统计过程控制(SPC)考试试题(共3页).doc

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1、精选优质文档-倾情为你奉上统计过程控制（SPC）课程培训测试题部门: 姓名: 分数: 一、名词解释： 1、变差：过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因。3.1 固有变差：仅由普通原因造成的过程变差，由 = R/d2 来估计。3.2 总变差：由普通原因和特殊原因共同造成的变差，用 S 来估计。2、特殊特性：可能影响安全性或法规的符合性、配合、功能、性能或产品后续生产过程的产品特性或制造过程参数。3、标准差：过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值(例如：子组均值)的分布宽度的量度，用希腊字母或字母s(用于样本标准差)表示。 4、控制限：控制图上的一条线(或几条线

2、)，作为制定一个过程是否稳定的基础。如有超出了控制极限变差存在，则证明过程受特殊因素的影响。控制限是通过过程数据计算出来的，不要与工程的技术规范相混淆。5、过程能力：一个稳定过程的固有变差(6：R/d2 )的总范围。6、Cpk（稳定过程的能力指数）：为一稳定过程【某一天、某一班次、某一批、某一机台其组內的变差( R-bar/d2 or S-bar / C4 )】下的“能力指数”，计算时须同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度。即：通常定义为CPU或CPL中的最小值。7、Ppk（性能指数，即初期过程的性能指数）：为试生产阶段一项类似于Cpk的能力指数，某一产品长期监控下的“能力指数”；

3、但本项指数的计算，是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础。即：通常定义为PPU或PPL中的最小值。8、PPM（质量水准，即每百万零件不合格数）：指一种根据实际的有缺陷材料来反映过程能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正措施。9、过程（Process）：一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动。过程是向过程的顾客（内部的和外部的）提供产品或服务的增值活动链。注：A）一个过程的输入通常是其它过程的输出。B）组织为了增值通常对过程进行策划并使其在受控条件下运行。C）过程的资源通常包括：人员、资金、设施、设备、材料、技术和方法。10、第类错误：拒绝一个真实的假设。例如：采取了一个适用

4、于特殊原因的措施而实际上过程还没有发生变化；即过度控制。二、是非题（正确以“”表示，错误以“”表示）：题 目判断1、所有的特殊特性均应使用统计过程控制。2、特殊特性的选择应由企业按产品/过程中特性的重要程度来制定，并没有绝对的正确与否。3、在绘制控制图时，不管采取何种方法，均应注意控制图应能显示过程受控，否则不能计算过程能力。4、P图控制法适用于对所有的计数型数据做统计过程控制。5、1924年，美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart)博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”（亦称为：Shewhart控制图或3控制图。即：一种以实际产品质量特性与依过去经验

5、所研判的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形）。通过对过程变差进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。6、因为X(bar)-R图最为精确和敏感，较其它方法优势更强,因此大多数企业都选择使用该方法。7、特殊原因都是恶性的，都应该进行剔除。8、当过程能力较高时，为降低成本，采取方法使之降低，这与持续改进相矛盾，不可取。9、当过程能力不足时，为提高过程能力，应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差。10、Ppk用于批量生产时对过程能力分析，Cpk用于批产前对过程能力的分析。三、简答题： 1、请写出控制图中常见的八种过程不受控的表现情况？答：控制图中常见的八种过程不受控的表现情况为

6、：、不能有点子超出上、下控制限（即：检定规则1: 1界外 有1点在A区以外）；、连续3点中不能有2点落在A区或A区以外之区域（即：检定规则2: 2/3A 连续3点中有2点在A区或A区以外）；、连续5点中不能有4点落在B区或B区以外之区域（即：检定规则3: 4/5B 连续5点中有4点在B区或B区以外）；、不能有连续9点（或更多点）落在控制中心线的同一侧（即：检定规则4: 9单侧 连续9点在控制中心的同一侧）；、不能有连续7点（或更多点）持续上升或下降（即：检定规则5: 7连串 连续7点（或更多点）持续上升或下降）；、不能有连续14点交互着一升一降（即：检定规则6: 14升降 连续14点交互着一升

7、一降）；、不能有连续8点在中心线的两侧,但C区并无点子（即：检定规则7: 8缺C 连续8点在中心线的两侧,但C区并无点子）。、不能有连续15点在中心线上下两侧的C区（即：检定规则8: 15C 连续15点在中心线上下两侧的C区）。2、请写出常用的五种计量型控制图的简称和四种计数型控制图的简称？答：常用的五种计量型控制图的简称为：、平均数与极差控制图 ( X - R Chart)；、平均数与标准差控制图 ( X - s Chart)；、中位数与极差控制图 ( Chart)；、个别值与移动极差控制图 ( X - Rm chart)；、最大值与最小值极差控制图 ( L - S chart)。常用的四种计数型控制图的简称为：、不良率控制图( P chart )；、不良数控制图( Pn chart,又称np chart或d chart )；、缺点数控制图( C chart )；、单位缺点数控制图( U chart )。专心-专注-专业