电子显微结构分析.pptx
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1、一、概述 电子显微分析就是利用聚焦电子束与物质相互作用产生的各种物理信号来分析试样中物质的微区形貌、晶体结构、化学组成等。这中间包括电子扫描电镜、电子透射电镜、电子探针微区分析,随着分析手段的发展,环境扫描电镜、扫描隧道显微分析、原子力扫描显微分析也渐渐成为分析手段的重要组成部分。 第1页/共205页一、概述第2页/共205页一、概述第3页/共205页一、概述第4页/共205页一、概述 电子显微分析与其他的形貌、结构、成分分析方法对比,具有以下非常重要的优点: 1、直接在高倍镜下观察试样的形貌、结构,可选择特定的区域进行分析; 2、可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构与化学组成分析; 3、
2、可以进行形貌、结构、物相及化学组成的综合分析; 在固体科学、材料科学、地质、医学、生物等各领域的研究用途都很广。第5页/共205页Si衬底上衬底上一、概述第6页/共205页电子显微镜下的液晶分子形态第7页/共205页电子显微镜下的液晶分子形态第8页/共205页扫描电子显微镜第9页/共205页一、概述 (一)、光学显微镜的局限 光学显微镜的分辨能力,是光学显微镜能看到且区分开的最小物质。Abbe根据衍射理论导出了光学透镜的分辨本领的公式为: nm。在式中,r为分辨本领,为照明光源的波长,n为透镜的折射率,为透镜孔径半角,习惯把nsin称为透镜的数值孔径。因此可以看出,要增加透镜的分辨本领,即减小
3、r值有三个途径: 增加介质的折射率; 2、增大物镜的数值孔径; 3、采用短波长的照明光源。sin61. 0nr 第10页/共205页一、概述 当使用可见光作为光源,采用组合透镜、大的孔径角、高折射率的介质浸没物镜时,物镜的数值孔径最大可提高到1.6,在最佳的情况下,透镜的极限分辨率可达到200nm。要进一步提高显微镜的分辨率,必须使用更短波长的照明源。即是这样使用波长为275nm的紫外光作为照明源,显微镜的极限分辨率也只能达到100nm。虽然X射线的波长可达0.0510nm,但是不知道什么物质可使其改变方向,能进行有效的折射和聚焦成像。 因电子束也具有波动性,波长也很短,使用电子束作为照明源制
4、成的电子显微镜具有更高的分辨率。且电子束在电场与磁场中可以方便的加以控制,应用前途更广。 第11页/共205页K 光 学 显 微 镜J 电 子 显 微 镜眼晴:准确性、灵敏性、适应性和精密的分辨能力。人眼观察物体的粒度极限为0.1mm! 局限性可以看到那样小的物体。但光学显微镜超过一定放大率后就失去作用,最好的光学显微镜的放大极限是:第12页/共205页 利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的 微区形貌 、 显微结构 、 晶体结构 和 化学组成 。 电子显微分析的定义电子显微分析的定义: 透射电子显微镜(TEM) 扫描电子显微镜(SEM) 电子探针(EPMA)第13
5、页/共205页电子显微分析的特点: 放大倍数高:5倍 100万倍;且连续可调; (现代TEM可达 200万倍 以上) 分辨率高:0.20.3nm (现代TEM线分辨率可达0.1040.14) 多功能、综合性:形貌 + 物相 + 晶体结构 +化学组成第14页/共205页二、 电子光学基础 电子光学是研究带电离子在电场与磁场中运动,其产生偏转、聚焦、成像等规律的一门科学。与光学在光学介质中传播规律有很多相似的地方: 1、光线通过透镜聚焦,电子束则通过磁场与电场聚焦,磁场与电场是电子束的电子透镜; 2、在几何光学中,光线都利用旋转对称面作为折射面;在电子光学中,在旋转对称的电场及磁场产生的等位面作为
6、折射面。 3、电子光学可以仿照几何光学把电子束的运动轨迹看作是射线,并引入几何光学参量来表征电子透镜对电子的聚焦成像作用。第15页/共205页 电子光学与几何光学相似:l聚焦成像:几何光学利用光学透镜 会聚 光线 电子光学利用电场、磁场 会聚 电子束l几何光学利用旋转对称面(如球面)作为折射面 电子光学利用旋转对称电磁场产生的等位面 作折射面l几何光学光传播路径光线焦点、焦距等表征 电子光学电子运动轨迹射线焦点、焦距等表征第16页/共205页 电镜中电子光学系统的附加限制条件:电子轨迹相对于旋转对称轴斜率极小,即张角很小,一般为10-210-3rad0|2r12dzrdr电子径向位置坐标矢量z
7、旋转对称轴的坐标电子轨迹离轴距离很小,远小于电子束沿轴距离l 电、磁场与时间无关,且处于真空中,即真空中静场;l 忽略电子束本身的空间电荷和电流分布;l 入射电子束轨迹必须满足离轴条件:第17页/共205页r 分辨率 (r小,分辨能力越高)照明光的波长n透镜所处环境介质的折射率透镜孔径半角()nsin数值孔径 用N.A表示 p 分辨能力(分辨率、分辨本领): 一个光学系统能分开两个物点的能力,数值上是刚能清楚地分开两个物点间的最小距离。 (一)、光学显微镜的局限性0.610.61sinrnmnaN A第18页/共205页 可见光作光源,N.A可提高到1.51.6 -得 紫外线(100-400n
8、m): =275nm, 100nm X射线(0.1-100nm):难以使之改变方向、折射、聚焦成像 电子束: =0.03880.00087nm r=0.1nm 电子在电、磁场中易改变运动方向,且电子波的波长比可见光短得多,所以电子显微镜在高放大倍数时所能达到的分辨率比光学显微镜高得多。 阿贝定律的意义:减小 r值 的途径有: (1)N.A, 即n和 (2) 0.610.61sinrnmnaN A第19页/共205页二、 电子光学基础 (二)、电子的波动性与波长 根据De Broglie提出的运动着的微观粒子具有波粒二象性的观点,任何运动着的微观粒子也伴随着一个波,这就是物质波或德布罗意波。 粒
9、子的能量E与动量P和波长、频率的关系如下: , 。式中h是普朗克常数,h6.62610-34JS,这与光子与光波的关系是一样的。从晶体对入射电子波的衍射也证实了德布罗意波的观点。 电子在电场中得到加速运动,其动能与运动速度v之间的关系为: 。在式中,V称为加速电压,m是电子的质量。hvE /hP 22/1mveVE第20页/共205页二、 电子光学基础 当加速电压较低时,电子的运动速度很小,它的质量近似于电子的静止质量,由此计算电子的波长为: ;把电子的静止质量、电荷与普朗克常数都代入,则 。因此,电子的波长与加速电压平方根成反比。 当电子加速电压较高时,电子的运动速度很大,电子的质量也变大,
10、须引入相对论校正,则电子波的波长为: , c为光速,把电子的静止质量、电荷与普朗克常数都代入, 。一般上,电镜的加速电压为50200Kv,则电子波长为0.005360.00251nm,是可见光的十万分之一,可极大地提高显微镜的分辨率。Vemh02V150)21 (2200cmeVVemh)109875. 01 (25.126VV第21页/共205页 加速电压(kV)电子波长(nm)加速电压(kV)电子波长(nm)10.0388800.00418100.01221000.0037200.008592000.00251300.006985000.00142500.0053610000.00087
11、表表 电子波长(经相对论较正)电子波长(经相对论较正) 比可见光的波长小几十万倍。比结构分析中常用的X射线的波长也小12个数量级。 与X射线比较:X射线常用: = 0.050.25nm 电子波常用: = 0.00250.0054nm第22页/共205页&(三)、电子在电磁场中的运动和电(三)、电子在电磁场中的运动和电子透镜子透镜 电子光学折射定律&1. 1. 电子在静电场中的运动电子在静电场中的运动&2. 2. 静电透镜静电透镜&3. 3. 电子在磁场中的运动电子在磁场中的运动&4. 4. 磁透镜磁透镜&5. 5. 磁透镜与光学透镜的比较磁透镜与光学透镜的比较&6. 6. 磁透镜与静电透镜的比
12、较磁透镜与静电透镜的比较二、 电子光学基础第23页/共205页二、 电子光学基础 1、电子在电磁场中的运动 电子在静电场受到电场力的作用,产生加速度。从初速度为0的自由电子达到V电位时,电子的运动速度为v 。当电子的初速度不为0、运动方向与电场方向不在一条直线上时,则电场力不仅改变电子运动的能量,也改变电子运动的方向。 一般可以把电场看成由一系列等电位面分割的等电位区构成,当一个初速度为v1的电子e以与等电位面法线成一定角度的方向运动时,等电位上方与下方的电位分别为V1、V2,电子在等电位上方与下方的速度分别为v1、v2,运动轨迹为直线。但电子通过等电位面时,在交界点上电子的运动方向发生突变,
13、电子的运动速度也从v1变为v2。 meV2第24页/共205页二、 电子光学基础 这是因为电场对电子的作用力总是沿着电子所处点等电位面的法线,从低电位指向高电位。所以沿电子所处点的等电位面法线方向电场力的分量为0,电子沿该方向的运动速度保持不变。 若电子在等电位面两边的速度分别为v1、v2,与等电位面法线的夹角分别为、,则有: 或 假设初始电位点为0,电子的初速度为0,电子经V1、V2加速后的运动速度分别为 和meVv112sinsin21vv12sinsinvvmeVv222第25页/共205页二、 电子光学基础 所以: 这与光的折射率中的表达式十分相似,相当于折射率n,这说明电场中等电位面
14、是对电子折射率相同的表面,与光学系统中介质界面的作用相同。 当电子由低电位进入较高电位区时,折射角小于入射角,电子的轨迹趋向于法线;反之,电子的轨迹将离开法线。 实际上,电场的电位是连续变化的,当V0时,电子的折射轨迹变成曲线轨迹。122112sinsinVVvv第26页/共205页V1V2ABv2v12121sinsin=sinsinvvvv112 e Vvm222 e Vvm2(11122nnnnUenUe 几何光学中的折射定律sina1为介质的折射律)sina2电位为电场中的电子光学折射律电位为电场中的电子光学折射律12VVV1VV2 相当于是折射率:电位为电场中的电子光学折射律电位为电
15、场中的电子光学折射律2211sinsinVvvV第27页/共205页二、 电子光学基础 2、静电透镜 一定形状的光学介质面可以使光线聚焦成像,一定形状的等电位面也可以使电子束聚焦成像,产生这种旋转对称等电位曲面族的电极装置称为静电透镜。 静电透镜有二极和三极,分别是由两个或三个具有同轴圆孔的电极组成。下图是三极式静电透镜的电极电位、等电位曲面族的形状示意图。第28页/共205页 阴极尖端附近的自由电子在阳极作用下获得加速度; 控制极附近的电场( (推着电子) )对电子起会聚作用; 阳极附近的电场对电子有“拉”作用,即有发散作用,但因这时电子的速度很大,所以发散作用较小。静电透镜结构由电极组成
16、第29页/共205页二、 电子光学基础从静电透镜主轴上一物点a的散射电子,以直线轨迹向电场运动,当电子射入电场的作用范围并通过等电位面族时,将受到折射,最后被聚焦在轴上一点a, a成为a的像。第30页/共205页AB电子在阳极附近,如B点: FFz,Fr (Fr背离对称轴的方向)发散作用。但由于电子的速度已经很大,故发散作用较小。静电透镜受力分析电子在控制极附近时(A点):电场强度矢量E垂直于电场等位面,指向电位低的方向,电子受到的作用力F与E的方向相反: FFz,Fr (Fz 平行轴, Fr指向轴)电场力使电子向轴靠近,会聚作用。 第31页/共205页 静电透镜结论l 会聚作用大于发散作用:
17、静电透镜总是会聚透镜;l 静电透镜需要强电场,在镜筒内容易导致击穿和弧光放电:因此电场强度不能太高,静电透镜焦距较长,不能很好的矫正球差;l 主要用于电子枪中,使电子束会聚成形。l 在早期的电子显微镜中使用静电透镜,由于电子透镜需要很强的电场,在镜筒内易形成击穿和弧光,因此静电透镜的焦距不能做的很短,不能很好的校正球差。在现代电子显微镜中,除了使用电子枪使电子束汇聚成形外,大多使用磁透镜代替静电透镜。第32页/共205页-=sin()FevBFvBFevBvB力垂直于运动电荷速度 和磁感应强度 所决定的平面的大小电子在磁场中运动,受到磁场的作用力电子在磁场中运动,受到磁场的作用力洛仑兹力洛仑兹
18、力(左手定则左手定则):vB与电子在磁场中的受力和运动有以下三种情况: 平行:电子不受磁场影响;vB与垂直:电子在与磁场垂直的平面做匀速圆周运动;vB与交角:电子运动轨迹是一螺旋线。& 3. 电子在磁场中的运动第33页/共205页二、 电子光学基础因为洛仑兹力在电荷运动方向上的分量为0,磁场不能改变运动电荷的能量,不改变电荷运动速度的大小。即电子在磁场中运动,仅发生偏转。如图a所示,电子在与磁场垂直的平面内作匀速圆周运动,洛伦兹力起到向心力的作用;当电子的运动速度与磁场方向成一定的夹角时,电子的一定速度可分为两个方向的分矢量,平行于磁场方向的分矢量不受任何影响;而垂直于磁场方向的分矢量则作圆周
19、运动,其合成的运动轨迹是一个螺线。 第34页/共205页& 4. 磁透镜 短线圈磁透镜 包壳磁透镜 极靴磁透镜 特殊磁透镜例如:轴对称磁场系统(通电流的圆柱形线圈)旋转对称的磁场对电子束有聚焦成像作用,产生这种旋转对称磁场的线圈装置。在电子光学系统中用于使电子束聚焦成像的磁场是非均匀磁场,其等磁位面的形状与等电位面或光学透镜的界面相似, 第35页/共205页 短磁透镜 磁场沿轴延伸的范围远小于焦距的透镜,称短磁透镜。 通电流的短线圈及带有铁壳的线圈都可以形成短磁透镜: 短线圈磁透镜 包壳磁透镜第36页/共205页二、 电子光学基础第37页/共205页包壳磁透镜和极靴磁透镜第38页/共205页对
20、于短磁透镜:对于短磁透镜: f0,表明磁透镜总是会聚透镜 焦距f与加速电压U有关,加速电压不稳定将使图象不清晰。 f 1 / I2:表明当励磁电流稍有变化时,焦距f 变化。p为物距,q为像距,f为透镜的焦距; A是与透镜结构有关的常数(A0); U是加速电压;NI为透镜线包的安匝数;R为线包的半径。 111pqf22UfARN I第39页/共205页 极靴磁透镜特点:极靴附近磁场很强,对电子的折射能力大,可以使透镜的 f 变得更短。 极靴磁透镜是在包壳磁透镜中再增加一组特殊形状的极靴。 一组极靴由具有同轴圆孔的上下极靴和连接筒组成。 常用的极靴材料:Fe-Co合金,Fe-Co-Ni合金第40页
21、/共205页轴向磁场强度分布曲线 有极靴的磁透镜的磁场强度比短线圈或包铁壳磁透镜更为集中和增强。短线圈磁场中有一部分磁力线在线圈外侧,它对电子束的聚焦不起作用,因此短线圈磁透镜的磁场强度小,焦距长。第41页/共205页 特殊磁透镜特点: 焦距很短,约等于透镜磁场的半宽度; 球差可比普通磁透镜小一个数量级, 有利于提高透镜的分辨本领。 有的电镜是将试样放在透镜上、下极靴中间的位置,上极靴附近磁场起会聚电子束的作用,下极靴附近磁场起物镜作用, 单场磁透镜。 上下极靴的孔径不相同的磁透镜称不对称磁透镜。 如用于透射电镜的物镜,上极靴孔要大些,使试样能放在透镜的焦点位置附近,并便于试样的倾斜和移动。
22、扫描电镜中物镜的下极靴孔比上极靴孔大,以便于在其附近安放某些附件。 第42页/共205页& 5. 磁透镜与光学透镜的比较 磁透镜场深大(2002000nm);焦深长(80cm) FVDKfIN2 f与(IN)2成反比 磁透镜是 可变焦距 和 可变倍率 透镜 磁透镜对电子有旋转作用,所得到的电子光学像相对于物来说旋转了一个角度磁转角焦距像距;物距;fLLffLfLfLLM212112第43页/共205页虽然静电透镜也是会聚透镜,但现代电子显微镜中几乎都采用磁透镜,用于使电子束聚焦、成像。其主要原因有两点: 静电透镜要求高电压,但高压总是危险的! 磁透镜的焦距可以做得很短,可获得较高的放大倍数和较
23、小的球差。& 6. 磁透镜与静电透镜的比较第44页/共205页602012.2510.9785 10212hhmvVVeVeVmm c上面讨论的电子透镜的聚焦成像问题有限制条件,即假定: (透镜电磁场)具有理想的轴对称性 轨迹满足旁轴条件 电子波的波长(速度)相同 实际情况与理想条件偏离,造成电子透镜各种像差 像差的存在,影响图像的清晰度和真实性,决定了透镜只具有一定的分辨本领,从而限制了电子显微镜的分辨本领。电子透镜的缺陷 第45页/共205页像像 差:差:图像模糊不清像与物的几何形状不完全相似导 致l 球差l 色差 l 轴上像散l 畸变l物面上一点散射出电子束,不能全部会聚在一点l物面上的
24、各点不按比例成像于同一平面四、电磁透镜的像差和理论分辨本领第46页/共205页 是由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子是由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的会聚能力不同而造成的。束的会聚能力不同而造成的。假设张角最大电子的像落在P点,张角最小电子的像落在P点,透镜光阑有一定大小同是P点发出的电子当张角不同时, 落在不同点上透镜透镜光阑光阑1.球 差 无论像平面在什么位置,都不能得到一清晰的点像,而是一个一定大小的弥散圆斑。第47页/共205页n 正球差正球差远轴区对电子束的会聚能力比近轴区大。远轴区对电子束的会聚能力比近轴区大。n 负球差负球差远轴区对电子束的会聚能力比近轴区小。远轴区
25、对电子束的会聚能力比近轴区小。第48页/共205页 341aMCSsmr球差最小弥散圆:在球差最小弥散圆:在PP间某一位置可获得最小的弥散圆斑。间某一位置可获得最小的弥散圆斑。M M放大倍数;放大倍数;C Cs s球差系数;球差系数;孔径半角孔径半角 球差是电子显微镜最主要的像差之一,它往往决定球差是电子显微镜最主要的像差之一,它往往决定了显微镜的分辨率。了显微镜的分辨率。 球差几乎是一种无法克服的像差。球差几乎是一种无法克服的像差。最小弥散圆最小弥散圆半径为:半径为:第49页/共205页 几何光学中由于光颜色(波长)不同,经过透镜折射率不同,在不同点聚焦而产生的像差称色差。 电子光学中,电子
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- 电子 显微结构 分析
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