最新半导体可靠性的数学基础幻灯片.ppt

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1、2.1可靠性的定量表征v可靠性：是指产品在规定的条件下，在规定的时间内完成规定功能的概率。v三个规定来描述可靠性定性的v准确地描述产品可靠性定量的v产品的寿命是随机的变量数理统计来讨论v可靠性的数学描述：可靠度、失效概率、失效概率密度、瞬时失效率、平均寿命、可靠寿命产品的寿命特征v定义：不可修复的产品，产品发生失效前的工作时间；可修复，指两次相邻故障间的工作时间。v常用寿命概念平均寿命tMTTF可靠寿命中位寿命等平均寿命v器件寿命的平均值，记作：或tMTTF,是器件失效前的平均时间v由概率论关于随机变量的数学期望的定义得：0000)(R)(R- )()()(dttttdttdFdtttftEM

2、TTF可靠寿命v对一些电子产品，当其可靠度降到r时的工作时间，记该时间为tr，称为产品的可靠寿命，即：R(tr)=rv当r=0.5时的tr称为产品的中位寿命，vr=1/e时的可靠寿命称为产品的特征寿命寿命方差和寿命标准离差v表征产品寿命分散程度的特征量v离差平方和v方差v标准离差N1i2i) tt (sN1i2i2) tt (1N11NsSN1iN1i2i2iN1i2i)t(N1t1N1) tt (1N1S可靠性各特征量之间的关系v插图片举例v设100块集成电路，在第100h内的失效数为7块，在100101h内失效13块，求该电路在100h的失效率为多少？v某集成电路使用到2000h还能工作的

3、概率是94%，使用到3000h仍能正常工作的概率是87%，问已经工作了2000h的电路，能继续工作到3000h的概率是多少？常用的概率分布v分布类型的确定方法：根据物理背景来定，产品的寿命分布与产品的类型（机械类，电子类）关系不大，而与其承受的应力情况、产品的内在结构及其物理、化学等有关通过寿命试验及使用情况，获得失效数据，用统计推断的方法来判断它是属于何种分布形式v概率分布：威布尔分布指数分布正态分布正态指数分布威布尔分布v概率密度函数为：v累积失效分布函数：v失效率：t )()(0)(10ttmmettmtf10)()()(1)(0mttttmtetFmm为形状参数，它决定了概率密度曲线的

4、基本形状。t0为尺度参数，它反映了产品工作时的负荷条件；负荷重，其值就小些称为位置参数，它决定了f(t)曲线的起点，一般情况下多为零形状参数mv当m1，曲线出现缝制后下降，v当m3.5可以看作正态分布处理vM值越小，曲线平坦，失效数据分散，失效原因越复杂，相当于失效率曲线中的早期失效。当m值越大，曲线变陡，数据分布集中，失效原因越单纯，反映出器件原材料、工艺一致性好。相当于耗损失效期。当m=1，失效率为常数，相当于产品的偶然失效期v尺度参数t0表示器件寿命的长短。当m、固定时，不同t0影响曲线横轴或纵轴尺度的放大和缩小，不影响曲线的基本形状t0越大，寿命越长，但数据越分散，失效机理越复杂v位置

5、参数表示了器件开始失效的时间。当m、t0固定时，不同值的曲线形状完全相同，只是位置发生了变化当0时，表示电路一开始就有失效电路存在当0时，表示电路开始一段时间内没有失效威布尔分布的寿命特征v平均寿命v寿命方差v可靠寿命v中位寿命693. 0ln0.5tlnt1-dt) t (ft1dtetdt) t (tf5 . 0LR202220t0指数分布v其函数形式为：v其他的寿命特征为：)()(t),0t(0 )()(1)()(0)(tFtfetftFetPtRePtPttt1693. 0)5 . 0(trR1ln1 tr(R)1)(D22中位寿命：可靠寿命：寿命方差：正态分布v其函数形式为：)(1)

6、()()()(t- )(21)(t- )(121)(t- )2)(exp(21)(10222222tttRtfttdxetFtdxetRttfxtxtv寿命特征：是平均寿命当越小，f(t)的极值越大，分布密度曲线越陡，数据越集中；当越大，f(t)的极值越小，分布密度曲线越平坦，数据越分散； 参数反映分布的集中点，即曲线的位置1、标准正态分布以为均值、为标准离差的正态分布，记为 N (, )。当 =0,=1时的正态分布，用N(0,1)表示。 (u)和(u)表示服从正态分布的密度函数和分布函数u- dxe21(u)u- e21)u(u22x22x2、正态分布表的用法若已知服从N (, )，求落在区

7、间-3 ， +3 中的概率是多少？解 对于任何一个服从正态分布的随机变量，可以通过下述换算)3()3( -3)uP(-3)uP(-3)uP(-3 )3()3(P)P(33u33u21u对数正态分布v随机变量t的对数服从正态分布，其概率目的函数为：v其寿命特征为:222)(ln21)(tettfp2Z22e)R(tr)1e(可靠寿命：寿命方差：Zp为所要求的可靠度为r时，所对应的正态分布分位点值思考题1、100块集成电路，在15年内的失效数据如下：v求(6), (9), (12), (14)值为多少？2、有人认为任何元器件都服从这一条规律： (t)较高时, 对应的R(t)比较低， (t)较低时刻

8、对应的R(t)就比较高，你认为呢？3、试解释一下R(t=1000)=0.999的含义ti（年）1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15n(t)0 1 2 4 7 10 13 19 25 37 49 68 82 94 100可靠性框图和数学模型v基本概念及其意义系统与单元之间的关系：物理关系和功能关系可靠性框图数学模型v绘制可靠性框图需注意的问题可靠性框图与电气联接相区别在建立可靠性框图时要注意其所完成的功能系统可靠性框图的分类v系统串联并联混联网络其他串联系统v定义v系统的寿命等于各单元寿命中的最小者，v系统可靠度是组成该系统的各单元可靠度的连乘积n1iin21n

9、21ini1ss) t (R tP tP tP t,t,t,P tminP tP) t (Rv串联系统的失效分布：v系统的失效分布密度：v系统的失效率：v系统与各单元的平均寿命的关系：n1iin1iiss(t)F-11(t)R-1(t)R1) t (Fn1iisssnij1jjn1iis) t () t (R) t (f) t (t)F-1) t (f) t (fn1iMTTFMTTF)t1(1tis并联系统（并联冗余系统）v分类：工作储备和非工作储备v纯并联系统：系统的寿命等于各单元寿命的最大者n1iin21n21ini1ss) t (F tP tP tP t,t,t,P tmaxP tP)

10、 t (Fn1iisnij1jjn1iis(t)R-11) t (R(t)F-1) t (f) t (f混联系统v串-并联系统：将n个单元并联，再串联m个，构成n-m串-并联系统，设各单元可靠度为Rij，i=1，2，n，j=1，2，m，且所有单元的寿命相互独立，则由串联和并联公式得：v当各单元可靠度相等时m1jn1iijm1jjs)t (R1 1) t (R) t (Rmns)t (R1 1) t (Rv并-串联系统将m个单元串联，再并联n个，构成n-m并-串联系统，设各单元可靠度为Rij，i=1，2，n，j=1，2，m，且所有单元的寿命相互独立，则得：v当各单元可靠度相等时：n1im1jijn1iis)t (R1 1)t (R-11Rmns)t (R11R