现代材料测试技术作业.docx

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1、现代材料测试技术作业第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上讲，和无线电波、可见光、射线一样，也是一种。2、尽管衍射花样能够千变万化，但是它们的基本要素只要三个：即、。3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地讲，对光源的基本要求是、。4、利用吸收限两边相差特别悬殊的特点，可制作滤波片。5、测量X射线衍射线峰位的方法有六种，它们分别是、。6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、。7、特征X射线产生的根本原因是。8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、三种。10、实验证实

2、，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于遭到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为。12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、，其中和应用较为普遍。13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞经过中传递给了原子，成为。二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、

3、X-射线的衰减三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检2、产生特征X射线的根本原因是什么3、简述特征X-射线谱的特点。4、推导布拉格公式，画出示意图。5、回答X射线连续光谱产生的机理。6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。7、简述连续X射线谱的特征8.x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9.测角仪的调整要求10.测角仪的工作原理以及各狭缝作用11.哈纳瓦特与芬克索引的规则12.定性物相分析的注意事项电子显微分析部分第2、3、4章一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质互相作用产生的各种物理信号，

4、分析试样物质的、和。2、电子显微镜可分为：、等几类。3、电镜中，用透镜作电子枪，发射电子束；用透镜做会聚透镜，起成像和放大作用。4、磁透镜和玻璃透镜一样，具有很多缺陷，因而会造成像差，像差包括：、_和畸变。5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时，在原子库仑电场作用下，入射电子方向改变，称为散射。原子对电子的散射可分为散射和散射。在散射经过中，电子只改变方向，而能量基本无损失。在散射经过中，电子不但改变方向，能量也有不同程度的减少，转变为、和等。6、电子与固体物质互相作用经过中产生的各种电子信号，包括、_和等。7、块状材料是通过减薄的方法需要先进行机械或化学方法的预减薄制备成对电子束透明的薄膜

5、样品。减薄的方法有、和等。8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样外表逐点扫描成像，成像信号能够是、或。9、透射电子显微镜中高分辨率像有和。10、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质互相作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和。二、名词解释球差、色差、场深、焦深、弛豫、互相作用体积、质厚衬度、衍射衬度、相位衬度、轴上像散、场深、焦深、弹性散射、非弹性散射、驰豫、背散射电子、透射电子、吸收电子、二次电子、背散射电子等。三、简答题1、为什么当代的透射电镜除电子光源外都用磁透镜做会聚镜2、为何电子显微镜镜筒必须具有高真空3、电子衍射谱的特征4、扫描电镜在探测二次电子时，为何要在栅网上加250V电压而在探

6、测背散射电子时要加-50V电压5、扫描电镜的衬度有哪些各种衬度的典型衬度像是什么6、在电镜上为什么能用能谱仪进行试样的成分分析7、电子束做照明源制成电子显微镜具有更高的分辨本领为什么8、分析电子波长与加速电压间的定量关系。9、分析电子在静电场中的运动规律及静电透镜的聚焦成像原理。10、TEM薄膜试样制备方法有哪些11、质厚衬度原理及物镜光阑的作用四、问答题1、试述球差、色差产生的原因。2、简述二次电子的特点。3、在材料科学中透射电镜的样品有哪几类在制备每类样品时要注意什么4、高速入射的电子与试样物质互相作用后能产生哪些物理信号这些信号可用于什么分析测试手段上5、扫描电镜可用哪些物理信号调制成像

7、比拟这些电子显微像的特点。6、TEM工作原理7、SEM工作原理8、背散射电子的主要特点、成像的特征及其信号分离观察的原理。9、二次电子的主要特点、成像的特征10、简述散射衬度像构成原因。11、简述衍射衬度像构成原因。12、简述相位衬度像构成原因。五、计算题1、在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.46mm，2R2=20.06mm，2R3=28.64mm，2R4=33.48mm。已知各金环对应的晶面间距分别为：d1=?，d2=，?d3=?，d4=?。试求透射电镜的相机常数K2、2、在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.4

8、6mm，2R2=20.06mm，2R3=28.64mm，2R4=33.48mm。已知各金环对应的晶面间距分别为：d1=?，d2=，?d3=?，d4=?。试求透射电镜的相机长度l)109785.01(25.126VV-?+=在200kv加速电压下拍得金的多晶衍射环，从里向外测得环的直径2R1=17.46mm，2R2=20.06mm，2R3=28.64mm，2R4=33.48mm。已知透射电镜的相机常数K=,试求各衍射环的晶面间距d)109785.01(25.126VV-?+=光学显微分析部分第5、6章一名词解释光率体；一轴晶与二轴晶；光轴面；光性方位；解理；多色性与吸收性；突起；贝克线；四次消光

9、；干预色；补色法则；双折射率；延性；双晶；光程差；干预图；分辨率；色散；折射；全反射；二填空1光率体的种类有,;其形态分别为,。2偏光显微镜的调节与校正的内容主要有,，。3干预色级序的测定方法有,。4晶体在单偏光镜下能够观察和测定的主要内容有,，,等。5影响光程差的因素有,。6锥光镜下研究矿物晶体时，可观察和测定的内容有,，等。7一轴晶光率体的主要切面有,三种。8二轴晶光率体的主要切面有,，,五种。9根据薄片中晶体颗粒边棱的规则程度，可将晶体分为,三类。10具有解理的矿物，根据其解理发育的完善程度，可分为,三级。11根据薄片中晶体与树胶相对折射率的大小，将晶体的突起分为,，,六个等级。12在正

10、交偏光镜下，矿物晶体的消光类型有,三种。13干预色级序的测定方法有,三种。三问答与计算1.标准薄片中，同一晶体的不同颗粒为何干预色不同晶体在什么切面上干预色最高为什么2对于一轴晶和二轴晶晶体，利用哪类干预图可测定其光性正负怎样测定试举例讲明。3矿物薄片中晶体的颜色和干预色在成因上有何不同影响干预色的因素有哪些4矿物薄片中晶体的边缘、糙面、突起和贝克线是如何构成的在偏光显微镜下观测矿物晶体时，它们有何用处5通常都是用什么方法测定矿物的干预色级序简述其测定方法。6透辉石CaOMgOSiO2其光率体形态如下图，试根据该图讲明下面几个问题： (1)透辉石属什么晶族光率体(2)该晶体的最大双折射率是多少

11、(3)确定透辉石的光性方位和光性正负。(4)绘出100、010、001面上的光率体切面，并标明其折射率。7橄榄石晶体010面上测得主折射率为和，在100面上测得主折射率为和，求橄榄石：(1)最大双折射率；2光性正负；3光性方位；用简式表示4光轴面与哪个晶面平行8当入射光波为偏光，其振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径之一平行时，光波进入晶体后的情况怎样假如入射光波的振动方向与垂直入射光波的光率体椭圆切面半径斜交时，光波进入晶体后的情况怎样9设橄榄石晶体薄片厚度为0.03mm，Ng=,Nm=,Np=，其垂直Bxa和垂直Bxo切面上能见到什么样的干预色平行AP面的切面上又具有什么样的干预色1

12、0已知白云母的三个主折射率分别为Ng=,Nm=,Np=，若要制造干预色为一级灰白R=147nm的试板，在垂直Bxa切面上应取多大厚度11欲要制造一级紫红R=560nm的石英试板，问平行于石英光轴切面上的切片厚度应为多少石英的Ne=,No=12在紫苏辉石010面上测得主折射率为和，在001面上测得主折射率为和，求紫苏辉石1)三个主折射率值；2)最大双折射率；3)光性正负：4)光轴面与哪个晶面平行13.已知橄榄石的Ng=,Nm=,Np=,试讲明：1)光性正负；2)Bxa及Bxo的光率体轴名称；3)Bxa及Bxo的切面上双折射率各是多少4)最大双折射率各是多少14矿物的多色性在什么方向的切面上最明显

13、要确定一轴晶、二轴晶矿物的多色性公式，需选择什么方向的切片15已知黑云母的三个主折射率分别为Ng=,Nm=,Np=,其相应的多色性为：Ng=深褐色，Nm=深褐色，Np=浅黄色，问：1)黑云母哪一个切面上吸收性最大哪一个切面上多色性最强3)黑云母的哪一个切面上的颜色无变化为什么16普通角闪石Bxa的薄片在单偏光镜下为蓝绿和棕绿色，平行光轴面的薄片在单偏光镜下为亮黄和蓝绿色，已知普通角闪石为负光性，试确定它的多色性。17已知普通辉石为正光性。一薄片在正交偏光镜间观察到AP切面的干预色为二级黄R=880nm，Bxa切面的干预色为一级亮灰R=210nm，设Ng-Nm=，求该薄片的厚度。18已知斜方晶系

14、柱状硬石膏的主折射率分别为Ng=，Nm=，Np=，取Bxo的切面制作石膏补色器一级紫红，R=560nm，问切片厚度应为多少19晶体切片置于锥光镜下，在视域中观察到两光轴出露点为图示1和2的位置。回答：1确定图中3、4、5、6各入射光出露点的光波振动方向；2绘出干预图该晶体双折射率较小；3判定切片方向；4假设如图参加试板后，干预图上锐角区干预色升高，判定其光性正负。20某晶体切片置于锥光镜下，在视域中观察到两光轴出露点为图示1和2的位置。回答：1确定图中3、4、5、6各入射光出露点的光波振动方向；2绘出干预图该晶体双折射率较小；3判定切片方向；4如图参加石膏试板后，干预图上锐角区干预色由灰白变为

15、兰色，判定其光性正负。21某一轴晶矿物，在锥光镜下观察到其光轴出露点位于图示1的位置：1确定图中2，3，4，5各入射光出露点的光波振动方向及轴名；3绘出干预图；4若干预图上亮堂的区域干预色为一级灰白，如图参加石膏试板后，其干预色由灰白变为兰色，确定其光性正负。22已知石英晶体为一轴晶正光性矿物，现有一石英垂直光轴的切片标准厚度d=0.03mm置于锥光镜下观察：1画出所观察到的干预图象；2假设从2、4象限插入石膏试板，试讲明四个象限内的干预色变化。23某二轴晶矿物Bxa切片置于锥光镜下观察：1画出其45位的干预图象干预图上的干预色为一级灰白；2假设从2、4象限插入石膏试板后，干预图上锐角区干预色

16、由灰白变为黄色，试确定其光性正负。第七章热分析技术一、填空题1、和是热分析的四大支柱。2、热分析法是所有在高温经过中测量物质性能技术的总称。3、热重分析法包括：和两种类型。4、热膨胀仪根据位移检测方法可分为：、三种类型。二、名词解释1、差热分析2、综合热分析3、差示扫描量热分析三、问答与计算1、当代测试技术中，用哪种方法能够比拟简单地确定白云石CaMg(CO3)2中混含有少量铁的碳酸盐(FeCO3)杂质，并确定其含量。2、某物质的DSCTG曲线如下图,试在图上标出每次热效应的反响起始点温度与反响终止点温度,并分析该物质可能的热经过。3、什么是差示扫描量热分析4、简述热重分析的主要应用。5、在差

17、热曲线上怎样确定反响起始点温度6、影响热重曲线的主要因素有哪些7、简述影响差热曲线的因素。8、某物质的DTA曲线上出现吸热峰，扼要讲明其可能发生的热效应。9、简述综合热分析方法的优越性。第八章红外光谱分析一、填空题1、光谱工作者把红外光分为三个区域：、。2、分子的总能量包括：。3、实际分子以非常复杂的形式振动。但归纳起来，基本上属于两大类振动，即，。4、弯曲振动细分为、。5、红外光谱法制备固体样品常用的方法有、等多种技术。二、名词解释伸缩振动、弯曲振动、简并等三、问答题1分子的总能量包括那几部分能级间隔各有何特征各与什么样的电磁波相对应2多原子分子中振动的基本类型分子中可能有的振动数目是多少3.为什么会发生振动的简并对红外光谱有何影响4.产生红外吸收的条件是什么为什么5.红外光谱图具有那些方面的特征6.影响谱带位置位移的因素有那些讲明其影响规律和原因。7.影响谱带强度的因素有那些讲明其影响规律和原因。8.红外分光光度计的操作性能及影响因素有那些9.影响红外光谱图质量的试样因素有那些怎样影响10.固体样品的制备卤化物压片法第九章X光光谱分析一、填空题1、能谱仪主要由、等组成。2、能谱分析有四种基本方法：、和。3、能谱分析要得到准确的分析结果，需选择适宜的工作条件包括、和X射线出射角等。二、问答题1、能谱仪工作原理2、简述能谱仪的主要性能指标。3、在进行能谱成分分析是应注意什么问题。