2022年2022年光电成像探测器 .pdf
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1、第 5 章光电成像探测器图像传感器( image sensor )是一种将光学图像信息转换为电信号的装置,因其具有许多电真空成像器件无法比拟的优点而成为当今的主流成像器件。根据元件构成的不同, 可分为 CCD (Charge Coupled Device,电荷耦合元件) 和 CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor,金属氧化物半导体元件)两大类。1969年 10月 19日,美国贝尔实验室 (Bell Labs)的维拉波义耳(Willard S. Boyle) 和乔治史密斯( George E. Smith )发明了 CCD 。当时贝尔实验室正在发
2、展基于二极管阵列的影像电话(picture phone)和半导体气泡式内存(semiconductor bubble memory)。以这两种新技术为思路,波义耳和史密斯通过头脑风暴( brain storming)构思出一种装置,他们命名为“电荷气泡元件” (Charge Bubble Devices) 。这种装置最初用作半导体记忆装置。随后,1970 年 4 月,波义耳和史密斯提出使用该器件组成线阵或面阵可用于成像,CCD就此诞生。发展到今天,以CCD 为代表的图像传感器已广泛应用在手机摄像头、照相机、科学研究、工业检测等方面。2009 年,波义耳和史密斯因“发明了一种成像半导体电路 CC
3、D ”而与另外一名科学家高锟分享了当年的诺贝尔物理学奖。作为固体图像传感器的除CCD外的另一大分支, CMOS图像传感器是 20 世纪 70 年 代 在 美 国航 空 航 天 局 (NASA, The National Aeronautics and Space Administration)的喷气推进实验室 (JPL, Jet Propulsion Laboratory)诞生的,同 CCD图像传感器几乎是同时起步的。 两种成像传感器各有优缺点, 我们将在后续章节对其进行比较。此外,本章还将介绍图像的增强与变像技术,即如何将低于视觉阈值的微弱光和不可见光变换为人眼可见的状态。最后,我们将介绍图
4、像传感器的几个典型的应用。5.1 电荷耦合器件5.1.1 电荷耦合器件(CCD )的基本原理CCD 包含光敏区域和移位寄存器组成的传输区域。一幅图像通过成像透镜投射到由电容器阵列组成的光敏区域, 每个电容器上积累的电荷与入射到其上的光强成正比。用于扫描仪和传真机的线阵CCD 相机每次仅能获取图像上的一条线上的信息;而通常用于视频和照相的面阵CCD 相机采用的是二维感光阵列, 能够获取二维图像信息。由于对应图像的亮暗分布不同而使得对应的MOS 电容器 (像素)所积累的电荷不同,从而形成了图像的潜影。电荷传输控制电路可以使各个MOS电容器所储存的电荷依次传递给相邻的MOS 电容器,最终进入电荷放大
5、器, 将电荷量转换为对应的电压信号。重复上述过程,可以使用控制电路将阵列中所有名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 1 页,共 23 页 - - - - - - - - - MOS 电容器储存的电荷量按顺序转换为相应的电压信号。在数字装置中,这些电压先好将通过模数转换形成数字信号;在模拟装置中, 则通过低通滤波形成连续的模拟信号,经处理后用于传输、记录、显示等。5.1.2 MOS 电容器的结构和工作原理CCD 的基本单元是 MOS (Metal Oxide Semicond
6、uctor)电容器,其结构如图5.1所示,它是在半导体P 型硅为衬底的表面上用氧化的办法生成的一层厚度约20nm-150nm 的二氧化硅( SiO2), 再在二氧化硅表面蒸镀一层金属(如铝) ,在衬底和金属电极间加上偏置电压,就构成了一个MOS 电容器。图 5-1 MOS 电容器的结构示意图在没有施加偏置电压时,作为P型半导体中多数载流子的空穴是均匀分布的。当在电极施加正偏置电压时,空穴被排斥,产生耗尽区。作为少数载流子的电子受电场吸引进入耗尽区, 耗尽区对于电子而言成为势能较低的区域,称为 “势阱” 。当具有一定波长的光子入射到P 型硅, P 型硅价带的电子将吸收光子的能量而跃迁至导带,产生
7、新的电子- 空穴对,称为光生电荷(photogenerated charge) ,其中产生的电子被势阱所收集,空穴则被排斥出耗尽层。这样的MOS单元叫做光敏单元或像素(Pixel ) 。一个光敏单元所搜集的所有光生电荷合起来被称为一个电荷包(charge packet ) 。 电荷存储于 MOS 电容器中的硅 -二氧化硅交界处,其厚度仅有数十纳米。当有更多的光生电荷产生并进入势阱时,势阱的势能不断降低。 当势阱的势能低至零时,就无法吸收多余的光生电荷了。这种状态称为饱和(saturation) 。CCD 的工作波长主要由MOS 电容器的材料性质决定。能否产生光生电荷由入射光子能量 h 与半导体
8、近代宽度Eg的关系决定,gcE24.1(5.1 )式中,c为保证产生光生电荷的最长波长,单位为m ,Eg为半导体禁带宽度,对于硅材料, Eg为 1.12eV, 则 c为 1.11 m 。此即该种材料的 CCD 工作波长的上限。高于此波长的光由于无法导致电子跃迁而不能产生光生电荷。那么是否所有满足该条件的波长都属于CCD 的工作波长呢?答案是否定的, 对于硅 CCD而言,由于硅在380nm 以下的紫外波段的吸收系数大,导致其穿透能力弱而进名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第
9、2 页,共 23 页 - - - - - - - - - 入不了衬底,因而在该波段成像比较困难。5.1.3 电荷的转移如前所述, CCD上各个 MOS 电容器在接受光照后收集了数量与对应光强成正比的电荷,形成了被摄图像的潜影,接下来就是如何转移并“读出”这些电荷的过程。为了理解在CCD中电荷是如何从一个像素移动到另一个像素的,参见图5-2。取 CCD 中四个彼此相邻的电极来说明。假设开始时有一些电荷存储在偏压为 10V的第 1 个电极下面的深势阶里, 其它电极上均加有大于阈值的较低的电压(例如 2V) 。设图 5-2(a)为零时刻(初始时刻),过 t1 时刻后,各电极上的电压变为图 5-2(b
10、)所示,第 1 个电极仍保持为 10V,第 2 个电极上的电压由2V变到 10V,因这两个电极靠得很紧(几微米) ,它们各自的对应势阱将合并在一起原来在第 2 个电极下的电荷变为这两个电极下势阱所共有,如图5-2(c) 。若此后电极上的电压变为图(d)所示,第二个电极电压由10V 变为2V,第三个电极电压仍为10V,则共有的电荷转移到第三个电极下的势阱中如图(e) 。由此可见,深势阱及电荷包向右移动了一个位置。图 5-2 电荷的转移过程可见,随着上述三相电压的不断变化, 各个电极下的电荷包就能沿半导体表面按一定方向移动。通常把CCD电极分为几组,并施加同样的时钟脉冲。 CCD名师资料总结 -
11、- -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 3 页,共 23 页 - - - - - - - - - 的内部结构决定了使其正常工作所需的相数。如图 5-2 所示的结构需要三相时钟脉冰,其波形如图 5-2(f )所示,这样的 CCD 称为三相 CCD 。三相 CCD 的电荷耦合(传输) 方式必须在三相交迭脉冲的作用下才能以一定的方向,逐个单元地转移。需要指出的是, CCD 电极间隙必须很小,电荷才能不受阻碍地自一个电极转移到相邻电极下。 这对干图 5-2 所示的电极结构是一个关键间题。如果电极间隙比
12、较大,两相邻电极间的势阱将被势垒隔开,不能合并, 电荷也下 (不)能从一个电极向另一个电极转移。 CCD 便不能在外部脉冲作用下正常工作。上述过程是一种电荷耦合过程,故此称这种器件为电荷耦合器件(CCD ) 。能够产生完全耦合条件的最大间隙一般由具体电极结构、表面态密度等日(因)素决定。理论计算和实验证实, 为了不使电极间隙下方界面处出现阻碍电荷转移的势垒,间隙的长度应小于3m ,这也是同样条件下半导体表面深耗尽区宽度的大致尺寸。当然,如果氧化层厚度,表面态密度不同,结果也会不同。但对绝大多数 CCD ,l m的间隙长度是足够小的。电荷传输的最边上电极的一侧扩散一个N型区作为电荷收集区,它与P
13、 型衬底形成 PN结,如图 5-3 所示。电源电压 E通过负载电阻 R施加在该 PN结的两端,使其处在反向偏置状态。当电荷包中电子传输到电极cn下时,就被该收集极收集,在 R上流过电流, 并转换为电压信号输出。 这与晶体三极管集电结的作用是相似的。 输出的电压值与势阱中的电荷包的电子数成正比,各电荷包依次串行输出。图 5-3 电荷的转换和输出5.1.4 CCD的特性CCD图像传感器可直接将光学信号转换为数字电信号,实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。其显著特点是:1. 体积小重量轻; 2. 功耗小,工作电压低,抗冲击与震动,性能稳定,寿命长;3. 灵敏度高,噪声低,动态范围大;4. 响应速
14、度快,有自扫描功能,图像畸变小,无残像;5. 应用超大规模集成电路工艺技术生产,像素集成度高,尺寸精确,商品化生产成本低。名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 4 页,共 23 页 - - - - - - - - - 5.1.5 CCD的功能参数选择黑白 CCD 与彩色 CCD 基于前述工艺的CCD本质上为黑白CCD ,它无法确定入射到光敏元上的各个颜色的光的组成。若想获取被摄物体的色差信息,需要使用彩色CCD 。一般的彩色数码相机是在黑白CCD 上覆盖拜尔滤镜( Baye
15、r filter) ,如图 5-4 所示。 。每四个像素形成一个单元,一个负责过滤红色、一个过滤蓝色,两个过滤绿色。之所以选择两个绿色像素是因为相比较而言人眼对绿色最为敏感,因此绿色信息应最为精确。 结果每个像素都接收到对应颜色的光强,单个像素是无法反映对应物体的色彩信息的,通过一定的去马赛克算法(demosaicing algorithm)对这些像素的光强进行差分处理可以最终获得彩色图像。图 5-4 用拜尔滤镜产生彩色图像由于一片同时完成亮度信号和色度信号的转换,使得拍摄出来的图像在彩色还原上达不到专业水平的要求。为了解决这个问题, 便出现了摄像机。即一台摄像机使用了片, 分别用于接收光信号
16、中红、绿、蓝三种颜色并转换为电信号, 然后经过电路处理后产生图像信号。拍摄出来的图像从彩色还原上要比单来的自然,亮度以及清晰度也比单好。但由于使用了三片,摄像机的价格要比单贵很多。分辨率的选择评估摄像机分辨率的指标是水平分辨率,其单位为线对, 即成像后可以分辨的黑白线对的数目。常用的黑白摄像机的分辨率一般为380-600 ,彩色为380-480,其数值越大成像越清晰。一般的监视场合,用400 线左右的黑白摄像机就可以满足要求。 而对于医疗、 图像处理等特殊场合, 用 600 线的摄像机能得到更清晰的图像。成像灵敏度名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - -
17、 - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 5 页,共 23 页 - - - - - - - - - 通常用最低环境照度要求来表明摄像机灵敏度,黑白摄像机的灵敏度大约是0.02-0.5Lux(勒克斯 ) ,彩色摄像机多在1Lux 以上。 0.1Lux 的摄像机用于普通的监视场合;在夜间使用或环境光线较弱时,推荐使用 0.02Lux的摄像机。与近红外灯配合使用时, 也必须使用低照度的摄像机。 另外摄像的灵敏度还与镜头有关, 0.97Lux/F0.75 相当于 2.5Lux/F1.2相当于 3.4Lux/F1. 参考环境照度:夏日阳光下 100000Lux 阴天
18、室外 10000Lux 电视台演播室 1000Lux 距 60W台灯60cm 桌 面300Lux 室 内 日 光 灯100Lux 黄 昏 室 内10Lux20cm 处 烛光10-15Lux 夜间路灯 0.1Lux 电子快门电子快门的时间在1/50-1/100000秒之间,摄像机的电子快门一般设置为自动电子快门方式, 可根据环境的亮暗自动调节快门时间,得到清晰的图像。 有些摄像机允许用户自行手动调节快门时间,以适应某些特殊应用场合。外同步与外触发外同步是指不同的视频设备之间用同一同步信号来保证视频信号的同步,它可保证不同的设备输出的视频信号具有相同的帧、行的起止时间。 为了实现外同步,需要给摄像
19、机输入一个复合同步信号(C-sync) 或复合视频信号。 外同步并不能保证用户从指定时刻得到完整的连续的一帧图像,要实现这种功能, 必须使用一些特殊的具有外触发功能的摄像机。光谱响应特性CCD 器件由硅材料制成, 对近红外比较敏感, 光谱响应可延伸至1.0um左右。其响应峰值为绿光 (550nm),分布曲线如右图所示。夜间隐蔽监视时,可以用近红外灯照明, 人眼看不清环境情况, 在监视器上却可以清晰成像。由于 CCD 传感器表面有一层吸收紫外的透明电极,所以 CCD 对紫外不敏感。 彩色摄像机的成像单元上有红、绿、兰三色滤光条,所以彩色摄像机对红外、紫外均不敏感。 CCD芯片的尺寸CCD的成像尺
20、寸常用的有1/2 、1/3 等,成像尺寸越小的摄像机的体积可以做得更小些。在相同的光学镜头下,成像尺寸越大,视场角越大。1/2.7 英寸并不是普通的“ 1 英寸 25.4mm ” 。由于结合了CCD出现前摄像机上使用的摄像管和显示方式,因此,习惯上采用比较特殊的尺寸。1/2.7 英寸为 6.6mm ,1/1.8 英寸约为 9mm 。名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 6 页,共 23 页 - - - - - - - - - 5.2 CMOS 图像传感器作为固体图像传感器的
21、除CCD外的另一大分支, CMOS图像传感器是 20 世纪 70 年代在美国航空航天局 (NASA) 的喷气推进实验室 (JPL) 诞生的,同 CCD图像传感器几乎是同时起步的。诞生之初由于其性能的不完善严重影响了图像质量,存在着像素大、信噪比小、分辨率低等这些缺点,一直无法和CCD技术抗衡,制约了它的发展和应用。 70 年代和 80 年代,CCD在可见光成像方面起主导地位。进入 90 年代,由于对小型化、低功耗和低成本成像系统消费需要的增加和芯片制造技术和信号处理技术的发展, 过去 CMOS图像传感器制造工艺中不易解决的技术难关现已都能找到相应解决的途径,为新一代低噪声、 优质图像和高彩色还
22、原度的 CMOS传感器的开发铺平了道路, CMOS图像传感器逐渐成为固体图像传感器的研究和开发热点, CMOS传感器的性能也得到大幅度提高。至今已研制出三大类 CMOS图像传感器,即CMOS无源像素传感器 (CMOS PPS) 、CMOS有源像素传感器 (CMOS APS)L21 和 CMOS数字像素传感器 (CMOS DPS) 。 CMOS图像传感器能够快速发展, 一是基于 CMOS集成电路工艺技术的成熟, 二是得益于固体图像传感器技术的研究成果。5.2.1 CMOS图像传感器的基本原理CMOS图像传感器的光电转换原理与CCD基本相同,其光敏单元受到光照后产生光生电子。而信号的读出方法却与C
23、CD不同,每个 CMOS源像素传感单元都有自己的缓冲放大器,而且可以被单独选址和读出。CMOS图像传感器的像素由感光元件和读出电路组成,感光元件是将光信号转变成电信号, 读出电路是将这些电荷信号转变为更容易读取,更方便传输的电压信号。CMOS图像传感器的像素阵列是由大量相同的像素单元组成,这些相同的像素单元是传感器的关键部分。 CMOS图像传感器通常也是以像素的不同类型为标准进行分类的,一般来说 CMOS图像传感器中的像素可分为无源像素(Passive Pixel sensor,简称 PPS) 有源像素传感器 (Active Pixel sensor ,简称 APS) 。近年来又出现了新型的像
24、素,数字像素(Digital Pixel Sensor简称 DPS) 。CMOS图像传感器中的感光元件是光电二极管,这个光电二极管是一个工作于反偏电压下的寄生PN结。当光照射光电二极管的时候,会在半导体内部产生电子空穴对, 但是这些电子空穴对并不会全部被收集。只有产生在耗尽层内的电子空穴对才会被收集, 这是因为在耗尽层内空间电荷区的电场会将产生的电子与空穴拉开,电子会被空间电荷区的电场扫入一侧的N 区,空穴会被扫入P 区。由于反偏 PN两侧结有寄生电容,这些电子空穴对会被寄生电容所收集。而在耗尽层之外光电效应产生的电子空穴对,由于没有被及时分离开, 产生之后会马上复合,因此只有产生于耗尽层的光
25、电效应才对光电转换有贡献。光电效应产生的光电荷积累在反偏PN结的寄生电容上,电荷在电容上的积分结果为电压。 光电信号最终以电压的形式被读出的,对于有源像素和数字像素来说,每个像素内部有一个起缓冲作用的放大器,信号通过这个放大器被读出。名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 7 页,共 23 页 - - - - - - - - - 对于无源像素来说, 在每列像素的底部有读出电路, 光电二极管的电压信号通过列线传输到每列底部的放大器读出。5.2.2 无源像素如图 5-5 所示,无
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