特种设备无损检测RTⅢ级人员 专业理论考核试卷.doc
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1、考核号: 姓名: 密 封 线2006年度特种设备无损检测RT级人员专业理论考核试卷 (闭 卷)(参考答案)成绩:题号题 型分值扣分阅卷人签章一是非题30二选择题30三问答题25四计算题15总 计1002006年6月16日 北京全国特种设备无损检测人员资格考核委员会一、 是非题(对着画“”错者画“”每题1.5分,共计30分)1原子核的总质量总是大于它的组成部分的质量和。( )2衰变是放射性衰变的主要模式之一。( )3连续谱的最短波长min,不但与靶的材料有关,而且与外加管电压有关。 ( )4衰变常数反映了放射性物质的固有特性,值越大说明该物质越不稳定,衰变得越快。( )5对窄束单色X射线,衰减系
2、数是一常量,而对多色宽束X射线,衰减系数是一变量。( )6放射性活度大的源其辐射的射线强度也必然大。( )7阳极罩的主要作用是吸收二次电子和部分散乱射线。( )8对锥靶周向X射线管一般采用旋转阳极自然冷却方式。( )9一般情况下,胶片感光速度越高,射线照相影像的颗粒性就越不明显。 ( )10定影液老化和水洗不彻底都会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。 ( )11从非增感型胶片的特性曲线上可以看到曝光迟钝区、曝光不足区、曝光正常区,但无法看到曝光过度区。 ( )12胶片的感光速度与卤化银的颗粒度和射线的强度有关,与射线的能量无关。 ( )13.当管电压较高时,增感系数随增感屏金属材料的原子序数的
3、增大而减小。 ( )14.当采用Ir192射线照像时,可以在工件和胶片暗盒之间加厚度为0.1mm左右的滤板,这样做的目的是过滤工件中产生的低能散射线。( ) 15当裂纹横向尺寸大大小于焦点尺寸时,裂纹截面的面积大小对其影像对比度有很大影响。( )16当使用X射线照相时,射线底片上各点的Ug值是不相同的。( )17几何修正系数值越小,意味着几何条件对底片上小缺陷影像对比度的影响越大。( )18主因对比度增大并不能使胶片梯噪比提高。( )19显影液的pH值不仅影响显影的速度而且还影响影像的颗粒度。( )20辐射防护中随机性效应是指发生几率与剂量无关而严重程度与剂量有关的辐射效应。( )二、选择题(
4、将唯一正确答案的序号填入括号内,每题2分,共计30分)1、X射线管的阳极特性是指( D )A、X射线管的管电流与灯丝电流的关系B、X射线管的管电压与外接电压的关系C、X射线管的管电压与管电流的关系D、X射线管的管电流与灯丝温度的关系2、下面是关于瑞利散射的叙述,正确的是( D )A、瑞利散射是康普顿散射在低能范围的特殊表现形式B、瑞利散射不仅改变光子的能量,也改变光子的运动方向C、瑞利散射发生的几率随原子序数的增大而减小D、瑞利散射发生的几率随光子能量的减小而急剧减小3、下面是关于宽容度的叙述,错误的是( D )A、宽容度的大小与射线能量有关 B、宽容度的大小与底片黑度范围有关C、宽容度的大小
5、与胶片梯度有关 D、宽容度的大小与底片信噪比有关4、胶片卤化银粒度一般不会影响( B )A、感光度 B、对比度 C、分辨率 D、信噪比5、下面哪一条不是影响胶片对比度的重要因素?( C )A、胶片的种类 B、底片的黑度 C、增感方式 D、显影条件6、决定点状小缺陷影像对比度的最主要因素是( C )A、小缺陷高度 B、小缺陷截面积 C、小缺陷体积 D、以上都是7、胶片放入显影液之前,一般应在清水中预浸一下,这样做的主要目的是( B )A、清除胶片表面的尘埃防止显影时划伤底片 B、使胶片表面润湿,避免胶片表面有气泡造成显影不均匀C、可以避免干燥后的底片出现水迹 D、以上都是8、对大厚度比试件透照时
6、,采用的特殊技术措施一般包括( D )A、适当提高管电压技术 B、双胶片技术C、补偿技术 D、以上都是9、下面关于颗粒性的叙述,错误的是( B )A、颗粒性随感光速度的增大而增大B、颗粒性随射线能量的增大而减小C、颗粒性随曝光量的增大而减小D、颗粒性随底片黑度的增大而减小10、下面关于数字平板照相技术特点的叙述,错误的是( B )A、数字平板照相所需曝光时间比胶片照相短B、数字平板照相的图象质量比胶片照相好C、数字平板照相的成本比胶片照相高D、数字平板照相受温度影响比胶片照相大11、下面是关于安放式接管管座焊缝射线照相技术要点的叙述,正确的是( D )A、为获得最小Ug值,胶片的各个部位应尽量
7、与焊缝紧贴B、为增大透照厚度宽容度,可采用双胶片照相技术C、可适当提高管电压,必要时从不同方向进行透照D、以上都是12、影响高能射线照相清晰度的主要因素是( B )A、几何不清晰度 B、固有不清晰度 C、散射比 D、以上都是13、某组织受到X射线的照射,如在30s内当量剂量的增量为0.8mSv,该组织的当量剂量率是( C )A、2.7mSvs1 B、0.27mSvs1C、0.027mSvs1 D、0.0027mSvs114、W与以下哪一因素无关?( C )A、缺陷到胶片距离L2 B、焦点到缺陷距离L1 C、缺陷宽度w D、焦点尺寸df15、为确保射线检测新技术、新工艺的可靠性,应采取的主要措施
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