集成电路开短路检验测试.doc

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编号:2564732    类型:共享资源    大小:843.02KB    格式:DOC    上传时间:2020-04-20
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集成电路 短路 检验 检修 测试
资源描述:
.\ 摘要 本次设计针对测试集成电路的开短路。作品设计以 AT89S52,两个 CD4051,一个待测芯片 MC34063 为主,用 AT89S52 来控制 CD4051 输入引脚从而 使得输出其中一个引脚,此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。34063 芯片测 试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定; 自动分装时能够与机械手系统通信;用数码显示基准电压和集成电路等级评定 结果。在评定集成电路等级时,第一种测试仪只需分辨合格与不合格。 芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片(小片)进行 测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还 要进行第二次测试。当已经封装的芯片被测出故障,厂商应当拆掉封装进行测 试,找出故障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成 的。 关键词:一片 AT89S52;两片 CD4051;一片 MC34063 .\ 目 录 一、 选题意义 .........................................................................................................................2 二、 原理分析 .........................................................................................................................2 三、 总体设计 .........................................................................................................................3 四、 详细设计 .........................................................................................................................3 1、 硬件设计 ....................................................................................................................3 (1)恒电流电路设计 (2) 判决电路设计 (3)控制电路设计 (4)选通电路设计 2、 软件设计 ....................................................................................................................5 五、 系统实现 .........................................................................................................................8 1、硬件原理图 六、测试...................................................................................................................................9 7、总结.......................................................................................................................9 八、参考文献. .................................................................................................................................10 .\ 集成电路开短路测试集成电路开短路测试 一.选题的意义一.选题的意义 对集成电路厂家来说,开短路测试(open short test)是集成电路生产商必须 具备的一项关键技术,关系到企业的生存;对消费者使用者来说,开短路测试 关系到一个项目的生产效率,在很大程度上决定着工作的质量。 二.原理分析二.原理分析 集成电路开短路测试分为开路测试(open short to VDD)和短路测试(open short to VSS)。 一般来说,芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管, 一端接 VDD,一端接 VSS,信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时,先把 芯片的 VDD 引脚接 0 伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个 100uA 到 500uA 从 测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向 VDD(0 伏) ,然后测引脚的电压,正 常的值应该是一个二极管的偏差电压 0.7 伏左右,我们一般设上限为 1.5 伏,下 限为 0.2 伏,大于 1.5 伏判断为 openfail,小于 0.2 伏判断为 shortfail.这就是 open_short_to_VDD 测试. open_short_to_VSS 测试的原理基本相同.同样把先 VDD 接 0 伏,然后再给 一个芯片到测试的电流,电流由 VSS 经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同 样正常的值应该是一个二极管的偏差电压 0.7 伏左右,只是电压方向相反,上限还 是为 1.5 伏,下限为 0.2 伏,大于 1.5 伏判断为 openfail,小于 0.2 伏判断为 shortfail.这就是 open_short_to_VSS 测试. 三.总体设计三.总体设计 四.详细设计四.详细设计 (一)硬件设计 1.恒电流电路设计 恒流源电路 判决电路 选通电路控制电路 .\ 5V 电压源通过电路产生 2.5V 电压,供电流源使用。电流源是通过 Q1 和 Q2 两个 PNP 管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成,该电 流源主要用于提供 100mA 到 500mA 的电流用于测试输入,其中 C4 电 容主要是在瞬间断电起到缓冲作用 2.判决电路设计 比较电路上端接 2.5V,通过电阻的分压作用在芯片 LM358AM 的 2 号引 脚产生 1.5V 的电压,在 5 号引脚产生 0.2V 的电压;将 3 和 6 号引脚电 位与他们比较,以此来选通二极管 D1 或 D2,当 3 和 6 号引脚电位高于 1.5V 或低于 0.2V 时二极管其中一个导通,介于两电位之间时两个二极 管全部截止,其中 3 和 6 号引脚电位等于所 U3 选通引脚电位。 3.控制电路设计 .\ 控制电路主要通过对 AT89S52 编程控制 U2 和 U3 的 6,9,10,11 号引 脚实现;右上图是 AT89S52 的复位电路。 4.选通电路设计 选通电路主要用于选择被测芯片的引脚,芯片 U2 选通的引脚通过其 3 号引 脚将被测引脚点置 0,芯片 U3 选通的引脚置于与其 3 号引脚相同的电平, 之后通过发光二极管来显示两引脚是开路或短路,还是正常。 (二)软件设计 #include #include #define uint unsigned int .\ #define uchar unsigned char sbit P1_0 =P1^0; //定义 p1.0 口 sbit P1_1 =P1^1;//定义 P1.1 口 void deplay(uint z) //延时 { uint x,y; for(x=z;x>0;x--) for(y=110;y>0;y--); } void open_short_to_VDD() //开路测试 { uint i,j; P2=0 x34; i=P2 j=(P2 for(i=3;i<=6;i++) {if(j==i) continue; P2=(j<>4; for(i=3;i<=6;i++) { if(i==j) continue; P2=(j<>4; for(i=3;i<=6;i++) { for(j=3;j<=6;j++) { .\ if(j==i) continue; P2=(j<<4)|i; deplay(1000); } } } main() { while(1) { open_short_to_VDD(); deplay(700); open_short_to_VSS(); deplay(700); short_out_to_PIN(); } } 五.系统设计五.系统设计 1、硬件原理图 .\ 六.测试六.测试 眼前最亮的黄灯亮了说明芯片没问题,后面的红灯亮指示的电源 7..总结总结 本次设计最终实现测试芯片开短路的功能,能够测试八个引脚的芯片的好 坏,当一个芯片好使时,除电源等以外的另一个灯会隔几秒连续亮两下,如果 引脚出现开短路时则指示灯一直熄灭,除电源灯 在设计期间,查阅了大量有关单片机系统设计的相关中文、英文资料,分析 了很多芯片的功能及应用,初步掌握了单片机与一些传感器的用法。通过查阅 资料,不但做到了温故而知新,而且使自己所学的知识更加系统化,并在一定 .\ 程度上提高了收集和筛选信息的能力。在查阅英文资料的同时,也提高了英语 的应用能 八、参考文献 [1] 杨素行.模拟电子技术基础简明教程.清华大学电子学教研组编,高等教育 出 版社,第三版 2005 年 12 月 [2] 杨光友,朱宏辉.单片微型计算机原理及接口技术.北京.第 1 版.中国水利 水电出版社,2002:P23—P25 [3] 先锋工作室.单片机程序设计实例.北京.第 1 版.清华大学出版社, 2003:P125—P134 [4] 李华.MCS-51 系列单片机实用接口技术.北京.第 1 版.北京航空航天大学出 版社,2004:P75—P78 [5] 张毅刚,彭喜元,乔立岩.新编 MCS-51 单片机应用设计.哈尔滨.第 1 版.哈 尔滨工业大学出版社,2003:P35—P60 [6] 李群芳,张士军,黄建.单片微型计算机与接口技术.北京.第 3 版.电子工 业出版社.2008:P105—P13
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