2022年CMOS图像传感器的基本原理及设计方案.docx
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1、精品学习资源CMOS 图像传感器的基本原理及设计摘 要:介绍CMOS图像传感器的基本原理、潜在优点、设计方法以及设计考虑;关键词:互补型金属氧化物半导体图像传感器;无源像素传感器;有源像素传感器1 引言20 世纪 70 岁月, CCD图像传感器和 CMOS图像传感器同时起步; CCD图像传感器由于灵敏度高、噪声低,逐步成为图像传感器的主流;但由于工艺上的缘由,敏捷元件和信号处理电路不能集成在同一芯片上,造成由 CCD 图像传感器组装的摄像机体积大、功耗大;CMOS图像传感器以其体积小、功耗低在图像传感器市场上独树一帜;但最初市场上的 CMOS 图像传感器,始终没有摆脱光照灵敏度低和图像辨论率低
2、的缺点,图像质量仍无法与CCD 图像 传 感器 相 比;假如把 CMOS图像传感器的光照灵敏度再提高 5 倍 10 倍,把噪声进一步降低, CMOS图像传感器的图像质量就可以达到或略微超过 CCD 图像传感器的水平,同时能保持体积小、重量轻、功耗低、集成度高、价位低等优点,如此, CMOS图像传感器取代 CCD图像传感器就会成为事实;由于 CMOS图像传感器的应用,新一代图像系统的开发研制得到了极大的进展,并且随着经济规模的形成,其生产成本也得到降低;现在,CMOS图像传感器的画面质量也能与CCD 图像传感器相媲美,这主要归功于图像传感器芯片设计的改进,以及亚微M 和深亚微 M 级设计增加了像
3、素内部的新功能;实际上,更精确地说, CMOS图像传感器应当是一个图像系统;一个典型的CMOS图像传感器通常包含:一个图像传感器核心(是将离散信号电平多路传输到一个单一的输出,这与 CCD 图像传感器很相像),全部的时序规律、单一时钟及芯片内的可编程功能,比如增益调剂、积分时间、窗口和模数转换器;事实上,当一位设计者购买了CMOS图像传感器后,他得到的是一个包括图像阵列规律寄存器、储备器、定时脉冲发生器和转换器在内的全部系统;与传统的CCD 图像系统相比,把整个图像系统集成在一块芯片上不仅降低了功耗 , 而 且 具 有 重 量 较 轻 , 占 用 空 间 减 少 以 及 总 体 价 格 更 低
4、 的 优 点 ;2 基本原理从某一方面来说,CMOS图像传感器在每个像素位置内都有一个放大器,这就使其能在很低的带宽情形下把离散的电荷信号包转换成电压输出,而且也仅需要在帧速率下进行重置; CMOS图像传感器的优点之一就是它具有低的带宽,并增加了信噪比;由于制造工艺的限制,早先的 CMOS图像传感器无法将放大器放在像素位置以内;这种被称为PPS的技术,欢迎下载精品学习资源噪声性能很不理想,而且仍引来对CMOS图像传感器的种种干扰;然而今日,随着制作工艺的提高,使在像素内部增加复杂功能的想法成为可能;现在, 在像素位置以内已经能增加诸如电子开关、互阻抗放大器和用来降低固定图形噪声的相关双采样保持
5、电路以及排除噪声等多种附加功能;实际上,在Conexant公司(前 Rockwell 半导体公司)的一台先进的CMOS摄像机所用的CMOS图传感器上,每一个像素中都设计并 使用了 6 个晶体管,测试到的读出噪声只有1 均方根电子;不过,随着像素内电路数量的不断增加,留给感光二极管的空间逐步削减,为了防止这个比例(又称占空因数或填充系数)的下降,一般都使用微透镜,这是由于每个像素位置上的微小透镜都能转变入射光线的方向,使得原先会落到连接点或晶体管上的光线重回到对光敏捷的二极管区域;由于电荷被限制在像素以内,所以CMOS图像传感器的另一个固有的优点就是它的防光晕特性;在像素位置内产生的电压先是被切
6、换到一个纵列的缓冲区内,然后再被传输到输出放大器中,因此不会发生传输过程中的电荷损耗以及随后产生的光晕现象;它的不利因素 是每个像素中放大器的阈值电压都有细小的差别,这种不均匀性就会引起固定图像噪声; 然而,随着CMOS图像传感器的结构设计和制造工艺的不断改进,这种效应已经得到显著弱化;这种多功能的集成化,使得许多以前无法应用图像技术的地方现在也变得可行了,如孩子的玩具,更加分散的保安摄像机、嵌入在显示器和膝上型运算机显示器中的摄像机、带相机的移动电路、指纹识别系统、甚至于医学图像上所使用的一次性照相机等,这些都已在某些设计者的考虑之中;3 设计考虑然而,这个行业仍有一个受到普遍关注的问题,那
7、就是测量方法,具体指标、阵列大小和特性等方面仍缺乏统一的标准;每一位工程师在比较各种资料一览表时,可能会发觉在一张表上列出的是关于读出噪声或信噪比的资料,而在另一张表上可能只是强调关于动态范畴或最大势阱容量的资料;因此,这就要求设计者们能够判定哪一个参数对他们最重要 , 并 且 尽 可 能 充 分 利 用 多 产 品 的CMOS 图 像 传 感 器 家 族 ;一些关键的性能参数是任何一种图像传感器都需要关注的,包括信噪比、动态范畴、噪声(固定图形噪声和读出噪声)、光学尺寸以及电压的要求;应当知道并用来对比的重要参数有:最大势阱容量、各种工作状态下的读出噪声、量子效率以及暗电流,至于信噪比之类的
8、其它参数都是由那些基本量度推导出来的;对于像保安摄像机一类的低照度级的应用,读出噪声和量子效应最重要;然而对于象户外 摄 影 一 类 的 中 、 高 照 度 级 的 应 用 , 比 较 大 的 最 大 势 阱 容 量 就 显 得 更 为 重 要 ;动态范畴和信噪比是最简洁被误会和误用的参数;动态范畴是最大势阱容量与最低读出噪声的比值,它之所以引起误会,是由于读出噪声经常不是在典型的运行速度下测得的,而且暗电流散粒噪声也经常没有被运算在内;信噪比主要准备于入射光的亮度级(事实上 , 在 亮 度 很 低 的 情 况 下 , 噪 声 可 能 比 信 号 仍 要 大 ) ;所以,信噪比应当将全部的噪声
9、源都考虑在内,有些资料一览表中经常忽视散粒噪声,而它恰恰是中、高信号电平的主要噪声来源;而SNRDARK得到说明,实际上与动态范畴没有什么两样;数字信噪比或数字动态范畴是另一个简洁引起混淆的概念,它说明的只是模欢迎下载精品学习资源拟/ 数字( A/D)转换器的一个特性;虽然这可能很重要,但它并不能精确地描述图像的质量;同时我们也应清楚地熟识到,当图像传感器具有多个可调模拟增益设置时,模拟/ 数字转换器的辨论率不会对图像传感器的动态范畴产生限制;光学尺寸的概念的模糊,是由于传统观念而致;使用光导摄像管只能在部分范畴内产生有用的图像;它的运算包括度量单位的转换和向上舍入的方法;接受向上舍入的方法,
10、先以毫 M为单位测量图像传感器的对角线除以16,就能得到以英寸为单位的光学尺寸;例如0.97cm 的尺寸是 1.27cm 而不是 0.85cm ;假如你选择了一个光学尺寸为0.85cm 的图像传感器,很可能显现图像的四周角落上的映影(阴影)现象;这是由于有些资料一览表欺诈性地使用了向下舍入的方法;例如,将0.97cm 的尺寸称为 0.85cm, 理由很简洁: 0.85cm 光学尺寸的图像传感器的价格要比1.27cm 光学尺寸的图像传感器的价格低得多,但是这对系统工作性能产生不利影响;所以,设计者应当通过运算试用各种不同的图像传感器来得到想要的性能;CMOS图像传感器的一个很大的优点就是它只要求
11、一个单电压来驱动整个装置;不过设计者仍应谨慎地布置电路板驱动芯片;依据实际要求,数字电压和模拟电压之间尽可能地分 离开以防止串扰;因此良好的电路板设计,接地和屏蔽就显得特殊重要;尽管这种图像传感器是一个CMOS装置并具有标准的输入 / 输出( I/O )电压,但它实际的输入信号相当小,而且对噪声也很敏感;到目前为止,已设计出高集成度单芯片CMOS图像传感器;设计者力求使有关图像的应用更简洁实现多功能,包括自动增益把握( AGC)、自动曝光把握( AEC)、自动平稳( AMB)、伽玛样正、背景补偿和自动黑电平校正;全部的彩色矩阵处理功能都集成在芯片中; CMOS图像传感器答应片上的寄存器通过I2
12、C 总线对摄像机编程,具有动态范畴宽、抗浮散且几乎没有拖影的优点;4CMOS-APS 的 潜 在 优 点 和 设 计 方 法4 1CMOS-APS 胜 过 CCD 图 像 传 感 器 的 潜 在 优 点CMOS APS 胜 过 CCD 图 像 传 感 器 的 潜 在 优 点 包 括 1 5 : 1)排除了电荷反复转移的麻烦,免除了在辐射条件下电荷转移效率( CTE)的退化和下降;2) 工 作 电 流 很 小 , 可 以 防 止 单 一 振 动 和 信 号 闭 锁 ;3)在集成电路芯片中可进行信号处理,因此可供应芯迹线,模/ 数转换的自调剂,也能提供由电压漂移引起的辐射调节;与 硅 探 测 器
13、有 关 , 需 要 解 决 的 难 题 和 争 论 点 包 括 1 2:1 ) 在 体 材 料 界 面 由 于 辐 射 损 伤 而 产 生 的 暗 电 流 的 增 加 问 题 ;2)包括动态范围损失的阈值漂移问题;3 ) 在 模 / 数 转 换 电 路 中 , 定 时 和 控 制 中 的 信 号 闭 锁 和 单 一 扰 动 问 题 ;4 2CMOS-APS的设计方法CMOS-APS的设计方法包括:1)为了 降低暗电流而 进行研制创新的 像素结构 ;2)使用耐辐射的铸造方法,再研制和开发中等尺寸“dumb”(哑)成像仪(通过反复地欢迎下载精品学习资源开发正确像素结构);3)研制在芯片上进行信号处
14、理的器件,以适应自动调剂本身电压Vt的漂移和动态范畴的损失;4 ) 研 制 和 开 发 耐 辐 射 ( 单 一 扰 动 环 境 ) 的 定 时 和 控 制 装 置 ;5)研制和加固耐辐射的模/数转换器;6)查找低温工作条件,以便在承担最大幅射强度时,找到并证明正确的工作温度;7 ) 研 制 和 开 发 大 尺 寸 、 全 数 字 化 、 耐 辐 射 的 CMOS-APS, 以 便 生 产 ;8)测试、评价和鉴定该器件的性能;9 ) 引 入 当 代 最 高 水 平 的 组 合 式 光 学 通 信 /成 像 系 统 测 试 台 ;5像素电路结构设计目前,已设计的CMOS图像传感器像素结构有:间隙积
15、存二极管(HAD)型结构、光电二极管型无源像素结构、光电二极管型有源像素结构、对数变换积分电路型结构、掩埋电荷积存和敏捷晶体管阵列(BCAST)型结构、低压驱动掩埋光电二极管(LV BPD)型结构、深 P 阱光电二极管型结构、针型光电二极管(PPD)结构和光栅型有源像素结构等;5 1CMOSPPS像素结构设计光电二极管型 CMOS无源像素传感器(CMOS-PP)S 的结构自从 1967 年 Weckler 首次提出以来实质上始终没有变化,其结构如图1 所示;它由一个反向偏置的光敏二极管和一个开关管构成;当开关管开启时,光敏二极管与垂直的列线连通;位于列线末端的电荷积分放大器读出电路保持列线电压
16、为一常数,并减小KTC 噪声;当光敏二极管存贮的信号电荷被读出时,其电压被复位到列线电压水平,与此同时,与光信号成正比的电荷由电荷积分放大器转换为电荷输出;单管的 PD-CMOS-PPS答应在给定的像素尺寸下有最高的设计填充系数,或者在给定的设计填充系数下,可以设计出最小的像素尺寸;另外一个开关管也可以接受,以实现二维的 XY 寻址;由于填充系数高且没有许多CCD中多晶硅叠层, CMOS-PPS像素结构的量子效率较高;但是,由于传输线电容较大,CMO-SPPS 读出噪声较高,典型值为250 个均方根电子,这是致命的弱点;5 2CMOS-APS的像素结构设计欢迎下载精品学习资源几乎在 CMOS-
17、PPS像素结构制造的同时,科学家很快熟识到在像素内引入缓冲器或放大器可以改善像素的性能;虽然CMOS图像传感器的成像装置将光子转换为电子的方法与CCD相同,但它不是时钟驱动,而是由晶体三极管作为电荷感应放大器;在一些CMOS图像传感器中,每组像素的顶端有一个放大器,每个像素只有一个作为阈值电流值开关的三极管;开关像素中的电荷为放大器充电,其过程类似DRAM中的读取电路,这种传感器被称为PPS;PPS 的结构很简洁,它具有高填充系数;各像元没有许多的多晶硅层掩盖,其量子效率很高 , 但 是PPS的 读 取 干 扰 很 高 , 只 适 应 于 小 阵 列 传 感 器 ;在 CMOS-APS中每一像
18、素内都有自己的放大器; CMOS-APS的填充系数比 CMOS-PPS的小,集成在表面的放大晶体管削减了像素元件的有效表面积,降低了“封装密度”,使40 50的入射光被反射;这种传感器的另一个问题是,如何使传感器的多通道放大器之间有较好的匹配,这可以通过降低残余水平的固定图形噪声较好地实现;由于 CMOS-APS像素内的每个放大器仅在此读出期间被激发,所以 CMOS-APS的功耗比 CCD图像传感器的仍小;与CMOS-PPS相比, CMOS APS的填充系数较小,其设计填充系数典型值为20 30,接近内线转换CCD的值;5 2 1光 敏二极 管CMOS-APS( PD-CMOS-APS) 的
19、像 素结 构1968 年, Noble 描述了 PD-CMOS-AP;S 后来,这种像素结构有所改进;PD-CMOS-APS的像素结构如图 2 所示;高性能 CMOSAPS 由美国哥伦比亚高校电子工程系和喷气推动试验室(JPL)在1994 年首次研制成功,像素数为128 128,像素尺寸为40 m40 m,管芯尺寸为 6.8mm 6.8mm,接受 1.2 mCMOS阱n 工艺试制,动态范畴为72dB, 固定图形噪声小于0.15 饱和信号水平;固定图形噪声小于0.15 饱和信号水平; 1997 年日本东芝公司研制成功了640欢迎下载精品学习资源 480 像素光敏二极管型CMOSAPS,其像素尺寸
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- 2022 CMOS 图像传感器 基本原理 设计方案
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