SPC-统计制程管制-hongbo.pptx

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1、 內容介紹：內容介紹：一一. .SPC基本知識介紹基本知識介紹二二. .制程能力分析制程能力分析&評估評估三三. .各制程之各制程之SPC運用運用 一一. .SPC基本知識介紹基本知識介紹( (一一).).品質管制的演進品質管制的演進( (二二).).SPCSPC起源及定義起源及定義 ( (三三).).SPCSPC實施步驟實施步驟( (四四).).制程能力概念制程能力概念( (五五).).統計用語統計用語( (六六).).機率與常態分配機率與常態分配 ( (三三).).SPCSPC實施步驟實施步驟 1.1.定義制程定義制程 6.6.制程能力分析制程能力分析 2.2.選定品質特性選定品質特性 7

2、.7.制程效率之研究制程效率之研究 3.3.制程作業標準化制程作業標準化 8.8.問題解決問題解決 4.4.量測儀器分析量測儀器分析 9.9.制程管制制程管制 5.5.管制圖制作管制圖制作 ( (四四).).制程能力概念制程能力概念 1.1.制程能力概念制程能力概念 處於穩定狀態下的制程實際加工能力處於穩定狀態下的制程實際加工能力 2.2.表現在兩個方面：表現在兩個方面：1 1）産品質量是否穩定）産品質量是否穩定. . 2 2）産品質量精度是否足夠）産品質量精度是否足夠. . 321x12368.26%95.46%99.73%二二. .制程能力分析制程能力分析&評估評估主要參考參數：主要參考參

3、數：( (一一).).制程準確度制程準確度-Ca-Ca( (二二).).制程精密度制程精密度-Cp-Cp( (三三).).制程能力綜合制程能力綜合指數指數-Cpk-Cpk 單邊規格單邊規格: :只有規格上限或規格下限只有規格上限或規格下限 雙邊規格雙邊規格: :既有規格上限又有規格下限既有規格上限又有規格下限 注意注意: :因爲因爲單邊單邊規格規格無規格中心值無規格中心值, ,所以不能計算所以不能計算CaCa值值,Ca,Ca值應用在雙值應用在雙邊規格的準確度分析。邊規格的準確度分析。 CaCa, ,表示實際平均值表示實際平均值XX0, ;Ca0,表示實際平均值表示實際平均值XX規格中心值規格中

4、心值 2) Ca2) Ca的等級判定的等級判定級級別別 C Ca a 值值範範圍圍 改改進進措措施施 A A 0 0| |C Ca a| | 6 6. .2 25 5% % 繼繼續續保保持持 B B 6 6. .2 25 5% % | |C Ca a| |1 12 2. .5 5% % 改改進進至至 A A 級級 C C 1 12 2. .5 5% % | |C Ca a| |2 25 5% % 立立即即改改進進 D D 2 25 5% % | |C Ca a| |5 50 0% % 必必要要時時停停止止生生產產 E E 5 50 0% % | |C Ca a| | 必必要要時時停停止止生生產

5、產 CARDREADER CARDREADER機種，過錫爐溫度的規格爲機種，過錫爐溫度的規格爲235,235,其公差爲其公差爲5,5,以下爲以下爲9/12-9/12-9/169/16所收集資料如下所收集資料如下: : 計算其計算其Ca,Ca,並說明屬於那一級並說明屬於那一級? ? (一一).管制圖的種類管制圖的種類1 1）計數值管制圖計數值管制圖 其所依據之資料，均以單位計數者其所依據之資料，均以單位計數者. .如：不良數，缺點如：不良數，缺點數數 等間斷資料均屬此類等間斷資料均屬此類. .最常用爲下列四種：最常用爲下列四種： 不良率管制圖（不良率管制圖（P CHARTP CHART） 不合格

6、品數管制圖（不合格品數管制圖（NP CHARTNP CHART） 缺點數管制圖（缺點數管制圖（C CHARTC CHART） 平均缺點數管制圖（平均缺點數管制圖（ CHART CHART） 2) 2) 計量值管制圖計量值管制圖 其所依據之資料其所依據之資料, ,均屬由量具實際量測而得知均屬由量具實際量測而得知. .如如: :長度長度, ,重重量量, ,成份等特性均爲連續性者成份等特性均爲連續性者. .最常用爲下列四種最常用爲下列四種: : 平均數與全距管制圖平均數與全距管制圖 (Xbar-R Chart)(Xbar-R Chart) 平均值與標準差管制圖平均值與標準差管制圖 (Xbar-S C

7、hart)(Xbar-S Chart) 中位數與全距管制圖中位數與全距管制圖 (X-S Chart)(X-S Chart) 個別數與移動全距管制圖（個別數與移動全距管制圖（X-RmX-Rm） ( (三三).).管制圖建立的步驟管制圖建立的步驟 1.1.選定管制圖類型選定管制圖類型 6.6.計算管制界限計算管制界限 2.2.資料收集資料收集 7.7.繪入圖點繪入圖點 3.3.資料分組資料分組 8.8.制程判定制程判定 4.4.計算每組的計算每組的XbarXbarR 9.R 9.管制界限的修訂管制界限的修訂 5.5.計算全組的計算全組的XbbarXbbarR R ( (四四).).管制圖的分析與判

8、讀管制圖的分析與判讀 1.1.受控狀態受控狀態 1)1)所有樣本點都在控制界限內所有樣本點都在控制界限內 2)2)樣品點均勻分佈樣品點均勻分佈, ,位於中心線兩側的樣品點約各占位於中心線兩側的樣品點約各占1/21/2 3) 3)靠近中心線的樣品點約占靠近中心線的樣品點約占2/32/3 4) 4)靠近控制界限的樣品點極少靠近控制界限的樣品點極少 2.2.失控狀態失控狀態 1)1)有有7 7個或個或7 7個以上樣品點連續出現在中心線的一側個以上樣品點連續出現在中心線的一側 2)2)連續連續7 7點上升或下降點上升或下降 3)3)有較多的邊界點有較多的邊界點 4)4)樣本點的周期性變化樣本點的周期性

9、變化 ( (五五).).計量值管制圖計量值管制圖 1.Xbar-R1.Xbar-R管制圖管制圖 1 1）收集資料）收集資料 子組大小：一般爲子組大小：一般爲4-54-5個資料個資料 子組頻率：子組頻率：1-21-2小時收集一次資料小時收集一次資料 子組數的大小：大於等於子組數的大小：大於等於2525組資料組資料 2 2）計算平均值，極差，管制上下限及中心線）計算平均值，極差，管制上下限及中心線 X1+X2+X3+XnX1+X2+X3+Xn 平均值平均值Xbar = Xbar = n n 全全 距距R = XR = X最大值最大值-X-X最小值最小值 R1 + R2 + R3 + R1 + R2

10、 + R3 + + RK + RK 平均全距平均全距Rbar =Rbar = k k Xbar1 + Xbar2 + Xbar3 + Xbar1 + Xbar2 + Xbar3 + + Xbark + Xbark 過程均值過程均值Xbbar =Xbbar = k k 管制上限管制上限UCLX = Xbbar+UCLX = Xbbar+A2A2Rbar UCLR = Rbar UCLR = D4D4* *RbarRbar 中心線線中心線線 CLX = Xbbar CLR = RbarCLX = Xbbar CLR = Rbar 管制下限管制下限LCLX =Xbbar-LCLX =Xbbar-A2

11、A2Rbar LCLR = Rbar LCLR = D3D3* *RbarRbar 3 3）描點，分析）描點，分析 ( (六六).).計數值管制圖計數值管制圖 1 1不良率不良率P P管制圖管制圖 1 1）産品無法直接測定其特性時，可以分別其良品數與不良品數，）産品無法直接測定其特性時，可以分別其良品數與不良品數，並以不良率表示其品質，如並以不良率表示其品質，如ICTICT測試功能測試功能OKOK與功能不良，與功能不良， 終檢處出終檢處出錫錫OKOK與出錫不良與出錫不良 2 2）資料的建立）資料的建立3 3）平均不良率，管制上下限的計算）平均不良率，管制上下限的計算 不良品數總和不良品數總和

12、平均不良率平均不良率PaPa = = 檢驗數總和檢驗數總和 管制上限管制上限UCL = Pa+3UCL = Pa+3* * (Pa (Pa* *(1-Pa)/n(1-Pa)/n 管制下限管制下限LCL = Pa-3LCL = Pa-3* * (Pa (Pa* *(1-Pa)/n(1-Pa)/n 注：注：n n表示樣本數表示樣本數 ：當樣本數相等時，：當樣本數相等時，n n爲它本身爲它本身; ;當樣本數不相當樣本數不相等時，爲總樣本數的平均值等時，爲總樣本數的平均值 2 2）計算平均不合格品數，管制上下限）計算平均不合格品數，管制上下限 nP1+nP2+nP3+nP1+nP2+nP3+nPk+n

13、Pk 平均不合格品數平均不合格品數nPa = nPa = k k 平均不良率平均不良率PaPa = nPa/N (N = nPa/N (N表示樣本數表示樣本數) ) 注：注：nP1nP1，nP2nP2，nP3nP3nPknPk表示表示每組的不合格品數每組的不合格品數，k k表示不合格品的表示不合格品的組數組數 管制上限管制上限UCL =nPa+3UCL =nPa+3* * nPa nPa* *（1-Pa1-Pa） 中中 心心 線線 CL = nPaCL = nPa 管制上限管制上限LCL=nPa-3LCL=nPa-3* * nPa nPa* *（1-Pa1-Pa） 2 2）平均缺點數）平均缺點

14、數管制上下限及中心線的計算管制上下限及中心線的計算C1+C2+C3+C1+C2+C3+Ck+Ck 平均缺點數平均缺點數CaCa = = k k注注C1C1C2C2C3C3CkCk表示每一個檢驗批的表示每一個檢驗批的缺點數缺點數k k表示檢驗表示檢驗批組數批組數 管制上限管制上限UCL =Ca +3UCL =Ca +3* * Ca Ca 中心線中心線CL = CaCL = Ca 管制上限管制上限LCL =Ca -3LCL =Ca -3* * Ca Ca二、各制程之二、各制程之SPC運用運用1、SMT制程制程名詞：名詞：PPM(百萬分之一百萬分之一)DPPM(百萬分之百萬分之不不良數良數)公式：不

15、良點數公式：不良點數/總點數總點數*1000000例：例：6月月7日生產之機種：單片點數為日生產之機種：單片點數為61點，點，SMT爐後出錫爐後出錫第一節：產量為第一節：產量為2016PCS，不良點數為，不良點數為(偏移偏移2點、少錫點、少錫1點點、其它、其它5點點)8點，點，DPPM為？為？解：不良點數解：不良點數=8總點數總點數=61*2016=122976DPPM=8/122976*1000000=65DPPM2、插件制程、插件制程直通良率：英文簡稱直通良率：英文簡稱FPY公式：公式：(1-不良總數不良總數/產出量產出量)*100%直通不良率公式：直通不良率公式：不良總數不良總數/產出量產出量*100%例：例：6月月7日生產之機種：日生產之機種：ICT測試不良測試不良1PCS，空焊，空焊1PCS，產出量，產出量200PCS，直通良率為？不良率為？，直通良率為？不良率為？解：直通良率解：直通良率=(1-2/200)*100%=(1-0.01)*100%=0.99*100%=99%不良率不良率=2/200*100%=0.01*100%=1%3、組包制程、組包制程功能測試維修站功能測試維修站及時將維修時之及時將維修時之不良項目記錄於不良項目記錄於統計表中統計表中3、組包制程、組包制程