SPC统计制程管制培训教材.pptx
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1、基礎統計基礎統計與與SPC SPC 統計制程管制統計制程管制一、統計基本概念一、統計基本概念1、特性(屬性)、孌量 物料的本身屬性,可以用某種物理特性來表示長度 高度 面積 體積 等 (此為計量值)(此為計量值)合格 不合格 通 不通 等 (此為計數值)(此為計數值)2 2、樣本、樣本研究對象研究對象 總體總體 樣本樣本 想要知道、了解想要知道、了解的一些東西(趨的一些東西(趨勢、因果等)勢、因果等)3 3、分配、分配 樣本或總體某特性測量結果之分布情況,一樣本或總體某特性測量結果之分布情況,一 舨用直方圖、散布圖、趨勢圖、等來表示。舨用直方圖、散布圖、趨勢圖、等來表示。4 4、正態分配、正態
2、分配 Normal Distribution-6 -5 -4 -3 -2 -1 01 2 3 4 5 6 一舨為鐘型、且呈中心對稱。因為數據的分布寬度不同,形狀會有集中、扁平狀。根據統計之極限定律,當樣本數趨向於無窮大時,分配一定為正態分配。5 5、平均值、平均值 一組數據經平均計算后的結果一組數據經平均計算后的結果 X =X =(X X1 1+X+X2 2+X+X2 2+X+Xn n) / n) / n6 6、極差、極差 一組數據中最大值與最小值之差一組數據中最大值與最小值之差R=Max(XR=Max(X1 1, X, X1 1,. X,. Xn n)-Min (X)-Min (X1 1,
3、X, X1 1,. X,. Xn n) ) 7 7、變異、變異 特性測量值之間不可避免的差異(變化)特性測量值之間不可避免的差異(變化) 例:例: 身高身高 體重體重 講桌之寬度講桌之寬度 高度高度 同一規格不同螺母厚度之差異等同一規格不同螺母厚度之差異等 體重螺丝螺丝外径外径8.30 8.30 8.30 8.30 8.24 8.24 8.30 8.30 8.30 8.30 8.33 8.33 8.32 8.32 8.30 8.30 8.24 8.24 8.27 8.27 8.33 8.33 8.23 8.23 8.27 8.27 8.28 8.28 8.34 8.34 8.27 8.27 8
4、.27 8.27 8.27 8.27 8.29 8.29 8.27 8.27 8.29 8.29 8.30 8.30 8.31 8.31 8.28 8.28 8.288.288278278.298.298.308.308.288.288.308.308.308.308.288.288.298.298.278.278.298.298.308.308.298.298.308.308.288.288.308.307 7、變異、變異 (續)(續) 依原因分:依原因分: A A、 普通變異普通變異 正常差異(無特殊原因影響)正常差異(無特殊原因影響) 如:同一正常生產狀態下生產之不同螺如:同一正常生產狀
5、態下生產之不同螺 母母同一條件下做成之講桌同一條件下做成之講桌 B B、特殊變異、特殊變異 由特殊原因導致之變異由特殊原因導致之變異 如:生產同一規格螺絲時,牙板孌異前如:生產同一規格螺絲時,牙板孌異前 后之螺紋外徑后之螺紋外徑生產同一螺母時,生產同一螺母時, 沖模變異前后之螺母對邊沖模變異前后之螺母對邊 螺丝外径8.30 8.30 8.30 8.30 8.33 8.33 8.32 8.32 8.30 8.30 8.33 8.33 8.36 8.36 8.36 8.36 8.35 8.35 8.37 8.37 8.23 8.23 8.27 8.27 8.28 8.28 8.34 8.34 8.
6、27 8.27 8.30 8.30 8.37 8.37 8.38 8.38 8.36 8.36 8.35 8.35 8.27 8.27 8.29 8.29 8.30 8.30 8.38 8.38 8.37 8.37 8.35 8.35 8.28 8.28 8.288.288.298.298.298.298.36 8.36 8.36 8.36 8.36 8.36 8.30 8.30 8.298.29 8.288.288.308.308.37 8.37 8.37 8.37 8.37 8.37 8.32 8.32 普通變異普通變異特殊變異8 8、制程能力指數、制程能力指數 用用CpkCpk表示。表示
7、。 表示制程能力的大小表示制程能力的大小 Cpk1.33 Cpk1.33 制程能力偏低,需立即改善制程能力偏低,需立即改善 1.33 = Cpk1.67 1.33 = Cpk1.67 制程能力可接受制程能力可接受 1.67 = Cpk 1.67 =1.33 Cpk =1.33 過程能力計算:過程能力計算: Cpk= Min(Us-X),(X-Ls)/(3 Cpk= Min(Us-X),(X-Ls)/(3* *W W) ) W =R / d=R / d2 2 ( (W稱為過程標准差)稱為過程標准差)9 9、制程性能指數、制程性能指數 用用PpkPpk表示,表示制程潛在能力之高低,一般用來進行初表
8、示,表示制程潛在能力之高低,一般用來進行初始研究。始研究。 Ppk1.33 Ppk1.33 制程能力偏低,需立即改善制程能力偏低,需立即改善 1.33 = Ppk1.67 1.33 = Ppk1.67 制程能力尚可接受制程能力尚可接受 1.67=Ppk 1.67= 1.67Ppk = 1.67性能指數計算:性能指數計算: Ppk= Min(Us-X),(X-Ls)/(3 Ppk= Min(Us-X),(X-Ls)/(3* *O O) ) O O= (= (稱為過程標准差)稱為過程標准差)1010、制程精密度、制程精密度 Cp Cp 值值 高高 Cp Cp 值值 低低用用CpCp表示表示 , 表
9、示制程變異的大小,表示制程變異的大小,CpCp越小,變異越大越小,變異越大 Cp1.33 Cp1.33 制程精密度偏低,需立即改善制程精密度偏低,需立即改善 1.33 = Cp1.67 1.33 = Cp1.67 制程精密度可接受制程精密度可接受 1.67 = Cp 1.67 = Cp 制程精密度佳制程精密度佳1111、制程精確度、制程精確度 用用CaCa表示表示 , 表示制程偏移的大小,表示制程偏移的大小,CaCa越小,偏移越小越小,偏移越小 Ca 12.5 % Ca 12.5 % 制程精確度佳制程精確度佳 12.5% = Ca 25% 12.5% = Ca 25% 制程精確度可接受制程精確
10、度可接受 25% = Ca 25% = Ca 制程精確度太低,需改善制程精確度太低,需改善Ca Ca 值高(偏移小)值高(偏移小)Ca Ca 值低(偏移大)值低(偏移大)1212、Cpk Cpk 也可以理解為同時考慮也可以理解為同時考慮Cp Cp 和和Ca Ca 時的能時的能力指數力指數 即即 Cpk = Cp X ABS( ( 1- Ca) 制程能力(性能)指數與不良率對應關系Pp=Ppk=1,33 63 ppm defects = 0,006%Cp=Cpk=1,67 0,6 ppm defects = 0,00006%SPC(Statistical Process Control):为了贯
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