椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率(共5页).doc
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1、精选优质文档-倾情为你奉上椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率 5-姓名:陈正 学号:PB 系别:6系实验目的: 本实验的目的有以下两个: 1.了解椭偏仪测量薄膜参数的原理. 2.初步掌握反射型椭偏仪的使用方法.实验原理:椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态的变化量与薄膜的厚度和折射率有关,因此只要测量出偏振状态的变化量,就能利用计算机程序多次逼近定出膜厚和折射率。参数描述椭圆偏振光的P波和S波间的相位差经薄膜系统关系后发生的变化,描述椭圆偏振光相对振幅的衰减。有超越方程:为简化方程,将线偏光通过方位角的波片后,就以等幅椭圆偏振光出射,;改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射,公式化简为
2、: 实验仪器:分光计、He-Ne激光器及电源 、起偏器 、检偏器 、波片,待测样品、黑色反光镜、放大镜等;实验内容: 1. 按调分光计的方法调整好主机. 2. 水平度盘的调整. 3. 光路调整. 4. 检偏器读数头位置的调整和固定. 5. 起偏器读数头位置的调整与固定. 6. 波片零位的调整. 7. 将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定的入射角70即望远镜转过40,并使反射光在白屏上形成一亮点. 8. 为了尽量减小系统误差,采用四点测量. 9. 将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”,经过范围确定后,可以利用逐次逼近法,求出与之对应的d和n ;由于仪器本身的精度的限制,可将d的误差控制在1
3、埃左右,n的误差控制在0.01左右.数据处理:原始数据列表:波片放置角度n1234A()101.576.4106.378.5P()153.063.8119.928.0由分析知A,P应满足以下条件: 所以测量数据基本满足以上的条件。将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序”,利用逐次逼近法,求出与之对应的厚度d和折射率n分别为 d=419.4nm; n=1.94 样品标注的参数为:d=400.0nm; n=1.98 所以测量值与理论值之间存在一定的误差误差分析: 实验测得的折射率理论值偏小,其可能原因有:1. 待测介质薄膜表面有手印等杂质,影响了其折射率。2. 在开始的光路调整时,没有使二者严格共轴
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