热处理工技师高级技师-第四章课件.ppt
《热处理工技师高级技师-第四章课件.ppt》由会员分享,可在线阅读,更多相关《热处理工技师高级技师-第四章课件.ppt(96页珍藏版)》请在淘文阁 - 分享文档赚钱的网站上搜索。
1、国家职业资格培训教材国家职业资格培训教材编审委员会 编黄涛勋 主编依据依据劳动和社会保障部劳动和社会保障部 制定的制定的国家职业标准国家职业标准要求编写要求编写(1)光谱仪简介光谱仪是将复色光分解为光谱并进行记录的精密光学仪器。在光源作用下,使材料中的元素被激发,不同元素发射不同特征的光,根据光谱仪记录的系列谱线的波长和强度,对照谱线表即可得出材料中所含元素及其含量。(2)光谱试样的处理1)固体金属试样:由于固体金属本身导电,可以直接作为电极,相对电极可以用炭棒、铜棒或另一支同样材料的试样。1.光谱仪2)粉末状试样:对于矿石、矿物等一般非导体可磨成粉末,置于石墨电极之孔穴中,一般电极长度为23
2、cm,直径为6cm,每次取1020mg,在打弧过程中试样会熔成一个熔球并容易从孔穴中喷溅出来,为此可预先加入12倍纯炭粉与试样粉末混合均匀备用。3)溶液试样:溶液试样可以浸吸入石墨电极中进行分析。(3)光谱仪的使用大型精密光谱仪适用于中央实验室,在热处理现场一般使用台式光谱仪或便携式光谱仪。图4-1现场使用的光谱仪a)台式光谱仪b)便携式光谱仪2.电子探针X射线显微分析仪(1)电子探针X射线显微分析仪简介电子探针X射线显微分析仪简称电子探针(见图4-2),缩写为EPA或EPMA。图4-2电子探针X射线显微分析仪(2)试样制备电子探针对试样是有一定要求的,按其形状大致可分为块状、粉末及薄膜三类。
3、对于粉末试样,若只需了解其总的成分时,便可用压缩成形或烧结等办法把粉末压在一起,用与块状试样相同方法进行分析。(3)电子探针的应用电子探针既可以对物质微小部位进行成分分析,又能观察表面组织形貌,它能成功解释过去许多不了解的现象。1)合金中相成分的分析:电子探针不仅可以分析固溶体的成分和金属化合物成分,而且可以分析合金中的析出相及沉淀相成分。2)金属材料中的偏析及扩散的研究:金属材料经表面处理后,边沿至心部成分将发生很大的变化,并且对性能有很大的影响。3)晶界偏析:金属材料中由于晶界的偏析和吸附常常引起性能的变化,例如脆性断裂、蠕变性能变差等。4)夹杂物鉴定:用金相法鉴定夹杂物的类型,主要是利用
4、夹杂物光学性能的差异来鉴别的,所以这只能是定性的分析。5)细颗粒粉末分析:采用普通化学分析方法分析120m范围内的细颗粒粉末的化学成分则有一定的难度,而采用电子探针分析细颗粒粉末的成分和含量,则速度快分析准确。6)痕量分析:痕量元素的存在往往影响材料的性能,为了研究材料性能变差或得到改善的原因,必须对痕量元素进行分析,采用电子探针可检测到(1001000)10-6范围内的元素含量,因此可以采用逐点分析或线扫描分析方法测定材料中痕量元素的化学成分。3.俄歇电子能谱仪(1)俄歇电子能谱仪简介高能量的入射电子束(或X射线)照射固体试样时将与试样的原子发生碰撞,可以激发出原子的内层电子。俄歇能谱仪由电
5、子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统等组成(见图4 3)。图4-3俄歇电子能谱仪(2)试样的制备在取样的过程中,最重要的是千万不能使试样受到污染,应取自新鲜的试样,以保证得到真实的结果。如果是粉末试样,可用胶带把粉末粘结在胶带上,制作时只要把粉末均匀地撒在胶带上即可。(3)俄歇电子能谱仪的应用1)研究合金元素的偏析:利用俄歇电子能谱仪分析合金元素和微量元素在合金表面、晶界、相界上的吸附、扩散和偏析等。2)渗层元素的确定:利用俄歇电子能谱仪可测出元素随着深度而分布的曲线。3)热处理的表面偏析分析:从俄歇电子能谱图上可看到在60Ni20Co10Cr6Ti4Al镍基合金中,
6、在真空热处理前、后铝元素的表面浓度的明显变化。4)腐蚀的研究:材料在周围环境作用下会发生化学和电化学反应,甚至发生溶解,这些作用是通过表面或界面进行的。5)摩擦、磨损的研究:当两物体表面相互作用时,两物体的表面元素发生转移,利用俄歇电子能谱分析可以对其表面的组分、结构、状态特征、形貌特点进行分析,从而对运动过程中的变化有所真实的了解。6)压力加工后的表面分析:轧成0.05mm薄片的18Cr9Ni0.5Ti钢做俄歇电子能谱分析时发现,表面的含钛量大大高于平均成分,在不同温度下加热时表面钛的偏析不同,这种现象是压力加工后表面偏析引起的。7)磨削氧化膜的表面分析:利用俄歇电子能谱深度分析法,可分析在
7、磨削过程中氧、铁、碳、硫元素的氧化过程、氧化物的深度和氧化膜的致密程度。4.离子探针显微分析仪(1)离子探针显微分析仪简介以聚焦很细(12m)的高能(1020keV)一次离子束作为激发源照射样品表面,使其溅射出二次离子并引入质量分析器,按照质量与电荷之比进行质谱分析的高灵敏度微区成分分析仪器,称为离子探针显微分析仪。仪器主要包括4个部分:能够产生加速和聚焦一次离子束的离子源;样品室和二次离子引出装置;能把二次离子按质荷比分离的质量分析器;二次离子检测和显示系统以及计算机数据处理系统。(2)试样制备如仅需测量试样的平均组分,则需要对试样的表面预先进行研磨处理,即先用砂纸打磨后经抛光、水洗及丙酮清
8、洗、真空干燥,在这个过程中应注意防止油污和其他物质污染。当分析绝缘体试样时,因表面电荷的积累使离子探针难以测量,可用电子喷射法或用负离子为一离子束进行分析,也可在绝缘体表面放置一个导电栅网方式进行分析,这些方法均能获得稳定的质谱。(3)离子探针的应用离子探针具有电子探针不具备的优点,能检测包括氢在内的、元素周期表上的全部元素,对不同的元素,检测灵敏度是不同的。1)表面和薄膜分析:离子探针做静态分析时, 离子溅射是发生在样品表面少数原子层或吸附层上(0.52nm)的,它是研究样品氧化、腐蚀、扩散和催化等表面的物理化学过程,也是检测沉积薄膜、表面污染元素分布和晶体界面结构缺陷的理想工具。2)深度分
9、析:做动态分析时,在一次离子束剥蚀作用下,样品成分及其浓度将随着剥蚀时间而变化,因而可得到样品深度浓度分布曲线。3)同位素分析:同位素比值测定精度为0.11,不仅应用于生物、医药、有机化学和近代核物理,而且在地球和空间科学领域里,在测定月岩、陨石和地球样品微量元素同位素组成及地质年代学研究上,都能发挥微区痕量分析的特长。4)绝缘体样品分析:事先可在样品表面镀一层碳膜(或金属膜),或者采用低能电子喷射样品表面,也可用负离子轰击样品的方法,以避免绝缘体样品分析测试中在其表面积累电荷以及由此产生的电位变化现象。光学金相显微镜由于易于操作、视场较大、价格相对低廉,直到现在仍然是常规检验和研究工作中最常
10、用的仪器。1)按照有关技术标准对各种热处理后的显微组织进行评级,以便控制热处理质量。2)热处理工艺参数的控制,如高速钢淬火加热时用晶粒度试验控制加热温度、渗碳层的金相检验以控制气氛碳势和渗碳时间。3)测定各种硬化层(渗碳层、渗氮层、感应加热淬硬层)及各种镀层的深度。1.光学金相显微镜4)监测各种热处理质量缺陷(过热、过烧、表面脱碳、增碳、显微裂纹、渗碳和碳氮共渗黑色组织及回火不足等)。5)热处理废品及零件失效分析,通过分析找出废品和早期失效的原因。6)进行原材料检验,如非金属夹杂物、碳化物偏析和带状组织等。现代光学金相显微镜(见图4 4)已普遍采用无限远光学系统设计,并广泛使用平场消色差物镜、
11、广视场目镜、高倍干物镜,一般均装备有明视场、暗视场、偏振光、DIC等常用的照明方式。图4-4现代光学金相显微镜2.电子金相显微镜图4-5现代电子金相显微镜(1)扫描电子金相显微镜扫描电子金相显微镜,简称扫描电镜,是用电视的方式成像,用极狭窄的电子束去扫描样品,即电子束在样品上做光栅运动。扫描电镜的特点是景深长,图像层次丰富,立体感强,为三维结构图像。1)扫描电镜的试样制备 对试样的要求:试样可以是块状或粉末颗粒,能在真空中保持稳定,但含有水分的试样应先烘干除去水分,或使用临界点干燥设备进行处理。表面受到污染的试样,要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗,然后烘干。新断开的断口或断面,一般不
12、需要进行处理,以免破坏断口或表面的结构状态。有些试样的表面、断口需要进行适当的侵蚀,才能暴露某些结构细节,则在侵蚀后应将表面或断口清洗干净,然后烘干。对磁性试样要预先去磁,以免观察时电子束受到磁场的影响。试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸,不能过大。样品座的尺寸各仪器不相同,一般小的样品座为?3?5mm,大的样品座为?30?50mm,以便分别用来放置不同大小的试样,样品的高度也有一定的限制,一般为510mm左右。 块状试样的制备:对于块状导电材料,除了大小要适合仪器样品座尺寸外,基本上不需要进行什么制备,只需要用导电胶把试样粘结在样品座上即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性能较差的
13、材料,要先进行镀膜处理,即在材料表面形成一层导电膜,以避免电荷积累,影响图像质量,并可防止试样的热损伤。 粉末试样的制备:先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上,再均匀地把粉末试样撒在上面,用洗耳球吹去未粘住的粉末,再镀上一层导电膜即可上电镜观察。 镀膜:镀膜的方法有两种,一种是真空镀膜,另一种是离子溅射镀膜。离子溅射镀膜的原理是:在低气压系统中,气体分子在相隔一定距离的阳极和阴极之间的强电场作用下电离成正离子和电子,正离子飞向阴极,电子飞向阳极,两电极间形成辉光放电,在辉光放电过程中,具有一定动量的正离子撞击阴极,使阴极表面的原子被逐出,称为溅射。如果阴极表面为用来镀膜的材料(靶材),需要镀膜的
14、样品放在作为阳极的样品台上,则被正离子轰击而溅射出来的靶材原子即沉积在试样上并形成一定厚度的镀膜层。离子溅射时常用的气体为惰性气体氩,工艺要求不高时,也可以用空气,气压约为5102Torr。离子溅射镀膜与真空镀膜相比,其主要优点是:第一,装置结构简单,使用方便,溅射一次只需几分钟,而真空镀膜则要半个小时以上;第二,消耗贵金属少,每次仅约几毫克;第三,对同一种镀膜材料,离子溅射镀膜质量好,能形成颗粒更细、更致密、更均匀、附着力更强的膜。 可以观察直径为030mm的大块试样(在半导体工业可以观察更大直径),制样方法简单。 场深大,300倍于光学显微镜,适用于粗糙表面和断口的分析观察。此外,还具有图
15、像富有立体感、真实感、易于识别和解释。 放大倍数变化范围大,一般为15200000倍,对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。 具有相当高的分辨率,一般为3.56nm。 可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量,如通过调制可改善图像反差的宽容度,使图像各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图像选择器,可在荧光屏上同时观察不同放大倍数的图像或不同形式的图像。 可进行多种功能的分析。例如,与X射线光谱仪配接,可在观察形貌的同时进行微区成分分析。配有光学显微镜和单色仪等附件时,可观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析等。 可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验,以便观察
16、在不同环境条件下的相变及形态变化等。所以,扫描电镜能用于组织分析以及基体、析出相、夹杂物、扩散层和表面涂层的成分鉴定。(2)透射电子金相显微镜透射电子金相显微镜,简称透射电镜,这是一种电子束透过样品而直接成像的电镜。1)透射电镜样品的制备 复型电子金相的制样技术:用非晶体材料把由浸蚀产生的金相表面显微组织浮雕复制到一种很薄的膜上,然后把复制薄膜(又叫做复型)放到透射电镜中进行观察分析,采用这种薄膜来研究物体表面形态的方法称为复型技术。一般采用塑料及真空蒸发沉积的碳来做复型材料。一次复型又称为萃取复型。 金属薄膜的制样:金属薄膜的厚度约为100200nm,且在制备过程中不允许有任何组织结构的变化
17、,其制备方法如下:第一步利用电火花切割、砂轮切割等方法从大块试样中切取0.20.4mm的薄片。第二步用机械磨光等方法,从薄片的两面均匀地磨去切割损伤层,直到薄片厚度为0.1mm左右。第三步将预减薄的试样最终减薄到100200nm。2)透射电镜在显微检验中的应用 热处理基本组织的辨认:热处理后常得到托氏体、贝氏体、马氏体等非平衡组织,有时受转变温度、合金成分及含碳量的影响,特别是在转变量多时常会失去其典型特征,难以在光学显微镜下可靠地辨认。而透射电镜利用复型电子金相及薄膜技术,可以比较可靠地确定光学金相显微镜难以分辨的组织,还能根据衍射花样确定相的晶体结构。 鉴别微量第二相结构:采用薄膜透射技术
18、可以确定材料中微量的第二相结构及第二相与母相的关系。所以,利用薄膜透射技术可以研究钢的回火转变以及过饱和固溶体的脱溶分解。 研究组织的亚结构:薄膜透射技术在鉴别组织形态、确定相结构及取向关系的同时,还能研究各相内的晶体缺陷特征。(1)概述超声波(频率为20000Hz)在被检测材料中传播时,材料的声学特性和内部组织的变化对超声波的传播产生一定的影响,通过对超声波受影响程度和状况的探测来了解材料性能和结构变化的技术称为超声检测。超声波检测的主要设备包括超声波探伤仪、探头和试块。1.超声波检测图4-6便携式超声波探伤仪1)超声波探伤仪:这是超声波检测的主体设备,如图4-6所示。超声波探伤仪主要性能有
19、水平线性、垂直线性和动态范围。2)探头和试块 超声波探头是一个电声换能器,如图4-7所示,它既能将电能转换成超声能,产生超声波,又能将超声能转换成电能,接受超声波。探头可以控制超声波的传播方向和能量集中的程度,当改变探头入射角或改变超声波的扩散角时,可使声波的主要能量按不同的角度射入介质内部或改变声波的指向性,提高分辨率。利用超声波探头可以实现波形转换和控制工作频率。探头的种类很多,根据波形不同,可分为纵波探头、横波探头等。根据耦合方式不同,又可分为接触式探头和液浸探头。根据晶片数不同,还可分为单晶探头和双晶探头。图4-7超声波探头 试块是具有简单几何形状的人工反射体的试样,如图4-8所示。通
20、常试块的各种特性都是已知的,在超声波探伤的测量工作中,常与试块作比较测量。试块分为标准试块和对比试块。标准试块是指材质、形状、尺寸、性能等由国际组织或某国权威机构讨论通过的试块。对比试块是指检测特定试件用的试块,对比试块与检测试件的声性能要相近。超声波试块的作用是校验仪器和探头的性能,确定探伤起始灵敏度,校准扫描线性。图4-8超声波系列试块(2)操作方法1)探测面的修整:应清除焊接工作表面飞溅物、氧化皮、油污及锈蚀等。2)在每次探伤操作前都必须利用标准试块(CSKIA、CSKA)校准仪器的综合性能、校准面板曲线,以保证探伤结果的准确性。3)调节仪器的扫描速度和灵敏度。4)扫查探测:使用锯齿形波
21、扫查、左右扫查、前后扫查、转角扫查、环绕扫查等几种扫查方式,以便发现各种不同的缺陷并且判断缺陷性质,只要在相应的灵敏度下有波出现即为伤波。5)缺陷测定:给缺陷定性、定量和定位。6)记录:在工件或记录纸上标出缺陷的位置、深度和面积。7)将数据文件传输给PC机,进行数据处理、保存,以便出具检测报告。(3)应用超声波检测可以用于锻件、轧制件、焊件和某些铸件的无损检测。(4)特点1)不受材料限制,金属和非金属都可进行超声波无损检测。2)超声波探伤探测距离大,探伤装置体积小,重量轻,便于携带到现场探伤,检测速度快,有较高的探伤灵敏度、周期短、成本低、灵活方便、效率高。3)波声的方向性好。4)超声波探伤对
22、人体及环境无害。5)超声波探伤要求工作表面平滑、要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类,对缺陷没有直观性。 (1)概述X射线检测是利用X射线穿过材料或工件时的强度衰减,以检测其内部结构不连续性的仪器。2. X射线检测便携式X射线机将射线发生器、高压发生器、冷却系统和控制系统共同安装一个机壳中,如图4 9所示,其体积小,重量轻,便于携带到现场进行X射线照相检测。图4-9便携式X射线机图4-10移动式X射线机(2)操作方法1)作业前详细了解被检工件材质、规格、确定热处理状况。2)运用铅质英文和阿拉伯数字组合编排出能准确识别底片并具有唯一性的标记,布置在相应的透照位置上。3)对焦。4)曝光:根据透照
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 热处理 技师 高级技师 第四 课件
限制150内