2022年微波测量实验报告 .pdf

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1、北京邮电大学微波测量实验学院：电子工程学院班号：学号：班内序号：时间： 2015 年 1 月精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 1 页，共 39 页实验一 熟悉微波同轴测量系统一、实验目的 1、了解常用微波同轴测量系统的组成，熟悉其操作和特性。 2、熟悉矢量网络分析仪的操作以及测量方法。二、实验内容1、常用微波同轴测量系统的认识，简要了解其工作原理。矢量网络分析仪的面板组成以及各部分功能：微波同轴测量系统包括三个主要部分：矢量网络分析仪、 同轴线和校准元件或测量元件。各部分功能如下：1矢量网络分析仪：对RF领域的放大器、衰减器、天线、同

2、轴电缆、滤波器、分支分配器、功分器、耦合器、隔离器、环形器等RF器件进行幅频特性、反射特性和相频特性测量。2同轴线：连接矢量网络分析仪和校准元件或测量元件。3校准元件：对微波同轴侧量系统进行使用前校准，以尽量减小系统误差。测量元件：待测量的原件如天线、滤波器等，可方便地通过同轴线和矢量网络分析仪连起来。面板组成图如下所示：各部分功能如下：1CRT 显示器显示仪器当前工作状态和测试结果。2BEGIN 开始在测量放大器、滤波器、宽带无源器件、电缆等被测时能快速、简便的配置仪器，可引导用户完成初始步骤，根据用户的选择自动配置仪器。3ENTRY 数据输入数字键、旋轮和上下键，用于数据输入。4SYSTE

3、M SAVERECALL：存储或调用数据。1235467981011121314精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 2 页，共 39 页系统功能HARD COPY：打印或者存储测量曲线、数据。SYSTEM OPTIONS：系统选项。5PRESET 复位复位仪器。6CONFIGURE 配置SCALE ：设置垂直方向的分辨率和参考位置等。DISPLAY ：显示设置。CAL ：校准菜单。MARKER：频标功能键。FORMAT：数据显示格式。AVG ：平均功能设置和中频带宽设置。7SOURSE 源FREQ ：频率设置。SWEEP：设置扫描方式、

4、扫描时间。POWER：RF信号输出开关或者设置RF信号输出功率。MENU ：设置扫描点数及单次扫描、连续扫描或保持等。8MEAS 测量通道MEAS1 ：设置通道 1 的测量方式。MEAS2 ：设置通道 2 的测量方式。9软键对应的功能显示在左边显示屏上。10亮度调节旋钮 调节显示器亮度。11电源开关打开或关闭整机电源。12U盘接口Usb盘接口13RF OUT 射频输出射频信号输出口， N型 K头。14RF IN 射频输入射频信号输入口， N型 K头。2、掌握矢量网络分析仪的操作以及测量方法。A、S 参数测量步骤；a) 将一个待测的二端口网络通过同轴线接入矢量网络分析仪，组成一个微波同轴测量系统

5、，如下列图所示：b) 然后经过 SOLT校准, 消除系统误差；c) 在矢量网络分析仪上调出S参数测量曲线，读出相应的二端口网络的S参量，保存为 s2p 数据格式和 cst 数据格式的文件。B、如何看开路校准件的电容值设定(校准系数 )；被测精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 3 页，共 39 页当传输线终端开路或短路时， 所有输入信号功率被反射到入射端，造成全反射。传输线终端开路时， 开路端电流为零。 端点反射信号电流与输入信号电流幅度相等、相位相反， 而反射信号电压与输入信号电压同相。信号关系满足欧姆定律。在校准菜单下的 CalKit

6、 校准件选项里，打开校准件的开路件对话框C、如何看短路校准件的电感值设定(校准系数 )；传输线终端短路时， 短路端电压为零。 端点反射信号电压与输入信号电压幅度相等、相位相反， 而反射信号电流与输入信号电流同相。信号关系满足欧姆定律。在校准菜单下的 CalKit 校准件选项里，打开校准件的短路件对话框D、如何用 Smith 圆图显示所测结果以及如何与直角坐标转换；TOOLS 工具栏下，下拉选项中可得到simth 圆图的显示以及转换直角坐标。E、如何保存所测数据，以及可存的数据格式；在屏幕的右上角，点击【文件】【另存为】，然后选择相应的保存目录，可保存的数据格式为 .jpg 图片格式。F、了解仪

7、器提供的校准方法SOLT 。仪器提供 SOLT校准方法， TRL校准方法等集中校准方法，实验中使用SOLT短路开路负载直通校准方法。三、思考题1、是否可以直接进行电路参数的测量，为什么？如何从测量的S参数导出电路参数。给出S参数到 Z参数的转换公式，以及如何在 ADS中应用。不可以，因为微波同轴测量系统只能对于微波的入射和反射的电压电流关系进行分析。 需要先进行校准。 此外由于仪器仅给出了S参数的测量，但是没有电路参数的测量选项；如果要求电路参数，可以由测量的 S参数通过导出选项导出电路参数，如用等计算。S参数到 Z参数的转换公式如下： Z=(1-S)-1(1+S) 精选学习资料 - - -

8、- - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 4 页，共 39 页实验二 微波同轴测量系统校准方法一、实验目的 1、了解常用微波同轴测量系统的校准方法。2、 熟悉矢量网络分析仪的SOLT校准步骤以及校准精度验证方法。3、掌握并验证 TRL校准方法。二、实验内容1、总结常用微波同轴测量系统的校准方法，比方TRL和 SOLT ，了解其校准原理 和优缺点。1SOLT 校准方法SOLT校准能够提供优异的精度和可重复性。这种校准方法要求使用短路、 开路和负载标准校准件。 如果被测件上有雌雄连接器， 还需要分别为雌雄连接提供对应的标准件，连接两个测量平面，形成直通连接。其使用 12项

9、误差修正模型，其中被测件的正向有6 项，反向有 6 项。图 2显示了正向误差项： ED 方向、 ES 源匹配、 EL负载匹配、 ERF 反射跟踪、ETF 发射跟踪和 EX 串扰。操作正确的话， SOLT 可以测量百分之一分贝数量级的功率和毫度级相位。 常用的校准套件中都包含SOLT标准校准件。这些校准件包括各种连接器类型，并且价格相对廉价， 小心使用的话可以用很多年。如下两图所示。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 5 页，共 39 页EDF ，EDR ：反射参数，衡量VNA 耦合器别离前向波和反射波程度，数值越大越好。小的反射参数会导

10、致信号的耦合泄漏。ERR ，ERF ：传输参数，误差与反射测量相关，可以用短路和屏蔽开路校准件进行测量。EXF ，EXR ：隔离，串扰，误差与串扰相关，可以通过测量接匹配负载的1 口和 2 口来确定。ESF ，ESR以及 ELF，ELR ：信号源匹配和负载匹配，指信号源与50欧姆负载的匹配程度以及负载的质量，这些误差可以通过测量S11和 S22确定。ETF ，ETR ：传输参数，误差与传输测量相关，通过测量1、2 口互连时的传输确定。网络分析仪的校准即是通过数学的方法消除以上误差项，得到被测器件真实参量(Sa11，Sa12 ，Sa21，Sa22)的过程。2TRL校准方法TRL校准极为精确， 在

11、大多数情况下， 精确度甚至超过 SOLT校准。然而绝大多数校准套件中都不包含TRL标准件。在要求高精度并且可用的标准校准件与被测件的连接类型不同的情况下， 一般采用 TRL校准。使用测试夹具进行测量或使用探头进行晶圆上的测量， 通常都属于这种情况。 因此，某些情况下需要构建和表征与被测件配置介质类型相同的标准件。制造和表征三个 TRL标准件比制造和表征四个 SOLT标准件更容易。TRL校准还有另一个重要优势： 标准件不需要像 SOLT标准件那样进行完整或精确的定义。虽然SOLT标准件是完全按照标准的定义进行表征和储存，而TRL标准件只建立模型而不进行完整表征，但是 TRL校准的精度与 TRL标

12、准件的质量和可重复性成正比。 物理中断例如传输线路弯曲和同轴结构中的焊缝将会降低 TRL校准的精度。接口必须保持清洁并允许可重复的连接。如下列图所示：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 6 页，共 39 页 3 两者优缺点比较如下所示： a TRL方法计算简单，但该方法需要网络分析仪具有四个接收机，分别检测信号 a0,a1,b0,b3 以正向为例，而SOLT 方法只需要三个，分别检测信号a0,b0,b3 ；bTRL方法仅需要简单的校准件， 不需要理想的强反射件 理想的开路或短路，并且传输线校准件比较容易实现；而SOLT方法则需要很多的校

13、准件，并且校准件的性能指标对校准结果的影响较大；cSOLT 方法比较适用于同轴环境， 也可以用于高频探针和在片测量；TRL方法比较适用与非同轴环境，例如共面波导，微带线等；dTRL方法中，传输线的工作频带和起始频率的关系是8：1，因此 TRL校准是窄带的， 宽带的 TRL校准需要多个不同长度的线， 这样会浪费面积； 而 SOLT方法是宽带的。SOLT 校准方法得到的测试结果明显优于TRL 。另外在校准和测试过程中， 采用 TRL校准方式的测试由于不同的传输线适应不同带宽的校准频率范围，校准和测试必须分段进行，所以在测试结果中可以看到曲线的不连续性2、掌握矢量网络分析仪的SOLT校准步骤 以及校

14、准精度验证方法 。a) 校准前测量各校准件开路、短路、匹配和直通S参数，并保存数据精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 7 页，共 39 页开路短路匹配精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 8 页，共 39 页直通b) 矢量网络分析仪 SOLT 的校准步骤响应校准校准向导选择双端口solt 测量机械标准一次选择1端口短路、开路、负载、直通，2 端口短路、开路、负载进行校准。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 9 页，共 39

15、页C校准后测量各校准件开路、短路、匹配和直通S参数，并保存数据开路短路精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 10 页，共 39 页匹配精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 11 页，共 39 页直通精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 12 页，共 39 页D比较校准前后校准件开路、短路、匹配和直通的S参数，解释说明各条曲线，并指出所做校准的精度情况开路：网络开路， =1，校准后 s 参数是一条值为 0db的水平线，在圆图上随频

16、率变化顺时针移动，由图知，校准精确度很高；短路：网络短路， =-1，校准后 s 参数是一条值为 0db 的水平线，在圆图上随频率变化逆时针移动，由图知，校准精确度很高；负载：网络负载匹配， =0，s 参数 db值应很小，在圆图上位于圆心一点，由图知， s 参数是 db=-50db，足够小，因而校准精确度很高。直通：电路网络直通， =0，s 参数 db值应很小，在圆图上位于圆心一点，由图知， s 参数是 db=-50db，因此满足条件，校准精确度很高。分析比较校准前后的数据可以发现，经过校准后有效的减少了原来的误差，带宽的微弱变化虽然很小， 但是对于误差来说还是足够证明每次连接测量器件之前校准步

17、骤都是必要的， 而且在校准过程中， 有校准之后的图形可分析： 在 Smith圆图上，开路和短路不再是一圈圈缠绕的线，已经减少到靠近开路和短路点的一段线，匹配点经过校准后已经非常接近理论上的一个点而不是一个区域。所以，校准之后的测量才是符合实际的近乎标准值，在未校准时进行的测量只能大概估计下元件的类型及带宽，对于精确的参数测量未校准时是完全不符合标准的。3、利用已加工的 TRL校准件，进行 TRL校准。保存各测量数据，计算出其误差模型 附编程程序 。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 13 页，共 39 页functionSx,GL=tr

18、l(Sthru,Sopen,Sline,Sdut,freq);精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 14 页，共 39 页% TRL performs a two-tier TRL calibration for a vector network analyser.% The first calibration consist of a normal co-axial SOLT two-port calibration% followed by measurements on the TRL calibration standards a

19、nd the DUT. The % function then performs the second tier of the calibration by de-embedding the% effect of the TRL test fixture from the DUT measurements using the measurements% peformed on the TRL calibration standards. % % The function uses the following input parameters:% Sthru Four colom matrix

20、containing S-Parameters of the thru measurement on% TRL test fixture.% Sopen Four colom matrix containing S-Parameters of the open measurement on精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 15 页，共 39 页% TRL test fixture. Only S11 and S22 is of interest here and the S21 and% S12 data which will be

21、in the noise floor of the VNA will be discarded.% Sline Four colom matrix containing S-Parameters of the line measurement on% TRL test fixture.% Sdut Four colom matrix containing S-Parameters of the DUT inserted into the% TRL test fixture.% f Frequencies at which S-Parameters were measured in Hz.% T

22、he coloms of the S-Parameter matrix represent S11 S21 S12 S22.% format: Sx,GL=trl(Sthru,Sopen,Sline,Sdut,freq)% The output consists of the de-embedded 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 16 页，共 39 页device S-Parameters (Sx), and the propagation % constant (GL) of the line standard used in

23、the TRL calibration. The propagation constant% can be used to calculate the characteristic impedance of the microstrip calibration % line. Since microstrip is a dispersive transmission line, the characteristic impedance% will vary as a function of frequency. The measured S-Parameters will be normali

24、sed with% respect to the actual characteristic impedance of the transmission line calibration% standard. By extracting this impedance, the S-Parameter data can be renormalised to % 50 Ohm. %精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 17 页，共 39 页% See TRLPOST.M for some post processing functions t

25、hat can be performed.% Writer : C. van Niekerk% Version :% Date : 07/06/1995% This program is based on the work in the presented in the following paper:% 1 G.F. Engen, C.A. Hoer, Thru-Reflect-Line: An Improved Technique for% Calibrating the Dual Six-Port Automatic Network Analyser,% IEEE Trans. MTT,

26、 Vol. 27,No. 12, December 1979, pp. 987-998% Define the imaginary constanti=sqrt(-1); % Convert the measured s-parameters of the DEVICE to one variable精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 18 页，共 39 页S11d = Sdut(:,1);S21d = Sdut(:,2);S12d = Sdut(:,3);S22d = Sdut(:,4);% Convert the measured

27、s-parameters of the REFLECT standerd to one variableS11r = Sopen(:,1);S22r = Sopen(:,4);% Convert the measured s-parameters of the THRU standerd to one variableS11t = Sthru(:,1);S21t = Sthru(:,2);S12t = Sthru(:,3);S22t = Sthru(:,4);% Convert the measured s-parameters of the LINE standerd to one vari

28、ableS11l = Sline(:,1);S21l = Sline(:,2);S12l = Sline(:,3);精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 19 页，共 39 页S22l = Sline(:,4);% Compute the wave cascading matrix for the thru standerdR11t = -(S11t.*S22t - S12t.*S21t)./S21t;R12t = S11t./S21t;R21t = -S22t./S21t;R22t = 1 ./ S21t;% Compute the w

29、ave cascading matrix for the line standerdR11l = -(S11l.*S22l - S12l.*S21l)./S21l;R12l = S11l./S21l;R21l = -S22l./S21l;R22l = 1 ./ S21l;% Compute the wave cascading matrix for the device standerdR11m = -(S11d.*S22d - S12d.*S21d)./S21d;R12m = S11d./S21d;R21m = -S22d./S21d;R22m = 1 ./ S21d;精选学习资料 - -

30、- - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 20 页，共 39 页% Calculate the two possible virtual error networks for port A% and port B using the s-parameters of the thru and line standerds% Determine the number of frequency pointsnfreq=length(freq);for n = 1:nfreq Rt = R11t(n) R12t(n) ; R21t(n) R22t(n) ; Rl = R1

31、1l(n) R12l(n) ; R21l(n) R22l(n) ; T = Rl*inv(Rt);% Solve a set of quadratic equations to get the values of r11a/r21a% and r12a/r22a A = T(2,1); B = T(2,2) - T(1,1); C = -T(1,2);精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 21 页，共 39 页 K1 = (-B + sqrt(B2)-4*A*C)/(2*A); K2 = (-B - sqrt(B2)-4*A*C)/(2*

32、A);% Choose between the two possible roots to get the right values for% b and c/aif abs(K1)abs(K2) b = K1; ca = 1/K2;end ;if abs(K2)abs(K1) b = K2; ca = 1/K1;end ;% Calculates the propogation constant of the LINE standerd. GL(n) = -log(T(1,1)+T(1,2)*ca);% Calculates a w1 = S11r(n);精选学习资料 - - - - - -

33、 - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 22 页，共 39 页 w2 = S22r(n); g = 1/S21t(n); d = -(S11t(n)*S22t(n) - S12t(n)*S21t(n); e = S11t(n); f = -S22t(n); gamma = (f-d*ca)/(1-e*ca); beta_alfa = (e-b)/(d-b*f); a = sqrt(w1-b)*(1+w2*beta_alfa)*(d-b*f)/(w2+gamma)*(1-w1*ca)*(1-e*ca);% Calculates the reflection coeffisien

34、ts at each port to determine the correct% sign that should be assigned to a R1a = (w1-b)/(a-w1*a*ca); R1b = (w1-b)/(w1*a*ca-a);% An open is used for the reflection measurement. Use this information to% chose the sign of a 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 23 页，共 39 页if abs(angle(R1a)*18

35、0/pi)90 a = a; as(n) = a; c = ca*a;end ;if abs(angle(R1b)*180/pi)90 a = -a; as(n) = a; c = ca*a;end ; R1(n) = (w1-b)/(a-c*w1); alfa = (d-b*f)/(a*(1-e*ca); beta = beta_alfa*alfa; r22p22 = R11t(n)/(a*alfa + b*gamma); IRa = 1 -b ; -c a ; IRb = 1 -beta ; -gamma alfa ; Rm = R11m(n) R12m(n) ; R21m(n) R22m

36、(n) ;精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 24 页，共 39 页 Rx = 1/(r22p22*(alfa-gamma*beta)*(a-b*c)*IRa*Rm*IRb; S11x(n) = Rx(1,2)/Rx(2,2); S12x(n) = Rx(1,1) - Rx(1,2)*Rx(2,1)/Rx(2,2); S21x(n) = 1/Rx(2,2); S22x(n) = -Rx(2,1)/Rx(2,2);end ;Sx=S11x. S21x. S12x. S22x.;实验三 利用微波同轴测量系统进行实际器件测量一、实验目的 1、

37、利用 SOLT校准方法进行微波同轴测量系统的校准。2、测量各加工器件天线、滤波器、功分器和耦合器等的实际性能。3、验证 TRL校准方法，并和利用 SOLT校准方法测量的结果进行比照。二、实验内容精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 25 页，共 39 页1、做完 实验二的实验内容 3 后，测量各器件的S参数，并保存测量结果，通过去嵌误差模型， 得到真实的器件 S参数。报告中要给出具体编程计算过程 附编程程序 。2、利用机器自带 SOLT 校准后，存储测量结果，并通过测量结果了解所测器件的工作原理以及性能，报告中包括以下内容a) 器件的 S

38、参数测量曲线； 线的 S11测量曲线说明：由该图形可以看出，该器件应该是个天线，是能够有效地向空间某特定方向辐射电磁波或能够有效地接受空间某特定方向来的电磁波的装置。图中明显的下陷处对应的2.29Ghz 频率值下该天线发射时能有较好的性能。滤波器的 S11测量曲线精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 26 页，共 39 页滤波器的 S21曲线由该图形可以看出，在频率比较小的时候，s12 曲线值很小，然后开始增大，逐渐趋于平缓， 然后频率到达一定程度后s11 曲线下降，由此可见，该器件应该是个带通滤波器。中心频率约在 1.34Ghz，在 1

39、.28Ghz 到 1.41Ghz频率之间，通过性能比较好，实现带通。耦合器：说明： 在微波系统中， 往往需将一路微波功率按比例分成几路，这就是功率分配问题。实现这一功能的元件称为功率分配元器件即耦合器。定向耦合器是四端口网络， 端口“”为输入端，端口 “”为直通输出端， 端口“”为耦合输出端，端口“”为隔离端，并设其散射矩阵为S 。描述定向耦合器的性能指标有：耦合度、隔离度、定向度、输入驻波比和工作带宽。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 27 页，共 39 页图 1：耦合器 隔离 s11 图 2：耦合器 隔离 s21 精选学习资料 -

40、 - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 28 页，共 39 页图 3：耦合器 耦合 s11 图 4：耦合器 耦合 s21 精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 29 页，共 39 页图 5：耦合器 直通 s11 图 6：耦合器 直通 s21 b) 通过分析其 S参数，了解各器件所组成的网络的特性。 S11 是 S参数中的一个，表示回波损耗特性，一般通过网络分析仪来看其损耗的 dB值和阻抗特性。此参数表示天线的发射效率好不好，值越大，表示天线本身反射回来的能量越大，这样天线的效率就越差。精选学习资料 -

41、 - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 30 页，共 39 页对于滤波器来说，通带增益主要由滤波器的S21参数确定。阻带增益也主要由滤波器的S21参数确定。通带反射系数由滤波器的S11参数确定。在进行设计时， 我们主要是以滤波器的S参数作为优化目标。S21 S12 是传输参数，滤波器通带、阻带的位置以及增益、衰减全都表现在 S21 S12随频率变化的曲线上。S11S22 参数是输入、输出端口的反射系数，如果反射系数过大，就会导致反射损耗增大，影响系统的前后级匹配，使系统性能下降。对于天线，由于是单端口器件，故只有S11的结果，在工作频率点处，S11回波损耗

42、很小，即全部能量发射出去。对于滤波器 ,可以看出，是良好的带通滤波器，且同频带较窄3、 给出分别经过 TRL和 SOLT校准和没有校准的情况下各器件的测量性能，比较两类测量结果，给出实验报告，包括以下内容：a) 未校准和 TRL校准后各器件测量曲线比较；b) 未校准和 SOLT校准后各器件测量曲线比较；c)比较分析 TRL和 SOLT 校准方法的测量精度。（1）天线未校准： S11精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 31 页，共 39 页校准后： S11调整前后，天线的曲线更平滑了，且方向性变好了，更有助于接收和发射信号（2）滤波器未校

43、准：S11：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 32 页，共 39 页S21：校准后：S11：S21：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 33 页，共 39 页带通滤波器 1 的 S11参数曲线可以看出， 衰减到 10dB ，S参数突变小， 说明在此频率范围内系统导通， 实现带通， 但是校准前后最大衰减量变大，说明滤波在中心频率处性能更好。（3）功分器未校准：S11：S21：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 34 页，共

44、 39 页S31：校准后：S11：S21：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 35 页，共 39 页S31：（4）耦合器未校准：S11：S21：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 36 页，共 39 页S31：S41：校准后：S11：精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 37 页，共 39 页S21：S31：S41：由图可看出， 校准后测得的曲线比校准前测得的曲线更平滑，也更精确。 这一点尤其在天线这一器件上，得到了充分表达

45、。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 38 页，共 39 页比较分析 TRL和 SOLT校准方法的测量精度：对于四个器件，十二项误差模型中影响比较大的误差项为：ETF 、ETR 传输跟踪误差和 ERF 、 ERR 反射跟踪误差，因为测试电缆等在工作频带范围内其特性都会存在变化。实验总结本次实验我们使用的实验仪器是矢量网络分析仪以及与其配套的校准器件，滤波器、天线和耦合器。通过用矢量网络分析仪进行器件的测量，加深了我们对S参数的理解，使我们能将课堂上的理论知识应用于实践，用现象再来验证课堂知识，也极大地提高了我们对微波学习的兴趣和积极性。

46、这次实验尽管时间很短，但收获很大。它将之前我们学习的抽象的知识运用到了实际应用中去。在实验中，我们得知实验器材很昂贵， 同时也很灵敏， 一点点微小的移动、一点点金属的干扰都会让实验结果发生很大的变化，这告诉我们科研必须一丝不苟，考虑到所有细节，否则就可能功亏一篑， 得到错误的结果。 实验中，这些滤波器都很脆弱，一不小心可能损坏，也让我想到我们应该珍惜实验时机、爱惜实验器材，这也是一个合格的学生、合格的科研工作者应该考虑到的。虽然这次实验设备资源有限，但是我们小组成员还是顺利完成了测量任务，每个人都有很大的收获。在测量过程中，同学们互相合作配合，极大地提高了实验效率。我们组在校准时，由于各种原因，校准结果不理想，在助教的帮助下终于得到理想校准。实验结束后，每个人都掌握了微波测量的基本步骤，收获很颇丰。这次实验让我又学到了一种测量技术，在实际测量中必须考虑各种误差的影响，并努力利用各种方法消除误差或者得到误差的具体数据。在观测中， 未校准前和校准后的实验结果有明显的区别，这让我体会到了理论学习与具体实践之间的区别，决不能将理论知识生搬硬套到具体实践中。精选学习资料 - - - - - - - - - 名师归纳总结 - - - - - - -第 39 页，共 39 页