基于轮廓矩的热敏电阻封装质量检测研究-刘碧俊.pdf
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1、基于轮廓矩的热敏电阻封装质量检测研究 45基于轮廓矩的热敏电阻封装质量检测研究刘碧俊(江苏食品药品职业技术学院机电工程学院,江苏淮安223003)摘要:针对热敏电阻封装质量检测问题,设计了基于阈值分割及轮廓矩识别的自动检测方法。该方法首先对封装热敏电阻进行灰度化处理,再利用最大类间方差法对图像进行阈值分割,进一步通过形态学运算得到不合噪声的目标二值图像,并采用Canny算子提取到封装热敏电阻的连续轮廓,然后根据轮廓矩理论提取了封装热敏电阻边缘图像的前三阶轮廓矩,最后得到与模板的欧氏距离,通过阈值比对实现了封装质量识别。实验验证表明该方法对几种封装不合格产品的固定样本检测准确率都在90以上,对随
2、机样本的检测准确率接近人工检测的准确率,且单根检测耗时220 ms远远小于单根平均5 S的人工检测耗时。关键词:热敏电阻;封装质量;机器视觉;阈值分割;轮廓矩中图分类号:THl61 文献标识码:A 文章编号:10008829(2017)1l一004505Research on Package Quality Detection of Thermistor Based onContour MomentLIU Bi_jun(School of Mechanical and Electrical Engineering,Jiangsu FoodPharmaceutical Science Cofie
3、ge,Huaia11 223003,China)Abstract:An automatic detection method based on threshold segmentation and contour moment recognition isdesigned to solve the problem of thermistor packaging quality identificationFirst,the package thermistor isconverted to gray scale and the threshold is segmented by the Ots
4、u method,after that,the target binary imagewith noise is obtained by morphological operation and continuous contour of the package thermistor is extractedby means of the Canny operatorThen the first three-order contour moments of the edge image of the packagethermistor are calculated according to th
5、e contour moment theoryPackage quality identification of thermistor isfinally realized through the calculation of Euclidean distance from the template and threshold determinationItis shown that fixed sample detection accuracy is more than 90for several packages of substandard products,the detection
6、accuracy of random samples is close to the accuracy of manual detection,and single detectiontime takes 220 ms,which is far less than the single average of 5 S of manual detection timeKey words:thermistor;package quality;machine vision;threshold segmentation;contour moment热敏电阻阻值对温度变化十分敏感,是一种传感器电阻。热敏电
7、阻属于可变电阻的一类,广泛应用于各种电子配件中u J。热敏电阻这类高精度、高灵敏度的电子元器件在应用中容易受到外界因素的影响,为保证其正常工作,一般都需要对其进行封装。从热敏电阻的整个制造流程来看,封装费用是仅次于元器件本身的重要开支,封装材料费占到全部材料费的20收稿日期:20170517基金项目:淮安市科技支撑计划(工业)项目(HAG2013029)作者简介:刘碧俊(1965一),男,江苏淮安人,硕士,副教授,高级工程师,主要研究方向为机械工程及CADCAM。一252|。环氧树脂是使用最为广泛的热敏电阻封装材料。目前国内热敏电阻生产企业大都采用手工侵入式封装的方法,即将热敏电阻批量装夹后浸
8、入热融的环氧树脂中,做一定的往复运动后取出自然风干H J。然而由于热融环氧树脂较为黏稠,这种封装方法容易造成热敏电阻发生移位继而产生碰撞和粘连,进一步造成热敏电阻封装废品率较高,且封装后的质检工作量大,人工成本居高不下,实现热敏电阻封装质量的自动检测迫在眉睫。随着机器视觉软、硬件技术的高速发展,其在电子元器件质量检测领域得到了越来越广泛的应用。李本万方数据46 测控技术)2017年第36卷第11期红等H1采用数学形态学及迭代阈值二值分割算法提取了IC引脚图像,通过检测引脚中心点的灰度跃变识别引脚缺陷。蒋建东等o通过模板匹配提取了IC引脚区域图像并进一步通过连通区域的面积计算实现了对轻触开关引脚
9、缺陷的识别。殷苏民1对获得的电池封装图像进行了滤波及二值化处理后,提取了联通区域边缘并对边缘形状匹配进行了研究实现了封装质量检测。本文针对封装热敏电阻结构特点,在获取封装热敏电阻图像的基础上,应用阈值分割、形态学运算及边缘检测等图像处理手段,结合轮廓矩作为特征识别方法,为热敏电阻封装质量的自动检测提供了有效的方法。1 检测原理由于热敏电阻尺寸较小,本检测首先采用2倍物镜获取热敏电阻的放大彩色图像,进而对其进行灰度化转换,然后采用最大类间方差(Otsu)法对图像进行阈值分割,得到含有少量噪声的热敏电阻二值图像,再通过形态学闭运算与开运算去除图像噪声并利用Canny算子检测得到目标连续轮廓,最后计
10、算轮廓矩并与模板进行比对,最终得到封装质量检测结果,具体算法流程如图1所示。图1 封装质量检测流程图2阈值分割与轮廓提取热敏电阻在封装的过程中由于热融环氧树脂的黏滞性,所以容易产生封装过厚、封装过薄以及封装折断三种封装不合格的情况,具体如图2所示。为后续的检测需要,首先需要将封装热敏电阻与背景进行分离。对于封装热敏电阻这种背景单一且目标较少的图像来说,阈值分割就能满足对图像的分离要求,而阈值分割法实现准确分离的关键是对阈值的选择一“J。为实现封装热敏电阻图像中目标的自动分一 一 ,(a)封装合格 (b)封装过厚图像 图像(C)封装过薄 (d)封装折断图像 图像劁2热敢电阻1、川封装状凡,瑟H离
11、,要求能够实现阈值自适应设定。在自适应阈值分割领域,日本学者Otsu于1978年提出的最大类间方差法(又称Otsu法),由于其良好的分割效果,一直应用较为广泛一。11|。Otsu法首先将图像像元分为两组,然后通过计算两组像元的类内方差得到最大值来确定分割的最佳阈值,具体原理如下1 2。:设图像八i,)的灰度级为,大小为x像素X Y像素,某点(i,J)的灰度值为k,八i,J)上的灰度取值范围为0,1,L一1,则某一点处灰度值为k的概率pi可以表示为Po-面k (1)Ll 一l其中,PF=1。设待处理图像像素以灰度值r为阈值分成两类,一类像素灰度值取值范围为0,1,T一1,另一类像素灰度值取值范围
12、为丁,丁+1,L一1。将这两类像素的灰度均值分别记为p。(r)和1t。(T),出现的概率分别记为。(r)和。(丁),则too(r)=Pi (2)。(丁)=P。=1一。(71) (3)go(r)=kPitO。(7) (4)肛。(r)=kPitO(r) (5)设整幅图像的灰度总均值为肛:肛=o(r)go(71)+l(T)xl(71) (6)Otsu法图像最佳阈值g为92。嬲一。tOo(r)Uo(7)一肛+-(71)ut(r)一p(7)为了验证Otsu法阈值分割的有效性,在MatlabR2013b仿真环境下,对578像素X 194像素大小的封装热敏电阻2倍放大图像进行Otsu法阈值分割,并将分割结果
13、与传统的阈值分割进行对比,两种方法的分;_了万方数据基于轮廓矩的热敏电阻封装质量检测研究 47割结果如图3所示。(a)传统方法阂值分割 (b)Otsu法|阂值分割图3封装热敏电阻阈值分割效果图从结果可以看出,传统的阈值分割目标区域不完整性较为明显,且尾部金属片伪目标残留较多,未能实现有效分离,不利于进一步进行处理。而Otsu法能够有效抑制光反射噪声及尾部伪目标,得到的分割结果能够满足进一步处理需要。虽然Otsu法较其他方式阈值分割效果较好,但仍存在少量噪声干扰,影响下一步的轮廓提取,可进一步采用形态学运算的方法过滤杂质干扰。形态学处理采用33单位矩阵的结构分子及腐蚀膨胀运算来过滤噪声,其过滤效
14、果虽然较其他滤波方式有一定优势,但其结构分子并不具有完全的普适性3|。针对此问题,本文提出一种新的结构分子,再通过高帽运算消除干扰lI 4|。具体步骤如下:首先定义腐蚀与膨胀运算:(徊剐(算,),)=,唧n瞰戈+k,Y+f)一日(k,f) (8)L EJ ED(厂曰)(z,y)=,婵聱n以戈一k,Yz)+口(后,f) (9)tj E D式中以z,Y)为定义在二维离散空间z2(表示整数集合)上的数字图像,结构元B(k,Z)c矛。再定义开运算与闭运算:f。B=(徊B)o B (10)fB=(,oB)0口 (11)最后定义高帽运算:h=f-(内8) (12)式中。厂为原图像,h为高帽运算后图像。封装
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