6-2-10) 式中,A为散热系数W/(m2C)。上式中的2lb表示霍尔片的上、下表面积之和,式中忽略了通过侧面积逸散的热量。 bdlIRIPi22TAlbbdlIPcmm22这样,由上式便可得出通过霍尔元件的最大允许控制电流为 (6-2-11) 将上式及RH=代入式(6-2-6),得到霍尔元件在最大允许温升下的最大开路
8、霍尔电压,即: (6-2-12)式说明,在同样磁场强度、相同尺寸和相等功耗下,不同材料元件输出霍尔电压仅仅取决于,即材料本身的性质。 根据式(6-2-12),选择霍尔元件的材料时,为了提高霍尔灵敏度,要求材料的RH和1/2尽可能地大。 霍尔元件的结构与其制造工艺有关。例如,体型霍尔元件是将半导体单晶材料定向切片,经研磨抛光,然后用蒸发合金法或其它方法制作欧姆接触电极,最后焊上引线并封装。而薄膜霍尔元件则是在一片极薄的基片上用蒸发或外延的方法做成霍尔片,然后再制作欧姆接触电极,焊引线最后封装。相对来说,薄膜霍尔元件的厚度比体型霍尔元件小一、二个数量级,可以与放大电路一起集成在一块很小的晶片上,便
9、于微型化。 /2TAdbIcmdTAbBUHm/221 三、温度特性及补偿 1温度特性 霍尔元件的温度特性是指元件的内阻及输出与温度之间的关系。与一般半导体一样,由于电阻率、迁移率以及载流子浓度随温度变化,所以霍尔元件的内阻、输出电压等参数也将随温度而变化。不同材料的内阻及霍尔电压与温度的关系曲线见图6-2-2和6-2-3所示。 图中,内阻和霍尔电压都用相对比率表示。我们把温度每变化1时,霍尔元件输入电阻或输出电阻的相对变化率称为内阻温度系数,用表示。把温度每变化1时,霍尔电压的相对变化率称为霍尔电压温度系数,用表示。 可以看出:砷化铟的内阻温度系数最小,其次是锗和硅,锑化铟最大。除了锑化铟的
10、内阻温度系数为负之外,其余均为正温度系数。 霍尔电压的温度系数硅最小,且在温度范围内是正值,其次是砷化铟,它是值在左右温度下由正变负;再次是锗,而锑化铟的值最大且为负数,在低温下其霍尔电压将是的霍尔电压的3倍,到了高温,霍尔电压降为时的15%。 2.温度补偿霍尔元件温度补偿的方法很多,下面介绍两种常用的方法. 利用输入回路的串联电阻进行补偿图6-2-4a是输入补偿的基本线路,图中的四端元件是霍尔元件的符号。两个输入端串联补偿电阻R并接恒电源,输出端开路。根据温度特性,元件霍尔系数和输入内阻与温度之间的关系式为 RHt=RH0(1+t) Rit=Ri0(1+t) 式中,RHt为温度为时霍尔系数;
11、RH0为0时的霍尔系数;Rit为温度为时的输入电阻;Ri0为0时的输入电阻;为霍尔电压的温度系数, 为输入电阻的温度系数。当温度变化t时,其增量为: RH=RH0t Ri=Ri0t根据式(6-2-6)中 及I=E/(R+Ri),可得出霍尔电压随温度变化的关系式为对上式求温度的导数,可得增量表达式 (6-2-13) 要使温度变化时霍尔电压不变,必须使 即 (6-2-14)式(6-2-13)中的第一项表示因温度升高霍尔系数引起霍尔电压的增量,第二项表示输入电阻因温度升高引起霍尔电压减小的量。很明显,只有当第一项时,才能用串联电阻的方法减小第二项,实现自补偿。 将元件的、值代入式(6-2-14),根
12、据Ri0的值就可确定串联黾阻R的值。 dIBRUHHitHtHHRREBdRRUtRRRUUiiHH)(000000RRRii)(0iRR (2)利用输出回路的负载进行补偿,见图6-2-5,霍尔元件的输入采用恒流源,使控制电流稳定不变。这样,可以不考虑输入回路的温度影响。输出回路的输出电阻及霍尔电压与温度之间的关系为UHt=UH0(1+t) Rvt=Rv0(1+t) 式中,UHt为温度为t时的霍尔电压;UH0为0时的霍尔电压;Rvt为温度为t时的输出电阻;Rv0为时的输出电阻。负载RL上的电压UL为 UL=UH0(1+t) RL/Rv0(1+t)+RL (6-2-15) 为使UL不随温度变化,
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