2022年完整word版,材料分析题库含答案.docx

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1、精选学习资料 - - - - - - - - - 材料分析试题库挑选题：一、X 射线称（ B ）1. M 层电子回迁到K 层后,余外的能量放出的特点A.K ； B. K ； C. K ； D. L ；C ）2. 当 X 射线发生装置是Cu 靶,滤波片应选（A Cu；B. Fe；C. Ni； D. Mo；3. 当电子把全部能量都转换为X 射线时,该X 射线波长称（A ）L 层A.短波限0； B. 激发限k；C. 吸取限； D. 特点 X 射线K 层,余外能量将另一个4. 当 X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后,L 层电子回迁电子打出核外,这整个过程将产生（D ）A.光电子； B. 二次荧光

2、； C. 俄歇电子； D. （A+C）二、1. 最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）；A. 劳厄法； B. 粉末法； C. 周转晶体法； D. 德拜法；2. 射线衍射方法中,试样为单晶体的是（D ） D、 A 和 B A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法3. 晶体属于立方晶系,一晶面截（ B ）x 轴于 a/2 、y 轴于 b/3 、z 轴于 c/4 ,就该晶面的指标为A、364 B、234 C、213 D、468 4. 立方晶系中,指数相同的晶面和晶向（B ）A、相互平行 B 、相互垂直 C 、成肯定角度范畴 D、无必定联系5. 晶面指数（ 111）与晶向指数（111）的关系是（

3、 C ）； A. 垂直； B. 平行； C. 不肯定；6. 在正方晶系中,晶面指数 100 包括几个晶面（ B ）； A. 6； B. 4； C. 2 D. 1；7. 用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（ B ）A.X 射线透射学； B.X 射线衍射学； C.X射线光谱学； D.其它三、名师归纳总结 1、对于简洁点阵结构的晶体,系统消光的条件是（ A ）第 1 页,共 17 页A、不存在系统消光 B 、 h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、 l 为异性数2、立方晶系 100 晶面的多重性因子为（ D ）A、2 B、 3 C、4 D、6 3、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的

4、是（ A ）A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中,其次几何因子反映的是（ B ）A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是（ C ）A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参与衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样外形对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（ C ）A、112 B 、113 C 、101 D、 111 - -

5、- - - - -精选学习资料 - - - - - - - - - 7、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有（ C ）A、200 B 、 220 C 、112 D、 111 C、产生热漫散射 D 、转变布拉8、热振动对x-ray衍射的影响中不正确选项（E ）A、温度上升引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小格角 E 、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ）A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸取因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30 度角时, 计数管与入射线成多少度角 .（B） A. 30度； B. 60

6、度； C. 90度； C. 选用大的衍射角；D.选用2、不利于提高德拜相机的辨论率的是（ D ）； A. 采纳大的相机半径； B. 采纳 X 射线较长的波长；面间距较大的衍射面；3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ）A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是（ B ）A、1 1 B、2 1 C、 1 2 D、没有确定比例5、关于相机辨论率的影响因素表达错误选项（ C ）A、相机半径越大,辨论率越高 B、 角越大,辨论率越高C、X 射线波长越小,辨论率越高 D、晶面间距越大,辨论率越低6、粉末照相法所用的试样外形为（

7、C ）A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意外形7、低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ）A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可8、以气体电离为基础制造的计数器是（ D ）A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪耀计数器 D、A和 B 9、利用 X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与 性而制造的计数器为（ C ）X 射线强度成正比的特A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪耀计数器 D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量,如采纳定量X 射线物相分析,常用方法是（ C ）；A. 外标法； B. 内标法； C. 直接比较法； D. K 值法

8、；2、X 射线物相定性分析时,如已知材料的物相可以查（ C ）进行核对；A. 哈氏无机数值索引；B. 芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D. A 或 B；3、PDF卡片中,数据最牢靠的用（B ）表示A、i B、C、D、C 4、PDF卡片中,数据牢靠程度最低的用（C ）表示A、i B、C、D、C 5、将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（A ）A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K 值法6、在待测试样中掺入肯定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较,（ B

9、）从而获得待测相含量的定量分析方法称为名师归纳总结 A、外标法B、内标法C、直接比较法D、K 值法第 2 页,共 17 页九、1、 透射电子显微镜中可以排除的像差是（B ）；A球差；B. 像散 ； C. 色差；- - - - - - -精选学习资料 - - - - - - - - - 2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射才能不同而造成的像差称为（A ）A、球差 B、像散 C、色差 D、背散3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（B ）A、球差 B、像散 C、色差 D、背散4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（C ）A、球差 B、像散 C、色差 D、背散5、制造出世界上第一台

10、透射电子显微镜的是（B ）A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德拜 D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是（A ）A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高辨论率电子显微图像 D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是（B ）A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高辨论率电子显微图像 D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是（C ）A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高辨论率电子显微图像 D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是（D ）A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高辨论率电子显微图像 D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是（B ）A

11、、其次聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑6、物镜光阑安放在（C ）A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面7、选区光阑在 TEM 镜筒中的位置是（B ）A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将（A ）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜B ）9、透射电镜成形貌像时是将（A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 C、关闭中间镜 D、关闭物镜B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合10、为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（B

12、 ）A、其次聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑11、如 H-800 电镜的最高辨论率是 0.5nm ,那么这台电镜的有效放大倍数是（C ）；A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000；十二、1、单晶体电子衍射花样是（A ）；A. 规章的平行四边形斑点；B. 同心圆环； C. 晕环； D.不规章斑点；2、 薄片状晶体的倒易点外形是（C ）；A. 尺寸很小的倒易点；B. 尺寸很大的球；C. 有肯定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘；3、 当偏离矢量 S0时,倒易点是在厄瓦尔德球的（A ）；A. 球面外； B. 球面上； C. 球面内； D. B+C；4、 能帮

13、忙排除180o不唯独性的复杂衍射花样是（A ）；A. 高阶劳厄斑； B. 超结构斑点； C. 二次衍射斑； D. 孪晶斑点；5、 菊池线可以帮忙（D ）；A. 估量样品的厚度；B. 确定 180o不唯独性； C. 鉴别有序固溶体；D. 精确测定晶体取向；6、 假如单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是（D ）；A. 六方结构； B. 立方结构； C. 四方结构； D. A 或 B；名师归纳总结 - - - - - - -第 3 页,共 17 页精选学习资料 - - - - - - - - - 7、有一倒易矢量为g2a2 bc,与它对应的正空间晶面是（C ）；A. （210）；B. （220）

14、； C. （221）；D. （110）；十三、1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是（C ）；A. 明场像； B. 暗场像； C. 中心暗场像； D.弱束暗场像；2、 当 t=5s/2 时,衍射强度为（D ）；A.Ig=0；B. Ig0；D. Ig=Imax；3、 已知一位错线在挑选操作反射 氏矢量是（B ）；g1=（110）和 g2=（111）时,位错不行见,那么它的布A. b=（0 -1 0）；B. b=（1 -1 0）；C. b=（0 -1 1）；D. b=（0 1 0）；4、 当其次相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是（C ）；A. 质厚衬度； B.

15、 衍衬衬度； C. 应变场衬度； D. 相位衬度；5、当其次相粒子与基体呈共格关系时,此时所看到的粒子大小（B ）；A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小； C. 与真实粒子一样大小；D. 远远大于真实粒子；6、中心暗场像的成像操作方法是（C ）；A以物镜光栏套住透射斑；B以物镜光栏套住衍射斑；C将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑；十四、1、仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B ）；A. 背散射电子； B. 二次电子； C. 吸取电子； D.透射电子；2、在扫描电子显微镜中,以下二次电子像衬度最亮的区域是（B ）；A.和电子束垂直的表面；B. 和电子束成 30o的表面； C.

16、和电子束成 45o的表面； D. 和电子束成 60o的表面；3、可以探测表面 1nm 层厚的样品成分信息的物理信号是（D ）；A. 背散射电子； B. 吸取电子； C. 特点 X 射线； D. 俄歇电子；十五、1、扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（B ）；A. 波谱仪； B. 能谱仪； C. 俄歇电子谱仪；D. 特点电子能量缺失谱；2、波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是（A ）；A. 快速高效； B. 精度高； C. 没有机械传动部件；D. 价格廉价；3、要分析基体中碳含量,一般应选用（A）电子探针仪,A. 波谱仪型 B、能谱仪型填空：一、1. 当 X 射线管电压超过临界电

17、压就可以产生连续 X射线和标识 X射线；2. 当 X 射线管电压低于临界电压仅产生连续 产生连续 X射线和特点 X 射线；X 射线；当 X 射线管电压超过临界电压就可以3. 特点 X射线的产生过程中,如 K 层产生空位,由 L 层和 M层电子向 K 层跃迁产生的 K 系特点辐射按次序称 K 射线和 K 射线；4. X 射线的本质既具有 波动性 也具有 粒子性,具有 波粒二象性；5. 短波长的 X 射线称硬 X 射线,常用于金属部件的无损探伤；长波长的X射线称软 X 射线,常用于医学透视上；6. 连续谱短波限只与管电压有关；7. 特点 X 射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构；二、

18、1.本质上说, X 射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象；名师归纳总结 - - - - - - -第 4 页,共 17 页精选学习资料 - - - - - - - - - 2.布拉格方程在试验上的两种用途是结构分析和 X 射线光谱学；3.粉末法中晶体为多晶体,不变化,变化；4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法；5.平面底片照相方法适用于讨论晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面；三、1、原子序数 Z 越小,非相干散射越强；2、结构因子与晶胞的外形和大小无关；3、热振动给 X 射线的衍射带来很多影响有：温度上升引起晶胞膨胀、衍射线强度减小、产生向各个方向散射的非相干散射；4、衍射

19、强度公式不适用于存在织构 组织；5、结构因子 =0 时,没有衍射我们称 系统消光 或 结构消光；对于有序固溶体,原本消光的地方会显现 弱衍射；6、影响衍射强度的因素除结构因子外仍有 角因子,多重性因子, 吸取因子, 温度因子 ；四、1.在 肯定的情形下, 90 度, sin 0 ；所以精确测定点阵常数应选2.择 高角度衍射线；: 正装法, 反装法和偏装法三种；德拜照相法中的底片安装方法有3.在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜 -谢乐法、 聚焦照相法和 针孔法；4.德拜相机有两种,直径分别是 57.3mm 和 114.6mm；测量 角时,底片上每毫米对应2o和 1 o；5.衍射仪的核心是测角仪圆,

20、它由辐射源、试样台和探测器共同组成；6.可以用作 X射线探测器的有正比计数器、 盖革计数器和 闪耀计数器等；7.影响衍射仪试验结果的参数有狭缝光阑、时间常数和扫面速度等；五、1、X 射线物相分析包括定性分析和 定量分析,而 定性分析更常用更广泛；2、X 射线物相定量分析方法有外标法、 内标法、 直接比较法等；3、定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量；4、内标法仅限于粉末试样；九、1、电磁透镜的像差包括球差 、 像散和 色差和；球面像差两因素影响；2、透射电子显微镜的辨论率主要受衍射效应3、透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜；4、像差分为两类,即几何像差和色差；十、

21、1、TEM中的透镜有两种,分别是静电透镜和电磁透镜；2、TEM 中的三个可动光栏分别是聚光镜光栏位于其次聚光镜焦点上,物镜光栏位于物镜的背焦面上,选区光栏位于物镜的像平面上；3、TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成；4、透射电镜主要由 电子光学系统 , 电源与掌握系统 和 真空系统 三部分组成；5、透射电镜的电子光学系统分为三部分,即照明系统、成像系统和观看记录系统；十一、名师归纳总结 1、限制复型样品的辨论率的主要因素是复型材料的粒子尺寸大小；第 5 页,共 17 页2、今日复型技术主要应用于萃取复型来揭取其次相微小颗粒进行分析；- - - - - - -精选学习资料 - - - - -

22、 - - - - 3、质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像 基础上的成像原理,是说明非晶态样品电子显微图像衬度的理论依据；4、粉末样品制备方法有胶粉混合法和 支持膜分散粉末法；萃取复型三种方法；5、透射电镜的复型技术主要有一级复型、二级复型和十二、1、电子衍射和 X 射线衍射的不同之处在于入射波长不同、试样尺寸外形不同,以及样品对电子和 X 射线的散射才能不同；2、电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样；3、偏离矢量 S的最大值对应倒易杆的长度,它反映的是 角偏离布拉格方程的程度；4、单晶体衍射花样标定中最重要的

23、一步是确定晶体结构；5、二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在本该消光的位置产生衍射花样,但体心立方和面心立方结构的花样中不会产生余外衍射；6、倒易矢量的方向是对应正空间晶面的法线；倒易矢量的长度等于对应晶面间距的倒数 ；7、只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该晶面满意布拉格条件,能产生衍射 ；十三、1、运动学理论的两个基本假设是 双光束近似 和 柱体近似；2、对于抱负晶体, 当 样品厚度 或 偏离矢量 连续转变时衬度像中会显现 等厚消光条纹或 等倾消光条纹；3、对于缺陷晶体,缺陷衬度是由缺陷引起的 位移矢量 导致衍射波振幅增加了一个 附加位相角,但是如 附加的位相角 =2 的整数倍

24、时,缺陷也不产生衬度；4、一般情形下, 孪晶与层错的衬度像都是平行 直线,但孪晶的平行线 间距不等,而层错的平行线是 等间距 的；5、实际的位错线在位错线像的 一侧,其宽度也大大小于位错线像的宽度,这是由于位错线像的宽度是 应变场 宽度；十四、1、电子束与固体样品相互作用可以产生背散射电子、 二次电子、透射电子、 特点 X 射线、 俄歇电子、 吸取电子等物理信号；2、扫描电子显微镜的放大倍数是阴极射线电子束在荧光屏上的扫描宽度与电子枪电子束在样品表面的扫描宽度的比值；在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 暗 衬度；亮 衬度,而裂纹、 凹坑就是3、辨论率最高的物理信号是 俄歇电子或二次电子 为 5 nm

25、 ,辨论率最低的物理信号是 特征 X 射线 为 100 nm 以上；4、扫描电镜的辨论率是指 二次电子 信号成像时的辨论率5、扫描电子显微镜可以替代 金相显微镜 进行材料 金相观看, 也可以对 断口 进行分析观看；6、扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子；7、扫描电子显微镜是电子光学系统,信号收集处理、图像显示和记录系统,真空系统三个基本部分组成；8、 电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、扫描线圈和样品室；十五、1、电子探针的功能主要是进行微区成分分析；名师归纳总结 - - - - - - -第 6 页,共 17 页精选学习资料 - - - - - - - - - 2、电子探针的信号检

26、测系统是X 射线谱仪, 用来测定特点波长的谱仪叫做波谱仪；用来测定X 射线特点能量的谱仪叫做能量分散谱仪；3、电子探针仪的分析方法有定性分析和定量分析；其中定性分析包括定点分析、线分析、面分析；4、电子探针包括能谱仪和 波谱仪两种仪器；判定题：一、1. 激发限与吸取限是一回事,只是从不同角度看问题；（ ）（ ）2. 经滤波后的X 射线是相对的单色光； （ ）3. 产生特点 X 射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态；4. 挑选滤波片只要依据吸取曲线挑选材料,而不需要考虑厚度；（二、1.X 射线衍射与光的反射一样,只要满意入射角等于反射角就行；（ ）n；（）2.干涉晶面与实际晶面的

27、区分在于：干涉晶面是虚拟的,指数间存在公约数3.布拉格方程只涉及X 射线衍射方向,不能反映衍射强度；（ ）三、1、衍射方向在X 射线波长肯定的情形下取决与晶面间距（）2、在一个晶面族中,等同晶面越多,参与衍射的概率就越大（ ）3、X 射线衍射线的峰宽可以反映出很多晶体信息,峰越宽说明晶粒越大（4、原子的热振动可使X 射线衍射强度增大（）5、温度肯定时,衍射角越大,温度因子越小,衍射强度随之减小（6、布拉格方程只涉及X 射线衍射方向,不能反映衍射强度（）7、衍射角肯定时,温度越高,温度因子越小,衍射强度随之减小（8、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（）四、1、大直径德拜相机可以提高衍射线

28、接受辨论率,缩短嚗光时间；（ ）2、在衍射仪法中,衍射几何包括二个圆；一个是测角仪圆,另一个是辐射源、探测器与试样三者仍必需位于同一聚焦圆；（ ）大小适中, 没有应力；（ ）3、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确；（ ）4、 衍射仪法和德拜法一样,对试样粉末的要求是粒度匀称、5、 要精确测量点阵常数；必需第一尽量削减系统误差,其次选高角度 角,最终仍要用直线外推法或柯亨法进行数据处理；（ ）x-ray源6、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（）7、德拜相机的底片安装方式中,正装法多用于点阵常数的确定（）8、依据不消光晶面的N值比值可以确定晶体结构（ ）9、为了提高德拜相机的辨论率,在条件答应

29、的情形下,应尽量采纳波长较长的（ ）10、在分析大晶胞的试样时,应尽可能选用波长较长的 x-ray 源,以便抵偿由于晶胞过大对辨论率的不良影响（ ）11、挑选小的接受光阑狭缝宽度,可以提高接受辨论率,但会降低接受强度（ ）五、1、X 射线衍射之所以可以进行物相定性分析,是由于没有两种物相的衍射花样是完全相同名师归纳总结 的；（ ）第 7 页,共 17 页2、理论上X 射线物相定性分析可以告知我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告知我们这些物相的含量有多少；（ ）3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（ ）4、内标法仅限于粉末试样（ ）- - - - - - -精选

30、学习资料 - - - - - - - - - 5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（ ）6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x 表示该线条的衍射强度待定（）7、PDF卡片的右上角标有说明数据牢靠性高（ ）8、多相物质的衍射花样相互独立,互不干扰（）9、物相定性分析时的试样制备,必需将择优取向减至最小（）九、1、TEM的辨论率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响；（ ）2、孔径半角 是影响辨论率的重要因素,TEM中的 角越小越好； （ ）3、TEM 中主要是电磁透镜,由于电磁透镜不存在凹透镜,所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或排除像差,故TEM中的像差都是不行排除的；（）4、T

31、EM的景深和焦长随辨论率r0 的数值减小而减小；随孔径半角 的减小而增加；随放大倍数的提高而减小； （ ）5、电磁透镜的景深和焦长随辨论率（ ）r0 的数值减小而减小；随孔径半角 的减小而增加6、光学显微镜的辨论率取决与照明光源的波长,波长越短,辨论率越高（）7、波长越短,显微镜的辨论率越高, 因此可以采纳波长较短的 射线作为照明光源；（8、用小孔径角成像时可使球差明显减小；（ ）9、限制电磁透镜辨论率的最主要因素是色差；（ ）10、电磁透镜的景深越大,对聚焦操作越有利；（ ）十、1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器辨论率和人眼辨论率,后者仅仅是仪器的制造水平；（ ）2

32、、物镜的辨论率主要打算于极靴的外形和加工精度（ ）3、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度（）4、物镜光阑孔越小,被挡去的电子越多,图像的衬度越大（）5、物镜光阑能使物镜孔径角减小,能减小像差,得到质量较高的图像（6、物镜光阑是没有磁性的（） ）7、利用电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品之间的距离是固定不变的（十二 、1、多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样,随着环直径增大, 衍射晶面指数也由低到高； （）2、单晶衍射花样中的全部斑点同属于一个晶带；（ ）3、偏离矢量 S=0 时,衍射斑点最亮；这是由于 S=0 时是精确满意布拉格方程,所以衍射强度最大；（ ）4、对于未知晶体结构,仅凭一张衍

33、射花样是不能确定其晶体结构的；仍要从不同位向拍照多幅衍射花样,并依据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判定晶体结构；（）5、电子衍射和 X 射线衍射一样必需严格符合布拉格方程；（ ）6、倒易矢量能唯独地代表对应的正空间晶面；（ ）十三、1、实际电镜样品的厚度很小时 ,能近似满意衍衬运动学理论的条件 ,这时运动学理论能很好地说明衬度像； （ ）2、厚样品中存在消光距离 g,薄样品中就不存在消光距离 g；（ ）3、明场像是质厚衬度,暗场像是衍衬衬度；（ ）4、晶体中只要有缺陷,用透射电镜就可以观看到这个缺陷；（ ）5、等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观看中的干扰,应当通过更好的制样来防止它

34、们的显现；（ ）十四、名师归纳总结 1、扫描电子显微镜中的物镜与透射电子显微镜的物镜一样；（）（ ）第 8 页,共 17 页2、扫描电子显微镜的辨论率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差；- - - - - - -精选学习资料 - - - - - - - - - 3、扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度；（）4、扫描电子显微镜具有大的景深,所以它可以用来进行断口形貌的分析观看；（）十五、1、波谱仪是逐一接收元素的特点波进步行成分分析；能谱仪是同时接收全部元素的特点 X 射线进行成分分析的； （ ）名词说明：0、系统消光： 因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些

35、方向上衍 射线消逝的现象；1、结构因子： 定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数；2.Hanawalt 索引： 数字索引的一种, 每种物质的全部衍射峰之中,必定有三个 峰的强度最大 而非面网间距最大 ； 把这三个强度最大的峰,按肯定的规律排 序,就构成了 Hanawalt 排序和索引方法；排序时,考虑到影响强度的因素比较复杂,为了削减因强度测量的差异而带来的查找困难,索引中将每种物质列出三次；数据检索时, 按实际衍射图谱中的 3 强峰进行数据检索, 即可找到对应的衍 射卡片；3. 直接比较法：将试样中待测相某跟衍射线的强度与另一相的某根衍射线强度相 比较的定量金相分析方法；4.

36、球差：即球面像差, 是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射才能 不同造成的； 轴上物点发出的光束, 经电子光学系统以后, 与光轴成不同角度的 光线交光轴于不同位置,因此,在像面上形成一个圆形弥散斑,这就是球差；像散 ：由透镜磁场的非旋转对称引起的像差；色差： 由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差,它与多色光相像,所 以叫做色差；5. 景深： 透镜物平面答应的轴向偏差；焦长：透镜像平面答应的轴向偏差；在成一幅清楚像的前提下, 像平面不变,景物沿光轴前后移动的距离称 “ 景深” ；景物不动,像平面沿光轴前后移动的距离称“ 焦长”；6.Ariy 斑： 物体上的物点通过透镜成像时,由于衍射

37、效应,在像平面上得到的 并不是一个点, 而是一个中心最亮、 四周带有明暗相间同心圆环的圆斑,即所谓 Airy 斑；7. 孔径半角：孔径半角是物镜孔径角的一半,而物镜孔径角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度；因此,孔径半角是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度的一半；8. 点辨论率与晶格辨论率：点辨论率是电镜能够辨论的两个物点间的最小间距；晶格辨论率是能够辨论的具有最小面间距的晶格像的晶面间距；9. 选区衍射： 为了分析样品上的一个微小区域,在样品上放一个选区光阑, 使电子束只能通过光阑孔限定的微区,对这个微区进行衍射分析；名师归纳总结 10. 有效放大倍数：

38、 把显微镜最大辨论率放大到人眼的辨论本事（0.2mm）,让人第 9 页,共 17 页眼能辨论的放大倍数,即眼睛辨论率/ 显微镜辨论率；- - - - - - -精选学习资料 - - - - - - - - - 11. 质厚衬度： 由于试样的质量和厚度不同,各部分对入射电子发生相互作用,产生的吸取与散射程度不同, 而使得透射电子束的强度分布不同,形成反差, 称 为质 - 厚衬度；12. 偏离矢量 s：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量 s 表示, s 就是偏离矢量；13. 晶带定律： 凡是属于 uvw 晶带的晶面,它的晶面指数hkl都必需符合hu+kv+lw=0,通常把这种关系式称为

39、晶带定律；14. 相机常数： 定义 K=L ,称相机常数,其中L 为镜筒长度, 为电子波长；15. 明场像： 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法,叫明 场成像,所得到的像叫明场像；16. 暗场像： 用物镜光阑拦住透射束及其余衍射束,而只让一束强衍射束通过光 阑参与成像的方法,称为暗场成像,所得图象为暗场像；17. 中心暗场像： 用物镜光阑拦住透射束及其余衍射束,而只让一束强衍射束通 过光阑参与成像的方法, 称为暗场成像, 所得图象为暗场像； 假如物镜光阑处于 光轴位置,所得图象为中心暗场像；18. 消光距离g：晶体内透射波与衍射波动力学相互作用,使其强度在晶体深度方向上发生周

40、期性振荡,振荡的深度周期叫消光距离；19. 衍射衬度： 入射电子束和薄晶体样品之间相互作用后,样品内不同部位组织 的成像电子束在像平面上存在强度差别的反映；衍射衬度主要是由于晶体试样满意布拉格反射条件程度差异以及结构振幅不同 而形成电子图象反差；20. 背散射电子： 入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹 性散射部分； 背散射电子的作用深度大, 产额大小取决于样品原子种类和样品形 状；21. 吸取电子：入 射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量缺失殆尽（假定 样品有足够厚度,没有透射电子产生） ,最终被样品吸取；吸取电流像可以反映 原子序数衬度,同样也可以用来进行定性的微区成

41、分分析；22. 特点 X 射线： 原子的内层电子受到激发以后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特点能量和波长的一种电磁波辐射；利用特点X 射线可以进行成分分析；23. 二次电子： 二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子；二次电子来自表面 50-100 . 的区域,能量为 显示试样表面的微观形貌；0-50 eV ；它对试样表面状态特别敏锐,能有效地24. 俄歇电子： 假如原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不以 X 射线的形式释放, 而是用该能量将核外另一电子打出,次电子叫做俄歇电子；俄歇电子信号适用于表层化学成分分析；脱离原子变为二次电子, 这种二25. 波谱仪： 电子探针的信号检测系统是X 射线谱仪,用来测定X射线特点波长的谱仪叫做波长分散谱仪；名师归纳总结 - - - - - - -第 10 页,共 17 页精选学习资料 - - - - - - - - - 26. 能谱仪： 电子探针的信号检测系统是X 射线谱仪,用来测定X射线特点能量的谱仪叫做能量分散谱仪；问答题：1. 什么叫“ 相干散射” 、“ 短波限” 、吸取限？答：相