SPC统计过程控制程序(6页).doc

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1、-SPC统计过程控制程序-第 6 页1.目的提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控制界限与进行控制图的判读。2.范围X-R控制图、P控制图、Cpk（制程能力指数）、Ppk的运用管理。 3.职责3.1 相关部门：SPC的运用与维持。3.2 品质部：SPC的使用的规划。4.定义3.1 计量值特性凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重量、长度等。3.2 计数值特性凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的 特性，例如不合格数、不良品率等。5.内容5.1控制图使用规划及选择原则5.1.1 使用规划由QA及工程

2、部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效益，全面规划需采取控制图控制的工序和产品特性。5.1.2 选择原则5.1.2.1 计量值特性选用X-R控制图。5.1.2.2 计数值特性选用P控制图。5.2 控制图绘制、使用步骤5.2.1 首次使用控制图的作业程序5.2.1.1 决定须控制的特性。5.2.1.2 搜集25组数据。5.2.1.3 计算中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.1.4 绘制控制图。5.2.1.5 检查是否有超出控制界限的点5.2.1.6 将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.1.7 决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限

3、。5.2.2 现场使用控制图的作业程序5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图种类进行计算。5.2.2.3 将计算结果描点于控制图上。5.2.2.4 控制图判读及异常控制图纠正/预防措施 5.2.2.5 检讨控制界限5.2.2.5.1当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及控制上、下限。计算时须剔除超出控制界的资料。5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限。5.2.2.5.3 若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心

4、线（平均值）5.2.2.5.4 若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、下限。 5.3 控制图判读原则及异常控制图的纠正/预防措施5.3.1 正常之控制图其各点的动态为：5.3.1.1 多数的点集中在中心线附近。5.3.1.2 少数的点落在控制界限附近（但未超出控制界限）。5.3.1.3 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。5.3.2 异常控制图的判读5.3.2.1 任何超出控制限的点5.3.2.2 连续7个点在中心线之上或之下5.3.2.3 连续7个点上升或下降5.3.2.4 任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成规

5、则形状。5.3.2.5时常出现点接近管理界限的时候5.3.2.6点集中于中心线附近的时候5.3.3 异常之控制图的纠正/预防措施5.3.3.1 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施。5.3.3.2 对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。5.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出纠正/预防措施要求书要求其改善。5.4 XR控制图的使用方法 XR控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管制的目的。5.4.1 决定样本

6、数5.4.1.1 使用XR控制图的样本数（n）以2 5个为适当，但不要超过10个为宜。5.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。5.4.2 平均值与全距的计算5.4.2.1 平均值（X）= 各组内数据的和样本数。5.4.2.2 全距（R）= 各组内的最大值最小值。5.4.3 X 控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。5.4.3.1 X 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：5.4.3.2 R 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：5.4.3.3 XR控制图的系数表N2345678910A21.8801.0230.7290.5770.4830.4190.3730.33

7、70.308D21.1281.6932.0592.3262.5432.7042.8472.9703.078D30.0760.1360.1840.223D43.2672.5712.2822.1142.0041.9241.8641.8161.7775.5 P 控制图的使用方法P 控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的。5.5.1决定样本数5.5.1.1 使用P控制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适当，样本数的决定公式为：5.5.1.2 若未决定样本数，导致控制下限小于0，则下限取0。 5.5.2 控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代入。5.5.3

8、P 控制图之中心线及控制上、下限的计算公式： 5.6 制程能力指数 Cpk 使用规划5.6.1 工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的制程或工序并明确相应的Cpk值。5.6.2 制程能力指数 5.6.1.1 使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性。5.6.1.2 Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下。衡量等级Cpk值Cpk等级不良率(P)相 应 措 施A2.0(含以上)6P0.000000002本公司的优势，需要时配合控制图控制。B1.672.05P0.00000057希望制

9、程能够达到的水准，应考虑配合控制图进行控制C1.331.674P0.00006产品可免检，但应考虑配合控制图控制。D1.01.333P0.0027制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.671.02P0.0455制程应进行专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程。F0.330.672P0.3174制程很差，应考虑实施全检5.6.3 制程能力指数运用的前提5.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求。5.6.3.2 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商。5.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施即可。5.

10、6.4 制程能力指数的计算 5.6.4.1 符号说明 USL：表示规格上限。LSL：表示规格下限。 X ：表示所搜集或抽样资料的平均。 ：表示自所搜集或抽样资料中所推算(估计)的标准差。5.6.4.2 制程能力指数计算公式 Cpk：相对于规格同时表示制程集中与变异的指数。5.6.4.3 标准差计算公式 =R/d2R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数5.6.5 制程能力指数异常的处理当制程能力指数低于客户要求时，责任部门应采取措施以改善，必要时应以纠正/预防措施要求书的形式提出改善3 性能指数（即初期过程的能力指数）Pp、Ppk计算及评价方法：（1）计算公式：（2）等级评价及处理

11、方法：等级Pp、Ppk值等 级 说 明处 理 方 法APp、Ppk 1.67该过程目前能满足和符合顾客要求。顾客批准后即可开始生产，并按照控制计划进行。B1.33 Ppk 1.67该过程目前可能被顾客接受，但是可能会被要求进行一些改进。与顾客取得联系，并评审研究结果，如果在批量生产开始之前仍没有改进，将要求对控制计划进行更改。CPpk 1.33为止，修改后的控制计划应经顾客批准。（3）过程中的过程能力要求：A）过程稳定且数据呈常（正）态分配时，过程能力指数须达到Cpk1.33。B）长期不稳定的过程，但是SPC抽检样本的质量符合规格且呈可预测的型态时，初期过程能力指数须达到Ppk1.67。6.相关文件6.1监视和测量管理程序 6.2过程检验规范 6.3记录控制程序 6.4纠正和预防措施管理程序 7.相关记录7.1X-R控制图 FM-823-01-017.2P控制图 FM-823-01-027.3品质异常处理单 FM-830-01-02编制： 审核： 批准：日期： 日期： 日期：