spc品质可靠性测试标准(共18页).doc
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1、精选优质文档-倾情为你奉上品质可靠性测试标准文件编号: ZQ-011-001 版本/状态: A/01 制 定: SPC办事处 审 核: 批 准: 发行日期: 会审部门签字会审部门签字spc工程部spc总部专心-专注-专业目 录1 目的 . .22 执行原则 . .33 适用范围 . .34 主要职责 . .35 可靠性测试程序 . .35.1 环境测试 . .35.2 静电测试.35.3 结构耐久测试 . .35.4 表面装饰涂层测试 . .35.5 元器件可靠性测试. .35.6 安全器件测试. .31 目的1.1 在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,评估产品的质量和可靠性;
2、 1.2 规范可靠性试验作业方法。1.3 作为spc品质对spc产品放行的指导标准2 执行原则 Spc产品可靠性试验程序及判断标准,严格遵守此程序。 3 适用范围 适用于品质对spc产品的出货标准。 5 可靠性测试程序5.1环境测试 样机标准数量:16台试验周期: 10天 测试目的: 通过连续的施加各种测试条件,加速产品的失效,提前暴露潜在问题。 试验流程: 见下图,其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。B环境测试A产品平均失效寿命测试组合 功能外观检查25跌落试验25温度冲击 -40/80高温高湿测试6093%RH跌落试验射频测量射频测量25功能外观检查灰尘试验盐雾试验淋雨试验低
3、温参数试验-20低温存储 -30高温存储80高温高湿测试6093%RH湿热循环测试-10/93%RH A:产品平均失效寿命测试组合: 样机数量: 16台 5.1.1功能外观检查测试目的:测试预检查测试方法:OQC功能外观检验标准进行检查测试标准:符合成品检验指导书中所有的指标。5.1.2射频测量测试目的:测试预检查测试方法:使用 8960/CMU200 测试仪,参照射频测试记录表中项目列表,对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果测试标准:射频指标记录表中所有参数指标正常。 5.1.3 跌落试验 测试条件: 6cm厚水泥地板,2.4寸及以下LCD 跌落高度为1.2m;2.6-2.8寸LCD为
4、1m;3.0-3.4寸LCD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上LCD跌0.5m。测试目的:跌落冲击试验 样机数量: 16台 试验方法:将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落实验,每个面的跌落次数为1次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面);对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置,跌正面和背面(即跌8个面)。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。 检验标准:手机外观,结构和功能符合要求。每跌完一个面进行拔号,应无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏
5、度,拍照功能,SPK听筒声音应无异常。间隙张开,其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受,受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、龟裂,掉电及掉SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项,以手感拆装为准。 5.1.4温度冲击测试测试环境:低温箱:-40 ;高温箱:+80 样机数量:16台 测试目的:通过高低温冲击进行样品应力筛选 试验方法:使用高低温冲击箱,手机带电池,设置成关机状态先放置于高温箱内持续 30分钟后,在 15 秒内迅速移入低温箱并持续 30 分钟后,再 15 秒内迅速回到高温箱为一个循环,共循环 24 次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温
6、箱)中取出,恢复 2 小时 后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。试验标准:手机电性能指标满足要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氧化,麻点,脱层,缝隙断差变大(断差和间隙在0.1mm以下可接受),装饰片及镜片起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。5.1.5高温高湿参数测试 测试环境:+60,93%RH 测试目的:高温高湿应用性能测试 试验方法:将手机电池充满电,手机处于开机状态,放入温度实验箱内的架子上。持续48H,在此环境下进行电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;
7、对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准:手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形。B:环境测试 样机数量: 10台5.1.6低温参数测试 测试环境:-20 测试目的:高温/低温应用性能测试 试验方法:将手机电池充满电,手机处于开机状态,放入温度实验箱内的架子上,调节温度控制器到-20 持续4个小时,在此环境下进行电性能参数和功能检查。对于翻
8、盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准:手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音变小,功能正常,外壳无变形。 5.1.7高温/低温存储 测试环境:-40 /+80 测试目的:高温/低温应用性功能测试 试验方法:将手机处于关机状态,放入温度实验箱内的架子上。持续48个小时之后,恢复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖
9、;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准:手机电性能指标满足要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氧化,麻点,脱层,缝隙断差变大(间隙断差0.1mm可接受),装饰片及镜片无起翘不均匀。IML材料高温存储温度为60作为允收标准。5.1.8湿热循环测试测试环境:+40,93%RH ;-10测试目的:高湿低温循环应用性能测试 试验方法:温度控制器设到+40,93%RH持续1个小时之后,以1小时的速率变化到-10持续1小时后,以1小时的速度变化到+40,93%RH。循环13次。在此环境下进行电性能参数和功能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机
10、,应将一半样品滑开到上限位置。 检验标准:手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形。5.1.9灰尘测试测试环境:室温 测试目的:测试样机结构密闭性样机数量: 2台 试验方法:将手机关机后放入灰尘实验箱内。其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3,底面积不超过有效水平面积的 1/2,试验样品与试验箱内壁距离应不小于 100mm。试验箱内的气流速度应能保证
11、试验用灰尘均匀缓慢降在试验样品上 ,风速最大不超过 2m/s。持续 8 个小时之后,将手机从实验箱中取出,用布和离子风枪清洁后进行检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖; 对于滑盖手机,应将一半样品滑开到限位置。 试验标准:手机各项功能正常,所有活动元器件运转自如,每个按键按10次不能有INT,声音正常,显示区域没有明显灰尘(距离2.5cm,点0.15mm,数量3个 的灰尘数可接)。5.1.10盐雾测试 测试环境:35 5%NaCL测试目的:测试样机抗盐雾腐蚀能力样机数量: 2台 试验方法: 用氯化钠含量为51%的盐溶液,PH值为6.57.2。允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧
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- spc 品质 可靠性 测试 标准 18
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