EMC电磁兼容测试报告(共7页).doc

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1、精选优质文档-倾情为你奉上编号NO. 2812共 页检 验 记 录产 品 名 称NAME OF SAMPLE智能读卡锁商 标 型 号TRADE MARK & TYPE CHD1200M制 造 厂 商MANUFACTURER深圳市纽贝尔电子有限公司委 托 单 位CLIENT深圳市纽贝尔电子有限公司检 验 类 别TEST SORT委托检 验 项 目TEST ITEM静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度深圳电子产品质量检测中心SHENZHEN ELECTRONIC PRODUCT QUALITY TESTING CENTER专心-专注-专业深 圳 电 子 产 品 质 量 检 测

2、 中 心检 验 记 录第 2 页 共 页 样品名称智能读卡锁商 标/制造厂商深圳市纽贝尔电子有限公司型号规格CHD1200M委托单位深圳市纽贝尔电子有限公司取样方式委托人送样抽样单位/抽样母数1台抽样地点/样品数量1台生产日期-抽样日期/送检日期2008年11月14日检验日期2008年11月14日-2008年12月4日检验环境1535 4575%RH样品说明: 检测样品1台，检测编号：1#，检测前后样品外观完好，功能正常。测试时供电电压：DC 12V 检验项目:静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度检测依据:IEC 61000-4-5:2005、IEC 61000-4-2：

3、2001、IEC 61000-4-4-2004、企业要求检验概况:依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测，测试结果均符合企业要求。详见后页。检验结论: 共检3项，3项均符合企业要求检验负责人：审核：批准：职务：年 月 日年 月 日年 月 日 抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检

4、验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ， 湿度： 52 %RH， 正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），2内阻正（或负）-地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），12内阻信号线对线：

5、电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），15内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50s（短路电流波形8/20s），15内阻要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰能力。符合性能判据 A 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核

6、人：检验日期： 校核日期：抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：静电放电抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-2：2001 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度 24 ，湿度： 52 RH ，正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试

7、验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：a) 接触放电：试验电压6kV。 b) 空气放电：试验电压8kV。要求符合性能判据 B 。试验布置：严格按标准要求。试验过程：a) 对EUT可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT 0.1m处至少50次间接（接触）放电。试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。 b) 对EUT可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示

8、屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据 B 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期： 抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时

9、降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-4-2004、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ， 湿度： 52 %RH， 正常大气压。 电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在EUT供电电源端口：线对线和线对地：试验电压峰值2kV；重复频率2.5kHz，5/50ns Tr/Td脉

10、冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。要求符合性能判据B。在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：试验电压峰值2kV；重复频率5kHz，5/50ns Tr/Td脉冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：EUT的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的EUT插座端口，加峰值为2kV的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。 EUT的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kV的试验电压，试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。E

11、UT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作完全正常，表现出抗扰能力。符合性能判据 B 。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：试验仪器设备清单序号名称型号编号有效日期本次使用21静电放电测试仪PESD 1600A2009.06.1022电快速瞬变测试仪PEFT JUNIORA2009.06.1023电容耦合钳IP4AA2006.06.1025雷击测试仪TSS 500 M10A2009.11.1926浪涌脉冲发生器VCS500 M10A2009.11.1927浪涌耦合网络CNV503 S9A2009.11.19注：打“”为本次试验使用仪器、设备，所有仪器、设备均在校准有效期内。检查人：检验报告审批登记表QR-31 工作任务通知书28-4271检验报告编号产 品 名 称智能读卡锁生 产 企 业深圳市纽贝尔电子有限公司检 验 项 目静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度检验完成日期年 月 日报告编制日期年 月 日报 告 附 件 情 况1、工作任务通知书一份，1页；2、委托检验协议书一份，1页；3、检验记录一份，共 页；4、打印无差错。 编制： 年 月 日审 核 记 录审核： 年 月 日批 准 记 录批准： 年 月 日