硬件测试笔试题V1-(共4页).doc


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
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1、精选优质文档-倾情为你奉上硬件测试工程师笔试题(本试卷满分100分,请将答案写在答题卡上与试卷一并上交)姓名: 日期: 分数: 一 判断题:本题共10小题,每题2分,共20分。1. 发现错误多的模块,残留在模块中的错误也多。( )2. 测试人员在测试过程中发现一处问题,如果问题影响不大,而自己又可以修改,应立即将此问题正确修改,以加快、提高开发的进程。( )3. 功能测试是系统测试的主要内容,检查系统的功能、性能是否与需求规格说明相同。( )4. 编写测试计划的目的是:使测试工作顺利进行,使项目参与人员沟通更舒畅,使测试工作更加系统化。( )5. 硬件测试目的是杜绝产品硬件上无任何问题。( )
2、6. 验收测试是由最终用户来实施的。( )7. 钽电容最适合用来滤除高频噪音。( )8. 负载测试是验证要检验的系统的能力最高能达到什么程度。( )9. 无线电监测中,常用一些单位有dBuv、dBm等,dBm是功率单位。( )10. 10W功率可由40dBm表示。( )二 选择题(不定向选择):本题共10小题,每题4分,共40分。1. 常见的信号完整性问题有:( )A,过冲 B,反射 C,震荡 D,环绕2. 下列属于产品可靠性指标的是:( )A,失效率 B,平均寿命 C,直通率 D,可靠度 E,维修度3. SRAM中文名称是:( )A,动态随机存储器 B,动态 C,静态 D,静态随机存储器4.
3、 以下几种可以做为硬件测试标准的输入:( )A,用户需求 B,国标 C,产品规格 D,硬件测试工程师经验5. 稳压管通常工作于( ),来稳定直流输出电压A,截止区 B,正向导通区 C,反向击穿区6. 已知如图所示放大电路中的RB=100k,RC=1.5k,Vcc=12V ,晶体管的=80, UBE=0.6V。则可以判定,该晶体管处于( )A,放大状态 B,饱和状态 C,截止状态7. 场效应管是一种( )控制型的电子器件A,电流 B,光 C,电压 D,功率8. 数字示波器双踪显示时,触发源选择短周期信号、或是幅度稍小的信号。( )A,对 B,错9. 半导体三极管的放大条件是( )。A.发射结正偏
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- 硬件 测试 笔试 V1

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