第四章异方差检验的eviews实际操作.doc
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1、-/第四章 异方差性例4.1.4一、参数估计进入Eviews软件包,确定时间范围,编辑输入数据;选择估计方程菜单:(1)在Workfile对话框中,由路径:Quick/Estimate Equation,进入Equation Specification对话框,键入“log(y) c log(x1) log(x2)”,确认ok,得到样本回归估计结果;(2)直接在命令栏里输入“ls log(y) c log(x1) log(x2)”,按Enter,得到样本回归估计结果;(3)在Group的当前窗口,由路径:Procs/Make Equation,进入Equation Specification窗口
2、,键入“log(y) c log(x1) log(x2)”,确认ok,得到样本回归估计结果。如表4.1:表4.1图4.1估计结果为:LnY=3.266+0.1502LnX1+0.4775LnX2 (3.14) (1.38) (9.25)R2=0.7798 D.W.=1.78 F=49.60 RSS=0.8357括号内为t统计量值。二、检验模型的异方差(一)图形法(1)生成残差平方序列。在Workfile的对话框中,由路径:Procs/Generate Series,进入Generate Series by Equation对话框,键入“e2=resid2”,生成残差平方项序列e2; 直接在命令
3、栏里输入“genr e2=resid2”,按Enter,得到残差平方项序列e2。(2)绘制散点图。直接在命令框里输入“scat log(x2) e2”,按Enter,可得散点图4.2。选择变量名log(x2)与e2(注意选择变量的顺序,先选的变量将在图形中表示横轴,后选的变量表示纵轴),再按路径view/graph/scatter/simple scatter ,可得散点图4.2。由路径quick/graph进入series list窗口,输入“log(x2) e2”,确认并ok,再在弹出的graph窗口把line graph换成scatter diagram,再点ok,可得散点图4.2。图4
4、.2由图4.2可以看出,残差平方项e2对解释变量log(X2)的散点图主要分布图形中的下三角部分,大致看出残差平方项e2随log(X2)的变动呈增大的趋势,因此,模型很可能存在异方差。但是否确实存在异方差还应通过更进一步的检验。(二)Goldfeld-Quanadt检验(1)对变量取值排序(按递增或递减)。在Workfile窗口中,由路径:Procs/Sort Series进入sort workfile series对话框,键入“X2”,如果以递增型排序,选Ascending,如果以递减型排序,则应选Descending,点ok。本例选递增型排序,选Ascending。直接在命令栏里输入“so
5、rt x2”(默认为升序),再按Enter。(2)构造子样本区间,建立回归模型。在本例中,样本容量n=31,删除中间1/4的观测值,即大约7个观测值,余下部分平分得两个样本区间:1-12和20-31,它们的样本个数均是12个。在Sample菜单里,把sample值改为“1 12”再用OLS方法进行第一个子样本回归估计,估计结果如表4.2。表4.2同样地,在Sample菜单里,把sample值改为“20 31”再用OLS方法进行第二个子样本回归估计,估计结果如表4.3。表4.3(3)求F统计量值。基于表4.2和表4.3中残差平方和RSS的数据,即Sum squared resid的值,得到RSS
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