第9章-单片微波集成电路简介第课件.ppt
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1、第9章单片微波集成电路简介第9章单片微波集成电路简介9.1单片微波集成电路的材料与元件9.2MMIC电路的设计特点9.3微波集成电路加工工艺简介9.4微波及毫米波集成电路应用实例第9章单片微波集成电路简介 9.1单片微波集成电路的材料与元件单片微波集成电路的材料与元件9.1.1单片微波集成电路的基片材料单片微波集成电路的基片材料MMIC的基片同时兼有两种功能:一是作为半导体有源器件的原材料,二是作为微波电路的支撑体。砷化镓(GaAs)是最常用的材料,在低频率情况下,也可以用硅(Si)材料。MMIC的制作是在半绝缘的GaAs基片表面局部区域掺杂构成有源器件(FET或二极管),把其余表面作为微带匹
2、配电路和无源元件载体。GaAs和Si的主要特性列于表9-1中,同时也给出了MIC常用的氧化铝陶瓷(Al2O3)作为对比。 第9章单片微波集成电路简介表表9-1MMIC基片半导体材料的特性基片半导体材料的特性 第9章单片微波集成电路简介由表9-1可见,GaAs有源层的电子迁移率比Si高6倍,作为基片时的电阻率则高几个数量级,用GaAs制作的MMIC性能远优于用Si制作的。但GaAs的电阻率比Al2O3要低许多,微波在GaAs基片中的介质损耗不能忽略,尽管MMIC尺寸小,介质损耗不太严重,但在电路设计中必须予以考虑 GaAs基片厚度常选为0.10.3 mm,面积在0.5 mm0.5 m5 mm5
3、mm之间。薄基片散热好,接地通孔性能好,但高阻抗微带线的线条太细不易制作,微带电路设计有一定局限性。做微波功率放大器或振荡器时宜采用较薄基片,以利于散热和增加功率容量。 第9章单片微波集成电路简介9.1.2单片微波集成电路的无源元件单片微波集成电路的无源元件在MMIC中使用的传输线和无源元件与MIC中应用的基本相同,但也有自己的特点。MMIC中常用的无源元件有两类:一类是集总元件(尺寸通常小于0.1波长),另一类是分布元件。X波段到20 GHz适用于集总元件,高于20 GHz宜采用分布元件。1. 电容电容 MMIC中经常采用的电容有微带缝隙电容、交指电容、叠层电容和肖特基结电容。 第9章单片微
4、波集成电路简介 微带缝隙电容的电容量很小,很难超过0.05 pF。 交指电容的电容量稍大,但耦合指长度不能太大,电容量只能做到1 pF以下,Q值能达到100左右。 为获得1100 pF量级的电容量需采用叠层电容,又称MIM电容,其结构如图9-1所示。绝缘层介质用Si3N4、SiO2或聚酰亚胺。MIM电容的主要问题是难于保证电容值制造的准确性和重复性。 肖特基结或PN结也可制作电容器,如图9-2所示。这种电容可以在制作有源器件时一起完成,适于0.510 pF左右的容量。 第9章单片微波集成电路简介图 9-1叠层(MIM)电容第9章单片微波集成电路简介图 9-2肖特基结电容第9章单片微波集成电路简
5、介2. 电感电感与MIC类似,MMIC中应用的电感包括图9-3所示的几种: 直线电感和单环电感的尺寸小、结构简单,电感量大约几纳亨以下。 多圈螺旋方形或圆形电感具有较大电感量和较高Q值,电感量约可达数十纳亨,Q值大约为10,最高可接近4050。 第9章单片微波集成电路简介图 9-3MMIC电感第9章单片微波集成电路简介为减小电感线圈所占基片的面积,线条尽量要细,电阻损耗不容忽视,匝间电容以及薄基片对地板的临近效应都将使有效电感量降低。多圈电感的内圈端点引出线要用Si3N4或SiO2做绝缘层或用空气桥跨接,制作工艺比较复杂。 不论哪种结构的电感,导线总长度都应该远小于波长,才能具有集总参数电感的
6、特性。 第9章单片微波集成电路简介3. 电阻电阻用于MMIC的电阻主要有薄膜电阻和体电阻两大类。要求电阻材料具有较好的稳定性,低的温度系数,还要考虑允许电流密度、功率和可靠性等问题。 实际应用中的电阻包括以下几类: 镍铬系电阻:具有良好的粘附性,阻值稳定性高,成本低。制作技术多用蒸发工艺,但较难控制合金成分的比例。 钽系电阻:目前可用充氮反应溅射制备氮化钽电阻,用钽硅共溅射可获得耐高温的电阻。钽系电阻薄膜也可用于混合MIC中。 第9章单片微波集成电路简介 金属陶瓷系电阻:制作高阻最有效的方法是在金属中掺入绝缘体以形成电阻率高、稳定性好的电阻,如Cr-Si电阻、NiCr-Si电阻和CrNi- S
7、iO2电阻等。调整材料的配方比例使电阻率在很大范围内改变,以适应不同电阻值的要求。 体电阻:利用GaAs N型层的本征电阻,它是MMIC中特有的类型。在GaAs基片上局部掺杂,做上欧姆接触就构成了电阻,其电阻率比较适中。体电阻的主要缺点是电阻温度系数为正,而且在电流强度过大时,电子速度饱和,呈现非线性特性,此种特性不利于一般线性模拟电路,但可用于某些数字逻辑电路。 第9章单片微波集成电路简介9.1.3单片微波集成电路的有源器件单片微波集成电路的有源器件MMIC中的有源器件和MIC中常用晶体管的类型基本一样。三极管几乎都采用FET,也使用双栅FET。二极管有肖特基势垒管、变容管、体效应管、PIN
8、管等。在MMIC中由于各种晶体管都没有管壳封装,缩短了元件之间的互连线,减少了焊点,因此可用的极限频率提高,工作频带加宽,尺寸减小,可靠性改善。FET是高频模拟电路和高速数字电路的主要元件,肖特基势垒二极管是二极管中的主要元件。不论是哪种晶体管,在MMIC中都是平面结构,即各电极引线需从同一平面引出。为减小晶体管寄生参量,GaAs导电区要尽量小,只要能保证器件工作即可。 第9章单片微波集成电路简介肖特基势垒二极管和FET的平面结构示意图如图9-4所示。图中,电极引线是金(Au),有源层是N型GaAs,电导率=0.05 cm,载流子浓度为nn=107 cm3,欧姆接触用金锗(AuGe)。为了保证
9、欧姆接触良好,有源层上还有一层低电阻率的N+GaAs层,电导率=0.0015 cm,载流子浓度为nn=1018 cm3。 在晶体管区的表面还有一层Si3N4或SiO2作为保护层。对FET而言是在有源层上制作Ti/Pt/Au混合体形成肖特基势垒,再真空蒸发栅极金属,栅金属的质量和位置对FET的性能至关重要。第9章单片微波集成电路简介要考虑金属对GaAs有良好的附着力,导电性好,热稳定性强,金属可用Cr-Ni-Au、Cr-Au、Cr-Rn或A1-Ge,也可用A1。栅成型后表面再覆盖一层保护层,源极和漏极的金属亦是真空蒸发形成的。目前In-Ge-Au和Au-Ge-Ni用得较多,使FET有良好的欧姆接
10、触并能承受短时升温。第9章单片微波集成电路简介图 9-4平面晶体管结构第9章单片微波集成电路简介 9.2MMIC电路的设计特点电路的设计特点 尽管MMIC电路的设计方法和MIC有一定相似之处,但是其结构特点决定了要有一些不同的考虑。典型的MMIC设计程序如图9-5所示。设计的依据是由用户提出的技术指标,设计者必须要考虑实际的设备和条件; 根据系统要求决定电路的拓扑结构,采用什么类型的器件,例如单栅或双栅FET、低噪声或高功率FET、集成度的规模和价格等。由于MMIC的各种元件都集成在一块基片上,分布参数的影响不能忽略;有时还必须考虑传输线间电磁场的耦合效应;此外,集成电路制作后无法调整,需精确
11、地、全面地设计电路模块和元件模块,计入加工中引入的误差。第9章单片微波集成电路简介因此,MMIC设计必须采用计算机辅助设计方法,选用合适的CAD软件对电路参数进行优化,以获得元件最佳值,并由计算机进行设计后的容差分析、稳定性的检验等。目前使用最多的是Agilent公司的ADS软件。设计的成功与否,决定了产品的成品率,也影响电路的成本和价格。第9章单片微波集成电路简介图 9-5MMIC设计程序流程图第9章单片微波集成电路简介MMIC设计中应主要考虑如下几点: (1) MMIC的元件不能筛选、修复或更换。例如微带线,宽的微带线具有阻抗低、损耗小的特点,一般阻抗在30100 范围内。传输线宽度的任何
12、变化,都将引起阻抗的不连续性。制造过程中,分布式元件比集总元件较易控制,虽然分布式元件占的空间大,因为制作的工艺简单,制造偏差的影响较小,所以多选用分布式元件。 第9章单片微波集成电路简介(2) 设计中所用的器件数据必须选取在宽带范围内的参数值,以便扩大电路的适应性。同时,MMIC集成度越高,元件越多,加工过程中越不可避免出现偏差。这会导致器件参数变化是制造公差的函数,设计时对元件需要允许有较大的公差。选用低灵敏度电路,着眼点不是电阻、电感、电容或其他参数的绝对值,而是它们之间的比例,可在CAD设计时再作调整。 第9章单片微波集成电路简介(3) 尽量减小电路尺寸。在C波段以下的较低频段,不宜采
13、用分布参数传输线,尽量用集总参数元件。有时FET寄生参数影响不大,可以不加匹配元件,宁可多用一两只FET,以获得足够增益,而尺寸可能更小。(4) 由于元件、部件尺寸小,因而容易在电路结构上实现负反馈电路,以扩展频带和改善性能。 设计更复杂的行波式或平衡式放大器时,虽然使用了更多的FET,但是这些FET一次制成,又处于同一基片上,成本增加并不多,而性能上却有很大改善,这是MMIC的特点。 第9章单片微波集成电路简介(5) 分布参数电路虽比集总参数元件电路制作工艺简单,但尺寸较大,需将微带线折弯或盘绕,这将产生线间耦合。设计时除了考虑将线间距离控制在23倍的基片厚度之外,还需用更精确的电磁场数值分
14、析方法进行分析和计算,以提高设计精度。(6) 电路高温工作的可靠性。小信号MMIC的散热问题较容易解决,但对功率放大电路,需要考虑封装的热阻抗和工作环境条件。GaAs MMIC的短暂工作温度在300以下,一般最高温度应低于150。第9章单片微波集成电路简介(7) 关于抗辐射的问题。现代电子系统有抗辐射的要求,故在集成电路生产中提出了辐照硬度(Radiation Hardness)的指标,即在生产过程中为确保质量,需挑选出那些较能承受辐射的产品。上述几个方面,有些是一般的原则,有些随MMIC应用的不同,相对的重要性也随之而变。总之,设计的MMIC必须满足电气性能技术指标要求,工作可靠,具有高成品
15、率和低成本。 第9章单片微波集成电路简介 9.3微波集成电路加工工艺简介微波集成电路加工工艺简介9.3.1微波集成电路工艺流程简介微波集成电路工艺流程简介微波集成电路(MIC)的加工主要有以下几个步骤:(1) 制备红膜。任何一个MIC的加工,首先需要有设计完成的电路布线图或结构图,根据这个图来刻制红膜。红膜是聚酯薄膜,上面覆盖一层透明的软塑料(红色或橙色),红膜厚约50100 m,软塑料厚约2550 m,利用坐标刻图机在光台上刻绘所需的图形,使所需的图形部位红色塑料膜脱离基体,即根据刻出的线条,有选择地揭剥红膜。一般将原图尺寸放大约510倍,主要是提高制图精确度。第9章单片微波集成电路简介刻制
16、的红膜尺寸要求精密准确。常规制版工艺全由人工绘制、刻膜和揭剥红膜; 现在采用新工艺,即用计算机控制,编制软件程序,或用X-Y绘图仪绘制。(2) 制造掩膜。掩膜的作用是将设计的图形从红膜上精确地转移至基片上。常用的是光掩膜,它是在玻璃基片上表面镀一层铬或氧化铝等材料,然后,再在上面涂一层光乳胶(银卤化物),这种材料光灵敏度高,图像分辨率好。利用已刻制的红膜图形初缩照相制版后,置于玻璃基片上曝光,然后经过光刻制成掩膜。也可以不由红膜制造掩膜,而由图形发生器直接制作掩膜。 第9章单片微波集成电路简介(3) 光刻基片电路。将MIC的基片毛坯抛光后,在基片上镀金属膜。一般有三种方法:真空蒸发、电子束蒸发
17、或溅射,视不同的金属材料而定。主要要求金属与基片之间有良好的附着力,性能稳定且损耗低。例如在氧化铝基片上镀金属膜,材料为CrCuAu或NiCrNiAu,可先在基片上镀一层催化层,然后再先后分层镀上不同的金属。随后,在已镀金属膜的基片上涂一层感光胶,感光胶有正性胶和负性胶两种,将掩膜置于其上方,通过曝光、成型、腐蚀去掉不希望有的金属涂层,如图9-6所示。前两个图中表示涂感光胶的地方刻蚀后无金属层;后两个图中表示涂感光胶的地方保留了金属层。第9章单片微波集成电路简介前者所涂感光胶的厚度应与最后所需金属膜的厚度相近,它适于制作2550 m宽或金属带相距2550 m的线条。后者比较节省金属,而且价格便
18、宜。第9章单片微波集成电路简介图 9-6MIC中基片上制作图形的示意图第9章单片微波集成电路简介(4) 有源器件的安装调试。 如图9-7所示,这是常规工艺流程。微波集成电路的制作必须在超净环境中进行以保证质量。如果制作MIC的基板材料已经制备了双面敷铜(或其他金属),则可省去在基片材料上镀金属膜的步骤,直接根据掩膜光刻基片电路即可。 第9章单片微波集成电路简介图 9-7微波集成工艺流程图第9章单片微波集成电路简介9.3.2单片微波集成电路工艺流程简介单片微波集成电路工艺流程简介MMIC制作的复杂性在于要在GaAs基片上同时制作有源器件和无源元件,工序很多;它是多层结构,所用掩膜不止一个而是成套
19、的,对掩膜的图形精度也有更高的要求,电路的制作工艺比MIC更复杂。1. 图形转移新技术图形转移新技术图9-8示出了制作掩膜的过程,输入的图形数据是由制作掩膜的专用计算机输入的,已考虑了制作掩膜过程中出现的尺寸误差并进行了预先修正。通过计算机由图形信息控制图形发生器。 第9章单片微波集成电路简介图 9-8图形转移新技术第9章单片微波集成电路简介图9-8中给出了图形产生的几种方式: 光学图形发生器:本质上为一台特殊的照相机,也是一种光学投影照相系统。将原图分解成许多单元图形或单元复合图形,计算机控制光孔变化,计算曝光位置,进行多次曝光完成初缩版的照相。 电子束图形发生器及曝光装置:它是在计算机的控
20、制下,利用光刻蚀的原理制备出所要求的掩膜图案。由于电子束的散射和衍射很小,又便于聚焦成0.020.2 m的细斑,因而具有极高的分辨率,所以在计算机的控制下能直接制成精缩版。这是发展微米与亚微米技术的重要工具。第9章单片微波集成电路简介 激光图形发生器:它是在计算机控制下,通过调制激光束对光致抗蚀剂进行选择性加工。因制版的薄膜上涂有一层低温CVD淀积的氧化铁,底版放在微动台上,当激光束作栅状扫描时,可以有选择地把需要形成窗口处的氧化铁熔化并蒸发。此法的主要优点是能在短时间内制成初缩板,甚至直接制成精缩掩膜,缩短研制周期,但分辨率较低。 一般掩膜底版曝光后,经显影、漂洗、后烘、腐蚀、去胶等一系列过
21、程(即光刻蚀过程),就完成了主掩膜的制作。第9章单片微波集成电路简介2. MMIC工艺流程工艺流程 在GaAs基片上制作微波电路,须同时制作有源器件和无源元件。现以小信号集成电路为例,图9-9给出了MMIC的全部制作过程。 第9章单片微波集成电路简介图 9-9MMIC工艺流程图第9章单片微波集成电路简介(1) 有源层。 如图9-10(a)所示,首先在半绝缘GaAs基片上制作有源层,如果要形成N型有源区,即将所需要的杂质原子掺杂到半导体基片规定区域的晶格中去,达到预期的位置和数量要求,这就是掺杂技术。目前所采用的方法有离子注入和外延掺杂两种。离子注入是一种新掺杂技术,它把杂质原子电离并使带电性的
22、离子在高电场中逐级加速,直接注入到半导体中去。这种技术能在较大的面积上形成薄而均匀的掺杂层。图9-9中退火的作用是消除离子注入所造成的晶格损伤。第9章单片微波集成电路简介另一种是外延技术,即在GaAs基片表面生长另外的GaAs层,保护晶体结构,这种生长的新单晶层,其导电类型、电阻率、厚度和晶格结构的完整性都可以控制,达到预期要求,这个过程称为外延,新生长的单晶层为外延生长层。外延方法有液相外延(LPE)、气相外延(VPE)和分子束外延(MBE)三种,其中LPE是老技术,MBE是新技术,应用MBE能做高电子迁移率的场效应集成电路和异质结双极型集成电路,但一般VPE的应用较为广泛。第9章单片微波集
23、成电路简介图 9-10MMIC加工的工艺过程示意图第9章单片微波集成电路简介(2) 绝缘。在有源面上电流流过该区,但在特定的区域若要限制电流流过,则需绝缘。对有源器件,只允许电流在所规定的部位流过,而其他部位需绝缘。对无源电路,要减小传输线的寄生电容和导体损耗,也要注意绝缘。绝缘层的制作方法可采用台面蚀刻和离子注入两种方法,用蚀刻的方法将不需要有源层的区域全部去掉,此方法简单,故广为采用(如图9-10(b)所示)。 第9章单片微波集成电路简介(3) 欧姆接触。在半导体表面和焊接点之间需要良好的电接触,因此需制作欧姆接触点。MMIC的这类触点十分重要,触点接触不好,接触电阻将导致噪声增大和增益下
24、降。制作欧姆接触的方法是在GaAs上,将熔合的金、锗(Au) =88,(Ge)=12,熔点为360)掺入GaAs层和有源层,然后在其上蒸发镀一层镍,整个厚度约为2000,随后制成焊点,见图9-10(c)。 第9章单片微波集成电路简介(4) 肖特基或栅极结构。在有源层上放置金属可形成肖特基势垒(如图9-10(d)所示)。栅极金属的选择要考虑对GaAs的附着力、导电性能和热稳定性,对GaAs基片多用TiPtAu合金材料。(5) 第一层金属。第一层金属是指覆盖的喷涂金属,以增加导电性。对电容、电感和传输线,此层金属即为底部的导电板。它和肖特基栅金属是同时制作的。 第9章单片微波集成电路简介(6) 电
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