最新单极型半导体器件精品课件.ppt
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1、黄君凯 教授绝缘栅场效应晶体管绝缘栅场效应晶体管 (金属(金属-绝缘体绝缘体-半导体场效应晶体管)半导体场效应晶体管) (金属(金属-氧化物氧化物-半导体场效应晶体管)半导体场效应晶体管) (IGFET:MISFET,MOSFET):表面场效应晶体管。):表面场效应晶体管。基本结构基本结构金属金属 - 半导体结构(半导体结构(M-S 结构)。结构)。金属金属 氧化物氧化物 半导体结构(半导体结构(MOS 结构)。结构)。黄君凯 教授二、二、 非平衡时的能带结构非平衡时的能带结构 判断判断 MS 结正反偏置依据结正反偏置依据 分析分析 和和 方向是否方向是否能带结构能带结构1.平衡平衡非平衡非平
2、衡E内E外相反:正向偏置相反:正向偏置相同:反向偏置相同:反向偏置FVRV ()DDqVq VV BBqqFMFSEEAl-Si n电子能量电子能量势势垒垒FMFSEE电阻高电阻高电阻低电阻低动力动力:外加电源提供:外加电源提供净电流流动净电流流动黄君凯 教授黄君凯 教授2. 电容效应电容效应类似于类似于 结,外偏压下半导体耗尽层宽度结,外偏压下半导体耗尽层宽度 W 将改将改变,空间电荷也将改变,故存在势垒电容。由式变,空间电荷也将改变,故存在势垒电容。由式(2- 36)(2- 37)易证明,易证明, MS 结结单位面积势垒电容单位面积势垒电容 可写成:可写成: (3 -7) 这里:这里: (
3、3 -8)因此,通过实验测量的因此,通过实验测量的 曲线,依据式曲线,依据式(2- 39) (2- 40)便可求出半导体势垒高度便可求出半导体势垒高度 及其体内的杂质浓及其体内的杂质浓度分布。度分布。p nTC122()()SDSTDqNCVVW V122()()2SDDVVW VN21TVCDV黄君凯 教授 例题例题8 金属金属 a,b分别与等面积的两种分别与等面积的两种 (且迁移率(且迁移率 相同)相同)A 和和 B 形成肖特基整流接触,这两个形成肖特基整流接触,这两个 MS 结结 的实验曲线如下图,判断哪种半导体硅的电阻率较的实验曲线如下图,判断哪种半导体硅的电阻率较 大?哪种金属的功函
4、数较高?大?哪种金属的功函数较高? 解解 对对 MS 结,因结,因 成立,对右图有成立,对右图有故故 ,又电阻率,又电阻率 故故 。Sin 212() /TGSBddVCqN22III11() /() /TTGGddVddVCC曲线 曲线 ()()D BD ANN1qNSi()Si()AB黄君凯 教授由于两个由于两个 MS 结都形成整流接触,由能带图易知有:结都形成整流接触,由能带图易知有:式中:式中: (室温下(室温下 )由于:由于: ,故,故因此:因此: ()MMSiDCFSWqqqVEE体内()lnCCFSDNEEkTN体内0DnN()()D BD ANN()()()()CFS BCFS
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