X-射线荧光光谱仪基本原理及应用课件.ppt
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1、 当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,对应的形成一个空穴,使原子处于激发状态。K层电子被击出称为K激发态,同样L层电子被击出称为L激发态。此后在很短时间内,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,以降低原子能级。当空穴产生在K层,不同外层的电子(L、M、N层)向空穴跃迁时放出的能量各不相同,产生的一系列辐射统称为K系辐射。同样,当空穴产生在L层,所产生一系列辐射则统称为L系辐射。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出,便产生了X 荧光。X荧光的能量与入射的能量无关,它只等于原子两能
2、级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定,故称之为该元素的特征X射线,也称荧光X射线或X荧光。基础理论与知识基础理论与知识11 基础理论与知识基础理论与知识莫塞莱定律莫塞莱定律布拉格定布拉格定律律 朗伯朗伯-比尔比尔定律定律 利用X射线荧光进行元素定性、定量分析工作,需要以下三方面的理论基础知识:三大定律三大定律123 莫塞莱定律(Moseleys law),是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律。1913 年H.G.J.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线,得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由
3、于内层电子的跃迁产生的,表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的,使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一。莫塞莱定律莫塞莱定律表达式表达式v 1913 年英国物理学家年英国物理学家H.莫塞莱研究了许多种元素的莫塞莱研究了许多种元素的X射射线标识谱(见线标识谱(见X射线谱),发现谱线频率的二次方根与该射线谱),发现谱线频率的二次方根与该元素在元素周期表中排列的顺序号成线性关系。他认识到元素在元素周期表中排列的顺序号成线性关系。他认识到这些标识谱是由于原子内层电子跃迁而产生。莫塞莱把各这些标识谱是由于原子内层电子跃迁而产生。莫塞莱把各元素的元素的K线系和线系和L线系的频率表达为:线系
4、的频率表达为: vK=Rc(ZK)2(1/121/22)vL=Rc(ZL)2(1/221/32)v 式中式中R是里德伯常数,是里德伯常数,Z是原子序数,是原子序数,是屏蔽因子,是屏蔽因子,c是是光速。他发现各元素光速。他发现各元素K和和L分别都近似等于分别都近似等于1和和7.4。对于其他线系则不再适用。对于其他线系则不再适用。 布拉格定律布拉格定律(Braggs law)是反映晶体衍射基本关系的理论推导定律。是反映晶体衍射基本关系的理论推导定律。1912年英国物理学家布拉格父子年英国物理学家布拉格父子(W.H. Bragg和和W.L. Bragg)推导出了形推导出了形式简单,能够说明晶体衍射基
5、本关系的布拉格定律。此定律是波长色散型式简单,能够说明晶体衍射基本关系的布拉格定律。此定律是波长色散型X荧光仪的分光原理,使不同元素不同波长的特征荧光仪的分光原理,使不同元素不同波长的特征X荧光完全分开,使谱荧光完全分开,使谱线处理工作变得非常简单,降低了仪器检出限。线处理工作变得非常简单,降低了仪器检出限。布拉格方程布拉格方程此式的物理意义在于:规定了X射线在晶体内产生衍射的必要条件,只有d、同时满足布拉格方程时,晶体才能产生衍射。 比尔-朗伯定律(Berr-Lamberts law)是反应样品吸收状况的定律,涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。 当X射线穿过物质时,由于物质产生光电效应
6、、康普顿效应及热效应等,X射线强度会衰减,表现为改变能量或者改变运动方向,从而使向入射X射线方向运动的相同能量X射线光子数目减少,这个过程称作吸收。 对于任意一种元素,其质量吸收系数随着波长的变化有着一定数量的突变,当波长(或者说能量)变化到一定值时,吸收的性质发生了明显变化,即发生突变,发生突变的波长称为吸收限(或称吸收边),在各个吸收限之间,质量吸收系数随波长的增大而增大。对于X射线荧光分析技术来说,原级射线传入样品的过程中要发生衰减,样品被激发后产生的荧光X射线在传出样品的过程中也要发生衰减,由于质量吸收系数的不同,使得元素强度并不是严格的与元素浓度成正比关系,而是存在一定程度的偏差。因
7、而需要对此效应进行校正,才能准确的进行定量分析。2 仪器构造与原理仪器构造与原理分类分类 用用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要射线,需要把混合的把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。射线荧光光谱仪。 能量色散型 波长色散型波长色散型波长色散型能量色散型能量色散型 两种类型的两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用射线荧光光谱仪都需
8、要用X射线管作为激发光源。射线管作为激发光源。 2.1 激发光源激发光源 灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。大于 l m i n 的 一 次 X 射 线 其 能 量 不 足 以 使 受 激 元 素 激 发 。 X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是
9、说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。 X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶极。 2.2 分光系统分光系统 分光系统的主要部件是晶体分光器,它的作用是通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。根据布拉格衍射定律2dsin=n,当波长为的X射线以角射到晶体,如果晶面间距为d,则在出射角为的方向,可以观测到波长为=2dsin的一级衍射及波长为/2,/3等高级衍射。改变角,可以观测到另
10、外波长的X射线,因而使不同波长的X射线可以分开。2.3 检测记录系统检测记录系统 上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体,X射线射入管内,使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时,又引起其它Ar原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信号,脉冲幅度与X射线能量成正比。所以这种计数器叫正比计数器,为了保证计数器内所充气体浓度不变,气体一直是保持流动状态的。流气正比计数器适用于轻元素的检测。 X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。 另外一种检测装置是闪烁计数器,如上图。闪烁计数器由闪烁晶体和光电倍增管组成。
11、X射线射到晶体后可产生光,再由光电倍增管放大,得到脉冲信号。闪烁计数器适用于重元素的检测。 除上述两种检测器外,还有半导体探测器等等。2.4 2.4 X X射线荧光光谱法特点射线荧光光谱法特点v 谱线简单,谱线简单,因为因为X射线荧光只发射特征线,而不发射连射线荧光只发射特征线,而不发射连续线,且主要采用续线,且主要采用K系和系和L系荧光。系荧光。v 分析灵敏度高分析灵敏度高:大多数元素检出限达大多数元素检出限达v 分析元素范围宽分析元素范围宽:BU(592)v 测量元素含量范围宽测量元素含量范围宽 :从常量至微量从常量至微量0.000 x% 100%v 制样简单制样简单:固体固体, 粉末粉末
12、, 晶体、非晶体都可晶体、非晶体都可v 无损分析无损分析:属于物理过程的非破坏性分析,试样不发生属于物理过程的非破坏性分析,试样不发生化学变化化学变化v 分析速度快,分析速度快,可以进行均匀试样的表面分析可以进行均匀试样的表面分析581010/g g以上介绍的是利用分光晶体将不同波长的荧光X射线分开并检测,得到荧光X射线光谱。能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,不必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器,锂漂移锗探测器,高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对,电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲,脉冲幅度与X光
13、子的能量成正比。在一段时间内,来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测,得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲,经放大器放大后送到多道脉冲分析器(通常要1000道以上)。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数,脉冲幅度可以用X光子的能量标度,从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正,然后显示出来,其形状与波谱类似,只是横坐标是光子的能量。 2.5 能量色散谱仪能量色散谱仪 能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此,分析速度快。另一方面,由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高,因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外,能谱仪没有光谱仪那么复杂的机
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