传感器原理-7精品课件.ppt
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1、1第四章磁敏传感器2第四章 磁敏传感器体型磁敏传感器:霍尔传感器结型磁敏传感器:磁敏二极管、磁敏三极管磁电传感器检测磁场强度:10-14T25T磁学量信号 电信号3霍尔霍尔元件的特点:元件的特点:v 霍尔霍尔元件优点元件优点: : 信噪比大信噪比大 频率范围宽频率范围宽 无触点无触点 易微型化和集成化易微型化和集成化 v 缺点缺点: : 转换效率低转换效率低 受磁场影响大受磁场影响大 4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件4原理:原理:金属:自由电子;半导体:载流子金属:自由电子;半导体:载流子洛仑兹力洛仑兹力F FL L、电场力、电场力F FL L F FL LF FE E霍尔电场霍尔电场E EH
2、 H霍尔电势霍尔电势U UH H一、霍尔效应一、霍尔效应 金属或半导体薄片、磁场、电流金属或半导体薄片、磁场、电流 产生电场产生电场霍尔效应示意图霍尔效应示意图4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件4.1.1 4.1.1 霍尔元件霍尔元件5BREHHIR RH H为霍尔系数;为霍尔系数; I I为为外加电流;外加电流; B B为为磁场强度磁场强度霍尔电场霍尔电场EH HBKdBRUHHHIIK KH H为灵敏度系数;为灵敏度系数; I I为为外加电流;外加电流; B B为为磁场强度磁场强度霍尔电势霍尔电势UH H4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件bUEHH6电场电场HE作用于电子的力:作用于电子的力:
3、 bUeEeEqFHHHE/负号表示电子的受力方向与电场方向相反负号表示电子的受力方向与电场方向相反 电场力电场力EF若电子都以均一速度若电子都以均一速度- ,那么在,那么在作用下所受作用下所受力力: vBevBBveFL)(洛仑兹力洛仑兹力LF4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件7磁场与薄片磁场与薄片法线法线有一夹角有一夹角(0 0至至9090)二二、影响霍尔效应的因素:影响霍尔效应的因素: ( (1 1) ) 磁场与元件法线的夹角磁场与元件法线的夹角 cosIBKUHH(2) (2) 元件的几何形状对元件的几何形状对U UH H的影响的影响f f( (l/bl/b) )为形状效应因子为形状效应
4、因子)/(blIBfKUHHf f( (l l/ /b b) )l l/ /b b1.01.04.04.03.03.02.02.00 00.50.51.01.04.1 4.1 霍尔元件霍尔元件8(3) (3) 控制电极对控制电极对U UH H的短路作用的短路作用 控制电极的控制电极的接触面积接触面积 对霍尔电势的对霍尔电势的短路短路作用作用 离控制电极越近离控制电极越近U UH H越小,在越小,在l l/2/2处处U UH H有最大值。有最大值。 U UH H随随x x的变化曲线的变化曲线 0 0. .5 51 1. .0 0 x x/ /l lU UH H( (x x) )/ /m mV V
5、b b/ /l l= =4 4b b/ /l l= =2 2b b/ /l l= =1 12 20 00 05 50 01 10 00 01 15 50 00 04.1 4.1 霍尔元件霍尔元件测量磁场测量磁场检测电流检测电流测微小位移、压力、机械振动:测微小位移、压力、机械振动:线性梯度磁场线性梯度磁场四四、霍尔效应的用途霍尔效应的用途 BKUHHI9abcdabcdcdab绝缘基片霍尔片(a a)体型)体型(b b)改进型)改进型(c c)薄膜型)薄膜型 敏感结构:敏感结构:霍尔片霍尔片图图a :单晶薄片单晶薄片图图b:克服克服a、b电极短路作用电极短路作用图图c:元件厚度越小,元件厚度越
6、小,KH越大,薄膜型器件越大,薄膜型器件4.1.2 4.1.2 霍尔元件的结构与特性霍尔元件的结构与特性 4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件10工艺:工艺: 外延法外延法制备单晶硅薄膜霍尔元件制备单晶硅薄膜霍尔元件 InAsInAs薄膜薄膜型高灵敏器件型高灵敏器件外形结构外形结构-霍尔片、四根引线、壳体霍尔片、四根引线、壳体(c)符号(c)符号UHRL负负载载R RE E(d)基本电路(d)基本电路(b)结构(b)结构(a)外形(a)外形a aa ab bb bc cc cd dd da ab bc cd da a、b b线线为控制电流端引线为控制电流端引线,常为,常为红色导线红色导线; c c
7、、d d为为霍尔输出引线霍尔输出引线,常为,常为绿色导线:绿色导线:壳体壳体是非导磁金属、陶瓷或环氧树脂封装。是非导磁金属、陶瓷或环氧树脂封装。4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件11主要技术参数主要技术参数 1. 1. 输入电阻输入电阻R Rinin: 控制电流电极端子之间的电阻值。控制电流电极端子之间的电阻值。 2. 2. 输出电阻输出电阻R Routout: 霍尔电压输出电极端子之间的电阻值。霍尔电压输出电极端子之间的电阻值。 3. 3. 额定控制电流额定控制电流I IC C:B B=0=0、 2525、TT =10 =10 最大允许控制电流最大允许控制电流I Icmcm:最高允许使用温度(
8、:最高允许使用温度(T Tj j)/2TdbIscmb b、d d元件尺寸元件尺寸,电阻率,电阻率, s s散热系数散热系数, , T T= =T Tj j- -T T室温室温4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件124. 4. 乘积灵敏度乘积灵敏度K KH H: 在单位控制电流在单位控制电流I IC C、单位磁感应强度单位磁感应强度B B作用下,作用下, 器件输出端器件输出端开路开路时的霍尔电压时的霍尔电压(单位为单位为V/ATV/AT)。ddRKHHIBKUHH4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件5. 5. 磁灵敏度磁灵敏度S SB B : 在额定控制电流在额定控制电流I IC C和单位磁感应强度和
9、单位磁感应强度B B作用下,霍尔器件作用下,霍尔器件 输出端开路的霍尔电压输出端开路的霍尔电压V VH H。 BUSHB/单位为单位为V/ TV/ T13 7. 7. 霍尔电压温度系数霍尔电压温度系数: 温度每变化温度每变化11时时U UH H的相对变化率的相对变化率(单位是单位是%/%/)。 6. 6. 不等位电势不等位电势U UM M: B B=0=0 材料厚度不均、输出电极焊接不良材料厚度不均、输出电极焊接不良 两个两个输出电极不在同一等位面输出电极不在同一等位面。U UM MR RI Ic c m mE E4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件144.1.4 4.1.4 霍尔元件应用霍尔元件
10、应用 一、位移测量一、位移测量 响应快,无接触测量,一般测量响应快,无接触测量,一般测量微微小位移。小位移。N NS SN NS SI IB BX X0 0( (a a) ) 传传感感器器磁磁路路结结构构示示意意图图( (b b) ) 磁磁场场变变化化X X磁场梯度磁场梯度dB/dx为常数,即磁场随为常数,即磁场随x线性变化线性变化4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件15霍尔元件沿霍尔元件沿x x方向移动时:方向移动时:KdxdBIKdxdUHHK K为位移传感器为位移传感器输出灵敏度输出灵敏度 磁场梯度越大磁场梯度越大,灵敏度越高;灵敏度越高;磁场梯度越均匀,输出线性度越好。磁场梯度越均匀,输出
11、线性度越好。KXUH4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件16二、二、转速测量转速测量永磁体固定在被测轴上,元件置于磁铁气隙中。永磁体固定在被测轴上,元件置于磁铁气隙中。轴转动时,磁场变化,霍尔元件输出轴转动时,磁场变化,霍尔元件输出U UH H 变化。变化。NS霍尔元件0UH=t(度)2H霍尔元件SN0VH/mVt/弧度H两种测量转速示意图两种测量转速示意图4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件17三三、功率测量、功率测量 UkB112LHHHI BRURK K IUKPddK K1 1、K K2 2均为常数,均为常数,K=RK=RH HK K1 1K K2 2/d/d适用于直流大功率的测量适用于直流大
12、功率的测量。UBRRL霍尔元件IUH外加磁场外加磁场B正比于被测电压正比于被测电压U:UH正比于正比于被测功率被测功率PUIP 4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件18四四、在无损探伤中的应用、在无损探伤中的应用 原理:原理: 有缺陷时,磁力线有有缺陷时,磁力线有部分露出部分露出表面;表面; 用霍尔元件检测用霍尔元件检测泄露磁感应强度泄露磁感应强度B B的变化;的变化;组成:组成: 磁场激励源、探伤元件、可调整式探头等组成。磁场激励源、探伤元件、可调整式探头等组成。 SNSN无缺陷磁料中磁力线的分布无缺陷磁料中磁力线的分布 有缺陷磁料中磁力线的分布有缺陷磁料中磁力线的分布 4.1 4.1 霍尔元件
13、霍尔元件191. 1. 霍尔计数装置霍尔计数装置 金属钢球计数金属钢球计数被磁化的钢球被磁化的钢球经过经过霍尔开关霍尔开关SL3051;每过一个钢球产生一个脉冲,可每过一个钢球产生一个脉冲,可计数和计数和显示。显示。 4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件202. 2. 霍尔汽车点火器霍尔汽车点火器传统点火传统点火器器: 触点开关可靠性差触点开关可靠性差霍尔汽车点火器:霍尔汽车点火器: 无触点无触点 磁轮鼓:磁轮鼓:交替嵌有永久磁铁交替嵌有永久磁铁 磁轮鼓转动时,磁场变化,磁轮鼓转动时,磁场变化, SL3020SL3020输出脉冲信号。输出脉冲信号。SSSSSSSSNNNNNNNN开关管E火花塞SL
14、3020磁轮鼓4.1 4.1 霍尔元件霍尔元件214.2.1 4.2.1 磁阻效应磁阻效应4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件 磁阻效应:磁阻效应: 当半导体片受到与电流垂直的当半导体片受到与电流垂直的B B时,出现时,出现电流密度下降电流密度下降,电阻率增大电阻率增大的现象的现象。 将外加磁场使电阻变化的现象称为磁阻效应。将外加磁场使电阻变化的现象称为磁阻效应。 物理磁阻效应物理磁阻效应 几何磁阻效应几何磁阻效应22 一、物理磁阻效应一、物理磁阻效应 1 1、定义、定义 部分载流子运动方向偏转,部分载流子运动方向偏转,沿着原电流方向的沿着原电流方向的电流密度减小电流密度减小、电阻电阻
15、率增大率增大的的现象。现象。 因外磁场与外电场互相垂直因外磁场与外电场互相垂直-又称为又称为横向磁阻效应横向磁阻效应。 将磁场引起的电阻值变化将磁场引起的电阻值变化称为称为-磁阻磁阻;2 2、解释、解释 载流子的漂移速度载流子的漂移速度服从服从热力学统计分布热力学统计分布规律,即载流子的速度规律,即载流子的速度不完全一致不完全一致。 当通有电流的霍尔片放在与其垂直的磁场中当通有电流的霍尔片放在与其垂直的磁场中一定时间后一定时间后,产生,产生了电场了电场E EH H。BvqqEH4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件23 速度为速度为 的载流子的载流子受到的受到的F FL L与与F FE
16、E相同相同,运动方向不发生运动方向不发生偏转偏转; 速度速度 或或 的的载流子的运动方向都会发生偏转。载流子的运动方向都会发生偏转。 因因微观散射作用微观散射作用,电子加速到一定值后又减小,再加速后电子加速到一定值后又减小,再加速后再减小再减小,结果结果呈呈圆弧变化圆弧变化。vv+-+(a) 空穴(b) 电子312Bz-+-BzxVxeEH+-+VxpEH载流子载流子偏转的偏转的示意图示意图 4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件243 3、磁阻定量描述、磁阻定量描述:000B0000000/1/1/1BBBB(1) (1) 磁场不太强,即磁场不太强,即H HB BZ Z111时时较强磁
17、场时,随着磁场增加,磁阻线性增加较强磁场时,随着磁场增加,磁阻线性增加电阻率达饱和,磁阻达到最大值。电阻率达饱和,磁阻达到最大值。264 4、电流变化、电流变化 两种载流子显示出横向磁阻效应。两种载流子显示出横向磁阻效应。 B BZ Z=0=0时时pnJJJ4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件B BZ Z00时时 电子和空穴沿电子和空穴沿y y方向电流均不为零,方向电流均不为零, 向相向相反方向偏转,但合成电流反方向偏转,但合成电流 仍沿外加电场方向,而总仍沿外加电场方向,而总的合成电流减小,相当于电导率减小,电阻率增大。的合成电流减小,相当于电导率减小,电阻率增大。 和 nJpJ J
18、JpJJn(a) Bz=0JpJJn(b) Bz0BzEy27二、几何磁阻效应二、几何磁阻效应 1 1、定义、定义 相同磁场相同磁场作用下,由于半导体片的作用下,由于半导体片的几何形状不同几何形状不同而出现电阻而出现电阻值不同变化的现象。值不同变化的现象。 J J与与E E的方向关系的方向关系 几何磁阻效应的实验结果几何磁阻效应的实验结果4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件长宽比越小,几何磁阻效应越强。长宽比越小,几何磁阻效应越强。28 2 2、解释、解释 原因是半导体片原因是半导体片内部电流分布受外磁场作用而发生变化内部电流分布受外磁场作用而发生变化。 左图左图 电流端电流端因因E
19、EH H受电极短路而减弱,电子受到受电极短路而减弱,电子受到F FL L而偏斜,则而偏斜,则电流电流方向偏斜方向偏斜; 中间部分中间部分E EH H受短路影响受短路影响小小,F FE E=F=FL L,运动方向不变化;运动方向不变化; 当片当片长度减小长度减小,不受影响的区域变小,不受影响的区域变小,E EH H受短路作用更显著,受短路作用更显著,几何磁阻越显著。几何磁阻越显著。 右图右图 可看出可看出长宽比越小长宽比越小,几何磁阻效应越强几何磁阻效应越强 。 4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件293 3、理论计算得:理论计算得: (1 1)弱磁场弱磁场时时)1)(200tggRRB
20、Bg g为弱磁场下样品的形状系数;为弱磁场下样品的形状系数;为霍尔角为霍尔角,tg,tg = E = EH H/E/E0 0图图l l/ /b b值越小,值越小,g g值越大。值越大。短而宽的半导体片的几何磁阻效应较大短而宽的半导体片的几何磁阻效应较大。 gl/b00.51.01234.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件30(2 2)中等磁场中等磁场时时)1)(00nBBtggRR 1n2;1n1;tg1; 磁阻比随磁阻比随B B的加强变化趋势均非线性增加,的加强变化趋势均非线性增加, 且且l l/ /b b大的大的g g较小,相同较小,相同B B 时,时,R RB B变化小,增加慢。变
21、化小,增加慢。(3 3)强磁场强磁场时时)(00tglbGRRBBG为强磁场下样品的形状系数为强磁场下样品的形状系数4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件31由图可知:由图可知: G G最大是最大是1 1,最小是负无限大。,最小是负无限大。 G G随随l l/ /b b增加增加与中弱磁场趋势相反与中弱磁场趋势相反,但只要形状一定,但只要形状一定,G G一定。一定。 随随B B加强而线性增加幅度更大,只是加强而线性增加幅度更大,只是相同相同BB时时l l/ /b b大的大的G G也大,磁阻增加快。也大,磁阻增加快。 24682-2-4-6l/bG0 强磁场下强磁场下 G G与与l l/ /
22、b b的的关系曲线的的关系曲线 4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件32一、长方形磁敏电阻元件一、长方形磁敏电阻元件 dbl长方形磁敏电阻外形长方形磁敏电阻外形 物理磁阻效应和几何磁阻效应物理磁阻效应和几何磁阻效应同时存在同时存在。1 1、弱场时的磁阻比、弱场时的磁阻比 )1(20BmRRsBm ms s为磁阻平方系数为磁阻平方系数4.2.2 4.2.2 磁阻元件磁阻元件 4.2 4.2 半导体磁阻器件半导体磁阻器件)0()0()(22xHsRgm为为横向横向磁阻系数,是常数;磁阻系数,是常数; g g为形状系数;为形状系数;M Ms s只随只随形状系数形状系数g g变化变化33 磁阻
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