半导体材料第9讲-III-V族化合物半导体的外延生长ppt课件.ppt
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1、金属有机物化学气相沉积金属有机物化学气相沉积金属有机物化学气相沉积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition,MOCVD)自自20世世纪纪60年代首次提出以来,经过年代首次提出以来,经过70年代至年代至80年代的年代的发展,发展,90年代已经成为砷化镓、磷化铟等光电子年代已经成为砷化镓、磷化铟等光电子材料外延片制备的核心生长技术,特别是制备氮材料外延片制备的核心生长技术,特别是制备氮化镓发光二极管和激光器外延片的主流方法。化镓发光二极管和激光器外延片的主流方法。 到目前为止,从生长的氮化镓外延片和器件的到目前为止,从生长的氮化镓外延片和器件的性能以及生产成
2、本等主要指标来看还没有其它方性能以及生产成本等主要指标来看还没有其它方法能与之相比。法能与之相比。1237 ALE的基本特点是交替供应两种源气体,使反应物在衬底表面形成化学吸附的单层,再通过化学反应使另一种反应物源也单层覆盖。如此交替。 当每一步表面覆盖层精确为一层时,生长厚度才等于单层厚度乘上循环数。在GaAs(100)方向上一次循环所得到的生长厚度为0283 nm。经过多年的研究,ALE的实验装置有水平的,也有垂直的,有衬底旋转的,也有气流中断方式的,有的还有光照或激光诱导等装置。ALE的优点 由生长原理可以知道,由生长原理可以知道,ALE的方法是通过反应物与衬底之间的表面的方法是通过反应
3、物与衬底之间的表面吸附进行反应的。当反应物与衬底经过充分长的时间进行反应吸附后,吸附进行反应的。当反应物与衬底经过充分长的时间进行反应吸附后,即使再供应此种反应物,也不会出现晶体生长。因此决定生长厚度的即使再供应此种反应物,也不会出现晶体生长。因此决定生长厚度的参数是参数是ALE 的循环次数,因此的循环次数,因此ALE也被称为也被称为“数字外延数字外延”。 数字外延有较高的重复性,可以由循环次数精确地知道生长厚度。数字外延有较高的重复性,可以由循环次数精确地知道生长厚度。对于数字外延来说,由于它是化学吸附的单层反应物的逐层生长,此对于数字外延来说,由于它是化学吸附的单层反应物的逐层生长,此模式
4、与气流分布、温度均匀性等关系不大,不需要特别注意边界层厚模式与气流分布、温度均匀性等关系不大,不需要特别注意边界层厚度、衬底附近的温度分布等参数。只要衬底表面完全吸附了一层反应度、衬底附近的温度分布等参数。只要衬底表面完全吸附了一层反应物,则厚度的高度均匀性就必然会达到,会得到高质量的镜面表面,物,则厚度的高度均匀性就必然会达到,会得到高质量的镜面表面,消除由于表面的势能不同而造成的生长表面产生的不均匀性。消除由于表面的势能不同而造成的生长表面产生的不均匀性。ALE生长方式的主要缺点是生长速率慢,生长方式的主要缺点是生长速率慢,循环时间长。循环时间长。有很多人采用很多办法来降低循环时间,有很多
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