最新场效应管ppt课件.ppt
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1、场效应管场效应管概概 述述场效应管是另一种具有场效应管是另一种具有正向受控作用正向受控作用的半导体器件。的半导体器件。它体积小、工艺简单,器件特性便于控制,是目前制造它体积小、工艺简单,器件特性便于控制,是目前制造大规模集成电路的大规模集成电路的主要有源器件主要有源器件。场效应管与三极管主要区别:场效应管与三极管主要区别: 场效应管输入电阻场效应管输入电阻远大于远大于三极管输入电阻。三极管输入电阻。 场效应管是场效应管是单极型单极型器件器件( (三极管是三极管是双极型双极型器件器件) )。场效应管分类:场效应管分类:MOS 场效应场效应管管结型场效应管结型场效应管第第 3 章场效应管章场效应管
2、 若考虑沟道长度调制效应若考虑沟道长度调制效应则则 VDS 沟道长度沟道长度 l 沟道电阻沟道电阻 Ron略略 。因此因此 VDS ID 略略 。由上述分析可描绘出由上述分析可描绘出 ID 随随 VDS 变化的关系曲线:变化的关系曲线:IDVDSOVGS VGS(th)VGS一定一定曲线形状类似三极管输出特性。曲线形状类似三极管输出特性。第第 3 章场效应管章场效应管 MOS 管仅依靠一种载流子管仅依靠一种载流子( (多子多子) )导电导电,故称,故称单极单极型器件。型器件。 三极管中多子、少子同时参与导电,故称三极管中多子、少子同时参与导电,故称双极型器件。双极型器件。利用半导体表面的电场效
3、应,通过栅源电压利用半导体表面的电场效应,通过栅源电压 VGS 的变化,改变感生电荷的多少,从而改变感生沟道的的变化,改变感生电荷的多少,从而改变感生沟道的宽窄,控制漏极电流宽窄,控制漏极电流 ID 。MOSFET 工作原理:工作原理:第第 3 章场效应管章场效应管由于由于 MOS 管栅极电管栅极电流为零,故不讨论输入特流为零,故不讨论输入特性曲线。性曲线。 共源组态特性曲线:共源组态特性曲线:ID = f ( VGS )VDS = 常数常数转移特性:转移特性:ID = f ( VDS )VGS = 常数常数输出特性:输出特性:q 伏安特性伏安特性+TVDSIG 0VGSID+- - -转移特
4、性与输出特性反映场效应管同一物理过程,转移特性与输出特性反映场效应管同一物理过程,它们之间可以相互转换。它们之间可以相互转换。 第第 3 章场效应管章场效应管 NEMOS 管输出特性曲线管输出特性曲线q 非饱和区非饱和区特点:特点:ID 同时受同时受 VGS 与与 VDS 的控制。的控制。当当 VGS为常数时,为常数时,VDSID 近似线性近似线性 ,表现为一种电阻特性;,表现为一种电阻特性; 当当 VDS为常数时,为常数时,VGS ID ,表现出一种压控电阻的特性。,表现出一种压控电阻的特性。 沟道预夹断前对应的工作区。沟道预夹断前对应的工作区。条件:条件:VGS VGS(th) V DS
5、VGS(th) V DS VGS VGS(th)考虑到沟道长度调制效应,输出特性曲线随考虑到沟道长度调制效应,输出特性曲线随 VDS 的增加略有上翘。的增加略有上翘。注意:饱和区注意:饱和区( (又称有源区又称有源区) )对应对应三极管的放大区。三极管的放大区。第第 3 章场效应管章场效应管另外:另外: ID具有负的温度特性;而具有负的温度特性;而IC具有正的温度特性具有正的温度特性。数学模型:数学模型:若考虑沟道长度调制效应,则若考虑沟道长度调制效应,则 ID 的修正方程:的修正方程: 工作在饱和区时,工作在饱和区时,MOS 管的正向受控作用,服从管的正向受控作用,服从平方律关系式:平方律关
6、系式:2GS(th)GSOXnD)(2VVlWCI ADS2GS(th)GSOXnD1)(2VVVVlWCI DS2GS(th)GSOXn1)(2VVVlWC 其中,其中, 称称沟道长度调制系数,其值与沟道长度调制系数,其值与 l 有关。有关。通常通常 = (0.005 0.03 )V- -1第第 3 章场效应管章场效应管q 截止区截止区特点:特点:相当于相当于 MOS 管三个电极断开。管三个电极断开。 ID/mAVDS /VOVDS = VGS VGS(th)VGS = 5 V3.5 V4 V4.5 V沟道未形成时的工作区沟道未形成时的工作区条件:条件:VGS VGS(th) ID = 0
7、以下的工作区域。以下的工作区域。IG 0,ID 0q 击穿区击穿区 VDS 增大增大到一定值时到一定值时漏衬漏衬 PN 结雪崩击穿结雪崩击穿 ID 剧增。剧增。 VDS 沟道沟道 l 对于对于 l 较小的较小的 MOS 管管 穿通击穿穿通击穿 ID 剧增。剧增。第第 3 章场效应管章场效应管由于由于 MOS 管管 COX 很小,因此当带电物体很小,因此当带电物体(或人或人)靠近靠近金属栅极时,感生电荷在金属栅极时,感生电荷在 SiO2 绝缘层中将产生很大的电绝缘层中将产生很大的电压压 VGS(= Q /COX),使,使绝缘层绝缘层击穿,造成击穿,造成 MOS 管永久性损管永久性损坏。坏。MOS
8、 管保护措施:管保护措施:分立的分立的 MOS 管:管:各极引线短接、烙铁外壳接地。各极引线短接、烙铁外壳接地。MOS 集成电路:集成电路:TD2D1D1、D2 一方面限制一方面限制 VGS 间间最大电压,同时对感最大电压,同时对感 生电生电荷起旁路作用。荷起旁路作用。第第 3 章场效应管章场效应管 NEMOS 管转移特性曲线管转移特性曲线VGS(th) = 3VVDS = 5 V转移特性曲线反映转移特性曲线反映 VDS 为常数时,为常数时,VGS 对对 ID 的控制的控制作用,可由输出特性转换得到。作用,可由输出特性转换得到。 ID/mAVDS /VOVDS = VGS VGS(th)VGS
9、 = 5 V3.5 V4 V4.5 VVDS = 5 VID/mAVGS /VO12345转移特性曲线中,转移特性曲线中,ID = 0 时对应的时对应的 VGS 值,即开启值,即开启电压电压 VGS(th) 。第第 3 章场效应管章场效应管q 衬底效应衬底效应集成电路中,许多集成电路中,许多 MOS 管做在同一衬底上,为保证管做在同一衬底上,为保证 U 与与 S、D 之间之间 PN 结反偏,衬底应接电路最低电位结反偏,衬底应接电路最低电位( (N 沟道沟道) )或最高或最高电位电位( (P 沟道沟道) )。 若若| VUS | 耗尽层中负离子数耗尽层中负离子数 因因 VGS 不变不变( (G
10、极正电荷量不变极正电荷量不变) )ID VUS = 0ID/mAVGS /VO- -2V- -4V根据衬底电压对根据衬底电压对 ID 的控制作用,又称的控制作用,又称 U 极为背栅极。极为背栅极。阻挡层宽度阻挡层宽度 反型层中反型层中电子电子数数 第第 3 章场效应管章场效应管- - +VUSPP+N+N+SGDUVDSVGS- - +- - +N+q P 沟道沟道 EMOS 管管+ -+ - VGSVDS+ - + - NN+P+SGDUP+N 沟道沟道 EMOS 管与管与 P 沟道沟道 EMOS 管工作原理相似。管工作原理相似。即即 VDS 0 、VGS 0,VGS 正、负、零均可。正、负
11、、零均可。外部工作条件:外部工作条件:DMOS 管在饱和区与非饱和区的管在饱和区与非饱和区的 ID 表达式表达式与与 EMOS管管 相同相同。PDMOS 与与 NDMOS 的差别仅在于电压极性与电流方向相反。的差别仅在于电压极性与电流方向相反。第第 3 章场效应管章场效应管3.1.3四种四种 MOS 场效应管比较场效应管比较q 电路符号及电流流向电路符号及电流流向SGUDIDSGUDIDUSGDIDSGUDIDNEMOSNDMOSPDMOSPEMOSq 转移特性转移特性IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)第第 3 章场效应管章
12、场效应管q 饱和区饱和区( (放大区放大区) )外加电压极性及数学模型外加电压极性及数学模型 VDS 极性取决于沟道类型极性取决于沟道类型N 沟道:沟道:VDS 0, P 沟道:沟道:VDS |VGS(th) |,|VDS | | VGS VGS(th) |VGS| |VGS(th) | ,q 饱和区饱和区( (放大区放大区) )工作条件工作条件|VDS | |VGS(th) |,q 非饱和区非饱和区( (可变电阻区可变电阻区) )数学模型数学模型DSGS(th)GSOXnD)(VVVlWCI 第第 3 章场效应管章场效应管(E)q FET 直流简化电路模型直流简化电路模型( (与三极管相对照
13、与三极管相对照) ) 场效应管场效应管 G、S 之间开路之间开路 ,IG 0。三极管发射结由于正偏而导通,等效为三极管发射结由于正偏而导通,等效为 VBE(on) 。 FET 输出端等效为输出端等效为压控压控电流源,满足平方律方程:电流源,满足平方律方程: 三极管输出端等效为三极管输出端等效为流控流控电流源,满足电流源,满足 IC = IB 。2GS(th)GSOXD)(2VVlWCI 第第 3 章场效应管章场效应管SGDIDVGSSDGIDIG 0ID(VGS )+- -VBE(on)ECBICIBIB +- -3.1.4小信号电路模型小信号电路模型q MOS 管简化小信号电路模型管简化小信
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