ICS 105 UH 组套.docx
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1、集成电路检测器ICS105ICS105GND组套/ICS105UH组套集成电路检测器ICS105ICS105GND组套/ICS105UH组套的ICR型号近场微探头之外,还可借助探头支架SH01将手持式探头或者场源置入到ICS105之中图2。使用不同的ICR近场微探头,可在(50x50x50)mm的空间范围内分别对磁场或者电场进展测量,测量结果通过软件CS-Scanner在电脑上显示。此外,ICR近场微探头可通过旋转轴自动旋转360,以确定磁场确实切方向。借助视频显微镜,可方便近场微探头在测量目的上的准确定位。ICS105检测器的最小步进值为10m,可实现极高分辨率的测量图1。ICR型近场微探头
2、适用于1.5MHz至6GHz频率范围内的测量,可到达的测量分辨率约为50m。用于磁场测量的近场微探头可提供两种不同的根本规格。ICRHV近场微探头带有垂直测量线圈,ICRHH近场微探头带有程度测量线圈。ICRE近场微探头的探针头包括一个程度电极,用于电场测量。不同类型的近场微探头配置齐全,确保在完成各类诸多实际测量任务时可以选取最正确的探头型号。使用近场微探头可以进展以下测量:-根据标准IEC61967-3进展集成电路外表扫描-集成电路容量扫描-针脚扫描在测量经过中,只在相应测量目的上方挪动数个m,确保精准的近场数据收集。近场微探头的外壳中内置前置放大器,通过Bias-Tee偏置器供电。图2I
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