基于成像提取的rcs精确测量方法研究-李南京.pdf
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1、第38卷第l期2017年1月仪器仪表学 报Chinese Jo啪al of Scientific InstmmemV0138 No1J锄2017基于成像提取的RCS精确测量 方法研究术李南京1,徐志浩1”,胡楚锋1,党娇娇12,郭淑霞1(1西北工业大学无人机特种技术重点实验室西安710065;2西北工业大学电子信息学院西安710072)摘要:高精度雷达散射截面(Rcs)测量对背景环境具有较高要求,当背景环境存在较强干扰时,通过背景矢量对消难以消除杂波影响。提出基于成像提取的高精度Rcs测量方法,从背景杂波中分离和提取出目标的散射信号,从而提高了测量的精度。首先推导了像与RcS的数学关系,然后利
2、用转台模式下的测量回波进行成像处理,得到目标区域的二维像;从成像区域中提取目标的二维像,通过波谱变换和定标获得目标的RCS。仿真结果表明,该方法对于具有干扰情况下的RCS测量,可以改善35 dB的测试精度,并且能够对弱散射目标进行测量。实验结果表明了成像提取方法的有效性和准确性。关键词:雷达散射截面;微波成像;成像提取;成像分辨率中图分类号:TN95 TH86 文献标识码:A 国家标准学科分类代码:51070lhsearch on accurate radar cross section measurement methodba鸵d on ima西ng e】|【tractionLi N删in9
3、1,Xu Zhiha01”,Hu Ch血n91,Dang J酬ia01”,Guo Shuxial(J幻MZ研k60删。可Sc如,lce。以死如加幻影Dn踟删肌ed Ae蒯池,0n胁e丌l Po加ecn讹Z踟觇rs缈,瓜口n7JDD酊,吼iM;2瓜胁叭e旷Efe以ro玮泌n蒯坳丌加渤n,o疗眦stem Po巧钯cn如z溉船妙,舡on 7J0072,仍iM)Ak;n甚ct:Highprecision radar cmss section(RCS)measurement h鹊high requirement for backgmund envimnment It is dimcult toeIimi
4、nate the cluuer efkct through backgmund vector canceUing when strong intederence exists in backgmund envir0砌emThis paperpmposes a high accuracy RCS me踮urement method based on imaging extIaction to separate and extract tlle target scattering sigIlal f南mbackground clutter,thereby tlle measurement accu
5、racy is improvedFirsdy,tlle mathematical relationsllip between the image and Rcs isderived,then the echo measured in the revolving stage mode is utilized t0 conduct the ima百ng pmcessing and obtain the 2-D imqge of thetarget areaThen,the 2一D image of the taIget is extracted f南m the imaging area,and t
6、lle RCS of the target is obtained山rough spectnlmtransfo珊and calibmtionThe simulation reslllts show that in RCS me踮urement under imeerence the proposed metllod c粕impmve themeasurement accuracy by 35 dB,and me船ure the taI伊t with weak scaneringExperiment results show the e娲ctiveness and accuracyof the
7、ima西ng ex仃action methodKeywords:radar cross section(RCS);microwave imaging;imaging extraction;im呼ng resolution1 引 言随着现代战争中各种武器装备隐身技术的发展,为了验证目标的隐身性能,需要精确测量目标的雷达散射截面(radar cross section,Rcs)。目前Rcs的定量获取方法主要分为理论预估和实际测量。Rcs的实际测量始于雷达发展的初期,但因其军工背景,直到20世纪60年代都难以获知其发展程度。1965年,IEEE论文集出版了雷达散射特刊,提出了一些先进的RCS测量概述
8、及技术要求,在此之后随着开源文献越来越多,更多的高校和研究人员开始投身于这一领域。接下来的一段时期,基于电磁散射理论,出现了很多算法和工具,如矩量法(metlod of moments,MOM)、几何绕射理论(geometricaltheory of dimaction,GTD)和物理光学法(physical optics,PO),奠定了电磁散射数值计算的基础。同一时期人们收稿日期:2016_07 Received Date:2016旬7基金项目:国家自然科学基金(61371023、61201320、61571368)项目资助万方数据第1期 李南京等:基于成像提取的Rcs精确测量方法研究 75
9、对降低军用目标RCS的需求,推动了散射测量技术的快速发展,使人们开始追求精确测量低散射目标的Rcs1。随着测量技术的不断提高,RCS测量技术已经发展得相当成熟,包括常规的室内、室外RcS测试场测量口,抛物面紧缩场缩距测量H,利用时域门的时间分离法和角度滤波的空间分离法提高信噪比,利用高分辨率系统和逆合成孔径技术进行散射点识别的成像测量技术旧,利用时域测量系统测试目标的瞬态响应、以及太赫兹Rcs测量等先进技术一1,均已发展到相当成熟的阶段,误差甚至可小于1 dB,而且正在向更高的测试精度和更完善的测试功能发展。当目标的Rcs量级较大时,对测试系统及测试方法的要求较低,使用常规的Rcs测试方法就能
10、够获得较准确的结果。但当被测目标的RCS量级较低时,如测量一40 dBsm的目标,要满足1 dB的误差,背景电平需要达到一60 dBsm,弱散射目标的高精确测量对测试系统和测试方法提出了更高的要求。一般暗室的测试环境可以通过选用合适的器材、妥善布置吸波材料,对杂波进行对消,并加时域窗以降低、消除收发天线间耦合和暗室后墙等强散射杂波干扰影响,提高测量精度。但是对消技术对于测试环境(主要是支架)与测试目标互相耦合产生的干扰信号的优化效果有限,且随着时间推移对固有强散射点的对消效果会逐渐变差m。为了获得精确的RCS,还需要测量定标体,对目标的回波数据进行定标处理,以补偿系统特性对目标测量的影响,但定
11、标并不能消除背景噪声的干扰“。紧缩场可以有效解决远场测试距离的问题,产生的平面波将聚集在平行波束内,暗室内4个侧壁的照射电平很低,从而降低了对暗室的要求。但当测试的频率较低时,紧缩场存在严重的边缘绕射,极大地影响了测试精度,且同样难以消除互耦产生的杂波干扰44“。即使改变转台的形状,或全部包覆吸波材料,仍然会存在部分干扰信号,严重影响测试精度。针对测量弱散射目标时的背景杂波难以消除,以及需要测量某一目标局部区域RCs的情况,提出了采用成像提取的方法改善Rcs测量精度。首先推导了像和Rcs的关系,采用高分辨率微波成像算法,从回波中获得目标和背景的二维像;然后从二维像中提取出目标像并反演RCS;最
12、后通过仿真和实验证明此方法可以有效消除环境噪声,获取弱散射点的散射特性。与一般的RCS测量方法相比,通过成像提取能够提高Rcs测量的准确性,能从背景环境中分离和提取出感兴趣目标的散射特性,数据处理过程直观,具有较高的测量精度。2像与RCS的关系如图l所示,发射天线沿着距目标中心凡的距离做圆周移动,0B间的距离为JR伽,这种运动方式与转台模式是等效的。当雷达的测试距离为R,偏离角为p,则其方位坐标为(Rsin一,一Rcos日),对应的单位矢量为(sin口,一cosp)。若测试距离满足远场条件,从雷达到目标上任意一点(z。,)的距离为:R(并,),);=JRo+JRo口=Ro+cos日一石osin
13、p (1), 、照免历向方向F嗡 。(sln口,cos日)淤卜J。 、一援收目Ln芷槲j一图1转台成像模型Fig1 Revol“ng stage iInaging model天线接收到的雷达波信号的回波为n 7|:E。(,口)=f fy(菇,y)e州4嘶+F耐。湖出dy(2)式中:y(菇,y)是目标的空间反射率分布,即目标的二维像,是天线频率,和方位角p的函数。标准球的反射率分布为:y(并,y)=6(0,0) (3)相应的接收信号为:E。U,p)=f f6(o,o)e刊4删趾缈枷以dy=e 1H嘶减 (4)为消除系统的频率特性影响,在成像之前,将目标与标准球的数据相比:E盯,p)=E。(厂,p
14、)E,(,日)=J f y(埘)e。嘶H删一砌出dy (5)令琏=2sinA,K=一2cosA,则式(5)可写为:E(K,巧)=J f y(石,)e鼬“出dy (6)式(6)满足傅里叶变换关系式,当E(K,K)已知时,可通过逆傅里叶变换得到:万方数据76 仪器仪表学报 第3 8卷y(戈,y)=f f E(K,K)e叫2州缸“7dKd巧 (7)则像与回波电场是傅里叶变换对:y(戈,y)E(疋,K,) (8)式中:E(K,K,)是相应的波谱,它将目标的像与目标散射联系起来。而由入射功率和回波功率可计算出目标区域的RCS,从而建立起像与RCS之间的关系。3成像算法由消除系统频率特性后的式(5),令|
15、=矽c,可得:E(七,日)=f f y(石,y)e。2诎踟。”岫d石dy (9)将式(9)做二维逆傅里叶变换,由于在实际测试中频率范围和转角是有限的,得到近似的转台成像基本公式为:y(z,),)=I旭(|,口)e口州声妒枷d|dp (10);因式(10)的积分限不满足快速傅里叶逆变换(IFFT)条件,在实际的运算中需要对J|频移J|。;。令B为空间频率矗的带宽,且f=ycosp一菇sinp,得:P。(f)=I(忌+后血。)E(七+|。i。,日)e2删d| (11)6y(并,),)=f匕(f)e伽一dp (12)屯由于系统发射的是步进频率信号,频率点是离散的,根据采样的频率点数,对后进行离散化:
16、I|=n曰一1,其中n=0,1,2,一1,于是式(11)改写成:蹦z)=薹(嵩n吨油)跏,班时wz(13)将投影线Z按照距离分辨率c2日进行等间距离散化2。=m“72曰=mB,其中m=0,1,一1,令E日(n)=(B 7n(一1)+矗。;。)E(凡,口),则式(13)可表示为:P。(z。)=E。(n)e口”南=IFFTE。(n) (14)式中:只(f。)是在相应f。点上得到的投影值。积分过程中的投影线2随p变化,对于空间任一点的y(髫,y),每个p对应不同的f,故只(f)是离散的f处的投影值,需通过对匕(f。)进行插值获得匕(f):尸a(f)=P口(f。一1)+(fZ。一1)tana (15)
17、tana=P。(f。)一P。(f。一。)(z。一f。一。) (16)插值后即可对角度进行积分:y(算,y)=IP口(z)e正砒一d日=Pp(f)e业诎_(17)通过IFFr、插值、角度积分3步,便完成了对回波的成像处理过程,得到了被测目标的二维图像。4像的提取及RCS反演方法提取出被测目标的反射率分布后,根据目标散射源在二维图像中区域,用半径为n的二维窗函数此对区域反射率分布进行截取,得到新的二维像为:“”)=黔几芸 (18)对新的二维像进行二维傅里叶变换,得到目标的谱域数据为:E(K,K)=yo(戈,),)e伽眯”鼢如d), (19)与式(6)对比可知K和K是谱域的横轴和纵轴,积分范围对应7
18、。(戈,y)所在二维平面的上下限。对E(E,K)进行插值,得到随频率和角度变化的E(,9),插值公式为:,=(c2)鹾+ (20)口=一tan。(EK) (21)同样测试一个RCS为盯。的定标体,对其反射率分布进行二维傅里叶变换,得到随频率和角度变化的金属球谱域数据(,p)。将目标与金属球的谱域数据相比,最终得到被测目标的RCS:盯=E(,p)一E。(,p)+盯。 (22)5仿真分析为了验证基于成像提取的Rcs精确测量方法,用FEKO仿真软件仿真了在远场测试条件下3种情况的测量结果。1)目标干扰的消除精度;2)弱散射目标Rcs测量精度;3)可进行成像提取目标的最小间隔。51 目标干扰消除精度若
19、被测目标周围存在强散射源,将对目标回波产生影响,使计算的目标RCs与真实值产生严重偏差。RCS的测量误差主要由目标与背景环境的回波功率比决定,产生的最大差可表示为:盯=一20lg(110一棚) (23)式中:s表示目标与背景环境的回波功率比。为了验证方法的效果,仿真了直径为150 mm的金属球,与球心间距200 mm处放置直径为50 mm金属球作为背景干扰,仿真模型如图2所示。万方数据第1期 李南京等:基于成像提取的Rcs精确测量方法研究 77图2球间距200 mm的大球(直径150 mm)与小球(直径50-nm)的仿真模型Fig2 Simulation model of the big ba
20、儿(the di啪eter 0f150 mm)and tIle small ball(the di砌eter of 50 mm)witll tlle distance of200咖印an首先使用成像算法对目标回波进行处理,根据所成的二维像,提取大球的像消除小球干扰,并根据150 mm定标球的散射数据反演目标的RCS。目标区域的二维像、提取的目标像、干扰下的大球RCS、消除干扰后的大球RCS与真实RCS的对比分别如图35所示。消除干扰后的大球RCS与大球理论RCS基本吻合,图5中金属球的RCS起伏已小于1 dB,可以看出采用该方法消除了背景环境的干扰,RCS的测量精度改善35 dB。图3目标区域
21、的二维像F嘻3 2一D image o“he target area图4提取目标的二维像Fig4 2一D image o“he extracted ta唱et磊一l 5兽访基一20小球十扰下的RCS理论Rcs提取球的RCS八pji,、,一i,一、j。;、jji、|。;fj,图5小球干扰下的大球RCS、消除干扰后的大球RCS与理论RCS的对比F培5 Predicted RCS of the b培ball underthe small ballinterference,tlle big baU RCS af【er eliminating theinteIference compared with
22、tIle tlleoretical RCS52弱散射目标RCS测量精度弱散射目标的RCS通常要低于一40 dBsm,在高精度的Rcs测量时,容易受到背景杂波的干扰,精确测量弱散射目标的RCS往往比较困难。以测量直径为10 mm金属球(理论值为一41 dBsm)为例,与球心间距200 mm处放置直径为150 mm的金属球作为干扰,仿真模型如图6所示。使用成像算法对目标回波进行成像,提取小球的二维像,并根据定标球的散射数据反演目标的Rcs。目标区域的二维像、提取的目标像、反演得到的小球Rcs与真实RCS的对比分别如图79所示。图6球间距200 mm的大球(直径150 mm)与小球(直径10 mm)
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