2022年2022年功率Mosfet参数介绍 .pdf
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1、功率 Mosfet 参数介绍第一部分最大额定参数最大额定参数,所有数值取得条件(Ta=25) VDSS 最大漏 -源电压在栅源短接, 漏-源额定电压 (VDSS) 是指漏 -源未发生雪崩击穿前所能施加的最大电压。根据温度的不同,实际雪崩击穿电压可能低于额定VDSS 。关于 V(BR)DSS 的详细描述请参见静电学特性. VGS 最大栅源电压VGS额定电压是栅源两极间可以施加的最大电压。设定该额定电压的主要目的是防止电压过高导致的栅氧化层损伤。实际栅氧化层可承受的电压远高于额定电压,但是会随制造工艺的不同而改变,因此保持VGS在额定电压以内可以保证应用的可靠性。ID - 连续漏电流ID 定义为芯
2、片在最大额定结温TJ(max)下,管表面温度在25或者更高温度下,可允许的最大连续直流电流。该参数为结与管壳之间额定热阻R JC 和管壳温度的函数:名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理 - - - - - - - 第 1 页,共 7 页 - - - - - - - - - ID 中并不包含开关损耗,并且实际使用时保持管表面温度在25( Tcase )也很难。因此,硬开关应用中实际开关电流通常小于ID 额定值 TC = 25 的一半,通常在1/3 1/4 。补充,如果采用热阻JA的话可以估算出特定温度下的
3、ID,这个值更有现实意义。IDM -脉冲漏极电流该参数反映了器件可以处理的脉冲电流的高低,脉冲电流要远高于连续的直流电流。定义 IDM 的目的在于: 线的欧姆区。对于一定的栅-源电压, MOSFET导通后,存在最大的漏极电流。如图所示,对于给定的一个栅-源电压,如果工作点位于线性区域内,漏极电流的增大会提高漏-源电压, 由此增大导通损耗。长时间工作在大功率之下,将导致器件失效。因此,在典型栅极驱动电压下,需要将额定IDM 设定在区域之下。区域的分界点在Vgs和曲线相交点。因此需要设定电流密度上限,防止芯片温度过高而烧毁。这本质上是为了防止过高电流流经封装引线,因为在某些情况下,整个芯片上最“
4、薄弱的连接 ” 不是芯片,而是封装引线。考虑到热效应对于IDM 的限制,温度的升高依赖于脉冲宽度,脉冲间的时间间隔,散热状况,RDS(on) 以及脉冲电流的波形和幅度。单纯满足脉冲电流不超出IDM 上限并不能保证结温不超过最大允许值。可以参考热性能与机械性能中关于瞬时热阻的讨论,来估计脉冲电流下结温的情况。PD -容许沟道总功耗容许沟道总功耗标定了器件可以消散的最大功耗,可以表示为最大结温和管壳温度为25时热阻的函数。TJ, TSTG- 工作温度和存储环境温度的 范围名师资料总结 - - -精品资料欢迎下载 - - - - - - - - - - - - - - - - - - 名师精心整理
5、- - - - - - - 第 2 页,共 7 页 - - - - - - - - - 这两个参数标定了器件工作和存储环境 所允许的结温区间。设定这 样的温度 范围是为了满足器件最短工作寿命的要求 。如果 确保器件工作在这个温度区间内,将极大地延 长其工作 寿命。EAS-单脉冲雪崩击穿能量如果电压过冲值(通常由于漏电流和杂散电 感 造成)未超过击穿电压,则器件不会发生雪崩击穿,因此也就不需要消散雪崩击穿的能力。雪崩击穿能 量 标定了器件可以容忍的瞬时过冲电压的安全 值,其依赖于雪崩击穿需要消散的能量 。定义额定雪崩击穿能量的器件通常也会定义额定EAS 。额定雪崩击穿能量与额定UIS 具有相似的
6、意义。 EAS标定了器件可以 安全吸收 反向雪崩击穿能 量的高低。L 是电 感值, iD 为电 感上流过的电流 峰值, 其会 突然转换 为测量 器件的漏极电流。电感上产生的电压超过MOSFET击穿电压后,将导致雪崩击穿。雪崩击穿发生时,即使 MOSFET处于关 断状态,电感上的电流同 样会流过 MOSFET器件。电 感上所储存的能量与杂散电 感上存储,由MOSFET消散的能 量类似 。MOSFET 并联后,不同器件之间的击穿电压很难完全 相同。通常情况是:某个器件率先发生雪崩击穿,随后所有的雪崩击穿电流(能量)都从 该器件流过。EAR - 重复雪崩能量重复 雪崩能 量已 经 成为“ 工业标准”
7、 ,但是在 没有设定 频率, 其它 损耗以及 冷却量 的情况下,该参数没有任何意义。散热 (冷却 )状况经常制 约着重复 雪崩能 量 。对于雪崩击穿所产生的能 量高低也很难 预测 。额定 EAR的 真实意义在于标定了器件所能承受的反复雪崩击穿能 量。该定义的前提条件是:不对频率做任何 限制,从而器件不会过热,这对于任何 可能发生雪崩击穿的器件都是现实的。在 验证器件设计的过程中,最 好可以测量 处于工作状 态的器件或者热沉的温度,来观察 MOSFET器件是 否 存在过热情况, 特别是对于可能发生雪崩击穿的器件。IAR - 雪崩击穿电流对于某些器件,雪崩击穿过程中芯片上电流集边 的 倾向 要求对
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