高速印制板用涂/镀层测试方法 编制说明.docx
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1、中国材料与试验团体标准T/CSTM XXXXX-202X高速 印制板用涂/镀层测试方法的编制说明1任务来源及简要过程3.1 任务来源中国材料与试验团体标准T/CSTM XXXXX-202X高速印 制板用涂/镀层测试方法-,为广东省重点领域研发计划 5G通信用关键材料测试评价技术研究与设备开发项目中 测试技术的研究成果。根据项目要求,调研高速印制板用 涂/镀层测试方法-相关的国内外标准,并进行高速印制 板用表面处理材料试验方法技术研究与方法标准化工作。该 标准主要由工业和信息化部电子第五研究所(以下简称电子 五所)起草,由中国材料与试验团体标准委员会电子材料领 域委员会(CSTM/FC51)归口
2、。3.2 工作过程表面处理层是印制板满足后期组件板卡具有良好焊接 效果的重要保证。典型的印制板表面处理为OSP、沉锡、沉 银、化学镶金、化学镁铝金、电镀镶金、喷锡等,但是随着 5G甚至6G通信的快速发展,电子产品信号朝着更高频率和 更高速度发展,电流在导体中传输时趋肤效应更明显,原本 只起到保焊作用的表面处理层,会因趋肤效应,影响到信号 的传输速度。基于此,对表面处理层其他特性,如表面粗糙此标准为新建的标准,无替代或废止的相关现行标准。11其它应予说明的事项无。度、厚度等的表征就显得尤为重要,同时在验证表面处理层 对特性阻抗、插入损耗等影响信号传输性能的需求也较为迫 切。因此,有必要针对高速印
3、制板上表面处理层,建立一套 与信号完整性相关的测试及验证方法。根据5G通信用关键材料测试评价技术研究与设备开发 项目的项目进度,2021年3月成立高速印制板用涂/镀 层测试方法-标准的工作团队,并开始着手调研有关阻焊 测试的国内外标准以及标准方法的技术研究工作。2022年4 月完成了高速印制板用涂/镀层测试方法-标准草稿的 编制,5月进行标准立项评审工作,经专家主评审,同意标 准立项。标准的主要起草单位为电子五所,参与单位为电子 科技大学(以下简称电子科大)、中兴通讯股份有限公司(以 下简称中兴通讯)、深南电路股份有限公司(以下简称深南 电路)、博敏电子股份有限公司(以下简称博敏电子)、广州
4、广合科技股份有限公司(以下简称广合科技),其中电子五 所牵头开展标准起草与技术研究,中兴通讯负责测试需求研 究与方法验证,深南电路、博敏电子和广合科技参与标准起 草。2编制原则和主要内容及解决的主要问题目前,国内外针对表面处理层的测试标准均集中在可焊 性测试上,且测试方法较健全,但是对于影响到信号完整性 的特性,如表面粗糙度、厚度等,相关的测试较为欠缺。在 表面处理层的厚度测试上,常用的是ASTM B568-2014标准 (X射线荧光测厚仪方式),该方法对于金属层的表面处理, 如化锡、化银等较为有效,但是对于非金属材料的OSP表面 处理,却不适用。在粗糙度测试上,国内外无对表面处理层 的粗糙度
5、测试的标准。国内标准GB/T 29847-2013主要是针 对铜箔的粗糙度而开发的标准。在对表面处理层的粗糙度上, 国内外标准几乎是一片空白。另外在验证表面处理层对阻抗、 插入损耗的影响上,目前国内外也未见相应标准,也是出于 一片空白的状态。因此本标准的建立主要是弥补该空白,为 高频高速用表面处理层的相关测试和验证提供依据。团队按照GB/T 1. 1-2020标准化工作导则 第1部分: 标准化文件的结构和起草规则给出的规则,在充分研究消 化和充分吸收GB/T 29847-2013等标准的基础上,结合高速 印制板实际特点,以及前期通过研究摸索和验证的方法,同 时考虑各项试验方法标准的“科学性”、
6、“前瞻性”、“适 用性”、实施检测的可行性,研究制订了高速印制板用涂 /镀层测试方法-团体标准,该标准填补高速印制板领域 中影响信号完整性的表面处理层特性相关测试和验证方法 的空白,为高速印制板用表面处理层的性能测试和验证提供 基础依据,促进行业的发展。3标准主要内容分析随着电子产品信号朝着更高频率和更高速度发展,电流 在导体中传输时趋肤效应更明显。原本只起到保焊作用的表 面处理层,会因趋肤效应,影响到信号的传输速度。团队在 前期研究过程也验证了这一结论。如下图1,不同表面处理 层随着频率的增加,对插入损耗的影响逐渐增大。相对而言, OSP、化锡、化银这三种表面处理层在高频信号下对插入损 耗的
7、影响相对较小,基本与裸铜相当。因此高速印制板用 涂/镀层测试方法-团体标准也是主要针对这三种表面处 理层的特性提出相应的测试方法和验证方法。主要测试项目 包括表面处理层厚度、粗糙度、特性阻抗、插入损耗等。05101520Frequency (GHz)图1不同表面处理层在高频信号下对插入损耗的影响3.1 厚度该试验项目主要是为测量表面处理层在厚度提供试验 方法。该方法使用切片的方式,结合SEM的放大观察测量功 能,来测量表面处理层的厚度。相比较于ASTM B568-2014 标准(X射线荧光测厚仪方式)的方法,对非金属物质的0SP 层也具有兼容性。业内对于OSP厚度测量未见有标准参考,常规的测量
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